CN108031654A - 棒状元件筛选机构 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种棒状元件筛选机构，包括基座与设于基座上的直线驱动装置、滑动筛选模组及入料件。基座的一侧设有次品出料槽体与良品出料槽体，入料件位于基座上端，入料件中设有供棒状元件滑落的入料槽，入料槽的出口位于次品出料槽体之上，直线驱动装置驱使滑动筛选模组相对基座上下滑动，滑动筛选模组包括中空的导料件并设有供直的棒状元件滑过的筛选槽，滑动筛选模组上滑至最高位时筛选槽与入料槽连通，导料件的一端与筛选槽连通，另一端位于良品出料槽体之上。本棒状元件筛选机构利用元件自重实现滑落，无需对元件进行驱动，并通过筛选槽对棒状元件进行筛选，能够自动地、准确地将弯曲的棒状元件排除。

Description

棒状元件筛选机构
技术领域
本发明涉及一种元件筛选设备，尤其涉及一种棒状元件筛选机构。
背景技术
磁芯是指由各种氧化铁混合物组成的一种烧结磁性金属氧化物，用于各种电子设备的线圈和变压器中。磁芯的尺寸普遍较小，且有不少磁芯为棒状结构，这些棒状磁芯的在大批量生产、输送的过程中，难免会有一些出现弯曲。弯曲的磁芯假如流向电子设备装配工序中，将会导致装配失败，使得装配线需停顿进行排障，大大降低了作业效率。弯曲的磁芯在装配过程中甚至还可能损坏电子设备的相关器件。对其他棒状元件而言，同样存在着这一问题。
因此，有必要提供一种能够自动筛选并排除弯曲棒状元件的筛选机构。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够自动筛选并排除弯曲棒状元件的筛选机构。
为了实现上述目的，本发明提供了一种棒状元件筛选机构，包括基座与设于所述基座上的直线驱动装置、滑动筛选模组及入料件；所述基座的一侧设有次品出料槽体与良品出料槽体，所述入料件位于所述基座上端，所述入料件中设有供棒状元件滑落的入料槽，所述入料槽的出口位于所述次品出料槽体之上，所述直线驱动装置驱使所述滑动筛选模组相对所述基座上、下滑动，所述滑动筛选模组包括中空的导料件并设有供直的棒状元件滑过的筛选槽，所述滑动筛选模组上滑至最高位时所述筛选槽与所述入料槽连通，所述导料件的一端与所述筛选槽连通，另一端位于所述良品出料槽体之上。
进行筛选时，滑动筛选模组滑动至最高位使筛选槽与入料槽连通，待筛选的棒状元件从上端进入入料槽后滑向滑动筛选模组，筛选槽的尺寸与棒状元件额定尺寸对应而仅能通过直的棒状元件。假如棒状元件无弯曲，则能够顺利穿过筛选槽并进入到导料件，最终被导料件送到良品出料槽体中。假如棒状元件存在弯曲，则其整体横向尺寸偏大，无法进入到筛选槽中，直线驱动装置将驱动滑动筛选模组下滑，该棒状元件即从入料槽出口落入到次品出料槽体中。综上，本棒状元件筛选机构利用元件自重实现滑落，无需对元件进行驱动，并通过筛选槽对棒状元件进行筛选，能够自动地、准确地将弯曲的棒状元件排除。
较佳地，所述基座具有倾斜的安装面，所述入料件固定于所述安装面上而使所述入料槽倾斜，所述滑动筛选模块滑动连接于所述安装面上而使所述筛选槽倾斜。
较佳地，所述入料件的侧壁设有连通所述入料槽的检测通孔，所述基座上设有一正对所述检测通孔的传感器。
具体地，所述传感器滑动地设于所述基座上且所述传感器的末端可通过所述检测通孔顶入所述入料槽中。
较佳地，所述基座的上端还设有一行程开关，所述滑动筛选模组滑动至最高位时抵触所述行程开关而对所述直线驱动装置制动。
较佳地，所述次品出料槽体由相对的两侧板、固定于两所述侧板后端的后板以及一前板所围成，一所述侧板与所述基座固定，所述前板与所述滑动筛选模组固定并可在两所述侧板之间滑动。
较佳地，所述基座上设有导轨，所述滑动筛选模组包括滑动连接于所述导轨上的滑动座，所述导料件与所述滑动座固定，所述滑动座中容纳有一筛选治具，所述筛选槽开设于所述筛选治具。
