CN106951297B - 嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 - Google Patents
嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106951297B CN106951297B CN201710219793.XA CN201710219793A CN106951297B CN 106951297 B CN106951297 B CN 106951297B CN 201710219793 A CN201710219793 A CN 201710219793A CN 106951297 B CN106951297 B CN 106951297B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- multimedia card
- embedded multimedia
- blocks
- firmware
- produced
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F8/00—Arrangements for software engineering
- G06F8/60—Software deployment
- G06F8/65—Updates
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Software Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本发明公开了一种嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统,方法包括:导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;对应设置预设的参数数据信息;扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果;根据所述扫描结果,设置检测参数信息;根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。本发明可减少生产工序的复杂性,节约成本,提高产能。
Description
技术领域
本发明涉及一种嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统。
背景技术
eMMC(Embedded Multi Media Card,嵌入式多媒体卡)为MMC协会所订立的、主要是针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC的一个明显优势是在封装中集成了一个控制器,它提供标准接口并管理闪存,使得数码产品厂商就能专注于产品开发的其它部分,并缩短向市场推出产品的时间。这些特点对于希望通过缩小光刻尺寸和降低成本的NAND芯片供应商来说,同样的重要。
嵌入式多媒体卡从半成品到成品需要经过开卡流程,现有的开卡流程有四个阶段:FT1、FT2、FT3和FT4。除了FT2以外,FT1、FT3、FT4这三个阶段需要通过不同的软件来控制实现,如果使用机台进行测试则需要三台机器或者在同一机器切换三次软件,开卡工序切换频繁复杂,会增加机器投入量及人力,影响产能。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统,有助于提高嵌入式多媒体卡成品的稳定性和高效性。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:一种嵌入式多媒体卡的生产方法,包括:
导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。
本发明还涉及一种嵌入式多媒体卡的生产系统,包括:
第一导入模块,用于导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
检测模块,用于依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
第一设置模块,用于根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
扫描模块,用于依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
第二设置模块,用于根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
老化测试模块,用于根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
第二导入模块,用于导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
划分模块,用于依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。
本发明的有益效果在于:通过在待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段中对应设置预设的参数数据,可以根据客户要求,定制eMMC信息;通过对待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,将其存储芯片中的不稳定的块,即坏块挑选出来,保证eMMC产品的稳定性和高效性;通过一体化的生产流程,减少生产工序的复杂性,节约成本,提高产能。
附图说明
图1为本发明实施例一的方法流程图;
图2为本发明实施例二步骤S6的方法流程图;
图3为本发明一种嵌入式多媒体卡的生产系统的结构示意图;
图4为本发明实施例四的系统结构示意图。
标号说明:
1、第一导入模块;2、检测模块;3、第一设置模块;4、扫描模块;
5、第二设置模块;6、老化测试模块;7、第二导入模块;8、划分模块;
9、第一获取模块;10、第一判断模块;11、第一保存模块;
12、第二获取模块;13、第二判断模块;14、第二保存模块;
61、放置单元;62、遍历单元;63、擦除单元;64、写入单元;
65、读取单元;66、判定单元;67、标记单元;
81、第一划分单元;82、第二划分单元;83、第三划分单元;
84、第四划分单元。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。
本发明最关键的构思在于:通过第一固件控制FT1、FT2开卡阶段,通过第二固件控制FT3开卡阶段,并将整体流程整合成一体化的生产流程。
请参阅图1,一种嵌入式多媒体卡的生产方法,包括:
导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。
从上述描述可知,本发明的有益效果在于:可减少生产工序的复杂性,节约成本,提高产能。
进一步地,所述“根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块”具体为:
将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
将第一数据写入所述一块;
读取所述一块中的数据,得到第二数据;
若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中。
由上述描述可知,通过在高温环境下进行读写校验来判断块的稳定性,从而确定出坏块。
进一步地,所述“根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息”之后,进一步包括:
获取参数数据信息;
判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
进一步地,所述“导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡”之后,进一步包括:
依据所述第二固件,获取参数数据信息;
判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
由上述描述可知,通过获取参数数据信息并与之前设置的参数数据信息进行比对,确认信息设置的准确性。
进一步地,所述“根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分”具体为:
若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级;
若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级;
若新增坏块的数量在预设的第一范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级;
若新增坏块的数量在预设的第二范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级。
由上述描述可知,根据坏块的类型和数量,可对嵌入式多媒体卡的产品品质进行筛选分级。
进一步地,所述第二固件包括对闪存的管理算法。
请参照图3,本发明还提出一种嵌入式多媒体卡的生产系统,包括:
第一导入模块,用于导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
检测模块,用于依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
