CN107209102A - 光学检测系统及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
提供了被配置成用于聚集和检测由样本发射的光的光学检测系统。所述系统的方面包括:芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块,被配置成用于允许来自聚集光的芯区的所述选择性检测SSC波长光。还提供了使用所述系统的方法。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求于2015年2月18日提交的美国临时专利申请序列号62/117,800的优先权,所述美国临时专利申请的公开内容通过引用结合在此。
背景技术
流式细胞术是用于表征和分选生物材料(比如,血液样本的细胞或者任何类型的生物样本或化学样本中的兴趣颗粒)的技术。所述技术可以用于记录分布或者物理地分选生物材料。
流式细胞仪通常包括用于接收流体样本的样本储存器以及包含鞘液的鞘液储存器。流式细胞仪将流体样本中的颗粒(包括细胞)作为细胞流输送至流动池,同时还将鞘液引导至流动池。在流动池内,在细胞流周围形成鞘液以便将基本上均匀的速度施加到细胞流上。流动池水动力地集中所述流内的细胞以便穿过光被引导到样本上(例如,激光)的探询点。随着流动流的成分移动穿过探询点处的光,从流动流的成分中发射和散射出光(在检测区域中)。例如使用光学透镜组件来对此光进行聚集和成像,并且将其输送至检测器。材料的变化(比如,形态或荧光标签)引起所观察到的光的变化,所述变化允许通过将光聚集到一个或多个光学检测器上来进行表征。
流式细胞仪平台中的许多光学检测系统使用物镜组件和多模光纤光输送器(其将物镜成像的聚集光输送至一个或多个检测器)的组合来进行荧光和侧向散射(SSC)波长光聚集两者。在大多数平台中,光纤的集光纤芯的直径显著大于由物镜组件生成的图像,由此导致对背景光(或噪声)的检测。对于对SSC波长光的测量,这种噪声可能阻碍对样本中的亚细胞大小的颗粒(例如,亚微米大小的颗粒)进行检测。然而,部分地由于通过使用物镜来对多个不同波长的光进行成像而观察到的色差,减小光纤光输送器的集光纤芯的大小以便解决一个聚集波长的光(例如,SSC波长)导致另一个波长的光(例如,荧光波长)的图像信号的减小。
发明内容
提供了被配置成用于聚集和检测由样本发射的光的光学检测系统。所述系统的方面包括:芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块,被配置成用于允许来自聚集光的芯区的选择性检测SSC波长光。将芯区选择性SSC聚集模块包括在光学检测系统中提供了对样本成分(包括亚微米大小的颗粒)的改善检测。
在某些方面,本公开提供了光学检测系统,所述光学检测系统包括:集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;第一检测器,所述第一检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光,其中,所述第一波长的光是SSC波长光;以及光圈,所述光圈被定位在所述集光系统与所述光色散模块之间,其中,所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模被配置成用于选择性地阻挡来自所述物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达所述第一检测器。在某些实施例中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长光的穿过。在某些实施例中,所述非SSC波长光是从流动流中的颗粒发射的光。在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈与所述光色散模块之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述光色散模块。在某些实施例中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。在某些实施例中,所述光纤光输送器包括纤芯,所述纤芯具有比所述芯区更大的直径。
在某些方面,本公开提供了光学检测系统,所述光学检测系统包括:集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及光圈,所述光圈被配置成用于阻挡所述第一路中处于芯区之外的SSC波长光穿过到达所述检测器。在某些实施例中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括:光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。在某些实施例中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光。在某些实施例中,所述非SSC波长光是从流动流中的颗粒发射的光。在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈与所述检测器之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述检测器。在某些实施例中,所述光纤光输送器包括纤芯,所述纤芯具有比所述芯区更大的直径。在某些实施例中,所述光圈直接附接至所述光纤光输送器。在某些实施例中,所述光圈直接附接至所述检测器。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
在某些方面,本公开提供了光学检测系统,所述光学检测系统包括:集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及光纤光输送器,所述光纤光输送器被配置成用于选择性地将所述第一路中来自所述SSC波长光的芯区的SSC波长光传输至所述检测器。在某些实施例中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括:光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。在某些实施例中,所述光纤光输送器的所述光传输纤芯具有范围为从50μ到500μ的横截面直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光。在某些实施例中,所述非SSC波长光是从流动流中的颗粒发射的光。在某些实施例中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
在某些方面,本公开提供了流式细胞仪,所述流式细胞仪包括:光源;流动池,所述流动池包括检测区域;以及如以上(以及本文中其他地方)所阐述的光学检测系统。
在某些方面,本公开提供了分析流动流的方法,所述方法包括:使用光源来照射流动流;从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;以及使所述物镜成像的聚集光穿过光圈到达光色散模块,其中:(i)所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模选择性地阻挡芯区之外的侧向散射(SSC)波长光穿过;并且(ii)所述光色散模块被配置成用于将所述物镜成像的聚集光分离成至少第一和第二波长的光,其中,所述第一波长的光是SSC波长光;以及检测所述第一和所述第二波长的光,以便分析所述流动流。在某些实施例中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述光圈在直径上具有范围为从200μ到400μ的直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长的光的穿过。在某些实施例中,所述非SSC波长的光是从流动流中的颗粒发射的光。在某些实施例中,所述方法进一步包括:由光纤光输送器将穿过所述光圈的所述物镜成像的光传输至所述光色散模块。
在某些方面,本公开提供了分析流动流的方法,所述方法包括:使用光源来照射流动流;从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;将所述物镜成像的聚集光引导到滤光片上,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分;以及通过被配置成用于选择性地传输所述第一路中的所述SSC波长光的芯区的光纤光输送器将所述第一路聚集SSC波长光传输至检测器;以便分析所述流动流。在某些实施例中,所述光纤光输送器的所述光传输纤芯具有范围为从50μ到500μ的横截面直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。在某些实施例中,处于所述第二路聚集SSC波长光中的所述SSC波长光由第二检测器检测。在某些实施例中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。在某些实施例中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光,其中,所述方法进一步包括:检测所述至少一个非SSC波长的光。在某些实施例中,所述非SSC波长光是从流动流中的颗粒发射的光。
在某些方面,本公开提供了分析流动流的方法,所述方法包括:使用光源来照射流动流;从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;将所述物镜成像的聚集光引导到滤光片上,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分;以及使所述第一路聚集SSC波长光穿过光圈到达检测器,其中,所述光圈阻挡芯区之外的侧向散射(SSC)波长光穿过;以便分析所述流动流。在某些实施例中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。在某些实施例中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。在某些实施例中,处于所述第二路聚集SSC波长光中的所述SSC波长光由第二检测器检测。在某些实施例中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。在某些实施例中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光,其中,所述方法进一步包括:检测所述至少一个非SSC波长的光。在某些实施例中,所述非SSC波长光是从流动流中的颗粒发射的光。在某些实施例中,所述方法进一步包括:由光纤光输送器将已经穿过所述光圈所述第一路光传输至所述检测器。在某些实施例中,所述光圈直接附接至所述光纤光输送器。在某些实施例中,所述光圈直接附接至所述检测器。