较佳地，还包括一朝上设置的顶针，所述滑动筛选模组往下滑动时所述顶针插入所述筛选槽中，所述滑动筛选模组位于最低位时所述筛选槽的入口位于所述次品出料槽体之上。
较佳地，所述基座固定于一机架之上，所述机架上还设有一振动盘，所述振动盘的出料轨道连接至所述入料件上端。
具体地，所述基座固定于一机架之上，所述机架上还设有位于所述良品出料槽体出口之下的良品集料盒以及位于所述次品出料槽体出口之下的次品集料盒。
附图说明
图1是本发明棒状元件筛选机构的立体图。
图2是棒状元件筛选机构另一角度的立体图。
图3是入料件的立体图。
图4是滑动筛选模组从基座上拆卸后的示意图。
图5是滑动筛选模组的爆炸图。
图6是图1的棒状元件筛选机构中滑动筛选模组滑动至最高位的示意图。
图7是图2的棒状元件筛选机构中滑动筛选模组滑动至最高位的示意图。
图8是棒状元件筛选机构与料斗、振动盘配合使用的示意图。
具体实施方式
下面结合给出的说明书附图对本发明的较佳实施例作出描述。
如图1、图2所示，本发明提供一种棒状元件筛选机构，用于对棒状元件a进行筛选并自动地将发生弯曲的棒状元件a剔除。棒状元件筛选机构包括基座1与设于基座1上的直线驱动装置2、滑动筛选模组3及入料件4。基座1的一侧设有次品出料槽体51与良品出料槽体52，其中次品出料槽体51的位置位于良品出料槽体52之上，次品出料槽体51与良品出料槽体52分别可对落入其中的棒状元件a进行导向，使元件从不同方向出料。
入料件4位于基座1上端，结合图3所示，入料件4中设有上下贯穿入料件4的入料槽41，棒状元件a从入料件4的上端滑入入料槽41中并从入料件4的下端滑落。入料槽41的尺寸大于棒状元件a发生弯曲后最大横向尺寸，因此无论是直的良品棒状元件a还是弯曲的次品棒状元件a都能够进入并滑过入料槽41。入料槽41的出口位于次品出料槽体51之上，假如没有其他结构对入料槽41的出口进行干预，则从入料槽41出口滑出的棒状元件a将落入到次品出料槽体51中。
滑动筛选模组3沿上下方向滑动安装于基座1上，直线驱动装置2驱使滑动筛选模组3在基座1上滑动，滑动筛选模组3可向下滑动至一最低位或向上滑动至一最高位，在最高位时滑动筛选模组3非常接近或直接接触入料件4。滑动筛选模组3包括一中空结构且两端开口的导料件30，导料件30的出口位于良品出料槽体52之上，当滑动筛选模组3位于最高位时从入料槽41出口滑出的直的棒状元件a(即良品)会滑入滑动筛选模组3中经过导料件30的引导而落入良品出料槽体52中。
继续参照图1、图2并结合图4，基座1上具有倾斜的安装面11，安装面11上设有沿上下方向延伸的导轨12，导轨12较佳的设有两条。入料件4通过其他结构垫高地固定在安装面11上，从而使入料件4中入料槽41呈倾斜状，入料槽41大致与导轨12保持平行。滑动筛选模组3包括一滑动座31，在滑动座31下设置有两对接件32，两对接件32分别与两导轨12滑动对接，通过这一结构实现了滑动筛选模组3在基座1上的滑动。直线驱动装置2在本实施例中采用气缸，气缸的活塞杆与滑动座31固定连接，因此在活塞杆伸出时滑动筛选模组3往上滑动，在活塞杆回缩时滑动筛选模组3往下滑动。在其它的实施方式中，直线驱动装置2也可以是电动推杆、直线滑台等装置或丝杠螺母等能够实现直线驱动的结构。基座1的上端还设有一行程开关19，行程开关19的作用是提供对直线驱动装置2进行制动的触发信号。
