CN107182220B - 成像单元及包括该成像单元的电子设备 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及提供能够减少终端内部发热并降低终端的功耗而不会使用户的体感急剧变化的成像单元以及包括该成像单元的电子设备。成像单元包括:检测器,其检测剩余电池容量;成像装置,其获得拍摄图像;以及第一校正部,在启动电子手抖动校正功能时,所述第一校正部基于所述检测器的检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的电子手抖动校正精度。

Description

成像单元及包括该成像单元的电子设备
技术领域
本发明涉及一种成像单元及包括该成像单元的电子设备。
背景技术
近年来,在诸如智能电话等电子设备中,集成有各种功能和电路的终端中的发热成为问题。当终端的发热超过预设阈值时,会由于操作保障原因或安全原因而关闭特定操作。例如,当在通过相机拍摄移动图片的同时发热量超过阈值时,关闭照相功能。这在用户的可用性方面成为大问题。因此,例如,专利文献1提出了仅将诸如手抖动校正等特定功能打开或关闭而不关闭相机操作。
引用文献列表
专利文献
专利文献1:公开号为2001-296575的日本未审查专利申请
发明内容
当打开或关闭特定功能时,用户的体感可能不利地急剧变化。除针对终端内部的发热采取的措施之外,在针对终端的功耗采取的措施中也会出现这种缺点。
因此,期望提供能够减少终端内部发热并降低终端的功耗而不会使用户的体感急剧变化的成像单元以及包括该成像单元的电子设备。
根据本发明的实施例的成像单元包括:检测器,其检测剩余电池容量;成像装置,其获得拍摄图像;以及第一校正部,在启动电子手抖动校正功能时,所述第一校正部基于所述检测器的检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的电子手抖动校正精度。
根据本发明的实施例的电子设备包括上述成像单元。
根据本发明的相应实施例的成像单元和电子设备能够在启动电子手抖动校正时基于检测器的检测结果来改变关于由成像装置获得的拍摄图像的电子手抖动校正精度。与突然地打开或关闭电子手抖动校正的情况相比,这能够提供用户的自然体感。
在根据本发明的相应实施例的成像单元和电子设备中,在启动电子手抖动校正能时,基于检测器的检测结果来改变关于由成像装置获得的拍摄图像的电子手抖动校正精度。这能够减少终端内部发热并降低终端的功耗而不会使用户的体感急剧变化。
附图说明
图1A是用于解释电子手抖动校正的概念图。
图1B是用于解释电子手抖动校正的概念图。
图1C是用于解释电子手抖动校正的概念图。
图2A示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2B示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2C示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2D示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2E示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2F示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2G示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2H示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图2I示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
图3示出电子手抖动校正的算法示例。
图4是示出电子手抖动校正的算法示例的曲线图。
图5A示出包括光学手抖动校正控制器的成像单元的一些部件。
图5B示出包括光学手抖动校正控制器的成像单元的一些部件。
图5C示出包括光学手抖动校正控制器的成像单元的一些部件。
图6示出电子手抖动校正的过程示例。
图7示出电子手抖动校正的算法示例。
图8A示出将成像单元的电子电路部以芯片形式构造的构造示例。
图8B示出将成像单元的电子电路部以芯片形式构造的构造示例。
图8C示出将成像单元的电子电路部以芯片形式构造的构造示例。
图9示出安装有成像单元的胶囊式内窥镜的截面构造示例。
图10A示出安装有成像单元的智能电话的构造示例。
图10B示出安装有成像单元的智能电话的构造示例。
图10C示出安装有成像单元的智能电话的构造示例。
图10D示出安装有成像单元的智能电话的构造示例。
图10E示出安装有成像单元的智能电话的构造示例。
图11示出安装有成像单元的眼镜型成像设备。
图12示出根据本发明的实施例的成像单元的功能块的示例。
具体实施方式
下面将参照附图详细说明本发明的一些实施例。注意,将按照以下顺序进行说明。
1.电子手抖动校正(图1A至图1C)
2.实施例
成像单元包括电子手抖动校正功能的示例(图2A至图6)
3.变形例
使电子手抖动校正的频率变化的示例(图7)
4.电子设备的应用示例
应用示例1:将成像单元以芯片形式构造的示例(图8A至图8C)
应用示例2:将成像单元应用于胶囊式内窥镜的示例(图9)
应用示例3:将成像单元应用于智能电话的示例(图10A至图10E)
应用示例4:将成像单元应用于眼镜型成像设备的示例(图11)
5.公共变形例(图12)
1.电子手抖动校正
在一些数码摄像机和数码静态相机中安装有手抖动校正功能。手抖动校正功能的类型以电子型和光学型为代表。在电子手抖动校正中,基于连续拍摄的多个图像的比较结果以及陀螺仪传感器的检测结果来检测手抖动(手抖动动的量和方向),并且根据所检测的手抖动来移动由成像装置输出的图像中的包括对象的预定区域,由此校正手抖动。作为电子手抖动校正的概念,虽然由成像装置输出的图像保持原样,但对象会由于手抖动的发生而在由成像装置输出的图像内移动;因此,包括对象的预定区域在由成像装置输出的图像内跟随对象移动。
图1A和图1B示出构成发生手抖动的移动图片的两个连续拍摄图像(原始图像10)。如图1A和图1B所示,当发生手抖动时,对象11在原始图像10中的位置发生偏移。为了校正偏移位置,从由成像装置输出的拍摄图像(原始图像10)的整个区域中切割出切割区域12。根据基于连续拍摄的多个拍摄图像(原始图像10)的比较结果以及陀螺仪传感器的检测结果获得的手抖动(手抖动动的量和方向)来移动切割区域12。由此获得如图1C所示的经过电子手抖动校正(校正图像13)的图像。
切割区域12的可移动范围对应于电子手抖动裕度(margin)MG,电子手抖动裕度MG的大小用作用于界定电子手抖动校正的校正量的参数。
2.实施例
下面说明根据本发明的实施例的成像单元1。
构造
图2A示出根据本发明的实施例的成像单元1的功能块的示例。成像单元1包括光学透镜21、成像装置22、A/D转换器23、钳位部24、存储器部25、电子手抖动校正部26、陀螺仪27和温度计28。成像单元1还包括去马赛克部29、线性矩阵(LM,linear matrix)/白平衡(WB,white balance)/伽玛校正部30、亮度色度信号生成器31和显示器32。成像单元1对应于本发明的“成像单元”的具体示例。成像装置22对应于本发明的“成像装置”的具体示例。电子手抖动校正部26对应于本发明的“第一校正部”的具体示例。温度计28对应于本发明的“检测器”的具体示例。
例如,在成像单元1中,光学透镜21和成像装置22可构成一个模块1A。另外,例如,A/D转换器23、钳位部24、存储器部25、电子手抖动校正部26、陀螺仪27、温度计28、去马赛克部29、LM/WB/伽玛校正部30和亮度色度信号生成器31可构成一个模块1B。
在成像单元1中,例如,光学透镜21、成像装置22和A/D转换器23可构成一个模块1C。另外,例如,钳位部24、存储器部25、电子手抖动校正部26、陀螺仪27、温度计28、去马赛克部29、LM/WB/伽玛校正部30和亮度色度信号生成器31可构成一个模块1D。
