CN107574475A - 一种HfS2单晶纳米片的制备方法 - Google Patents
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Abstract
一种HfS2单晶纳米片的制备方法,属于半导体材料的制备领域。包括以下步骤:1)将S源和Hf源放入石英管的上游区域,内径小于石英管的内嵌石英管放置于下游区域,云母基片置于内嵌石英管中;2)石英管内部抽真空,通入惰性气体使管内气压保持常压环境,然后通入载气流和保护气体;3)加热S源和Hf源至蒸发,在温度为800~980℃、云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为0.5~2.5mm的条件下,反应5~15min,待石英管自然降到室温,取出基片。本发明通过对云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d以及沉积温度等参数的优化,实现了厚度为0.8~15nm,边长~5μm的HfS2纳米片的可控生长。
Description
技术领域
本发明属于半导体材料的制备技术领域,具体涉及一种HfS2单晶纳米片的制备方法及其应用。
背景技术
近年来,原子层级厚度的超薄二维材料受到了广泛关注,尤其是过渡金属硫化物,因其独特的物理、化学性质以及具有一定的带隙,在微纳电子学以及光探测领域有重大的应用前景。而具有高迁移率的二维材料适用于各种微纳电子器件,对于半导体器件行业的发展有重要的推动作用。
HfS2是一种IVB族过渡金属硫化物,其层间通过极弱的范德瓦尔斯力形成层状结构,层间距约为0.59nm,每一层由S—Hf—S的三明治结构组成。通过理论计算,HfS2具有极高的电子迁移率(~1800cm2/vs),远高于现在被认为是电子学领域理想的二维材料MoS2(340cm2/vs),在纳米电子器件领域有巨大的应用前景。
目前,理论上具备高迁移率的少层二维HfS2开始引起了广泛关注,Kai Xu等通过机械剥离的方法获得了少层的HfS2,并应用于光电晶体管,展示了极高的光电响应率以及光增益(参考文献:K.Xu,Z.Wang,F.Wang,Y.Huang,F.Wang,L.Yin,C.Jiang,J.He,Adv.Mater.2015,27,7881.)。Toru Kanazawa等制备了少层的HfS2场效应晶体管,具有很高的漏电流以及迁移率(T.Kanazawa,T.Amemiya,A.Ishikawa,V.Upadhyaya,K.Tsuruta,T.Tanaka,Y.Miyamoto,Sci.Rep.2016,6,22277.)。但是,以上的研究都是基于机械剥离方法获得的HfS2,机械剥离难以控制得到的少层HfS2的层数,同时产率很低,极大地限制了对HfS2的研究。因此,如何实现层数可控的超薄二维HfS2单晶纳米片的生长是目前亟待解决的问题。
发明内容
本发明提供了一种HfS2单晶纳米片的制备方法,通过对限域空间中云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d以及沉积温度等参数的优化,实现了厚度为0.8~15nm,边长~5μm的HfS2纳米片的可控生长。
本发明的技术方案如下:
一种HfS2单晶纳米片的制备方法,包括以下步骤:
步骤1:将S源和Hf源放入石英管的上游区域,内径小于石英管的内嵌石英管放置于下游区域,将云母基片放置于内嵌石英管中,距离石英管加热中心12-15cm;
步骤2:将石英管内部抽真空至1Pa以下,通入惰性气体使管内气压保持常压环境,然后向管内通入载气流和保护气体;
步骤3:加热S源和Hf源至蒸发,在石英管加热中心温度为800~980℃、云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为0.5~2.5mm的条件下,反应5~15min,即可生成气相的HfS2,沉积于云母基片上;
步骤4:反应结束后,待石英管自然降到室温,取出基片,即可在基片上得到HfS2单晶纳米片。
进一步地,步骤1所述S源为纯度>99.5%的S粉等,所述Hf源为纯度>99.8%的HfCl4等。
进一步地,步骤2所述载气流为15sccm的Ar,所述保护气体为5sccm的H2。
进一步地,步骤3所述S源的加热温度为200~240℃;所述Hf源的加热温度为320~340℃。