以下阐述了本公开的附加方面和实施例。
附图说明
当结合附图阅读以下具体实施方式时,可以根据以下具体实施方式来最好地理解本公开的方面。附图中包括以下图:
图1A展示了包括以下元件的光学检测系统的示例:10:具有检测区域的流动池;11:物镜组件;12:光纤光输送器;13:光色散模块;14:第一荧光波长光检测器;15:第二荧光波长光检测器;16:SSC波长光检测器。光路由虚线箭头表示。
图1B。左面板展示了物镜聚集光(20)的芯图像大小,所述芯图像大小小于光输送元件的表面(或光检测器的表面)(22)的大小。右面板展示了具有光接收表面的光输送器(或检测器),所述光接收表面被配置为芯图像(24)的大致大小,由此阻止非芯光被检测到。
图1C展示了色差对光学检测系统的影响。由透镜32聚集的三个不同波长的光(线对24、26和28)的光路和焦距/焦点。焦距为相同编号的线交叉的地方(有时被称为焦点)。由于色差,当阻挡波长24的非芯区光的穿过的光圈30(通过34指示光圈中的开口)被置于集光系统与检测器(未示出)之间时,其将阻挡其他波长的光(例如,线26和28)的显著部分,这不利地影响对其的检测(例如,使用附加检测器/光输送器)。
图2A展示了本公开的具有如本文中所详述的光圈的实施例的示意图。元件标号10至16与图1A中相同。在此实施例中,聚集的成像光(虚线箭头示出了光路)被引导穿过光圈17,所述光圈具有光学掩模,所述光学掩模选择性地阻挡处于芯区之外的SSC波长光到达SSC检测器16(通过光纤光输送器12和光色散模块13)。光学掩模不阻挡由荧光检测器14和15检测的荧光波长的光。
图2B展示了本公开的包括被配置成用于生成第一路和第二路聚集的成像光的滤光片的实施例的示意图。聚集的成像光(虚线箭头示出了光路)被引导至滤光片18,所述滤光片被配置成用于至少反射SSC波长光的一部分以便形成第一路光,同时允许其他波长的光穿过以便形成第二路(第一和第二路由虚线框表示)。第一路(在这种情况下,来自滤光片18的反射光路)被引导穿过光圈19,所述光圈阻挡处于芯区之外的SSC波长光到达SSC检测器16b(通过光纤光输送器12b)。注意,在此实施例中,在第二路中检测到附加波长的光时,光圈19可以阻挡所有光。进一步地,未转移到第一路的SSC波长光由第二路中的单独SSC波长检测器16检测(如在图1A和图2A中的)。这种配置允许如本文中所详述的双SSC波长检测。
图2C展示了与在图2B中所示出的实施例类似的附加实施例的示意图,除了第一路SSC波长光被直接发送至检测器16b之外(即,在此实施例中,消除了图2B的光输送器元件12b)。
图3展示了对来自滤光片的第一路光的三种光检测配置的代表性示例。元件50表示传入的第一路光,所述第一路光至少包括聚集SSC波长光的一部分。在左面板中,第一路(即,SSC波长光的一部分)被引导穿过光圈元件19,所述光圈元件阻挡处于芯区之外的第一路光到达检测器。光圈元件的第一路光所穿过的部分40与芯区的直径相同。第一路42(即,穿过40的光)的芯区或者被直接检测(未示出)或者由光输送器12b输送,在这种情况下,所述光输送器为具有纤芯44(即,光输送表面)的光纤光输送器,所述纤芯具有比芯区更大的直径。在中间面板中,光圈元件19直接置于(直接附接至)光输送器上(至检测器,未示出)。在这种实施例中,可以将光输送器/检测器说成直接定位在光圈后面。在右面板中,光输送器12b被配置成使得其纤芯44与第一路光的芯区的大小相同,并且因此,不需要光圈元件。在一些实施例中,检测器具有大小与芯区相同的光检测区域,并且因此不需要光圈(未示出)。
具体实施方式
提供了被配置成用于聚集和检测由样本发射的光的光学检测系统。所述系统的方面包括:芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块,被配置成用于允许来自聚集光的芯区的选择性检测SSC波长光。将芯区选择性SSC聚集模块包括在光学检测系统中提供了对样本成分(包括亚微米大小的颗粒)的改善检测。
在更详细地描述本发明之前,应当理解的是,因为所描述的具体实施例可能变化,所以本发明不限于所述具体实施例。还应当理解的是,因为本发明的范围将仅由所附权利要求书限制,所以本文中所使用的术语仅是出于描述具体实施例的目的,而不旨在是限制性的。
在提供了值范围的情况下,应当理解的是,除非上下文清楚地另外指明,每个中间值(到下限的第十个单位,在所述范围的上限与下限之间)以及在所陈述的范围内的任何其他所陈述的值或中间值均涵盖在本发明之内。所述更小范围的上限和下限可以独立地包括在更小范围之内,并且也涵盖在本发明之内,受制于在所陈述范围内任何确切排除的限制。在所陈述的范围包括限制中的一者或两者的情况下,排除了那些包括的限制中的任一者或两者的范围也包括在本发明之内。
除非另外限定,本文中所使用的所有技术性术语和科学性术语具有与本发明所属领域的技术人员通常理解的含义相同的含义。尽管类似于或等同于本文中所描述的方法和材料的任何方法和材料也可以用于对本发明的实践或测试,但是现在将对代表性说明方法和材料进行描述。
本说明书中所引用的所有出版物和专利通过引用结合在此,就像每个单独的出版物或专利被具体且单独地指示为通过引用结合并且通过引用结合在此,以便结合所引用的所述出版物来公开和描述所述方法和/或材料。对任何出版物的引用内容是针对其在申请日期之前的公开,并且不应当被解释为承认本发明因为先前发明而不能获得比这种出版物更早的申请日期。另外,所提供的出版物的日期可以不同于实际公开日期,所述实际公开日期可能需要被独立确认。
应当指出的是,除非上下文另外清楚地指明,如本文中所使用的以及在所附权利要求书中,单数形式“一个”、“一种”以及“所述”包括复数指代物。应当进一步指出的是,可以将权利要求书撰写成排除任何可选要素。如此,这种陈述旨在充当结合对权利要求要素的叙述使用如“仅仅”、“仅”等排他性术语或使用“负”限制的前提基础。
如将对于本领域技术人员清楚的是,在阅读本公开时,本文中所描述和说明的单独实施例中的每个实施例具有不连续的成分和特征,所述成分和特征可以在不偏离本发明的范围或精神的情况下易于与任何其他若干实施例的特征分离或组合。可以按所叙述的事件的顺序或按逻辑上可能的任何其他顺序来执行所叙述的任何方法。
光学检测系统
如以上所概述的,提供了被配置成用于聚集和检测由样本发射的光的光学检测系统。所述系统的方面包括芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块。如本文中所描述的芯区SSC聚集模块被配置成用于允许来自聚集光的芯区的选择性检测SSC波长光。在一些实施例中,将芯区选择性SSC聚集模块包括在光学检测系统中提供了对样本成分(包括亚微米大小的颗粒)的改善检测。
如相比于当前可用的系统,包括如本文中所描述的芯区SSC聚集模块的光学检测系统可用于改善SSC检测中的信噪比。例如,这允许改善对亚细胞大小的颗粒(例如,在亚微米大小范围内的颗粒)的检测。在某些实施例中,所述光学检系统被配置成用于提供双SSC检测,双SSC检测允许对细胞和亚细胞大小的颗粒的同时检测和分析。现在更详细地描述这种实施例的示例。
图1A提供了一般光学检测系统的示意图,所述光学检测系统包括具有检测区域的流动池(10)、用于从检测区域产生成像的聚集光的物镜组件(11)以及将聚集光输送到光色散模块(13)和一个或多个检测器(在图1A中被示出为14、15和16)的光输送器(12)。光路由虚线箭头表示。在此图中,检测器14和15表示荧光波长检测器(针对两个不同的波长),并且检测器16表示SSC波长光检测器。
在光学检测系统中,物镜聚集光(见图1B,20)的图像大小可能显著小于系统的光输送元件的表面的大小,所述光输送元件将聚集光输送至检测器(图1B,22),例如,光纤光输送器的纤芯。(将光传播至检测器的有源表面的适当光纤方案包括但不限于如美国专利号6,809,804中所描述的流式细胞仪光纤方案等流式细胞仪光纤方案,所述专利的公开内容通过引用结合在此)。例如,某些光学检测系统包括集光系统,所述集光系统产生直径为约200微米的图像(也被称为“芯区”),而光纤光输送器的纤芯直径为约800微米。这种大小差异允许显著量的聚集背景SSC波长光输送至检测器,由此减小信噪比。因此,在光学检测系统中消除或减少对非芯区成像SSC波长光的检测将显著减少光学噪声,而不会影响检测效率(在图1B中表示,24)。
如以下所详述的,芯区选择性SSC聚集模块可以包括一个或多个元件,所述一个或多个元件单独地或组合地允许对选自以下各项的物镜成像的聚集SSC波长光的芯区的选择性检测:一个或多个光圈,所述一个或多个光圈具有选择性地阻挡处于芯区之外的SSC光的穿过的光学掩模;一个或多个滤光片;一个或多个光输送元件;一个或多个检测器;及其任何组合。以下提供代表性实施例。
在某些实施例中,提供了一种光学检测系统,所述光学检测系统包括:集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集光;以及光圈,所述光圈被定位在所述集光系统与所述检测器之间,其中,所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模被配置成用于阻挡来自所述物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达所述检测器。换言之,光圈具有与物镜成像的聚集光的芯区相匹配的大小(由光学掩模限定)。
可以以任何合宜的方式来配置所公开的光学检测系统的集光系统。在某些方面,所述集光系统包括一个或多个物镜,所述一个或多个物镜可以包括被配置成用于从流动池的检测区域接收光并产生传输至系统中的一个或多个检测器的成像光的准直镜、聚焦透镜、放大镜、缩小镜或其他透镜之一或其组合。可以使用被配置成用于从流动池的检测区域生成物镜成像的聚集光的任何合宜的集光系统。可以采用的集光系统的示例包括在美国专利号3,960,449;4,347,935;4,667,830;5,245,318;5,464,581;5,483,469;5,602,039;5,643,796;5,700,692;6,372,506和6,809,804中描述的集光系统,所述美国专利的公开内容通过引用结合在此。
