CN220984478U - 一种芯片三温测试机械手分选机 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种芯片三温测试机械手分选机。所述芯片三温测试机械手分选机包括:高低温箱;放置板,所述放置板固定安装在所述高低温箱内,所述放置板内开设有多个槽口,多个所述槽口内均放置有芯片;安装板,所述安装板固定安装在所述高低温箱的一侧,所述安装板上设有测试台;机械手夹具,所述机械手夹具设于所述高低温箱的一侧;驱动机构,所述驱动机构设于所述高低温箱的一侧,所述驱动机构与所述机械手夹具对应设置。本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机具有测试效率更高且节省人力成本的优点。

Description

一种芯片三温测试机械手分选机
技术领域
本实用新型属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片三温测试机械手分选机。
背景技术
目前对芯片的测试大多数都可以通过自动化测试设备来进行,但也有少部分芯片因为需要进行高温、低温和常温测试,而无法直接导入到自动化测试设备中。
现有的对这部分芯片进行测试的方式是利用表面接触式的加热源来对芯片进行加热,然后人工手动地对芯片进行点测,但表面接触式加热只能使得芯片与加热源接触的一面达到测试温度,并不能保证整个芯片的温度都达到测试温度,并且每次手动测试的操作存在差异,两者都会影响芯片的测试结果,导致测试合格率无法保持稳定,并且这样的测试方式操作测试效率低。
因此,有必要提供一种新的芯片三温测试机械手分选机解决上述技术问题。
实用新型内容
为解决手动测试的操作存在差异,影响芯片的测试结果,测试效率低的技术问题,本实用新型提供一种芯片三温测试机械手分选机。
本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机包括:高低温箱;放置板,所述放置板固定安装在所述高低温箱内,所述放置板内开设有多个槽口,多个所述槽口内均放置有芯片;安装板,所述安装板固定安装在所述高低温箱的一侧,所述安装板上设有测试台;机械手夹具,所述机械手夹具设于所述高低温箱的一侧;驱动机构,所述驱动机构设于所述高低温箱的一侧,所述驱动机构与所述机械手夹具对应设置。
作为本实用新型的进一步方案,所述机械手夹具上设置有橡胶垫,所述测试台上开设有放置槽,所述安装板上固定安装有立板。
作为本实用新型的进一步方案,所述驱动机构包括第一电机、螺纹杆和L型移动板,所述第一电机固定安装在所述立板的一侧,所述螺纹杆转动安装在所述高低温箱和所述立板之间,所述螺纹杆的一端与所述第一电机的输出轴固定连接,所述L型移动板螺纹安装在所述螺纹杆上。
作为本实用新型的进一步方案,所述L型移动板的底部固定安装有电动滑轨,所述电动滑轨上滑动安装有滑块,所述滑块与所述机械手夹具固定连接。
作为本实用新型的进一步方案,对应所述高低温箱的一侧开设有取料口,对应所述高低温箱的一侧固定安装有两个滑轨,两个所述滑轨上滑动安装有密封板,所述密封板与所述取料口相适配。
作为本实用新型的进一步方案,所述高低温箱和所述立板之间固定安装有固定板,所述固定板位于所述螺纹杆的上方,所述L型移动板与所述固定板的底部内壁相接触,所述立板上固定安装有测试仪,对应所述高低温箱的一侧固定安装有合格品箱和次品箱。
作为本实用新型的进一步方案,所述安装板内开设有安装槽,所述安装板的一侧固定安装有第二电机,所述安装槽内转动安装有螺杆,所述螺杆的一端与所述第二电机的输出轴固定连接,所述螺杆上螺纹套设有移动块,所述移动块与所述安装槽的内壁相接触。
与相关技术相比较,本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机具有如下有益效果:
本实用新型提供一种芯片三温测试机械手分选机:
1、通过驱动机构的设置,可通过启动第一电机实现螺纹杆转动,从而实现L型移动板带着机械手夹具左右移动,从而将芯片取出,进而避免手动测试芯片时的操作差异,有利于测试良率保持稳定,提升测试效率并节省人力成本;
2、通过橡胶垫的设置,可对芯片进行防护,防止机械手夹具在夹取芯片时,对其造成损伤;通过电动滑轨和滑块的设置,可实现机械手夹具带着检测结束后的芯片进行前后移动,从而实现将合格的芯片放置在合格品箱内,将不合格的芯片放置在次品箱内,从而实现对芯片进行分选;
3、通过密封板的设置,可在取料时将密封板移至一侧将取料口露出来,不取料时将高低温箱密封,从而保证设备的正常使用;通过固定板的设置,可对L型移动板进行导向,保证仅左右移动,不会发生偏转;通过移动块的设置,可通过启动第二电机实现螺杆转动,从而实现移动块带着芯片移动,从而实现对芯片进行检测。
附图说明
为了便于本领域技术人员理解,下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1为本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机的一种较佳实施例的正视剖视结构示意图;