进一步地,步骤3所述云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为0.5mm、1.5mm或者2.5mm。
本发明还公开了一种采用如上述制备方法制备得到的HfS2单晶纳米片。
本发明还提供了上述HfS2单晶纳米片在光电探测器中的应用。
本发明的有益效果为:
1、本发明提供了一种HfS2单晶纳米片的制备方法,采用化学气相沉积法制得超薄的单层或少层的HfS2纳米片。尽管化学气相沉积已经广泛应用于二维材料的制备,但是,相较于MoS2等二维层状材料,HfS2有极大的层间作用力,采用传统的化学气相沉积设备难以获得超薄的平面纳米片,因此,我们在外石英管的下游区域放入内嵌石英管,以此获得更稳定的层流,同时,内嵌石英管与云母基片会构成一个限域空间,更利于超薄的纳米片的生长。
2、常用的氧化硅衬底表面存在众多悬挂键,增加了表面势垒,不利于纳米片的生长,因此,本发明选用具有化学惰性且属于原子级平整的表面的云母作为衬底,有利于得到平整的超薄HfS2纳米片;同时,由于二硫化铪极易氧化,在生长过程中除了通入Ar气流保持无氧环境外,还同时通入H2,以去除生长环境中的水分以及氧气。
3、本发明提供了一种HfS2单晶纳米片的制备方法,得到了边长~5μm、厚度为0.8~15nm的六边形或截断三角形的单晶纳米片,实现了超薄HfS2的制备。
4、本发明通过对限域空间中云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d以及沉积温度等参数的优化,实现了厚度为0.8~15nm,边长~5μm的HfS2纳米片的可控生长。
附图说明
图1为本发明HfS2单晶纳米片的生长装置示意图;其中,1为内嵌石英管,2为云母基片;
图2分别为本发明实施例1得到的HfS2单晶纳米片的暗场下的光学显微镜图(a)和原子力显微镜AFM的表征图(b);
图3为本发明实施例2不同限域空间下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜AFM的表征图;
图4为本发明实施例1得到的HfS2单晶纳米片的高分辨透射电镜HRTEM的表征图,插图为HfS2单晶纳米片的选区电子衍射SARD的表征图;
图5为本发明实施例3不同反应温度下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜图(a)以及厚度与成核密度的统计图(b);
图6为本发明得到的HfS2单晶纳米片制备的光电探测器示意图(a)及该光电探测器在波长420nm光照下的时间响应曲线(b)和该光电探测器的响应时间图(c)。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,详述本发明的技术方案。
如图1所示,为本发明HfS2单晶纳米片的生长装置示意图;本发明在外石英管的下游区域放入内径小于外石英管的内嵌石英管,云母基片放置于内嵌石英管中。本发明内嵌石英管与云母基片会构成一个限域空间,更利于超薄的纳米片的生长;同时通过对限域空间中云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d以及沉积温度等参数的优化,可实现厚度为0.8~15nm,边长~5μm的HfS2单晶纳米片的可控生长。
实施例1
一种HfS2单晶纳米片的制备方法,包括以下步骤:
步骤1:将S源和Hf源放入石英管的上游区域,内径为12mm的内嵌石英管放置于下游区域,将云母基片放置于内嵌石英管中,距离石英管加热中心13cm;
步骤2:将石英管内部抽真空至1Pa,通入Ar气,以去除管内残余的空气并使管内气压保持常压环境;然后向管内通入15sccm的Ar和5sccm的H2分别作为载气流和保护气体;
步骤3:分别在330℃和220℃下加热HfCl4和S粉至蒸发,在石英管加热中心温度为900℃、云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为1.5mm的条件下,反应10min,生成的气相HfS2在放置于下游区域的内嵌石英管中的云母基片上沉积形成纳米片;
步骤4:反应结束后,待石英管自然降到室温,取出基片,即可在基片上得到六边形或截断三角形的超薄HfS2单晶纳米片。
进一步地,步骤1所述S源为纯度>99.5%的S粉,所述Hf源为纯度>99.8%的HfCl4。
实施例1得到的HfS2单晶纳米片的暗场下的光学显微镜图(a)和原子力显微镜AFM的表征图(b)如图2所示;高分辨透射电镜HRTEM的表征图如图4所示,