在某些实施例中,物镜成像的聚集SSC波长光的芯区具有范围为从50微米(μ)到500μ的直径,包括从70μ到450μ、从70μ到400μ、从100μ到400μ、从200μ到400μ等。如此,在某些实施例中,芯区具有约500μ、或约475μ、或约450μ、或约425μ、或约400μ、或约375μ、或约350μ、或约325μ、或约300μ、或约275μ、或约250μ、或约225μ、或约200μ、或约175μ、或约150μ、或约125μ、或约100μ、或约75μ、或约50μ、或其之间的任何大小的直径。
在某些实施例中,所述光学检测系统被配置成用于聚集和检测除了SSC波长光以外的波长的光。如本领域中所熟知的,由集光系统(例如,使用物镜组件)聚集和成像的不同波长的光的焦距通常彼此不同。这种现象被称为色差并且在图1C中加以图示。此图示出了由透镜32聚集的三个不同波长的光的光路和焦距/焦点(所述波长的光通过线对24、26和28表示;焦距为相同编号的线交叉的地方,有时被称为焦点)。由于色差,当阻挡波长24的非芯区光的穿过的光圈30(通过34指示光圈中的开口)置于集光系统与检测器(未示出)之间时,其将阻挡其他波长的光(线26和28)的显著部分,这不利地影响对其的检测(例如,使用附加检测器/光输送器)。
因此,在某些实施例中,光圈的光学掩模选择性地阻挡来自物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达检测器。“选择性阻挡”意指光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长光的穿过,包括至少2个、至少3个、至少4个、至少5个、至少6个、至少7个、至少8个、至少9个、至少10个、至少15个、至少20个、至少30个、至少40个、至少50个或更多个波长的光。在某些实施例中,光圈的光学掩模仅阻挡SSC波长光的穿过。因此,在某些实施例中,光圈的光学掩模元件以类似于滤光片(或带通滤波器)的方式起作用,所述滤光片用于各种各样的光检测应用(并且以下更详细地对其进行描述)。
在某些实施例中,非SSC波长光是从流动流中的颗粒(例如,细胞或亚细胞颗粒)发射的光。光可以从颗粒本身和/或从颗粒上或颗粒中具有发光性质的成分(例如,荧光分子)发射。这种实施例包括与荧光标记的抗体结合的和/或与荧光蛋白相关联或表示荧光蛋白的细胞或颗粒。在这方面没有限制。
在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括光色散(或分离器)模块,所述光色散模块在物镜成像的聚集光被传输至一个或多个检测器之前对其进行处理。光色散/分离器模块是指将多色光分离成其组成波长的设备(如此,这些模块有时被称为“波长分离器”)。根据某些实施例的波长分离可以包括选择性地使多色光的特定波长或波长范围穿过或阻挡多色光的特定波长或波长范围。除了其他波长分离设备之外,兴趣光色散设备包括但不限于有色玻璃、带通滤波器、干涉滤波器、二向色镜、衍射光栅、单色器及其组合。在某些实例中,光色散模块包括一个或多个带通滤波器,所述一个或多个带通滤波器具有范围为从2nm到100nm的最小带宽,比如从3nm到95nm,比如从5nm到95nm,比如从10nm到90nm,比如从12nm到85nm,比如从15nm到80nm并且包括具有范围为从20nm到50nm的最小带宽的带通滤波器。
在某些实施例中,所述光学检测系统进一步包括:光输送器,所述光纤光输送器被定位在光圈与检测器之间,其中,光输送器被配置成用于将已经穿过光圈的物镜成像的聚集光输送至检测器。在一些实施例中,光输送器是光纤光输送器。在某些实施例中,光输送器被定位在光色散模块与检测器之间。进一步地,在光学检测系统中可以存在多个光输送器,每个光输送器与相应(不同)检测器相关联。例如,如本文中所描述的光学检测系统可以具有光输送器以及检测器,所述检测器被配置成用于检测由光色散模块处理(或分离)的每个不同波长的光。在光输送器是光纤的实施例中,光纤的纤芯直径(纤芯是光纤的光输送部分)大于穿过光圈的聚集SSC光的芯区的直径。因此,光圈用于阻止处于芯区之外的SSC波长光被光输送器输送至检测器,由此减小SSC波长聚集光中的光学噪声。
可以在本文中所描述的光学检测系统中使用用于检测成像的聚集光的任何合宜检测器。除了其他光电检测器以外,兴趣检测器可以包括但不限于光学传感器或光电检测器,比如,有源像素传感器(APS)、雪崩光电二极管、图像传感器、电荷耦合装置(CCD)、增强型电荷耦合装置(ICCD)、发光二极管、光子计数器、辐射热测量计、热电检测器、光敏电阻、光伏电池、光电二极管、光电倍增管(PMT)、光电晶体管、量子点光电导体或光电二极管及其组合。在某些实施例中,使用电荷耦合装置(CCD)、半导体电荷耦合装置(CCD)、有源像素传感器(APS)、互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器或N型金属氧化物半导体(NMOS)图像传感器来对聚集光进行测量。
在一些实施例中,成像传感器是CCD相机。例如,相机可以是电子倍增CCD(EMCCD)相机或增强型CCD(ICCD)相机。在其他实施例中,成像传感器是CMOS型相机。在使用CCD来测量聚集光的情况下,CCD的有源检测表面积可以比如从0.01cm2到10cm2,比如从0.05cm2到9cm2,比如从,比如从0.1cm2到8cm2,比如从0.5cm2到7cm2并且包括从1cm2到5cm2变化。
如所期望的,主题系统中的光电检测器的数量可以变化。例如,主题系统可以包括一个光电检测器或更多,比如两个光电检测器或更多,比如三个光电检测器或更多,比如四个光电检测器或更多,比如五个光电检测器或更多并且包括十个光电检测器或更多。在某些实施例中,系统包括一个光电检测器。在其他实施例中,系统包括两个光电检测器。
在主题系统包括多于一个光电检测器的情况下,每个光电检测器可以是相同的,或者两个或更多个光电检测器的集合可以是不同类型的光电检测器的组合。例如,在主题系统包括两个光电检测器的情况下,在一些实施例中,第一光电检测器是CCD型设备并且第二光电检测器(或成像传感器)是CMOS型设备。在其他实施例中,第一光电检测器和第二光电检测器两者都是CCD型设备。在又其他实施例中,第一光电检测器和第二光电检测器两者都是CMOS型设备。在仍其他实施例中,第一光电检测器是CCD型设备并且第二光电检测器是光电倍增管(PMT)。在仍其他实施例中,第一光电检测器是CMOS型设备并且第二光电检测器是光电倍增管。在又其他实施例中,第一光电检测器和第二光电检测器两者都是光电倍增管。
在本公开的实施例中,兴趣检测器被配置成用于对一个或多个波长的聚集光进行测量,比如2个或更多个波长,比如5个或更多个不同波长,比如10个或更多个不同波长,比如25个或更多个不同波长,比如50个或更多个不同波长,比如100个或更多个不同波长,比如200个或更多个不同波长,比如300个或更多个不同波长并且包括对由流动流中的样本发射的400个或更多个不同波长的光进行测量。在一些实施例中,如本文中所描述的光学检测系统中的2个或更多个检测器被配置成用于测量相同或重叠波长的聚集光(以下进一步描述的)。
在一些实施例中,兴趣检测器被配置成用于对某个波长范围(例如,200nm到1000nm)内的聚集光进行测量。在某些实施例中,兴趣检测器被配置成用于聚集某个波长范围内的光的光谱。例如,系统可以包括一个或多个检测器,所述一个或多个检测器被配置成用于聚集在200nm到1000nm的波长范围中的一个或多个波长范围内的光的光谱。在又其他实施例中,兴趣检测器被配置成用于对由流动流中的样本发射的一个或多个特定波长的光进行测量。例如,系统可以包括一个或多个检测器,所述一个或多个检测器被配置成用于对在450nm、518nm、519nm、561nm、578nm、605nm、607nm、625nm、650nm、660nm、667nm、670nm、668nm、695nm、710nm、723nm、780nm、785nm、647nm、617nm以及其任何组合中的一者或多者的光进行测量。在某些实施例中,一个或多个检测器可以被配置成与特定荧光团配对,比如,在荧光测定中与样本一起使用的荧光团。
在实施例中,检测器被配置成用于连续地或以不连续的间隔对光进行测量。在一些实例中,兴趣检测器被配置成用于连续地对聚集光进行测量。在其他实例中,兴趣检测器被配置成用于以不连续的间隔进行测量,比如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒并且包括每1000毫秒或其他某个间隔对光进行测量。
本公开的附加方面涉及光学检测系统,所述光学检测系统包括:集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集光;以及滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分并且被传输至检测器(例如,经由光输送器)。
以上提供了用于所公开的光学检测系统的集光系统和检测器的示例,并且因此,此处不对其进行重复。
在某些实施例中,滤光片被配置成用于至少反射来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分以便产生第一路,而在其他实施例中,滤光片被配置成用于至少使来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分穿过以便产生第一路。
图2A提供了本公开的具有如本文中所描述的光圈的实施例的示意图(注意,元件标号10至16与图1A中相同)。在此图中,聚集的成像光(虚线箭头示出了光路)被引导穿过光圈17,所述光圈具有光学掩模,所述光学掩模选择性地阻挡处于芯区之外的SSC波长光到达SSC检测器16(通过光纤光输送器12和光色散模块13)。光学掩模不阻挡由荧光检测器14和15检测的荧光波长的光。因此,光圈17用于在不影响由检测器14和15检测的波长的光的同时减小SSC波长光中的噪声。应当指出的是,在某些实施例中,仅检测到除了SSC波长光之外的一个附加波长的光,并且因此,仅使用单个附加检测器(即,检测器14或检测器15,而不是两者)。
图2B提供了本公开的实施例的示意图,其中,滤光片被配置成用于至少将来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分反射到检测器。在此图中,聚集的成像光被引导至滤光片18,所述滤光片被配置成用于至少反射SSC波长光的一部分以便形成第一路光,同时允许其他波长的光穿过以便形成第二路。在某些实施例中,SSC波长光的未被反射到第一路中的部分作为第二路的一部分而穿过滤光片18。然后,第一路被引导穿过光圈19,所述光圈阻挡处于芯区之外的SSC波长光到达SSC检测器16b(通过光纤光输送器12b)。注意,在此实施例中,在第二路中检测到附加波长的光时,光圈19可以阻挡所有光。进一步地,未转移到第一路的SSC波长光由第二路中的单独SSC波长检测器16检测(如在图1A和图2A中的)。这种配置允许如本文中所详述的双SSC波长检测。