例如,如图2B所示,成像单元1可包括A/D转换器33。在这种情况下,例如,在成像单元1中,光学透镜21、成像装置22和A/D转换器33可构成一个模块1A。注意,A/D转换器33可被组合在成像装置22中。另外,例如,A/D转换器23、钳位部24、存储器部25、电子手抖动校正部26、陀螺仪27、温度计28、去马赛克部29、LM/WB/伽玛校正部30和亮度色度信号生成器31可构成一个模块1B。然而,在这种情况下,事实上使用了A/D转换器23和A/D转换器33中一者,这是因为模块1A和1B均包括A/D转换功能。电子手抖动校正部26可基于温度计28的检测结果来确定使用A/D转换器23还是使用A/D转换器33。例如,当由温度计28检测的模块1B的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使A/D转换器23停止A/D转换,并使A/D转换器33开始A/D转换。
例如,如图2C所示,成像单元1可包括A/D转换器33、钳位部34、存储器部35和电子手抖动校正部36。在这种情况下,在成像单元1中,例如,光学透镜21、成像装置22、A/D转换器33、钳位部34、存储器部35和电子手抖动校正部36可构成一个模块1A。注意,A/D转换器33、钳位部34、存储器部35和电子手抖动校正部36可被组合至成像装置22中。然而,在这种情况下,事实上使用了由A/D转换器23至电子手抖动校正部26组成的部件组和由A/D转换器33至电子手抖动校正部36组成的部件组中的一个部件组,这是因为模块1A和1B均包括A/D转换功能和手抖动校正功能。电子手抖动校正部26可基于温度计28的检测结果来选取用于A/D转换和电子手抖动校正的组。例如,当温度计28检测到模块1B的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使模块1B停止A/D转换和电子手抖动校正,并使模块1A开始A/D转换和电子手抖动校正。
例如,如图2D所示,除温度计28之外,成像单元1可包括温度计37。在这种情况下,温度计37可安装在模块1C上。然而,在这种情况下,假定利用模块1C的发热温度不同于模块1D的发热温度的这一事实进行控制,这是因为模块1C和1D均包括温度测量功能。电子手抖动校正部26可基于由温度计28检测的模块1D的温度和由温度计37检测的模块1C的温度来选取A/D转换器23和电子手抖动校正部26中一者,以减少与电子手抖动校正相关的计算量。
可替代地,例如,如图2E所示,除温度计28之外,成像单元1可包括温度计37。在这种情况下,温度计37可安装在模块1A上。然而,在这种情况下,假定利用模块1A的发热温度不同于模块1B的发热温度的这一事实进行控制,这是因为模块1A和1B均包括温度测量功能。电子手抖动校正部26可基于由温度计28检测的模块1B的温度和由温度计37检测的模块1A的温度来选取A/D转换器33和电子手抖动校正部26中一者,以减少与电子手抖动校正相关的计算量。此外,电子手抖动校正部26可基于由温度计28检测的模块1B的温度和由温度计37检测的模块1A的温度来确定使用A/D转换器23还是使用A/D转换器33。例如,当温度计28检测到模块1B的温度高于预定温度并且温度计37检测到模块1A的温度低于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使A/D转换器23停止A/D转换并使A/D转换器33开始A/D转换。
可替代地,例如,如图2F所示,除温度计28之外,成像单元1可包括温度计37。在这种情况下,温度计37可安装在模块1A上。然而,在这种情况下,假定利用模块1A的发热温度不同于模块1B的发热温度的这一事实进行控制,这是因为模块1A和1B均包括温度测量功能。电子手抖动校正部26可基于由温度计28检测的模块1B的温度和由温度计37检测的模块1A的温度来选取由A/D转换器23至电子手抖动校正部26组成的部件组和由A/D转换器33至电子手抖动校正部36组成的部件组中的一个部件组,以用于A/D转换和电子手抖动校正。例如,当温度计28检测到模块1B的温度高于预定温度并且温度计37检测到模块1A的温度低于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使由A/D转换器23至电子手抖动校正部26组成的部件组停止A/D转换和电子手抖动校正,并使由A/D转换器33至电子手抖动校正部36组成的部件组开始A/D转换和电子手抖动校正。
例如,如图2G所示,成像单元1可包括温度计37来代替温度计28。在这种情况下,温度计37可安装在模块1C上。电子手抖动校正部26可基于由温度计37检测的模块1C的温度来选取A/D转换器23和电子手抖动校正部26中一者,以减少与电子手抖动校正相关的计算量。
可替代地,例如,如图2H所示,成像单元1可包括温度计37来代替温度计28。在这种情况下,温度计37可安装在模块1A上。电子手抖动校正部26可基于由温度计37检测的模块1A的温度来选取A/D转换器33和电子手抖动校正26中一者,以减少与电子手抖动校正相关的计算量。另外,电子手抖动校正部26可基于由温度计37检测的模块1A的温度来确定使用A/D转换器23还是使用A/D转换器33。例如,当温度计37检测到A/D转换器33的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使A/D转换器33停止A/D转换并使A/D转换器23开始A/D转换。
可替代地,例如,如图2I所示,成像单元1可包括温度计37来代替温度计28。在这种情况下,温度计37可安装在模块1A上。然而,在这种情况下,假定利用模块1A的发热温度进行控制,这是因为模块1A包括温度测量功能。电子手抖动校正部26可基于由温度计37检测的模块1A的温度来选取由A/D转换器23至电子手抖动校正部26组成的部件组和由A/D转换器33至电子手抖动校正部36组成的部件组中的一个部件组,以用于A/D转换和电子手抖动校正。例如,当温度计37检测到模块1A的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以使由A/D转换器33至电子手抖动校正部36组成的部件组停止A/D转换和电子手抖动校正,并使由A/D转换器23至电子手抖动校正部26组成的部件组开始A/D转换和电子手抖动校正。
光学透镜21调节进入成像装置22的目标光的焦距。光学透镜21的具体构造是可选的。例如,光学透镜21可由多个透镜构成。例如,穿过光学透镜21的目标光可穿过允许除红外光之外的光穿过的IR截止滤光器而进入成像装置22。成像装置22获得拍摄图像(原始图像10)。成像装置22将所获得的拍摄图像(原始图像10)提供至A/D转换器23和33。成像装置22通过像素单元将目标光转换成电信号,并将电信号提供至A/D转换器23和33。例如,成像装置22可包括硅基板上的像素阵列部和外围电路部。像素阵列部可由布置成矩阵的多个成像像素构成,且外围电路部可驱动像素阵列部。例如,每个成像像素可包括例如用作光电转换元件的光电二极管以及多个像素晶体管(所谓的MOS晶体管)。
A/D转换器23和33均将由成像装置22提供的RGB(即,拍摄图像(原始图像10))的电信号(模拟信号)转换成数字数据(像素数据)。A/D转换器23和33分别将数字像素数据(RAW数据)提供至钳位部24和34。钳位部24和34将被确定为黑的黑电平从分别由A/D转换器23和34提供的像素数据中减去。此后,钳位部24和34分别将受到黑电平相减的像素数据(像素值)提供至存储器部25和35。存储器部25和35临时保存分别由钳位部24和34提供的像素数据。陀螺仪27检测成像单元1的位移和旋转。陀螺仪27连续地或以预定采样周期检测成像单元1的位移和旋转,并将检测结果提供至电子手抖动校正部26。温度计28和37均检测成像单元1内部的温度。温度计28和37均连续地或以预定采样周期检测成像单元1内部的温度,并将检测结果提供至电子手抖动校正部26。当温度计28布置在A/D转换器23或电子手抖动校正部26附近时,温度计28检测A/D转换器23或电子手抖动校正部26的温度。当温度计37布置在A/D转换器33或电子手抖动校正部36附近时,温度计37检测A/D转换器33或电子手抖动校正部36的温度。