结合图4、图5，滑动筛选模组3还包括容纳于滑动座31之内的筛选治具33，筛选治具33中开设有筛选槽34，筛选槽34的尺寸与直的棒状元件a额定尺寸匹配，因此弯曲的棒状元件a由于横向尺寸太大而无法通过筛选槽34，只有良品才能够从筛选槽34滑过。筛选槽34与位于其上方的入料槽41一样也呈倾斜状。筛选治具33采用可拆卸的方式容纳在滑动座31之内，可方便根据实际需要更换筛选槽34尺寸不同的筛选治具33。导料件30是两端开口的中空结构，其一端固定在滑动座31上，另一端向下延伸到良品出料槽体52上。导料件30的后壁上贯穿地设置有一穿入孔301，穿入孔301的位置正对筛选槽34。回顾图1，在基座1的一侧还固定有一朝上设置的顶针18，顶针18的上端向上插入到穿入孔301中，并且顶针18的长度满足这样的要求：当滑动筛选模组3位于最低位时顶针18还进一步插入到筛选槽34中，当滑动筛选模组3位于最高位时顶针18则退出筛选槽34。
次品出料槽体51由相对的两侧板511、固定于两侧板511后端的后板512以及一前板513所围成，其中一侧板511与基座1固定，而前板513则固定在滑动筛选模组3的滑动座31上，且前板513的位置相比筛选槽34的入口要更靠下。当滑动筛选模组3在基座1上滑动时前板513在两侧板511中间来回滑动，无论滑动筛选模组3处于任何位置(包括最高位与最低位)筛选槽34的入口都位于次品出料槽体51之上。
结合图6、图7与先前相关附图介绍本棒状元件筛选机构的工作过程如下：
开始筛选之前，直线驱动装置2将滑动筛选模组3往上推动，当滑动座31接触行程开关19时行程开关19反馈信号给设备的中控系统，中控系统便发出信号将直线驱动装置2制动。此时滑动筛选模组3位于最高位，筛选槽34的入口与入料槽41的出口连通，此处所指的“连通”并非限定筛选治具33一定与入料件4接触，而是指两者位置正对。待筛选的棒状元件a从上端进入入料槽41中并藉由自重向下滑落，假如棒状元件a是良品无弯曲，则可以直接穿过筛选槽34并通过导料件30的导向落入到良品良品出料槽体52中。假如棒状元件a存在弯曲，则其整体横向尺寸偏大，无法进入到筛选槽34中，此时直线驱动装置2将驱动滑动筛选模组3下滑，该次品棒状元件a将从入料槽41出口落入到次品出料槽体51中。有部分弯曲的棒状元件a会进入筛选槽34中并卡在筛选治具33内，在滑动筛选模组3往下滑动的过程中顶针18会通过穿入孔301插入到筛选槽34内，并将卡在筛选槽34内的该棒状元件a顶出落入到次品出料槽体51中，确保所有次品均被筛除。当然，顶针18并非是本机构的必备部件，可通过人工方式来排出卡滞的产品。
回看图1至图3，在基座1的上端还设有一传感器14，传感器14的检测端正对着入料件4的侧壁上所设置的一检测通孔43，检测通孔43与入料槽41连通，且检测通孔43到入料槽41出口处的距离大于一个棒状元件a的长度。在进行筛选时棒状元件a是间歇地逐个进入到入料件4中的，因此在全是良品的情况下传感器14能够检测到间断的信号。当存在次品时入料槽41的出口被堵住，后续的棒状元件a堆积于入料槽41中，则传感器14会检测到持续信号，中控系统通过获取这一信号而触发滑动筛选模组3的下滑。为防止滑动筛选模组3下滑后入料槽41中的良品随同次品一起落入次品出料槽体51中，可以将传感器14滑动设置于基座1行，滑动方向大致垂直于入料槽41的长度方向，在使滑动筛选模组3下滑前先使传感器14末端插入到入料槽41中并将次品之后的那一良品顶住定位。在次品排除完成后传感器14即可复位。毫无疑问的，本实施例中设置的传感器14也并不是触发滑动筛选模组3下滑的唯一方式，可以在其他位置设置其他结构，甚至可由人眼观测并手动触发。基座1上端还设有上下两队对射式的计数器15，从而计算进入入料槽41中的元件数量与离开入料槽41的元件数量。
图8所示是包括了本方案棒状元件筛选机构的筛选设备，基座1固定于一机架6之上，机架6上还固定有位于良品出料槽体52出口之下的良品集料盒71以及位于次品出料槽体51出口之下的次品集料盒72。良品集料盒71与次品集料盒72分别对良品与次品进行收集。机架6上还设有一料斗8以及一振动盘9，料斗8的出口位于振动盘9上方，振动盘9的出料轨道91连接至入料件4上端。棒状元件a先被倒入料斗8中后落入振动盘9，然后由振动盘9将元件排列好逐个地输出到入料件4中。