此处应当指出的是,还设想了滤光片被配置成用于使来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分穿过以便形成第一路(而不是将其反射)的实施例。因此,在某些实施例中,聚集的成像光被引导至滤光片,所述滤光片被配置成用于至少使SSC波长光的一部分穿过以便形成第一路聚集光,同时反射其他波长的光以便形成第二路。在某些实施例中,SSC波长光的未穿过滤光片的部分(即,第一路的一部分)由滤光片反射为第二路的一部分。然后,第一路被引导至如针对图2B中的第一路而描述的检测器。
图2C展示了与在图2B中所示出的实施例类似的附加实施例的示意图,除了第一路SSC波长光被直接发送至检测器16b之外(即,在此实施例中,消除了图2B的光输送器元件12b)。
图3展示了对来自滤光片的第一路光的三种光检测配置的代表性示例。元件50表示传入的第一路光,所述第一路光至少包括聚集SSC波长光的一部分。在左面板中,第一路(即,SSC波长光的一部分)被引导穿过光圈元件19,所述光圈元件阻挡处于芯区之外的第一路光到达检测器。光圈元件的第一路光所穿过的部分40与芯区的直径相同。第一路42(即,穿过40的光)的芯区或者被直接检测(未示出)或者由光输送器12b输送,在这种情况下,所述光输送器为具有纤芯44(即,光输送表面)的光纤光输送器,所述纤芯具有比芯区更大的直径。在中间面板中,光圈元件19直接置于(直接附接至)光输送器上(至检测器,未示出)。在这种实施例中,可以将光输送器/检测器说成直接定位在光圈后面。在右面板中,光输送器12b被配置成使得其纤芯44与第一路光的芯区的大小相同,并且因此,不需要光圈元件。在一些实施例中,检测器具有大小与芯区相同的光检测区域,并且因此不需要光圈(未示出)。
在某些实施例中,第一路包含物镜成像的聚集SSC波长光的50%到99%,包括从55%到98%、从60%到96%、从70%到94%、从80%到92%、从85%到90%以及其之间的任何范围。因此,在某些实施例中,第一路包括物镜成像的聚集SSC波长光的至少约55%、至少约60%、至少约65%、至少约70%、至少约75%、至少约80%、至少约85%、至少约90%、至少约92%、至少约93%、至少约94%、至少约95%、至少约96%、至少约97%、至少约98%以及至少约99%。
如以上所指出的,滤光片可以被配置成使得第一路由滤光片反射的光产生或者可以被配置成使得第一路由穿过滤光片的光产生。
在某些实施例中,所述光学检测系统包括第二检测器,所述第二检测器被配置成用于接收第二路物镜成像的聚集光中的SSC波长光。在这些实施例中的某些实施例中,所述光学检测系统被配置成使得第二检测器检测芯区和非芯区SSC波长光两者。在这种实施例中,所述光学检测系统可以使用第一检测器来检测亚细胞颗粒(第一路中的芯区SSC波长光)并且使用第二检测器来检测更大的颗粒(例如,细胞)。在这些实施例中的某些实施例中,如相比于第二路,在第一路中存在物镜聚集的SSC波长光束的更高部分,例如,其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约99%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约1%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约98%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约2%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约97%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约3%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约96%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约4%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约95%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约5%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约90%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约10%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约80%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约20%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约70%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约30%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约60%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约40%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约51%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约49%。(应当指出的是,在以上图中排除了使用滤光片而引起的任何光损耗。)
在某些实施例中,滤光片被配置成使得第二路包括至少一个非SSC波长的聚集光。例如,第二路可以包括从流动流中的颗粒(例如,亚细胞颗粒或细胞)发射的非SSC波长光。以上提供了非SSC波长的光以及对其的检测的示例,并且此处不对其进行重复。
本公开的方面提供了一种测量由样本发射的光的系统,其中,所述系统包括:光源;具有检测区域的流动池;以及本公开的光学检测系统。如以上所详述的,本公开的光学检测系统包括本公开的芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块。芯区SSC聚集模块被配置成用于允许来自聚集光的芯区的选择性检测SSC波长光。可以采用以上所描述的芯区SSC聚集模块的任何配置。
在某些方面,用于测量由样本发射的光的系统的光学检测系统包括具有一个或多个元件的芯区选择性SSC聚集模块,所述一个或多个元件单独地或组合地允许对物镜成像的聚集SSC波长光的芯区的选择性检测。这种元件可以选自:一个或多个光圈,所述一个或多个光圈具有选择性地阻挡处于芯区之外的SSC光的穿过的光学掩模;一个或多个滤光片;一个或多个光输送元件;一个或多个检测器;及其任何组合。
因此,在某些实施例中,提供了一种测量由样本发射的光的系统,所述系统包括:光源;流动池,所述流动池具有检测区域;集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集光;以及光圈,所述光圈被定位在所述集光系统与所述检测器之间,其中,所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模被配置成用于阻挡来自所述物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达所述检测器。因此,光圈具有与物镜成像的聚集光的芯区相匹配的大小(由光学掩模限定)。在某些实施例中,用于测量由样本发射的光的系统被配置成用于聚集和检测除了SSC波长光之外的波长的光。因此,在一些实施例中,光圈的光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长光的穿过。以上详细描述了这种实施例,并且此处不对其进行重复。
本公开的附加方面涉及一种用于测量由样本发射的光的系统,所述系统包括:光源;流动池,所述流动池具有检测区域;集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集光;以及滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分并且被传输至检测器(例如,经由光输送器)。
在某些实施例中,滤光片被配置成用于至少反射来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分以便产生第一路,而在其他实施例中,滤光片被配置成用于至少使来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分穿过以便产生第一路。以上详细描述了这种实施例,并且此处不对其进行重复。
在实施例中,用于测量由样本发射的光的系统的光源可以是任何适当的宽带或窄带光源。根据样本中的成分(例如,细胞、珠、非细胞颗粒等),光源可以被配置成用于发射在从200nm到1500nm的范围内变化的波长的光,比如从250nm到1250nm,比如从300nm到1000nm,比如从350nm到900nm并且包括从400nm到800nm。例如,光源可以包括发射具有从200nm到900nm的波长的光的宽带光源。在其他实例中,光源包括发射范围为从200nm到900nm的波长的窄带光源。例如,光源可以是发射具有范围在200nm到900nm之间的波长的光的窄带LED(1nm到25nm)。在一些实施例中,光源是激光器(比如,连续波激光器)。例如,激光器可以是氦氖(HeNe)激光器。在某些实施例中,光源是流式细胞仪中的激光器。
在其他实施例中,光源是如电灯等非激光光源,包括但不限于卤素灯、氘弧灯、氙弧灯、发光二极管(比如,具有连续光谱的宽带LED)、超辐射发光二极管、半导体发光二极管、宽光谱LED白光源、集成的多LED。在一些实例中,除了其他光源以外,非激光光源是稳定的光纤耦合宽带光源、白光源或其任何组合。