去马赛克部29对由电子手抖动校正部26提供的像素数据进行去马赛克处理,由此通过补色信息(complement of color information)和其它处理将像素数据转换成RGB数据。去马赛克部29将受到去马赛克处理的图像数据提供至LM/WB/伽玛校正部30。LM/WB/伽玛校正部30对由去马赛克部29提供的图像数据进行颜色特性校正。更具体地,为了填补根据由各标准定义的原色(RGB)的色度点与实际相机的色度点之间的差异,LM/WB/伽玛校正部30进行以下处理:使用矩阵系数来校正图像数据的每个颜色信号以改变颜色再现性。另外,针对图像数据的每个通道的值,LM/WB/伽玛校正部30设置相对于白色的增益,由此调节白平衡。此外,LM/WB/伽玛校正部30通过调节图像数据的颜色与输出装置特性之间的相对关系进行伽玛校正,以便获得更接近原始色彩的显示。LM/WB/伽玛校正部30将经校正的图像数据提供至亮度色度信号生成器31。
亮度色度信号生成器31根据由LM/WB/伽玛校正部30提供的图像数据生成亮度信号(Y)和色差信号(Cr和Cb)。亮度色度信号生成器31生成亮度色度信号(Y,Cr和Cb),并接着将亮度信号和色差信号提供至显示器32。显示器32基于由亮度色度信号生成器31提供的图像数据(亮度色度信号)来显示图像。换言之,显示器32显示由成像装置22拍摄的移动图片或静止图像。例如,显示器32可包括液晶显示器(LCD)和有机电致发光(EL)显示器。
下面,将给出电子手抖动校正部26和36的说明。当启用电子手抖动校正功能时,基于温度计28和/或温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26改变关于由成像装置22获得的拍摄图像(原始图像10)的电子手抖动校正精度。原始图像10对应于本发明的“拍摄图像”的具体示例。措辞“启用电子手抖动校正功能”表示正在执行电子手抖动校正或者将要执行电子手抖动校正,但不表示电子手抖动校正的效果是否生效。例如,术语“电子手抖动校正精度”可表示与对象11在通过对连续拍摄的多个拍摄图像(原始图像10)进行电子手抖动校正获得的多个校正图像13中的位置波动相关的概念。
电子手抖动校正精度与手抖动校正裕度MG的大小相关。当手抖动校正裕度MG较大时,随着手抖动校正裕度MG的大小增加,能够在拍摄图像(原始图像10)内大幅地使切割区域12偏移。因此,当手抖动校正裕度MG较大时,能够提高电子手抖动校正精度。然而,随着手抖动校正裕度MG的大小增加,手抖动校正所需的计算量也会增加。计算量与功耗相关,同时也与由功耗引起的模块1A至1D的发热量相关。因此,当手抖动校正裕度MG较大时,功耗较大,并且模块1A至1D的发热量也较大。
相反,当手抖动校正裕度MG较小时,随着手抖动校正裕度MG减小,切割区域12在拍摄图像(原始图像10)内的偏移量的最大值变小。在这种情况下,切割区域12在拍摄图像(原始图像10)内的偏移量可在手抖动校正裕度MG内。然而,为了在拍摄图像(原始图像10)内大幅地使切割区域12偏移,偏移量可不在抖校正裕度MG内,从而偏移量可受到限制。在这种情况下,难以通过电子手抖动校正充分地消除手抖动。因此,当手抖动校正裕度MG较小时,电子手抖动校正精度很容易变低。然而,随着手抖动校正裕度MG减小,手抖动校正所需的计算量也会减少。因此,当手抖动校正裕度MG较小时,功耗较小,并且模块1A至1D的发热量也较小。
从以上说明中发现,除电子手抖动校正精度之外,改变手抖动校正裕度MG也会改变模块1A至1D的功耗和发热量。换言之,可以发现,改变手抖动校正裕度MG是改变模块1A至1D的功耗和发热量的方法中的一类方法。因此,电子手抖动校正部26和36可将手抖动校正裕度MG用作变量参数来改变模块1A至1D的功耗和发热量。
更具体地,在图2A和图2B中,基于温度计28的检测结果,电子手抖动校正部26可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。在图2C中,基于温度计28的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。电子手抖动校正部36可直接从温度计28接收温度计28的检测结果,或者如图2C所示可通过电子手抖动校正部26来接收温度计28的检测结果。
此外,在图2D和图2E中,基于温度计28和温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。在图2F中,基于温度计28和温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。电子手抖动校正部36可直接从温度计28接收温度计28的检测结果,或者如图2F所示可通过电子手抖动校正部26来接收温度计28的检测结果。
另外,在图2G和图2H中,基于温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。在图2I中,基于温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。电子手抖动校正部36可直接从温度计28接收温度计37的检测结果,或者如图2I所示可通过电子手抖动校正部26来接收温度计37的检测结果。
注意,为了改变手抖动校正裕度MG的大小,例如,可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。因此,在图2A和图2B中,基于温度计28的检测结果,电子手抖动校正部26可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。另外,在图2C中,基于温度计28的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。另外,在图2D和图2E中,基于温度计28和温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。另外,在图2F中,基于温度计28和温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。另外,在图2G和图2H中,基于温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。另外,在图2I中,基于温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26和36可改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量。
图3的(A)、图3的(B)和图3的(C)示出成像单元1的电子手抖动校正的算法示例。图3的(A)、图3的(B)和图3的(C)例示了根据温度改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量并且切割区域12的像素数量是固定的且与温度无关如何。图3的(A)示出低的温度情况下的手抖动校正裕度MG的示例,并且示出在切割区域12周围设置约10%的手抖动校正裕度MG的状态。图3的(C)示出高的温度情况下的手抖动校正裕度MG的示例,并且示出在切割区域12周围设置约5%的手抖动校正裕度MG的状态。图3的(B)示出当温度为图3的(A)的温度与图3的(B)的温度之间的中间值时手抖动校正裕度MG的示例,并且示出在切割区域12周围设置约8%的手抖动校正裕度MG的状态。
图4是示出成像单元1中的电子手抖动校正的算法示例的曲线图。随着温度升高,电子手抖动校正部26和36间歇地(以逐步的方式)减小手抖动校正裕度MG,并随着温度降低,间歇地(以逐步的方式)增加手抖动校正裕度MG。另外,电子手抖动校正部26和36针对手抖动校正裕度MG的改变设定阈值,且使阈值在温度上升时和在温度下降时不同。这在检测温度随着时间在用于手抖动校正裕度MG的改变的阈值附近波动时防止手抖动校正裕度MG的频繁切换。电子手抖动校正部26和36从温度计28和/或温度计37获取用于判定手抖动校正裕度MG的切换的温度。