与现有技术相比，本棒状元件筛选机构中利用与良品元件尺寸匹配的筛选治具33来对元件进行筛选，能够实现良品与次品的分流，自动的将次品从良品中筛除，并且筛选过程中利用元件自重实现自动滑落，无需对元件进行驱动。
以上所揭露的仅为本发明的较佳实例而已，其作用是方便本领域的技术人员理解并据以实施，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明申请专利范围所作的等同变化，仍属于本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种棒状元件筛选机构，其特征在于：包括基座与设于所述基座上的直线驱动装置、滑动筛选模组及入料件；所述基座的一侧设有次品出料槽体与良品出料槽体，所述入料件位于所述基座上端，所述入料件中设有供棒状元件滑落的入料槽，所述入料槽的出口位于所述次品出料槽体之上，所述直线驱动装置驱使所述滑动筛选模组相对所述基座上、下滑动，所述滑动筛选模组包括中空的导料件并设有供直的棒状元件滑过的筛选槽，所述滑动筛选模组上滑至最高位时所述筛选槽与所述入料槽连通，所述导料件的一端与所述筛选槽连通，另一端位于所述良品出料槽体之上。
2.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述基座具有倾斜的安装面，所述入料件固定于所述安装面上而使所述入料槽倾斜，所述滑动筛选模块滑动连接于所述安装面上而使所述筛选槽倾斜。
3.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述入料件的侧壁设有连通所述入料槽的检测通孔，所述基座上设有一正对所述检测通孔的传感器。
4.如权利要求3所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述传感器滑动地设于所述基座上且所述传感器的末端可通过所述检测通孔顶入所述入料槽中。
5.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述基座的上端还设有一行程开关，所述滑动筛选模组滑动至最高位时抵触所述行程开关而对所述直线驱动装置制动。
6.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述次品出料槽体由相对的两侧板、固定于两所述侧板后端的后板以及一前板所围成，一所述侧板与所述基座固定，所述前板与所述滑动筛选模组固定并可在两所述侧板之间滑动。
7.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述基座上设有导轨，所述滑动筛选模组包括滑动连接于所述导轨上的滑动座，所述导料件与所述滑动座固定，所述滑动座中容纳有一筛选治具，所述筛选槽开设于所述筛选治具。
8.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：还包括一朝上设置的顶针，所述滑动筛选模组往下滑动时所述顶针插入所述筛选槽中，所述滑动筛选模组位于最低位时所述筛选槽的入口位于所述次品出料槽体之上。
9.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述基座固定于一机架之上，所述机架上还设有一振动盘，所述振动盘的出料轨道连接至所述入料件上端。
10.如权利要求1所述的棒状元件筛选机构，其特征在于：所述基座固定于一机架之上，所述机架上还设有位于所述良品出料槽体出口之下的良品集料盒以及位于所述次品出料槽体出口之下的次品集料盒。
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