CN220821482U - 一种半导体测试分选机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及半导体测试设备相关技术领域，尤其涉及一种半导体测试分选机。其技术方案包括：包括测试台，测试台的顶部一侧上方固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有电动滑轨，电动滑轨的上方滑动安装有分析镜头，安装架的另一侧固定安装有质检台，且质检台的顶部转动安装有旋转盘，质检台的另一侧固定安装有升降控制器。本实用新型通过各种结构的组合使得本分选机在对半导体分选前进行外观检测，同时对外观不合格的半导体进行回收，减少了有外观质量问题的半导体流入市场，且本分选机还设置有可自行调节的测试座，可检测不同型号与规格的半导体，更方便工作人员操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试设备相关技术领域，具体为一种半导体测试分选机。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体测试分选机即对半导体进行测试从而判断半导体的合格，从而对半导体进行分类，其中申请号为：“201822058688.5”所公开的“一种半导体测试分选机用阻挡条”，其已经解决了经常会有卡料现象发生的技术弊端，再经进一步检索发现，其申请号为“201922470822.7”所公开的“一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置”，其中通过及具体的技术结构设置，切实解决了除尘成本和除尘能耗高的缺点，但在实际使用时类似结构的装置还存在诸多缺陷，如，半导体型号过多，同种半导体测试机不能适合多种类型的半导体的测试；同时不具备对半导体测试前进行外观质量检测的功能，易出现外观存在质量问题的半导体流入市场的情况，所以需要设计一种半导体测试分选机。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体测试分选机，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试分选机，包括测试台，所述测试台顶部一侧的上方固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有电动滑轨，所述电动滑轨的上方滑动安装有分析镜头，所述安装架的另一侧固定安装有质检台，且质检台的顶部转动安装有旋转盘，所述质检台的另一侧固定安装有升降控制器，所述测试台的顶部中间固定安装有测试座，且测试座的顶部滑动安装有多组测试触点，所述测试台的内部中间固定安装有EVB评估板，且EVB评估板的正下方固定安装有主机，所述测试台顶部的后侧固定安装有背板，且背板的正面固定安装有主显示屏、副显示屏和控制面板。
使用本技术方案的一种半导体测试分选机，测试台顶部一侧的上方固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有电动滑轨，电动滑轨的上方滑动安装有分析镜头，电动滑轨通过安装架可以上下滑动调整分析镜头的高度，更方便工作人员操作，电动滑轨通过安装架的另一侧固定安装有质检台，且质检台的顶部转动安装有旋转盘，旋转盘可以对半导体进行支撑放置同时进行旋转，分析镜头可以对旋转盘上放置的半导体进行拍摄，主机可以对分析镜头拍摄的半导体外观进行质量分析，从而实现了对半导体外观进行质量检测的功能，质检台的另一侧固定安装有升降控制器，测试台的顶部中间固定安装有测试座，测试座可以对半导体进行放置，且测试座的顶部滑动安装有多组测试触点，测试触点可以与半导体的脚杆进行连接，测试台的内部中间固定安装有EVB评估板，且EVB评估板的输入端通过导线与测试触点进行连接，EVB评估板可以对通过测试触点连接的半导体性能进行测试，同时测试触点通过在测试座内滑动调节组合可以对不同型号与规格的半导体进行连接，实现了分选机对不同型号与规格的半导体进行分选的功能，且EVB评估板的正下放固定安装有主机，主机通过导线与EVB评估板连接，从而通过主机可以对EVB评估板测试的半导体性能进行收集，从而实现了通过对半导体的性能测试进行分选，测试台顶部的后侧固定安装有背板，且背板的上方固定安装有主显示屏、副显示屏和控制面板，主显示屏和副显示屏通过导线与主机连接，从而可以对主机收集到的数据进显示。