电子手抖动校正部26和36可包括温度上升表和温度降低表。温度上升表列出在当温度升高时温度与抖校正裕度之间的关系。温度降低表列出在温度降低时温度与抖校正裕度MG之间的关系。针对手抖动校正裕度MG的每个大小,电子手抖动校正部26和36可包括与电子手抖动校正精度相关的各种类型的设定数据。与电子手抖动校正精度相关的各种类型的设定数据的示例可包括与“将被使用的A/D转换器的ID(A/D转换器23或A/D转换器33的ID)”相关的数据、与稍后说明的“拍摄图像(原始图像10)的像素数量”相关的数据、与稍后说明的“将受到A/D转换的区域”相关的数据以及与稍后说明的“电子手抖动校正精度”相关的数据。在这种情况下,在每次改变手抖动校正裕度MG时,电子手抖动校正部26和36可向成像单元1中的需要相应数据的装置提供与手抖动校正裕度MG的大小相对应的各种类型的设定数据。注意,当手抖动校正裕度MG变得低于特定值时,电子手抖动校正部26和36可关闭电子手抖动校正。
注意,为了改变手抖动校正裕度MG,例如,可改变由成像装置22获得的拍摄图像(原始图像10)的像素数量。为了改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量,例如,成像装置22可基于温度计28和/或温度计37的检测结果改变像素数量,并接着可输出拍摄图像(原始图像10)。另外,为了改变拍摄图像(原始图像10)的像素数量,例如,A/D转换器23或A/D转换器33可基于温度计28和/或温度计37的检测结果来确定拍摄图像(原始图像10)中的将受到A/D转换的区域。换言之,A/D转换器23或A/D转换器33可基于温度计28和/或温度计37的检测结果在拍摄图像(原始图像10)中改变A/D转换区域的大小。此时,A/D转换器23或A/D转换器33可直接获得或通过电子手抖动校正部26获得来自温度计28和/或温度计37的温度信息。A/D转换器23或A/D转换器33可仅对与拍摄图像(原始图像10)中的将受到A/D转换的区域相对应的像素数据进行A/D转换。
注意,电子手抖动校正部26或电子手抖动校正部36可确定拍摄图像(原始图像10)中的将受到A/D转换的区域。换言之,电子手抖动校正部26或电子手抖动校正部36可基于温度计28和/或温度计37的检测结果来确定拍摄图像(原始图像10)中的将受到A/D转换的区域,并将与所确定的区域相对应的控制信号提供至A/D转换器23或A/D转换器33。
另外,例如,如图5A、图5B和图5C所示,成像单元1可包括光学手抖动校正控制器38。光学手抖动校正控制器38使用光学透镜21进行手抖动校正,并基于由陀螺仪27提供的位移旋转信息使光学透镜21位移。此时,光学手抖动校正控制器38被组合在模块1A或模块1C中。光学手抖动校正控制器38基于从温度计28和/或温度计37获得的检测结果来打开或关闭光学手抖动校正。
例如,当由温度计28检测的模块1B或1D的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可停止电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正,并且可控制光学手抖动校正控制器38以开始光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正(见图5A)。相反,例如,当由温度计28检测的模块1B或1D的温度低于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制光学手抖动校正控制器38以停止光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正,并可开始电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正(见图5A)。
另外,例如,当由温度计28检测的模块1B或1D的温度高于预定温度并且由温度计37检测的模块1A或1C的温度低于预定温度时,电子手抖动校正部26可停止电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正,并且可控制光学手抖动校正控制器38以开始光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正(见图5B)。另外,例如,当由温度计28检测的模块1B或1D的温度低于预定温度并且由温度计37检测的模块1A或1C的温度高于预定温度时,电子手抖动校正部26可控制光学手抖动校正控制器38以停止光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正,并可开始电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正(见图5B)。
另外,例如,当由温度计37检测的模块1A或1C的温度高于预定温度时,可控制光学手抖动校正控制器38以停止光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正,并可开始电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正(见图5C)。另外,例如,当由温度计37检测的模块1A或1C的温度低于预定温度时,电子手抖动校正部26可停止电子手抖动校正部26中的电子手抖动校正,并且可控制光学手抖动校正控制器38以开始光学手抖动校正控制器38中的光学手抖动校正(见图5C)。
校正过程
下面,将给出电子手抖动校正的过程的说明。图6示出成像单元1中的电子手抖动校正的过程示例。
首先,用户启动成像单元1(步骤S101)。然后,除成像功能之外,成像单元1还启动手抖动校正功能(步骤S102)。此后,电子手抖动校正部26连续地或间歇地从温度计28或温度计37获取与温度相关的检测结果(步骤S103),并确定温度变化是否处于温度上升阶段(步骤S104)。因此,当温度变化处于温度上升阶段时,电子手抖动校正部26基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度是否等于或高于50℃(步骤S105)。于是,当温度等于或高于50℃时,电子手抖动校正部26基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度是否等于或高于60℃(步骤S106)。于是,当温度等于或高于60℃时,电子手抖动校正部26选取例如5%作为手抖动校正裕度MG(步骤S107)。此时,例如,电子手抖动校正部26可向成像单元1中的需要相应数据的装置提供与5%的手抖动校正裕度MG相对应的各种类型的设定数据。成像单元1使用由电子手抖动校正部26提供的表以及设定数据连续地拍摄图像(步骤S108)。
当在步骤S104中温度变化未处于温度上升阶段时,电子手抖动校正部26基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度变化是否处于温度下降阶段(步骤S109)。于是,当温度变化处于温度下降阶段时,电子手抖动校正部26基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度是否等于或低于58℃(步骤S110)。于是,当温度不等于或低于58℃时,电子手抖动校正部26可选取例如8%作为手抖动校正裕度MG(步骤S111)。此时,例如,电子手抖动校正部26可向成像单元1中的需要相应设定数据的装置提供与8%的手抖动校正裕度MG相对应的各种类型的设定数据。成像单元1使用由电子手抖动校正部26提供的表以及设定数据连续地拍摄图像(步骤S108)。
当在步骤S110中温度等于或低于58℃时,电子手抖动校正部26基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度是否等于或低于48℃(步骤S112)。类似地,当在步骤S105中温度不等于或高于50℃时,电子手抖动校正部26可基于所获取的与温度相关的检测结果来确定温度是否等于或低于48℃(步骤S112)。于是,当温度等于或低于48℃时,电子手抖动校正部26可选取例如10%作为手抖动校正裕度MG(步骤S113)。此时,例如,电子手抖动校正部26可向成像单元1中的需要相应设定数据的装置提供与10%的手抖动校正裕度MG相对应的各种类型的设定数据。