光源可以被定位成距离样本(例如,流式细胞仪中的流动流)任何适当的距离,比如离流动流0.001或更多的距离,比如0.005mm或更多,比如0.01mm或更多,比如0.05mm或更多,比如0.1mm或更多,比如0.5mm或更多,比如1mm或更多,比如5mm或更多,比如10mm或更多,比如25mm或更多并且包括100mm或更多的距离。此外,光源以任何适当的角度(例如,相对于流动流的垂直轴)照射样本,比如以范围为从10°到90°的角度,比如从15°到85°,比如从20°到80°,比如从25°到75°并且包括从30°到60°,例如,以90°角。
光源可以被配置成用于连续地或者以不连续的间隔照射样本。在一些实例中,系统包括被配置成用于(比如,使用在流式细胞仪中的探询点处连续地照射流动流的连续波激光器)连续地照射样本的光源。在其他实例中,兴趣系统包括被配置成用于以不连续的间隔(比如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒并且包括每1000毫秒,或者其他某个间隔)照射样本的光源。在光源被配置成用于以不连续的间隔照射样本的情况下,系统可以包括一个或多个附加部件以便使用光源来提供对样本的间歇性照射。例如,在这些实施例中,主题系统可以包括一个或多个激光束斩光器(用于阻挡并将样本暴露于光源中的手动控制或计算机控制的束阑)。
在某些实施例中,主题系统包括采用流动池喷嘴和光学器件子系统来检测由流动流中的样本发射的光的流式细胞仪系统。用于分析样本的适当流式细胞仪系统和方法包括但不限于以下文献中所描述的系统和方法:Flow Cytometry:A Practical Approach(《流式细胞术:实用方法》)(编者:Ormerod(奥默罗德),牛津大学出版社(1997));FlowCytometry Protocols(《流式细胞术方案》)(编者:雅罗什斯基(Jaroszeski)等人,Methodsin Molecular Biology No.91(《分子生物学方法第91期》),胡玛纳出版社(1997));Practical Flow Cytometry,3rd ed.(《实用流式细胞术:第三版》)(Wiley-Liss(1995));Ann Clin Biochem(《临床生化纪事》)(Virgo(弗戈)等人(2012),1月,49(第1部分):17-28);Semin Throm Hemost(《血栓与止血研讨》)(Linden(林登)等人,2004年10月,30(5):502-11);J Pathol(《病理学杂志》)(Alison(艾莉森)等人,2010年12月,222(40):335-344);以及Crit Rev Ther Drug Carrier Syst(《治疗性药物载体系统的关键评论》)(Herbig(赫比格)等人(2007),24(3):203-255),所述文献的公开内容通过引用结合在此。在某些实例中,兴趣流式细胞术系统包括BD生物科学FACSCantoTM流式细胞仪、BD生物科学FACSVantageTM、BD生物科学FACSortTM、BD生物科学FACSCountTM、BD生物科学FACScanTM、以及BD生物科学FACSCaliburTM系统、BD生物科学InfluxTM细胞分选器、BD生物科学JazzTM细胞分选器以及BD生物科学AriaTM细胞分选器等。
在某些实施例中,主题系统是结合了以下美国专利号中所描述的流式细胞仪的一个或多个部件的流式细胞仪系统:3,960,449;4,347,935;4,667,830;4,704,891;4,770,992;5,030,002;5,040,890;5,047,321;5,245,318;5,317,162;5,464,581;5,483,469;5,602,039;5,620,842;5,627,040;5,643,796;5,700,692;6,372,506;6,809,804;6,813,017;6,821,740;7,129,505;7,201,875;7,544,326;8,140,300;8,233,146;8,753,573;8,975,595;9,092,034;9,095,494和9,097,640,所述专利的公开内容通过引用结合在此。
用于测量由样本发射的光的方法
本公开的方面包括用于测量由样本发射的光的方法。在某些实施例中,使用具有如本文中所描述的芯区SSC聚集模块的光学检测系统来聚集和测量由样本发射的光。
在某些实施例中,提供了分析流动流的方法,其中,所述方法包括:使用光源来照射流动流;从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;以及使所述物镜成像的聚集光穿过芯区SSC聚集模块到达检测器,其中,所述芯区SSC聚集模块选择性地阻挡芯区之外的侧向散射(SSC)波长光到达所述检测器,由此分析所述流动流。
被分析样本可以是用户感兴趣的任何样本。在某些实施例中,样本包含生物成分或者是生物样本。术语“生物样本”在其常规意义上用于指源自或包含完整生物体的样本,例如,原核细胞;真核细胞;植物;真菌;或动物组织、细胞或成分的子集,在某些实例中,所述动物组织、细胞或成分可以存在于血液、粘液、淋巴液、滑液、脑脊髓液、唾液、支气管肺泡灌洗液、羊水、羊膜脐带血、尿液、阴道液以及精液中。如此,“生物样本”指天然生物体或其组织的子集两者,以及指:匀浆;隔离、净化或浓缩的生物颗粒(例如,DNA、RNA、蛋白质、亚细胞器等)、以及由生物体或其组织的子集中制备的裂解物或提取物,包括但不限于例如,血浆;血清;脊髓液;淋巴液;皮肤、呼吸道、胃肠道、心血管以及泌尿生殖道的部分;眼泪;唾液;乳汁;血细胞;肿瘤;器官。生物样本可以是任何类型的生物体组织,包括健康组织和患病组织(例如,癌性的、恶性的、坏死的等)两者。在某些实施例中,生物样本是液体样本,比如,血液或其衍生物,例如,血浆、眼泪、尿液、精液等,其中,在一些实例中,样本是血液样本,包括全血,比如,从静脉穿刺或手指针刺获得的血液(其中,所述血液在测定之前可以或可以不与如防腐剂、抗凝剂等任何试剂组合)。
在某些实施例中,样本的来源是“哺乳动物”或“哺乳类”,其中,这些术语被广泛地用来描述在哺乳纲之内的生物体,包括食肉目(例如,狗和猫)、啮齿目(例如,小鼠、豚鼠和大鼠)、以及灵长类(例如,人、黑猩猩和猴)。在一些实例中,受试者是人类。所述方法可以应用于从两性的和在任何发育阶段(即,新生儿、婴儿、少年、青少年、成年)的人类受试者获得的样本,其中,在某些实施例中,人类受试者是少年、青少年或成年人。虽然本公开的实施例可以应用于来自人类受试者的样本,但应当理解的是,所述方法还可以在来自其他动物受试者(比如但不限于鸟、小鼠、大鼠、狗、猫、家畜以及马)的样本上(即,在“非人类受试者”中)执行。
在实践根据某些实施例的方法时,使用来自光源的光来照射样本(例如,在流式细胞仪的流动流中)。可以采用任何合宜的光源。例如,在一些实施例中,使用宽带光源来照射样本,所述宽带光源是发射具有宽范围的波长的光,如例如跨越50nm或更多,比如100nm或更多,比如150nm或更多,比如200nm或更多,比如250nm或更多,比如300nm或更多,比如350nm或更多,比如400nm或更多并且包括跨越500nm或更多。在其他实施例中,方法包括使用发射具体波长或窄波长范围的窄带光源来进行照射,如例如使用发射像50nm或更小的窄波长范围的光的光源,比如40nm或更小,比如30nm或更小,比如25nm或更小,比如20nm或更小,比如15nm或更小,比如10nm或更小,比如5nm或更小,比如2nm或更小的范围,并且包括发射特定波长的光(即,单色光)的光源。在方法包括使用窄带光源来进行照射的情况下,兴趣窄带光源方案可以包括但不限于窄波长LED、激光二极管或耦合至一个或多个光学带通滤波器、衍射光栅、单色器或其任何组合的宽带光源。在某些实施例中,方法包括:使用一个或多个激光器来照射样本,其中,激光器的类型和数量将根据样本以及所聚集的期望光而变化。如此,一个或多个激光器可以选自:一个或多个气体激光器、一个或多个染料激光器、一个或多个准分子激光器、一个或多个金属-蒸气激光器、一个或多个固态激光器及其组合。
可以使用以上提及的光源中的一个或多个光源来照射样本,比如两个或更多个光源,比如三个或更多个光源,比如四个或更多个光源,比如五个或更多个光源并且包括十个或更多个光源。光源可以包括多种类型的光源的任何组合。例如,在一些实施例中,所述方法包括使用激光器阵列来照射流动流中的样本,比如具有一个或多个气体激光器、一个或多个染料激光器以及一个或多个固态激光器的阵列。
可以使用范围为从200nm到1500nm的波长来照射样本,比如从250nm到1250nm,比如从300nm到1000nm,比如从350nm到900nm并且包括从400nm到800nm。例如,在光源是宽带光源的情况下,可以使用从200nm到900nm的波长来照射样本。在其他实例中,在光源包括多个窄带光源的情况下,可以使用在从200nm到900nm范围内的特定波长来照射样本。例如,光源可以是各自独立地发射具有在200nm到900nm之间的波长范围的光的多个窄带LED(1nm到25nm)。在其他实施例中,窄带光源包括一个或多个激光器(比如,激光器阵列),并且使用范围为从200nm到700nm的特定波长(比如,使用具有如以上所描述的气体激光器、准分子激光器、染料激光器、金属蒸气激光器以及固态激光器的激光器阵列)来照射样本。
在采用多于一个光源的情况下,可以使用光源来同时或顺序地或其组合照射样本。例如,可以使用这两种光源来同时照射样本。在其他实施例中,使用这两种光源来顺序地照射流动流。在两种光源顺序地进行照射的情况下,每种光源照射样本的时间可以独立地为0.001微秒或更多,比如0.01微秒或更多,比如0.1微秒或更多,比如1微秒或更多,比如5微秒或更多,比如10微秒或更多,比如30微秒或更多并且包括60微秒或更多。例如,方法可以包括在从0.001微秒到100微秒(比如从0.01微秒到75微秒,比如从0.1微秒到50微秒,比如从1微秒到25微秒并且包括从5微秒到10微秒)的持续时间内使用光源(例如,激光器)来照射样本。在使用两个或更多个光源来顺序地照射样本的实施例中,由每个光源照射样本的持续时间可以相同或不同。
可以连续地或以不连续的间隔照射样本。在一些实例中,方法包括使用光源来连续地照射样本。在其他实例中,使用光源以不连续的间隔照射样本,比如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒并且包括每1000毫秒或其他某个间隔进行照射。
根据光源,可以从变化的距离照射样本,比如0.01mm或更多,比如0.05mm或更多,比如0.1mm或更多,比如0.5mm或更多,比如1mm或更多,比如2.5mm或更多,比如5mm或更多,比如10mm或更多,比如15mm或更多,比如25mm或更多并且包括50mm或更多。而且,照射角度也可以在从10°到90°的范围内变化,比如从15°到85°,比如从20°到80°,比如从25°到75°并且包括从30°到60°,例如,以90°角。