实施例2.HfS2单晶纳米片的制备
按照实施例1的步骤制备HfS2单晶纳米片,限域空间中云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d分别为0.5mm和2.5mm,其他步骤不变。该实例下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜图如图3所示。
实施例3.HfS2单晶纳米片的制备
按照实施例1的步骤制备HfS2单晶纳米片,反应温度分别变为800℃,850℃,940℃和980℃,其他步骤不变。该实施例下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜图以及厚度与成核密度的统计图如图5所示。
实施例4.基于HfS2单晶纳米片的光电探测器的制备
将微栅镍网贴于HfS2/mica(云母)上,利用电子束蒸发制备Au电极,沟道宽度约为3μm,厚度~60nm,即可获得光电探测器。
图1为本发明HfS2单晶纳米片的生长装置示意图,其中,1为内嵌石英管,2为云母基片;S源和Hf源沿着气流方向依次放置在外石英管中气流上游处的位置,内径约为12mm的内嵌石英管放置于下游区域,云母基片放置于内嵌石英管中。图2(a)是实施例1得到的HfS2单晶纳米片的暗场下的光学显微镜图,可以看出得到的纳米片呈六边形结构;图2(b)是对应的原子力显微镜图,可以看出得到的纳米片的厚度约为1.2nm。图3为实施例2不同限域空间下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜AFM的表征图;左边是在d为0.5mm时得到的单层HfS2,厚度约为0.8nm,右边是d为2.5mm时得到的螺旋状的HfS2,厚度约为5nm。图4是实施例1得到的HfS2纳米片的高分辨透射电镜,其面间距约为0.31nm,与文献报道的HfS2(001)面的面间距一致。图5(a)为实施例3不同反应温度下得到的HfS2单晶纳米片的原子力显微镜图,(b)不同反应温度下得到的HfS2单晶纳米片的厚度与成核密度的统计图。由图5可知,随着温度的升高,得到的HfS2单晶纳米片的厚度先减小后增加,成核密度的规律与之相同,也是随着温度的升高先降低后增大。图6为本发明得到的HfS2单晶纳米片制备的光电探测器示意图(a)及该光电探测器在波长420nm光照下的时间响应曲线(b)和该光电探测器的响应时间图(c);由图6可知,得到的光电探测器具有很好的稳定性和可重复性,且响应时间短,HfS2的上升时间~55ms,下降时间~78ms。
Claims (7)
1.一种HfS2单晶纳米片的制备方法,包括以下步骤:
步骤1:将S源和Hf源放入石英管的上游区域,内径小于石英管的内嵌石英管放置于下游区域,将云母基片放置于内嵌石英管中,距离石英管加热中心12-15cm;
步骤2:将石英管内部抽真空至1Pa以下,通入惰性气体使管内气压保持常压环境,然后向管内通入载气流和保护气体;
步骤3:加热S源和Hf源至蒸发,在石英管加热中心温度为800~980℃、云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为0.5~2.5mm的条件下,反应5~15min,即可生成气相的HfS2,沉积于云母基片上;
步骤4:反应结束后,待石英管自然降到室温,取出基片,即可在基片上得到HfS2单晶纳米片。
2.根据权利要求1所述的HfS2单晶纳米片的制备方法,其特征在于,步骤1所述S源为纯度>99.5%的S粉,所述Hf源为纯度>99.8%的HfCl4。
3.根据权利要求1所述的HfS2单晶纳米片的制备方法,其特征在于,步骤2所述载气流为15sccm的Ar,所述保护气体为5sccm的H2。
4.根据权利要求1所述的HfS2单晶纳米片的制备方法,其特征在于,步骤3所述S源的加热温度为200~240℃,所述Hf源的加热温度为320~340℃。
5.根据权利要求1所述的HfS2单晶纳米片的制备方法,其特征在于,步骤3所述云母基片与内嵌石英管的下壁的距离d为0.5mm、1.5mm或者2.5mm。
6.一种采用如权利要求1-5任一项所述的制备方法制备得到的HfS2单晶纳米片。
7.权利要求1-5任一项所述的制备方法制备得到的HfS2单晶纳米片在光电探测器中的应用。
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