当在步骤S106中温度不等于或高于60℃时,电子手抖动校正部26可选取例如8%作为手抖动校正裕度MG(步骤S111)。此时,例如,电子手抖动校正部26可向成像单元1中的需要相应设定数据的装置提供与8%的手抖动校正裕度MG相对应各种类型的设定数据。成像单元1使用由电子手抖动校正部26提供的表以及设定数据连续地拍摄图像(步骤S108)。
当在步骤S112中温度不等于或低于48℃时,电子手抖动校正部26可选取例如10%作为手抖动校正裕度MG(步骤S113)。此时,例如,电子手抖动校正部26可向成像单元1中的需要相应设定数据的装置提供与10%的手抖动校正裕度MG相对应的各种类型的设定数据。成像单元1使用由电子手抖动校正部26提供的表以及设定数据连续地拍摄图像(步骤S108)。
注意,当设置有温度计28和温度计37二者时,电子手抖动校正部26可基于从两个温度计28和37获得的检测结果(温度数据)来进行选取。特别是在与具有较高温度的模块中包含的装置等同的装置设置在具有较低温度的模块中时,这种选取很有效。
例如,可存在模块1A包括A/D转换器33且模块1B包括A/D转换器23的情况。注意,A/D转换器33可被组合在成像装置22中。在这种情况下,电子手抖动校正部26可基于从温度计28和/或温度计37获得的检测结果来确定使用A/D转换器23还是使用A/D转换器33。例如,可存在模块1B的温度处于与5%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围中的预定范围内并且该温度处于温度上升阶段的情况。在这种情况下,可存在模块1A的温度处于与10%或8%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围内的情况。在这种情况下,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以停止使用A/D转换器23,并开始使用A/D转换器33。
此外,例如,可存在模块1A包括A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件且模块1B包括A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件的情况。注意,A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件可被组合在成像装置22中。此时,电子手抖动校正部26可基于从温度计28和/或温度计37获得的检测结果来确定使用A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件还是使用A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件。例如,可存在模块1B的温度处于与5%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围中的预定范围内并且该温度处于温度上升阶段的情况。此时,可存在模块1A的温度处于与10%或8%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围内的情况。在这种情况下,电子手抖动校正部26可控制A/D转换器23和33,以停止使用A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件,并开始使用A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件。
另外,例如,可存在模块1A包括光学手抖动校正控制器38且模块1B包括电子手抖动校正部26的情况。此时,电子手抖动校正部26可基于从温度计28和/或温度计37获得的检测结果来确定是否进行光学手抖动校正来代替电子手抖动校正。例如,可存在模块1B的温度处于与5%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围中的预定范围内并且该温度处于温度上升阶段的情况。此时,可存在模块1A的温度处于与10%或8%的手抖动校正裕度MG相对应的温度范围内的情况。在这种情况下,电子手抖动校正部26可命令光学手抖动校正控制器38进行光学手抖动校正,并接着停止电子手抖动校正。当手抖动校正裕度MG变得低于特定值时,电子手抖动校正部26可将校正从电子手抖动校正改变成光学手抖动校正。当接收到来自电子手抖动校正部26的光学手抖动校正的指令时,光学手抖动校正控制器38可立即使用光学透镜21进行光学手抖动校正。
效果
下面,将给出根据本实施例的成像单元1的效果的说明。
在启动电子手抖动校正功能时,根据本实施例的成像单元1可基于温度计28和/或温度计37的检测结果改变与关于由成像装置22获得的拍摄图像(原始图像10)的电子手抖动校正精度。例如,基于温度计28和/或温度计37的检测结果,可改变在从拍摄图像(原始图像10)中切割出包括对象11的区域时手抖动校正裕度MG的大小。以此方式,在本实施例中,根据成像单元1内的温度或温度变化可逐渐地改变电子手抖动校正精度,而不会突然地打开或关闭电子手抖动校正。与突然地打开或关闭电子手抖动校正的情况相比,这能够提供用户的自然体感。
3.变形例
在上述实施例中,将“电子手抖动校正精度”定义为与对象11在多个校正图像13中的位置波动相关的概念。然而,即使“波动”未发生变化,也可通过改变电子手抖动校正的频率(每单位时间内对移动图片进行的电子手抖动校正的次数)来改变电子手抖动校正精度的体感。因此,严格来说,“电子手抖动校正精度”是不仅与对象11在多个校正图像13中的位置波动相关而且也与电子手抖动校正的频率(每单位时间内对移动图片进行的电子手抖动校正的次数)相关的概念。
因此,在本变形例中,如图7的(A)、图7的(B)和图7的(C)所示,电子手抖动校正部26基于温度计28和/或温度计37的检测结果来改变电子手抖动校正的频率。随着温度升高,电子手抖动校正部26降低电子手抖动校正的频率,并随着温度降低,增加电子手抖动校正的频率。优选地,电子手抖动校正部26可为电子手抖动校正的频率的改变设定阈值,且使阈值在温度上升与在温度下降时不同。
另外,基于温度计28和/或温度计37的检测结果,电子手抖动校正部26可改变陀螺仪27以及温度计28和/或温度计37的检测结果的采样周期或输出周期。例如,电子手抖动校正部26可基于温度计28和/或温度计37的检测结果生成与检测结果的采样周期或输出周期相关的控制信号,并可将所生成的控制信号提供至陀螺仪27以及温度计28和/或温度计37。基于从电子手抖动校正部26提供的与检测结果的采样周期或输出周期相关的控制信号,陀螺仪27可改变检测结果的采样周期或输出周期。此外,基于从电子手抖动校正部26提供的与检测结果的采样周期或输出周期相关的控制信号,温度计28和37可改变检测结果的采样周期或输出周期。
随着温度升高,电子手抖动校正部26可控制陀螺仪27以及温度计28和/或温度计37以增加检测结果的采样周期或输出周期。另外,随着温度降低,电子手抖动校正部26可控制陀螺仪27以及温度计28和/或温度计37以降低检测结果的采样周期或输出周期。
在本变形例中,基于温度计28和/或温度计37的检测结果来改变电子手抖动校正的频率。与突然地打开或关闭电子手抖动校正的情况相比,这能够提供用户的自然体感。此外,随着电子手抖动校正的频率的改变,能够改变模块1A、1B、1C和1D的功耗和发热量。
另外,在本变形例中,当基于温度计28和/或温度计37的检测结果改变与陀螺仪27以及温度计28和/或温度计37相关的检测结果的采样周期或输出周期时,能够改变模块1A、1B、1C和1D的功耗和发热量。
因此,即使在本变形例中,也能够降低终端内部的发热和终端的功耗,而不会突然地改变用户的体感。
4.电子设备的应用示例
上述成像单元1可应用于电子设备,例如数码静态相机、摄像机、诸如具有成像功能的智能电话(多功能移动电话)等移动终端、胶囊式内窥镜、将成像功能添加至眼镜的眼镜型成像设备。在下文中,将说明应用有成像单元1的电子设备的具体示例。注意,电子设备对应于本发明的“电子设备”的具体示例。