在某些实施例中,通过集光系统(例如,物镜组件)来处理由经照射的样本发射的光,并且通过具有如以上所描述的芯区SSC聚集模块的光学检测系统来对其进行测量。
因此,在某些实施例中,所述方法包括:聚集从经照射的样本(例如,从经照射的流动流的检测区域)发射的光并从其中生成物镜成像的光。在某些方面,生成物镜成像的光包括使聚集光穿过一个或多个物镜,所述一个或多个物镜可以包括被配置成用于(例如,从流动池的检测区域)接收光并产生成像光的准直镜、聚焦透镜、放大镜、缩小镜或其他透镜之一或其组合。
在某些实施例中,所述方法包括:使物镜成像的聚集光穿过光圈到达检测器,其中,光圈具有光学掩模,所述光学掩模阻挡芯区之外的SSC波长光到达检测器。(所公开的方法的此方面可以被描述为阻挡芯区之外的SSC波长光到达检测器。)如以上所描述的,在某些实施例中,物镜成像的聚集SSC波长光的芯区具有范围为从50微米(μ)到500μ的直径,包括从70μ到450μ、从70μ到400μ、从100μ到400μ、从200μ到400μ等。如此,在某些实施例中,芯区具有约500μ、或约475μ、或约450μ、或约425μ、或约400μ、或约375μ、或约350μ、或约325μ、或约300μ、或约275μ、或约250μ、或约225μ、或约200μ、或约175μ、或约150μ、或约125μ、或约100μ、或约75μ、或约50μ、或其之间的任何大小的直径。
在某些实施例中,光圈的光学掩模选择性地阻挡来自物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达检测器。“选择性阻挡”意指光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长光的穿过,包括至少2个、至少3个、至少4个、至少5个、至少6个、至少7个、至少8个、至少9个、至少10个、至少15个、至少20个、至少30个、至少40个、至少50个或更多个波长的光。在某些实施例中,光圈的光学掩模仅阻挡SSC波长光的穿过。因此,在某些实施例中,光圈的光学掩模元件以类似于滤光片(或带通滤波器)的方式起作用,所述滤光片用于各种各样的光检测应用。
在某些实施例中,所述方法包括:由一个或多个附加检测器(例如,第二检测器、第三检测器等)检测穿过光圈的光学掩模的一个或多个非SSC波长的光。在某些实施例中,所述一个或多个非SSC波长的光是从流动流中的颗粒(例如,细胞或亚细胞颗粒)发射的光。光可以从颗粒本身和/或从颗粒上或颗粒中具有发光性质的成分(例如,荧光分子)发射。这种实施例包括与荧光标记的抗体结合的和/或与荧光蛋白相关联或表示荧光蛋白的细胞或颗粒。在这方面没有限制。
在某些实施例中,所述方法进一步包括:使物镜成像的聚集光穿过光色散(或分离器)模块,所述光色散模块在所述光被传输至一个或多个检测器之前对其进行处理。光色散/分离器模块是指将多色光分离成其组成波长的设备(如此,这些模块有时被称为“波长分离器”)。根据某些实施例的波长分离可以包括选择性地使多色光的特定波长或波长范围穿过或阻挡多色光的特定波长或波长范围。除了其他波长分离设备之外,兴趣光色散设备包括但不限于有色玻璃、带通滤波器、干涉滤波器、二向色镜、衍射光栅、单色器及其组合。在某些实例中,光色散模块包括一个或多个带通滤波器,所述一个或多个带通滤波器具有范围为从2nm到100nm的最小带宽,比如从3nm到95nm,比如从5nm到95nm,比如从10nm到90nm,比如从12nm到85nm,比如从15nm到80nm并且包括具有范围为从20nm到50nm的最小带宽的带通滤波器。
除了以上所详述的方面之外,所公开的方法的某些实施例包括:将物镜成像的聚集光引导至滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光。在实施例中,使用滤光片来代替如以上所描述的具有选择性地阻挡SSC波长光的光学掩模的光圈。在这种情况下,第一路物镜成像的聚集光至少包括来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分。在某些实施例中,滤光片至少反射来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分以便产生第一路,而在其他实施例中,滤光片至少使来自物镜成像的聚集光的SSC波长光的一部分穿过以便产生第一路。
在某些实施例中,第一路包含物镜成像的聚集SSC波长光的50%到99%,包括从55%到98%、从60%到96%、从70%到94%、从80%到92%、从85%到90%以及其之间的任何范围。因此,第一路可以包括物镜成像的聚集SSC波长光的至少约55%、至少约60%、至少约65%、至少约70%、至少约75%、至少约80%、至少约85%、至少约90%、至少约92%、至少约93%、至少约94%、至少约95%、至少约96%、至少约97%、至少约98%或至少约99%。
在某些实施例中,在第二路中存在SSC波长光的不处于第一路聚集光中的部分。通常,如相比于第二路,在第一路中存在物镜聚集的SSC波长光束的更高部分,例如,其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约99%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约1%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约98%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约2%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约97%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约3%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约96%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约4%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约95%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约5%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约90%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约10%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约80%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约20%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约70%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约30%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约60%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约40%;其中,第一路包括物镜聚集的SSC波长光的约51%并且第二路包括物镜聚集的SSC波长光的约49%。
在某些实施例中,所述方法进一步包括:将第一路物镜成像的聚集光引导穿过光圈到达检测器,其中,所述光圈阻挡芯区之外的SSC波长光穿过到达检测器(以上描述了芯区尺寸)。在某些实施例中,如以上详细描述的(见例如图3以及对其的描述),第一路中的SSC波长光的芯区或者被直接检测或者由光输送器(例如,光纤)输送至检测器。在这种实施例中,光输送器可以具有光输送表面,所述光输送表面具有比第一路的已经穿过光圈的芯区更大的直径。在一些实例中,光圈和光输送器(或检测器)直接接触,而在其他实施例中,它们不直接接触(见例如图3,左和右面板)。
在某些实施例中,所述方法包括:将第一路物镜成像的聚集光引导到光输送器的与芯区的大小相同的光输送表面上,例如,具有与芯区的直径相同的纤芯的光纤(见图3,右面板)。在这种实施例中,不需要光圈元件。在没有光输送器(例如,光纤)的实施例中,第一路物镜成像的聚集光被引导至具有与芯区的大小相同的光检测表面的检测器。
在某些实施例中,所述方法包括:由一个或多个附加检测器(例如,第二检测器、第三检测器等)检测第二路物镜成像的聚集光中的一个或多个波长的光。根据产生第一和第二路的滤光片的配置,第二路可以是由滤光片反射或穿过滤光片的物镜聚集的光。
在某些实施例中,在第二路中检测到的所述一个或多个波长的光包括至少一个非SSC波长光。在某些实施例中,所述至少一个非SSC波长光是从流动流中的颗粒(例如,细胞或亚细胞颗粒(例如,如以上所描述的))发射的光。在某些实施例中,在第二路径中检测SSC和非SSC波长光两者。如以上所指出的,第二路中的SSC波长光是SSC波长光的不在第一路中的所述部分。通常,SSC波长光的在第二路中的部分少于在第一路中的部分。当在第一和第二路中分别检测到SSC波长光时,其可以用于评估被探询的样本的不同方面。例如,第一路中的SSC波长光(其被处理成用于阻挡非芯区SSC波长光被检测到)可以用于标识被探询的样本中的亚微米大小的颗粒(例如,亚细胞器、囊泡等),而第二路径中的SSC波长光(其未被处理成用于阻挡非芯区SSC波长光被检测到)可以用于标识被探询的样本中的更大颗粒。
在某些实施例中,所述方法进一步包括:使第二路物镜成像的聚集光穿过光色散(或分离器)模块,所述光色散模块在所述光被传输至所述一个或多个检测器(如以上所描述的)之前对其进行处理。
在实践主题方法时,对传播穿过如本文中所公开的光学检测系统的一个或多个波长的光进行测量,比如5个或更多个不同波长,比如10个或更多个不同波长,比如25个或更多个不同波长,比如50个或更多个不同波长,比如100个或更多个不同波长,比如200个或更多个不同波长,比如300个或更多个不同波长,并且包括对400个或更多个不同波长的聚集光进行测量。