图2为本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机的一种较佳实施例的正视结构示意图;
图3为高低温箱的侧视结构示意图;
图4为图1中A部分的放大结构示意图;
图5为图1中B部分的放大结构示意图。
图中:1、高低温箱;2、放置板;3、槽口;4、芯片;5、安装板;6、测试台;7、机械手夹具;8、橡胶垫;9、放置槽;10、立板;11、第一电机;12、螺纹杆;13、L型移动板;14、电动滑轨;15、滑块;16、取料口;17、滑轨;18、密封板;19、固定板;20、测试仪;21、合格品箱;22、次品箱;23、安装槽;24、第二电机;25、螺杆;26、移动块。
具体实施方式
请结合参阅图1-图5,其中,图1为本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机的一种较佳实施例的正视剖视结构示意图;图2为本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机的一种较佳实施例的正视结构示意图;图3为高低温箱的侧视结构示意图;图4为图1中A部分的放大结构示意图;图5为图1中B部分的放大结构示意图。芯片三温测试机械手分选机包括:高低温箱1;放置板2,所述放置板2固定安装在所述高低温箱1内,所述放置板2内开设有多个槽口3,多个所述槽口3内均放置有芯片4;安装板5,所述安装板5固定安装在所述高低温箱1的一侧,所述安装板5上设有测试台6;机械手夹具7,所述机械手夹具7设于所述高低温箱1的一侧;驱动机构,所述驱动机构设于所述高低温箱1的一侧,所述驱动机构与所述机械手夹具7对应设置,通过驱动机构的设置,可通过启动第一电机11实现螺纹杆12转动,从而实现L型移动板13带着机械手夹具7左右移动,从而将芯片4取出,进而避免手动测试芯片4时的操作差异,有利于测试良率保持稳定,提升测试效率并节省人力成本。
所述机械手夹具7上设置有橡胶垫8,所述测试台6上开设有放置槽9,所述安装板5上固定安装有立板10,通过橡胶垫8的设置,可对芯片4进行防护,防止机械手夹具7在夹取芯片4时,对其造成损伤。
所述驱动机构包括第一电机11、螺纹杆12和L型移动板13,所述第一电机11固定安装在所述立板10的一侧,所述螺纹杆12转动安装在所述高低温箱1和所述立板10之间,所述螺纹杆12的一端与所述第一电机11的输出轴固定连接,所述L型移动板13螺纹安装在所述螺纹杆12上,通过驱动机构的设置,可通过启动第一电机11实现螺纹杆12转动,从而实现L型移动板13带着机械手夹具7左右移动,从而将芯片4取出,进而避免手动测试芯片4时的操作差异,有利于测试良率保持稳定,提升测试效率并节省人力成本。
所述L型移动板13的底部固定安装有电动滑轨14,所述电动滑轨14上滑动安装有滑块15,所述滑块15与所述机械手夹具7固定连接,通过电动滑轨14和滑块15的设置,可实现机械手夹具7带着检测结束后的芯片4进行前后移动,从而实现将合格的芯片4放置在合格品箱21内,将不合格的芯片4放置在次品箱22内,从而实现对芯片4进行分选。
对应所述高低温箱1的一侧开设有取料口16,对应所述高低温箱1的一侧固定安装有两个滑轨17,两个所述滑轨17上滑动安装有密封板18,所述密封板18与所述取料口16相适配,过密封板18的设置,可在取料时将密封板18移至一侧将取料口16露出来,不取料时将高低温箱1密封,从而保证设备的正常使用。
所述高低温箱1和所述立板10之间固定安装有固定板19,所述固定板19位于所述螺纹杆12的上方,所述L型移动板13与所述固定板19的底部内壁相接触,所述立板10上固定安装有测试仪20,对应所述高低温箱1的一侧固定安装有合格品箱21和次品箱22,通过固定板19的设置,可对L型移动板13进行导向,保证仅左右移动,不会发生偏转。
所述安装板5内开设有安装槽23,所述安装板5的一侧固定安装有第二电机24,所述安装槽23内转动安装有螺杆25,所述螺杆25的一端与所述第二电机24的输出轴固定连接,所述螺杆25上螺纹套设有移动块26,所述移动块26与所述安装槽23的内壁相接触,通过移动块26的设置,可通过启动第二电机24实现螺杆25转动,从而实现移动块26带着芯片4移动,从而实现对芯片4进行检测。
值得说明的是,本实用新型中涉及到电路和电子元器件以及模块的均为现有技术,本领域技术人员完全可以实现,无需赘言,本实用新型保护的内容也不涉及对于软件和方法的改进。
本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机的工作原理如下:
本方案中还设有电控柜,电控柜设置在设备上,在使用时通过电控柜可分别启动各用电设备运行,各用电设备的接电方式为现有成熟技术,为本领域人员的公知技术,在此不做多余赘述;
使用时,首先将待测芯片4放置在高低温箱1内进行温度测试,因高低温箱1为现有技术,在此不做赘述,测试结束后,推动密封板18,使其沿两个滑轨17滑动,从而将取料口16露出;
随后启动第一电机11,驱动螺纹杆12转动,从而实现螺纹套设在螺纹杆12上的L型移动板13左侧滑动,从而实现将机械手夹具7移动至高低温箱1内,然后利用机械手夹具7将测试结束后的芯片4取出进行检测,机械手夹具7将取出的芯片4放置在测试台6的放置槽9内;