应用示例1:芯片形式的成像单元
图8A、图8B和图8C均示出将成像单元1的电子电路部以芯片形式构造的构造示例。例如,图8A示出的成像单元330可包括位于一个半导体芯片部331上的像素区332、控制电路333和逻辑电路334。像素区332可包括上述成像装置22的像素阵列部。控制电路333可包括上述成像装置22的外围电路部,并将控制信号提供至像素区332。逻辑电路334可包括上文提到的A/D转换器23、电子手抖动校正部26和其它部件。
图8B示出的成像单元340由半导体芯片部341和半导体芯片部342构成。半导体芯片部341包括像素区343和控制电路344。像素区343包括上述成像装置22的像素阵列部。控制电路344包括上述成像装置22的外围电路部,并将控制信号提供至像素区343。半导体芯片部342包括逻辑电路345,该逻辑电路包括上文提到的A/D转换器23、A/D转换器33、电子手抖动校正部26、电子手抖动校正部36或其它部件。此外,半导体芯片部341和半导体芯片部342彼此电连接,由此构成用作一个半导体芯片的成像单元340。换言之,A/D转换器23、A/D转换器33、电子手抖动校正部26或电子手抖动校正部36设置在堆叠在半导体芯片部341(成像装置22)上的逻辑电路345中。
图8C示出的成像单元350由半导体芯片部351和半导体芯片部352构成。半导体芯片部351包括像素区353,该像素区包括上述成像装置22的像素阵列部。半导体芯片部352包括控制电路354和逻辑电路355。控制电路354包括上述成像装置22的外围电路部,并将控制信号提供至像素区353。逻辑电路355包括A/D转换器23、A/D转换器33、电子手抖动校正部26、电子手抖动校正部36或其它部件。换言之,A/D转换器23、A/D转换器33、电子手抖动校正部26或电子手抖动校正部36设置在堆叠在半导体芯片部351(成像装置22)上的逻辑电路355中。此外,半导体芯片部351和半导体芯片部352彼此电连接,由此构成用作一个半导体芯片的成像单元350。
应用示例2:胶囊式内窥镜的应用示例
图9示出安装有成像单元1的胶囊式内窥镜600的截面构造示例。例如,图9示出的胶囊式内窥镜600在壳体610中包括相机(微型相机)611、存储器612和无线发射器613。壳体610可具有位于两端部处的半球形表面以及类圆柱形中心部分。相机611拍摄体腔中的图像。存储器612保存由相机611拍摄的图像数据。在胶囊式内窥镜600被排出到被拍摄体外部之后,无线发射器613通过天线614将存储的图像数据发送至外部。
另外,在壳体610中设置有CPU 615、线圈(磁力-电流转换线圈)616和陀螺仪27。另外,在壳体610中设置有温度计28和/或温度计37。注意,图9示出设置有温度计28和温度计37这二者的状态。CPU 615控制相机611的成像操作以及存储器612的数据积累操作,并控制通过无线发射器613从存储器612至壳体610外部的数据接收器(未示出)的数据传输。线圈616分别向相机611、存储器612、无线发射器613、天线614和稍后说明的光源611b供电。温度计28布置在CPU 615附近。温度计37布置在相机611(稍后说明的处理器611c)附近。
另外,在壳体610中设置有簧片(磁)开关617,以用于检测胶囊式内窥镜600对数据接收器的设定。在簧片开关617检测对数据接收器的设定时,线圈616开始向无线发射器613供电,并且启用数据传输。例如,相机611可包括固态成像装置611a、多个(在这种情况下为两个)光源611b和处理器611c。固态成像装置611a包括用于拍摄体腔中的图像的物镜光学系统。多个光源611b照亮体腔内部。处理器611c处理由固态成像装置611a获得的数据。例如,每个光源611b可由发光二极管(LED)构成。成像装置611a包括图2的成像装置22和光学透镜21。根据需要,成像装置611a可还包括光学手抖动校正控制器38。CPU 615进行对应于图2的电子手抖动校正部26的控制。处理器611c可包括A/D转换器33或A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件。
应用示例3:智能电话的应用示例
图10A示出安装有成像单元1的智能电话的外观构造。智能电话500可包括扬声器511、显示器512、操作按钮513、麦克风514、成像部515和其它部件。当在智能电话500执行电话功能时,通过通信部(未图示)将从麦克风514获取的所发送的语音传送至基站,并且将从对方接收的语音从通信部提供至扬声器511,并将其声学地再现。
例如,显示器512可由液晶显示器(LCD)构成,并且可显示诸如待机画面等预定画面。显示器512叠加有触摸面板,并允许检测例如由用户的手指执行的至显示器512的输入操作。智能电话500可响应于所检测到的用户的操作输入来执行预定处理,例如,成像功能。成像部515包括成像装置22和光学透镜21。例如,成像部515可拍摄目标的图像,并且可在内部存储器或其它存储器中存储由此获得的图像数据。
成像部515可还包括光学手抖动校正控制器38。成像部515可还包括A/D转换器23。当成像部515包括A/D转换器23时,例如,如图10B所示,成像部515可还包括温度计28。注意,当成像部515包括温度计28时,温度计28布置成至少邻近成像装置22和A/D转换器23。因此,在这种情况下,温度计28主要测量成像装置22和A/D转换器23的温度。
当温度计28设置在成像部515中并测量成像装置22和A/D转换器23的温度时,电子手抖动校正部26可优选地基于温度计28在成像部515中的检测结果进行手抖动校正。
如图10C所示,智能电话500包括用于控制扬声器511、显示器512、操作按钮513、麦克风514、成像部515和其它部件的电子电路516。智能电话500还包括陀螺仪27。电子电路516可还包括A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件以及去马赛克部29至亮度色度信号校正部31这些部件。此时,温度计28可布置成不邻近成像部515,而是邻近电子电路516。当温度计28设置成邻近电子电路516时,温度计28主要测量电子手抖动校正部26和A/D转换器23的温度。当温度计28设置成邻近电子电路516并且电子电路516包括基板时,温度计28可布置在电子电路516的基板上。
当温度计28设置成邻近电子电路516并测量电子手抖动校正部26和A/D转换器23的温度时,电子手抖动校正部26可优选地基于温度计28在电子电路516中的检测结果进行手抖动校正。
例如,如图10D所示,智能电话500可包括邻近电子电路516的温度计28,并包括成像部515中的温度计37。在这种情况下,在智能电话500的壳体中,成像部515和电子电路516彼此分离地布置,这使得电子手抖动校正部26能够基于从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)以及从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)来进行手抖动校正。
当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)和从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)而得知成像部515的温度低于电子电路516的温度时,电子手抖动校正部26可使电子电路516中的A/D转换器23停止A/D转换,并使成像部515中的A/D转换器33执行A/D转换。相反,当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)和从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)而得知电子电路516的温度低于成像部515的温度时,电子手抖动校正部26可使成像部515中的A/D转换器33停止A/D转换,并使电子电路516中的A/D转换器23执行A/D转换。