优选的，所述测试台的另一侧顶部转动安装有主传送带，且主传送带的后侧转动安装有副传送带，主传送带和副传送带可以把测试合格或者不合格的半导体分别进行传送，为工作人员提高了工作效率。
优选的，所述测试台的正面外部固定安装有盖板，且盖板的四周固定安装有固定螺栓，盖板四组螺栓固定在测试台的正面，方便工作人员自由拆卸清理以及维修。
优选的，所述测试台的一侧固定安装有回收箱，且回收箱的下方固定安装有支撑架，回收箱可以放置外形不合格的半导体，支撑架对回收箱起到支撑固定作用。
优选的，所述测试台的底部四周固定安装有四组支撑腿，且支撑腿的内侧固定安装有移动滚轮，支撑腿测试台起到支撑作用，移动滚轮方便于工作人员移动测试台。
优选的，所述测试台的另一侧固定安装有主收集箱，且主收集箱后侧固定安装有副收集箱，通过主传送带和副传送带可以分别把测试过的半导体传送到主收集箱和副收集箱，方便工作人员进行快速分类。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过设置测试台、测试座和多组测试触点配合测试台的顶部中间固定安装的测试座，测试座的顶部滑动安装有多组测试触点，通过测试触点可以对半导体的脚杆进行连接，从而实现对半导体的快速连接，多组测试触点通过滑动安装可以检测更多种规格的半导体，滑动调节组合可以对不同型号、不同规格的半导体进行快速连接，从而便于分选机对不同型号与规格的半导体进行快速测试分选，可以增加工作人员检测效率。
2、通过设置电动滑轨、分析镜头、安装架、质检台、旋转盘和升降控制器配合，电动滑轨的上方滑动安装有分析镜头，电动滑轨通过安装架可以上下滑动调整分析镜头的高度电动滑轨通过安装架的另一侧固定安装有质检台，且质检台的顶部转动安装有旋转盘，所述质检台的另一侧固定安装有升降控制器，旋转盘可以更方便工作人员检测半导体外形是否合格，大大减少了外形不合格的半导体流入市场。
附图说明
图1为本实用新型正面结构示意图；
图2为本实用新型的正面内部结构示意图；
图3为本实用新型的俯视结构示意图；
图4为本实用新型的侧面结构示意图。
图中：1、测试台；101、固定螺栓；102、盖板；2、回收箱；201、支撑架；3、支撑腿；4、安装架；5、质检台；6、旋转盘；7、电动滑轨；8、升降控制器；9、分析镜头；10、控制面板；11、主显示屏；12、副显示屏；13、背板；14、测试触点；1401、测试座；15、主传送带；1501、副传送带；16、主收集箱；17、副收集箱；18、移动滚轮；19、主机；20、EVB评估板。
具体实施方式
下文结合附图和具体实施例对本实用新型的技术方案做进一步说明。
实施例一
如图1、图2、图3和图4所示，本实用新型提出的一种半导体测试分选机，包括测试台1的顶部一侧上方固定安装有安装架4，且安装架4的顶部固定安装有电动滑轨7，电动滑轨7的上方滑动安装有分析镜头9，安装架4的另一侧固定安装有质检台5，且质检台5的顶部转动安装有旋转盘6，质检台5的另一侧固定安装有升降控制器8，测试台1的一侧固定安装有回收箱2，测试台1的顶部中间固定安装有测试座1401，且测试座1401的顶部滑动安装有多组测试触点14，测试台1的内部中间固定安装有EVB评估板20，且EVB评估板20的正下放固定安装有主机19，测试台1顶部的后侧固定安装有背板13，且背板13的上方固定安装有主显示屏11、副显示屏12和控制面板10。
基于实施例1的一种半导体测试分选机的工作原理是：测试台1顶部一侧的上方固定安装有安装架4，且安装架4的顶部固定安装有电动滑轨7，电动滑轨的型号可为：M45，电动滑轨7的上方滑动安装有分析镜头9，电动滑轨7通过安装架4可以上下滑动调整分析镜头9的高度，更方便工作人员操作，电动滑轨通过安装架4的另一侧固定安装有质检台5，且质检台5的顶部转动安装有旋转盘6，旋转盘6可以对半导体进行支撑放置同时进行旋转，分析镜头9可以对旋转盘6上放置的半导体进行拍摄；