随后启动第二电机24,驱动螺杆25转动,从而实现螺纹套设在螺杆25上的移动块26向右侧移动,直至将芯片4移动至测试仪20的下方进行检测,检测结束后,反向转动第二电机24,使移动块26带着芯片4恢复到原始位置,随后启动机械手夹具7重现将芯片4夹起,然后启动电动滑轨14,使滑块15带着机械手夹具7和芯片4前后移动,从而实现将合格的芯片4放置在合格品箱21内,将不合格的芯片4放置在次品箱22内。
与相关技术相比较,本实用新型提供的芯片三温测试机械手分选机具有如下有益效果:
本实用新型提供一种芯片三温测试机械手分选机,通过驱动机构的设置,可通过启动第一电机11实现螺纹杆12转动,从而实现L型移动板13带着机械手夹具7左右移动,从而将芯片4取出,进而避免手动测试芯片4时的操作差异,有利于测试良率保持稳定,提升测试效率并节省人力成本;通过橡胶垫8的设置,可对芯片4进行防护,防止机械手夹具7在夹取芯片4时,对其造成损伤;通过电动滑轨14和滑块15的设置,可实现机械手夹具7带着检测结束后的芯片4进行前后移动,从而实现将合格的芯片4放置在合格品箱21内,将不合格的芯片4放置在次品箱22内,从而实现对芯片4进行分选;通过密封板18的设置,可在取料时将密封板18移至一侧将取料口16露出来,不取料时将高低温箱1密封,从而保证设备的正常使用;通过固定板19的设置,可对L型移动板13进行导向,保证仅左右移动,不会发生偏转;通过移动块26的设置,可通过启动第二电机24实现螺杆25转动,从而实现移动块26带着芯片4移动,从而实现对芯片4进行检测。
需要说明的是,本实用新型的设备结构和附图主要对本实用新型的原理进行描述,在该设计原理的技术上,装置的动力机构、供电系统及控制系统等的设置并没有完全描述清楚,而在本领域技术人员理解上述实用新型的原理的前提下,可清楚获知其动力机构、供电系统及控制系统的具体,申请文件的控制方式是通过控制器来自动控制,控制器的控制电路通过本领域的技术人员简单编程即可实现;
其中所使用到的标准零件均可以从市场上购买,而且根据说明书和附图的记载均可以进行订制,各个零件的具体连接方式均采用现有技术中成熟的螺栓、铆钉、焊接等常规手段,机械、零件和设备均采用现有技术中常规的型号,且本领域技术人员知晓的部件,其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型或直接或间接运用,在其它相关的技术领域,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,包括:
高低温箱;
放置板,所述放置板固定安装在所述高低温箱内,所述放置板内开设有多个槽口,多个所述槽口内均放置有芯片;
安装板,所述安装板固定安装在所述高低温箱的一侧,所述安装板上设有测试台;
机械手夹具,所述机械手夹具设于所述高低温箱的一侧;
驱动机构,所述驱动机构设于所述高低温箱的一侧,所述驱动机构与所述机械手夹具对应设置。
2.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,所述机械手夹具上设置有橡胶垫,所述测试台上开设有放置槽,所述安装板上固定安装有立板。
3.根据权利要求2所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,所述驱动机构包括第一电机、螺纹杆和L型移动板,所述第一电机固定安装在所述立板的一侧,所述螺纹杆转动安装在所述高低温箱和所述立板之间,所述螺纹杆的一端与所述第一电机的输出轴固定连接,所述L型移动板螺纹安装在所述螺纹杆上。
4.根据权利要求3所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,所述L型移动板的底部固定安装有电动滑轨,所述电动滑轨上滑动安装有滑块,所述滑块与所述机械手夹具固定连接。
5.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,对应所述高低温箱的一侧开设有取料口,对应所述高低温箱的一侧固定安装有两个滑轨,两个所述滑轨上滑动安装有密封板,所述密封板与所述取料口相适配。
6.根据权利要求3所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,所述高低温箱和所述立板之间固定安装有固定板,所述固定板位于所述螺纹杆的上方,所述L型移动板与所述固定板的底部内壁相接触,所述立板上固定安装有测试仪,对应所述高低温箱的一侧固定安装有合格品箱和次品箱。
7.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机,其特征在于,所述安装板内开设有安装槽,所述安装板的一侧固定安装有第二电机,所述安装槽内转动安装有螺杆,所述螺杆的一端与所述第二电机的输出轴固定连接,所述螺杆上螺纹套设有移动块,所述移动块与所述安装槽的内壁相接触。
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