在一些实施例中,方法包括对某个波长范围(例如,200nm到1000nm)内的聚集光进行测量。例如,方法可以包括对在200nm到1000nm的波长范围中的一个或多个波长范围内的光的光谱进行聚集。在又其他实施例中,方法包括对一个或多个特定波长的聚集光进行测量。例如,可以对在450nm、518nm、519nm、561nm、578nm、605nm、607nm、625nm、650nm、660nm、667nm、670nm、668nm、695nm、710nm、723nm、780nm、785nm、647nm、617nm以及其任何组合中的一者或多者的聚集光进行测量。在某些实施例中,方法包括对于某些荧光团的荧光峰波长相对应的波长的光进行测量。
可以连续地或以不连续的间隔对聚集光进行测量。在一些实例中,方法包括连续地对光进行测量。在其他实例中,以不连续的间隔对光进行测量,比如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒并且包括每1000毫秒或其他某个间隔。
可以在主题方法期间对聚集光进行一次或多次测量,比如2次或更多次,比如3次或更多次,比如5次或更多次并且包括10次或更多次。在某些实施例中,对光进行测量两次或更多次,其中,在某些实例中,数据被求平均。
除了其他光电检测器以外,可以使用任何合宜的方案来进行光测量,包括但不限于光学传感器或光电检测器,比如,有源像素传感器(APS)、雪崩光电二极管、图像传感器、电荷耦合装置(CCD)、增强型电荷耦合装置(ICCD)、发光二极管、光子计数器、辐射热测量计、热电检测器、光敏电阻、光伏电池、光电二极管、光电倍增管、光电晶体管、量子点光电导体或光电二极管及其组合。在某些实施例中,使用电荷耦合装置(CCD)、半导体电荷耦合装置(CCD)、有源像素传感器(APS)、互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器或N型金属氧化物半导体(NMOS)图像传感器来对所传输的光进行测量。在某些实施例中,使用电荷耦合装置(CCD)来对光进行测量。在使用CCD来对所传输的光进行测量的情况下,CCD的有源检测表面积可以比如从0.01cm2到10cm2变化,比如从0.05cm2到9cm2,比如从,比如从0.1cm2到8cm2,比如从0.5cm2到7cm2并且包括从1cm2到5cm2。
试剂盒
本公开的方面进一步包括试剂盒,其中,试剂盒包括如本文中所描述的芯区选择性SSC聚集模块。如本文中所描述的芯区SSC聚集模块被配置成用于允许来自聚集光的芯区的选择性检测SSC波长光。如此,试剂盒可以包括例如用于阻挡或选择性地阻挡芯区之外的SSC波长光的一个或多个光圈元件;一个或多个滤光片;一个或多个光输送元件;一个或多个检测器;及其任何组合。在某些实施例中,(多个)光圈元件可以具有用于增大或减小光圈直径的可调整光圈,这将调整穿过其中的SSC波长光的芯区的大小。在某些实施例中,芯区选择性SSC聚集模块被配置成用于添加到现有光学检测系统(比如,流式细胞仪)中,并且如此,可以包括用于附接或插入模块的硬件。
试剂盒的各种测定部件可以存在于单独的容器中,或所述测定部件中的一些或所有测定部件可以是预先组合/装配的。例如,光圈和光纤光输送器可以预装配并且存在于单个密封包装中。
除了以上部件之外,主题试剂盒可以进一步包括(在某些实施例中)例如用于将芯区选择性SSC聚集模块添加到光学检测设备中或用于使用具有根据主题方法的方面的芯区选择性SSC聚集模块的系统的说明。这些说明可以以各种形式存在于主题试剂盒中,所述形式中的一种或多种形式可以存在于试剂盒中。这些说明可以存在的一种形式是在试剂盒的包装、包装插入物等中打印在适当的介质或基底(例如,上面打印了信息的一张或多张纸)上的信息。这些说明的又另一种形式是其上记录有信息的一种计算机可读介质,例如软盘、压缩盘(CD)、便携式闪存驱动器等。这些说明可以存在的又另一种形式是可以在远离的地方通过因特网来获取信息而使用的网址。
实用性
如相比于当前可用的系统,包括如本文中所详述的芯区SSC聚集模块的光学检测系统可用于改善SSC检测中的信噪比。所公开的芯区SSC聚集模块被配置成将使用包括多个波长的光的物镜成像的光来观察的色差考虑在内。这例如允许改善对流动流中(例如,在流式细胞仪中)被探询的样本中的亚细胞(或亚微米)大小的颗粒的检测,允许对亚微米大小的颗粒以及更大颗粒(例如,细胞)的改善的同时检测和分析。
虽然有附加条款,但是还通过以下条款限定了本文中阐述的公开内容:
1.一种光学检测系统,包括:
集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;
第一检测器,所述第一检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光,其中,所述第一波长的光是SSC波长光;以及
光圈,所述光圈被定位在所述集光系统与所述光色散模块之间,其中,所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模被配置成用于选择性地阻挡来自所述物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达所述第一检测器。
2.根据条款1所述的光学检测系统,其中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。
3.根据条款1或2所述的光学检测系统,其中,所述光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长光的穿过。
4.根据条款3所述的光学检测系统,其中,所述非SSC波长光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
5.根据条款1至4中任一项所述的光学检测系统,进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈与所述光色散模块之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述光色散模块。
6.根据条款5所述的光学检测系统,其中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。
7.根据条款6所述的光学检测系统,其中,所述光纤光输送器包括纤芯,所述纤芯具有比所述芯区更大的直径。
8.一种光学检测系统,包括:
集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;
检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;
滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及
光圈,所述光圈被配置成用于阻挡所述第一路中处于芯区之外的SSC波长光穿过到达所述检测器。
9.根据条款8所述的光学检测系统,其中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。
10.根据条款8或9所述的光学检测系统,进一步包括:
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及
第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。
11.根据条款8至10中任一项所述的光学检测系统,其中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。
12.根据条款8至11中任一项所述的光学检测系统,其中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光。
13.根据条款12所述的光学检测系统,其中,所述非SSC波长光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
14.根据条款8至13中任一项所述的光学检测系统,进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈和所述检测器之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述检测器。
15.根据条款14所述的光学检测系统,其中,所述光纤光输送器包括纤芯,所述纤芯具有比所述芯区更大的直径。
16.根据条款15所述的光学检测系统,其中,所述光圈直接附接至所述光纤光输送器。
17.根据条款8所述的光学检测系统,其中,所述光圈直接附接至所述检测器。
18.根据条款8至17中任一项所述的光学检测系统,其中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。
19.根据条款8至17中任一项所述的光学检测系统,其中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
20.一种光学检测系统,包括:
集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;
检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;
滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及
光纤光输送器,所述光纤光输送器被配置成用于选择性地将所述第一路中来自所述SSC波长光的芯区的SSC波长光传输至所述检测器。
21.根据条款20所述的光学检测系统,其中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。
22.根据条款20或21所述的光学检测系统,进一步包括:
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及
第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。
23.根据条款20至22中任一项所述的光学检测系统,其中,所述光纤光输送器的所述光传输纤芯具有范围为从50μ到500μ的横截面直径以便匹配所述芯区。
24.根据条款20至23中任一项所述的光学检测系统,其中,第二路包括至少一个非SSC波长光。
25.根据条款24所述的光学检测系统,其中,所述非SSC波长光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
26.根据条款20至25中任一项所述的光学检测系统,其中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。