例如,如图10E所示,图10D示出的智能电话500可进一步在成像部515中包括A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件。在这种情况下,在智能电话500的壳体中,成像部515和电子电路516彼此分离地布置,这使得电子手抖动校正部26能够基于从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)以及从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)来进行手抖动校正。
当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)和从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)的比较而得知成像部515的温度低于电子电路516的温度时,电子手抖动校正部26可使电子电路516中的A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件停止A/D转换和电子手抖动校正,并可使成像部515中的A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件执行A/D转换和电子手抖动校正。相反,当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像部515的温度)和从温度计28获得的检测结果(电子电路516的温度)而得知电子电路516的温度低于成像部515的温度时,电子手抖动校正部26可使成像部515中的A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件停止A/D转换和电子手抖动校正,并使电子电路516中的A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件执行A/D转换和电子手抖动校正。
应用示例4:眼镜型成像设备的应用示例
图11示出安装有成像单元1的眼镜型成像设备400的构造示例。
图11的眼镜型成像设备400包括成像装置412和壳体414。成像装置412附接至框架411的中心部。壳体414固定眼镜透镜413并容纳用于驱动和控制成像装置412的图像信号处理电路。成像装置412包括成像装置22。眼镜型成像设备400在壳体414中包括图像信号处理电路,该图像信号处理电路具有控制A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件、去马赛克部29至亮度色度信号生成器31这些部件以及其它部分的功能。壳体414中的图像信号处理电路还包括陀螺仪27和温度计28。在壳体414中,温度计28布置成邻近A/D转换器23和电子手抖动校正部26。因此,温度计28测量壳体414中的A/D转换器23和电子手抖动校正部26的温度。
通过通信电缆415将由成像装置412拍摄的图像数据发送至外部电路。眼镜型成像设备400可包括无线通信功能,并通过无线通信传送图像数据。另外,由成像装置412拍摄的图像可被投射至眼镜透镜413。
眼镜型成像设备400可包括邻近壳体414中的图像信号处理电路的温度计28,并且可包括邻近成像装置412的温度计37。在这种情况下,成像装置412和壳体414中的图像信号处理电路彼此分离地布置,这使得电子手抖动校正部26能够基于从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中图像信号处理电路的温度)来进行手抖动校正。
当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中图像信号处理电路的温度)而得知成像装置412的温度低于壳体414中的图像信号处理电路的温度时,电子手抖动校正部26可使壳体414中的图像信号处理电路中包括的A/D转换器23停止A/D转换,并使邻近成像装置412的A/D转换器33执行A/D转换。相反,当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中图像信号处理电路的温度)而得知壳体414中的图像信号处理电路的温度低于成像装置412的温度时,电子手抖动校正部26可使邻近成像装置412的A/D转换器33停止A/D转换,并使壳体414中的图像信号处理电路中包括的A/D转换器23执行A/D转换。
眼镜型成像设备400可还包括邻近成像装置412的A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件。在这种情况下,成像装置412和壳体414中的图像信号处理电路彼此分离地布置,这使得电子手抖动校正部26能够基于从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中的图像信号处理电路的温度)来进行手抖动校正。
当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中的图像信号处理电路的温度)而得知成像装置412的温度低于壳体414中的图像信号处理电路的温度时,电子手抖动校正部26可使壳体414中的图像信号处理电路中包括的A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件停止A/D转换和电子手抖动校正,并使邻近成像装置412的A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件执行A/D转换和电子手抖动校正。相反,当通过比较从温度计37获得的检测结果(成像装置412的温度)和从温度计28获得的检测结果(壳体414中的图像信号处理电路的温度)而得知壳体414中的图像信号处理电路的温度低于成像装置412的温度时,电子手抖动校正部26可使邻近成像装置412的A/D转换器33至电子手抖动校正部36这些部件停止A/D转换和电子手抖动校正,并使壳体414中的图像信号处理电路中包括的A/D转换器23至电子手抖动校正部26这些部件执行A/D转换和电子手抖动校正。
5.常见变形例
在上文中,尽管已经参考实施例、变形例和应用示例说明了本发明,但是本发明不限于上述实施例和示例,并且可以进行各种修改。注意,本说明书中说明的效果是说明性的,并且本发明的效果不限于本说明书中说明的效果。本发明可以提供除本说明书中说明的效果之外的效果。
在上述的实施例、上述的实施例的变形例和上述的实施例的应用示例中,成像单元1可包括用于检测电池的剩余容量的检测器(剩余电池容量计39)来代替温度计28和37(参见图12)。剩余电池容量计39检测电池的输出电压。剩余电池容量计39将所检测的输出电压提供至电子手抖动校正部26和36。注意,剩余电池容量计39可将所检测的输出电压转换成剩余电池容量,并接着将剩余电池容量提供至电子手抖动校正部26和36。
随着温度升高,电子手抖动校正部26和36间歇地(以逐步的方式)减小手抖动校正裕度MG,并随着温度降低间歇地(以逐步的方式)增加手抖动校正裕度MG。另外,电子手抖动校正部26和36针对手抖动校正裕度MG的变化设定阈值,且使阈值在电源电压上升时和在电源电压下降时不同。当所检测的剩余容量随着时间在用于手抖动校正裕度MG的变化的阈值附近波动时,这会防止手抖动校正裕度MG的频繁切换。电子手抖动校正部26和36会从温度计28和/或温度计37获得用于判定手抖动校正裕度MG的切换的温度。
当设置剩余电池容量计39来代替温度计28和37时,参数从温度变成了剩余电池容量。因此,在上述的实施例、上述的实施例的变形例和上述的实施例的应用示例中,将高的温度替换成小的剩余容量,将低的温度替换成大的剩余容量,将温度上升替换为剩余容量减少,并将温度降低替换成剩余容量增加。
此外,本发明可以具有以下构造。
(1)一种成像单元,所述成像单元包括:
检测器,其检测温度或剩余电池容量;
成像装置,其获得拍摄图像;以及
第一校正部,在启动电子手抖动校正功能时,所述第一校正部基于所述检测器的检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的电子手抖动校正精度。