机19可以对分析镜头拍摄的半导体外观进行质量分析，从而实现了对半导体外观进行质量检测的功能，质检台5的另一侧固定安装有升降控制器8，升降控制器的型号可为：CNZF-001，测试台1的顶部中间固定安装有测试座1401，测试座1401可以对半导体进行放置，且测试座1401的顶部滑动安装有多组测试触点14，测试触点14可以与半导体的脚杆进行连接，测试台1的内部中间固定安装有EVB评估板20，且EVB评估板20的输入端通过导线与测试触点进行连接，EVB评估板20可以对通过测试触点14连接的半导体性能进行测试；
同时测试触点14通过在测试座14内滑动调节组合可以对不同型号与规格的半导体进行连接，实现了分选机对不同型号与规格的半导体进行分选的功能，且EVB评估板20的正下放固定安装有主机19，主机19的型号可为：IPC-610L，主机19通过导线与EVB评估板20连接，从而通过主机19可以对EVB评估板20测试的半导体性能进行收集，从而实现了通过对半导体的性能测试进行分选，测试台1顶部的后侧固定安装有背板13，且背板13的上方固定安装有主显示屏11、副显示屏12和控制面板10，主显示屏11和副显示屏12通过导线与主机19连接，从而可以对主机19收集到的数据进显示。
实施例二
如图1、图2、图3和图4所示，本实用新型提出的一种半导体测试分选机，相较于实施例一，本实施例还包括：测试台1的另一侧顶部转动安装有主传送带15，且主传送带15的后侧转动安装有副传送带1501，测试台1的另一侧固定安装有主收集箱16，且主收集箱16后侧固定安装有副收集箱17，测试台1的正面外部固定安装有盖板102，且盖板102的四周固定安装有四组固定螺栓101，测试台1的一侧固定安装有回收箱2，且回收箱2的下方固定安装有支撑架201，测试台1的底部四周固定安装有四组支撑腿3，且支撑腿3的内侧固定安装有移动滚轮18。
本实施例中，如图1、图2和图3所示，主传送带15和副传送带1501可以把测试合格或者不合格的半导体分别进行传送，为工作人员提高了工作效率；如图1和图2所示，盖板102四组螺栓101固定在测试台1的正面，方便工作人员自由拆卸清理以及维修；
如图1、图2、图3和图4所示，回收箱2可以放置外形不合格的半导体，支撑架201对回收箱起到支撑固定作用；如图1、图2和图4所示，支撑腿3测试台1起到支撑作用，移动滚轮方便于工作人员移动测试台1；如图1、图2和图3所示，通过主传送带15和副传送带1501可以分别把测试过的半导体传送到主收集箱16和副收集箱17，方便工作人员进行快速分类。
上述具体实施例仅仅是本实用新型的几种优选的实施例，基于本实用新型的技术方案和上述实施例的相关启示，本领域技术人员可以对上述具体实施例做出多种替代性的改进和组合。
Claims (6)
1.一种半导体测试分选机，包括测试台，其特征在于：所述测试台顶部一侧的上方固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有电动滑轨，所述电动滑轨的上方滑动安装有分析镜头，所述安装架的另一侧固定安装有质检台，且质检台的顶部转动安装有旋转盘，所述质检台的另一侧固定安装有升降控制器，所述测试台的顶部中间固定安装有测试座，且测试座的顶部滑动安装有多组测试触点，所述测试台的内部中间固定安装有EVB评估板，且EVB评估板的正下方固定安装有主机，所述测试台顶部的后侧固定安装有背板，且背板的正面固定安装有主显示屏、副显示屏和控制面板。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述测试台的另一侧顶部转动安装有主传送带，且主传送带的后侧转动安装有副传送带。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述测试台的一侧固定安装有回收箱，且回收箱的下方固定安装有支撑架。
4.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述测试台的正面外部固定安装有盖板，且盖板的四周固定安装有固定螺栓。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述测试台的底部四周固定安装有四组支撑腿，且支撑腿的内侧固定安装有移动滚轮。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述测试台的另一侧固定安装有主收集箱，且主收集箱后侧固定安装有副收集箱。
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