27.根据条款20至26中任一项所述的光学检测系统,其中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。
28.根据条款20至26中任一项所述的光学检测系统,其中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
29.一种流式细胞仪,包括:
光源;
流动池,所述流动池包括检测区域;以及
根据任何以上条款所述的光学检测系统。
30.一种分析流动流的方法,所述方法包括:
使用光源来照射流动流;
从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;以及
使所述物镜成像的聚集光穿过光圈到达光色散模块,其中:
(i)所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模选择性地阻挡芯区之外的侧向散射(SSC)波长光穿过;并且
(ii)所述光色散模块被配置成用于将所述物镜成像的聚集光分离成至少第一和第二波长的光,其中,所述第一波长的光是SSC波长光;以及
检测所述第一和第二波长的光,以便分析所述流动流。
31.根据条款30所述的方法,其中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。
32.根据条款30所述的方法,其中,所述光圈在直径上具有范围为从200μ到400μ的直径以便匹配所述芯区。
33.根据条款30至32中任一项所述的方法,其中,所述光学掩模不阻挡至少一个非SSC波长的光的穿过。
34.根据条款33所述的方法,其中,所述非SSC波长的光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
35.根据条款30至34中任一项所述的方法,进一步包括:由光纤光输送器将穿过所述光圈的所述物镜成像的光传输至所述光色散模块。
36.一种分析流动流的方法,所述方法包括:
使用光源来照射流动流;
从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;
将所述物镜成像的聚集光引导到滤光片上,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分;以及
通过被配置成用于选择性地传输所述第一路中的所述SSC波长光的芯区的光纤光输送器将所述第一路聚集SSC波长光传输至检测器;
以便分析所述流动流。
37.根据条款36所述的方法,其中,所述光纤光输送器的所述光传输纤芯具有范围为从50μ到500μ的横截面直径以便匹配所述芯区。
38.根据条款36或37所述的方法,其中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。
39.根据条款36或37所述的方法,其中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
40.根据条款36至39中任一项所述的方法,其中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。
41.根据条款36至40中任一项所述的方法,其中,处于所述第二路聚集SSC波长光中的SSC波长光由第二检测器检测。
42.根据条款36至41中任一项所述的方法,其中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。
43.根据条款36至42中任一项所述的方法,其中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光,其中,所述方法进一步包括检测所述至少一个非SSC波长的光。
44.根据条款43所述的方法,其中,所述非SSC波长光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
45.一种分析流动流的方法,所述方法包括:
使用光源来照射流动流;
从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;
将所述物镜成像的聚集光引导到滤光片上,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分;以及
使所述第一路聚集SSC波长光穿过光圈到达检测器,其中,所述光圈阻挡芯区之外的侧向散射(SSC)波长光穿过;
以便分析所述流动流。
46.根据条款45所述的方法,其中,所述光圈具有范围为从50μ到500μ的直径以便匹配所述芯区。
47.根据条款45或46所述的方法,其中,所述滤光片被配置成用于反射所述物镜成像的聚集光以便产生所述第一路。
48.根据条款45或46所述的方法,其中,所述滤光片被配置成用于使所述物镜成像的聚集光穿过以便产生所述第一路。
49.根据条款45至48中任一项所述的方法,其中,所述第一路包括所述聚集SSC波长光的50%到99%。
50.根据条款45至49中任一项所述的方法,其中,处于所述第二路聚集SSC波长光中的SSC波长光由第二检测器检测。
51.根据条款45至50中任一项所述的方法,其中,所述检测器包括基于光电二极管的光检测器或光电倍增管(PMT)。
52.根据条款45至51中任一项所述的方法,其中,所述第二路包括至少一个非SSC波长光,其中,所述方法进一步包括检测所述至少一个非SSC波长的光。
53.根据条款52所述的方法,其中,所述非SSC波长光是从所述流动流中的颗粒发射的光。
54.根据条款45至53中任一项所述的方法,进一步包括:由光纤光输送器将已经穿过所述光圈的所述第一路光传输至所述检测器。
55.根据条款54所述的光学检测系统,其中,所述光圈直接附接至所述光纤光输送器。
56.根据条款45所述的光学检测系统,其中,所述光圈直接附接至所述检测器。
尽管已经出于清楚理解的目的通过说明和示例的方式较为详细地描述了前述发明,但是本领域的技术人员根据本公开的教导很容易明白的是,在不偏离所附权利要求书的精神或范围的情况下,可以对其进行某些改变和修改。
因此,前述内容仅说明了本发明的原理。将理解的是,本领域技术人员将能够设计不同的安排,所述不同的安排虽然没有在此明确地描述或显示,但体现本发明的原理并且包括在其精神和范围之内。此外,本文中所叙述的所有示例和有条件的语言原则上旨在帮助读者理解本发明的原理而不受这种确切叙述的示例和条件的限制。此外,本文中叙述本发明的原理、方面和实施例的所有陈述及其特定示例旨在涵盖其结构等效物和功能等效物两者。另外,这种等效物旨在包括当前已知的等效物以及将来开发的等效物两者,即,所开发的执行相同功能的任何要素,而不考虑结构。因此,本发明的范围不旨在受限于本文中所示出和描述的示例性实施例。相反,本发明的范围和精神通过所附权利要求书来具体化。
Claims (11)
1.一种光学检测系统,包括:
集光系统,所述集光系统被配置成用于从流动池的检测区域产生物镜成像的聚集光;以及
芯区选择性侧向散射(SSC)聚集模块,被配置成用于允许来自聚集光的芯区的所述选择性检测SSC波长光。
2.根据权利要求1所述的光学检测系统,其中,所述系统包括:
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;
第一检测器,所述第一检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光,其中,所述第一波长的光是SSC波长光;以及
光圈,所述光圈被定位在所述集光系统与所述光色散模块之间,其中,所述光圈包括光学掩模,所述光学掩模被配置成用于选择性地阻挡来自所述物镜成像的聚集光的处于芯区之外的SSC波长光到达所述第一检测器。
3.根据权利要求2至3中任一项所述的光学检测系统,进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈与所述光色散模块之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述光色散模块。
4.根据权利要求3所述的光学检测系统,其中,所述光纤光输送器包括纤芯,所述纤芯具有比所述芯区更大的直径。
5.根据权利要求1所述的光学检测系统,其中,所述系统包括:
检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;
滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及
光圈,所述光圈被配置成用于阻挡所述第一路中处于芯区之外的SSC波长光穿过到达所述检测器。
6.根据权利要求5所述的光学检测系统,进一步包括:
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及
第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。
7.根据权利要求6所述的光学检测系统,进一步包括:光纤光输送器,所述光纤光输送器被定位在所述光圈和所述检测器之间,其中,所述光纤光输送器被配置成用于将已经穿过所述光圈的物镜成像的聚集光输送至所述检测器。
8.根据权利要求1所述的光学检测系统,其中,所述系统包括:
检测器,所述检测器被配置成用于接收所述物镜成像的聚集SSC波长光;
滤光片,所述滤光片被配置成用于至少产生第一路和第二路物镜成像的聚集光,其中,所述第一路至少包括来自所述物镜成像的聚集光的所述SSC波长光的一部分,并且其中,所述第一路被传输至所述检测器;以及
光纤光输送器,所述光纤光输送器被配置成用于选择性地将所述第一路中来自所述SSC波长光的芯区的SSC波长光传输至所述检测器。
9.根据权利要求8所述的光学检测系统,进一步包括:
光色散模块,所述光色散模块被配置成用于将所述第二路物镜成像的聚集光分离成至少两个波长的光;以及
第二检测器,所述第二检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第一波长的光;以及第三检测器,所述第三检测器被配置成用于检测所述至少两个波长的光中的第二波长的光。
10.一种流式细胞仪,包括:
光源;
流动池,所述流动池包括检测区域;以及
根据权利要求1至9中任一项所述的光学检测系统。
11.一种分析流动流的方法,所述方法包括:
使用光源来照射流动流;
从所照射的所述流动流的检测区域生成物镜成像的聚集光;以及
使所述物镜成像的聚集光穿过根据权利要求1至9中任一项所述的光学检测系统。
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