(2)根据(1)所述的成像单元,其中,当从所述拍摄图像中切割出包括对象的区域时,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变手抖动校正裕度的大小。
(3)根据(2)所述的成像单元,其中,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像的像素数量。
(4)根据(3)所述的成像单元,其中,
所述第一校正部包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的模数转换器,并且
所述模数转换器基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像中的模数转换区域的大小。
(5)根据(1)所述的成像单元,其中,
所述第一校正部包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的第一模数转换器,
所述成像装置包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的第二模数转换器,
所述第一模数转换器和所述第二模数转换器中的每者基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像中的模数转换区域的大小,并且
所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来确定使用所述第一模数转换器还是使用所述第二模数转换器。
(6)根据(1)所述的成像单元,其中,
述成像装置包括第二校正部,当启动所述电子手抖动校正功能时,所述第二校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的所述电子手抖动校正精度,并且
所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来确定使用所述第一校正部还是使用所述第二校正部。
(7)根据(1)至(6)中任一项的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正精度的改变设定阈值,且使所述阈值在温度上升时与在所述温度下降时不同。
(8)根据(1)至(6)中任一项的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正精度的改变设定阈值,且使所述阈值在电源电压上升时与在所述电源电压下降时不同。
(9)根据(1)至(8)中任一项的成像单元,其中,所述第一校正部设置在逻辑电路中,且所述逻辑电路堆叠在所述成像装置上。
(10)根据(1)至(9)中任一项的成像单元,其中,当所述手抖动校正裕度变得低于特定值时,所述第一校正部关闭电子手抖动校正。
(11)根据(1)至(9)中任一项的成像单元,其中,当所述手抖动校正裕度变得低于特定值时,所述第一校正部将校正从电子手抖动校正改变成光学手抖动校正。
(12)一种设置有成像单元的电子设备,所述成像单元包括:
检测器,其检测温度或剩余电池容量;
成像装置,其获得拍摄图像;以及
第一校正部,在启动电子手抖动校正功能时,所述第一校正部基于所述检测器的检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的电子手抖动校正精度。
本申请基于并要求于2015年5月8日向日本专利局提交的日本专利申请2015-095494的优先权的权益,在这里将该申请的全部内容以引用的方式并入本文。
本领域技术人员应当理解,根据设计要求和其它因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替换,只要它们在所附权利要求或其等同物的范围内。

Claims (16)

1.一种成像单元,其包括:
检测器,其检测剩余电池容量;
成像装置,其获得拍摄图像;以及
第一校正部,在启动电子手抖动校正功能时,所述第一校正部基于所述检测器的检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的电子手抖动校正精度。
2.根据权利要求1所述的成像单元,其中,当从所述拍摄图像中切割出包括对象的区域时,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变手抖动校正裕度的大小。
3.根据权利要求2所述的成像单元,其中,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像的像素数量。
4.根据权利要求3所述的成像单元,其中,
所述第一校正部包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的模数转换器,并且
所述模数转换器基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像中的模数转换区域的大小。
5.根据权利要求1所述的成像单元,其中,
所述第一校正部包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的第一模数转换器,
所述成像装置包括用于将所述拍摄图像转换成数字数据的第二模数转换器,
所述第一模数转换器和所述第二模数转换器中的每者基于所述检测器的所述检测结果来改变所述拍摄图像中的模数转换区域的大小,并且
所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来确定使用所述第一模数转换器还是使用所述第二模数转换器。
6.根据权利要求1所述的成像单元,其中,
所述成像装置包括第二校正部,当启动所述电子手抖动校正功能时,所述第二校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变关于由所述成像装置获得的所述拍摄图像的所述电子手抖动校正精度,并且
所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来确定使用所述第一校正部还是使用所述第二校正部。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正精度的改变设定阈值,且使所述阈值在剩余电池容量减少时与在剩余电池容量增加时不同。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正精度的改变设定阈值,且使所述阈值在电源电压上升时与在电源电压下降时不同。
9.根据权利要求1-6中任一项所述的成像单元,其中,所述第一校正部设置在逻辑电路中,且所述逻辑电路堆叠在所述成像装置上。
10.根据权利要求2-6中任一项所述的成像单元,其中,当所述手抖动校正裕度变得低于特定值时,所述第一校正部关闭电子手抖动校正。
11.根据权利要求2-6中任一项所述的成像单元,其中,当所述手抖动校正裕度变得低于特定值时,所述第一校正部将校正从电子手抖动校正改变成光学手抖动校正。
12.根据权利要求1-6中任一项所述的成像单元,其中,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变电子手抖动校正频率。
13.根据权利要求12所述的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正频率的改变设定阈值,且使所述阈值在剩余容量电池减少时与在剩余电池容量增加时不同。
14.根据权利要求12所述的成像单元,其中,所述第一校正部为所述电子手抖动校正频率的改变设定阈值,且使所述阈值在电源电压上升时与在所述电源电压下降时不同。
15.根据权利要求1-6中任一项所述的成像单元,其中,所述第一校正部基于所述检测器的所述检测结果来改变所述检测器的采样周期或输出周期。
16.一种设置有根据权利要求1-15中任一项所述的成像单元的电子设备。
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