第一设置模块,用于根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
扫描模块,用于依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
第二设置模块,用于根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
老化测试模块,用于根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
第二导入模块,用于导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
划分模块,用于依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。
进一步地,所述老化测试模块包括:
放置单元,用于将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
遍历单元,用于依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
擦除单元,用于对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
写入单元,用于将第一数据写入所述一块;
读取单元,用于读取所述一块中的数据,得到第二数据;
判定单元,用于若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
标记单元,用于将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中。
进一步地,还包括:
第一获取模块,用于获取参数数据信息;
第一判断模块,用于判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
第一保存模块,用于若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
进一步地,还包括:
第二获取模块,用于依据所述第二固件,获取参数数据信息;
第二判断模块,用于判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
第二保存模块,用于若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
进一步地,所述划分模块包括:
第一划分单元,用于若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级;
第二划分单元,用于若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级;
第三划分单元,用于若新增坏块的数量在预设的第一范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级;
第四划分单元,用于若新增坏块的数量在预设的第二范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级。
进一步地,所述第二固件包括对闪存的管理算法。
实施例一
请参照图1,本发明的实施例一为:一种嵌入式多媒体卡的生产方法,适用于将嵌入式多媒体卡从半成品开卡成可以商用的成品,本发明中,嵌入式多媒体卡的半成品即指进行量产开卡前,将闪存颗粒和控制器封装成具备eMMC内嵌式存储器标准规格的存储产品;距离可商用的成品缺少的是整个开卡流程中通过软件写入的两个固件管理程序,即消费者是不能用未完成开卡流程的半成品来进行对数码产品的装机、写入系统等过程的。
所述方法包括如下步骤:
S1、导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;第一固件写入并保存于只读存储器中,用于完成嵌入式多媒体卡第一阶段和第二阶段,即FT1和FT2开卡的底层驱动程序,包括驱动、控制、检测、传送等功能,上层软件可对其发送特定的命令以完成所需要的操作,如获取信息、初始化存储卡等。
S2、依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;检测所得的信息为嵌入式多媒体卡的相关参数,包括存储卡ID(即CID寄存器中所存识别码)、相关配置参数(CSD寄存器所存信息),以及存储卡的内存颗粒(即NAND Flash)供应商、型号、类别、额定容量、内部结构分配等。
S3、根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;需设置的信息为嵌入式多媒体卡在生成过程中标记的出厂信息,包括制造商名称(Productname)、制造商识别码(MID)、供应商识别码(OID)、生产版本号(ProductVersion)、产品序列号等。
S4、依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;扫描结果主要为嵌入式多媒体卡的NAND Flash的内部整体构造情况,如该Flash内存有几条信号控制线、每条信号线控制几个Flash晶圆、总共有多少个块、每块有多少页等等。
S5、根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;不同类型的块指系统块与存放信息的物理块。
S6、根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;并将坏块的信息保存至存储芯片中。
S7、导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;第二固件写入并保存于只读存储器中,用于完成嵌入式多媒体卡第三阶段,即FT3开卡的算法程序,包含了根据Flash特性制定的对NAND Flash的所有管理方法,如:坏块管理方法、读写平衡方法、掉电数据恢复方法,数据写入算法等等。
S8、依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。进一步地,坏块包括固有坏块和新增坏块,内嵌式存储产品中的闪存颗粒在封装成半成品后会有因为工厂生产过程中产生的坏块,这类坏块称为固有坏块;在导入第一固件后,进行老化测试过程中产生的不稳定的块并被固件程序标记的坏块称为新增坏块。
具体地,若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级(BIN1);所述第一阈值根据Flash特性而定;;
若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级(BIN2);
若新增坏块的数量在预设的第一范围内(1-5个),则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级(BIN3);
若新增坏块的数量在预设的第二范围内(大于5个),则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级(BIN4)。
在上述步骤中,S1-S5为第一阶段,即FT1,S6为第二阶段,即FT2,S7-S8为第三阶段,即FT3,经过上述步骤之后,即可得到嵌入式多媒体卡的成品,同时还将嵌入式多媒体卡的成品根据产品品质进行筛选分级。
本实施例通过在待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段中对应设置预设的参数数据,可以根据客户要求,定制eMMC信息;通过一体化的生产流程,减少生产工序的复杂性,节约成本,提高产能。
实施例二
本实施例为实施例一的进一步拓展。
如图2所示,所述步骤S6包括如下步骤:
S61、将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
S62、依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
S63、对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
S64、将第一数据写入所述一块;
S65、读取所述一块中的数据,得到第二数据;
S66、若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
S67、将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中,并将坏块表存储至存储芯片中。
在步骤S3之后,S6之前,还包括将嵌入式多媒体卡初始化的步骤,具体地,获取参数数据信息;判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。通过获取参数数据信息并与之前设置的参数数据信息进行比对,判断预设的参数数据信息是否在存储过程中或其他步骤过程中发生错误导致存储信息不正确,保证设置信息的准确性。同时,初始化还包括检测嵌入式多媒体卡的引脚连接情况,以及检测是否准备就绪。
在步骤S7和S8之间,也包括初始化嵌入式多媒体卡的步骤,具体地,依据所述第二固件,获取参数数据信息;判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。同时,也包括检测嵌入式多媒体卡的引脚连接情况,以及检测是否准备就绪。由于在步骤S6的老化测试中,擦除了存储芯片中的信息,因此需重新获取参数数据信息,再次与之前设置的参数数据信息进行比对,防止由于老化测试而改变了存储信息,进一步保证设置信息的准确性。
本实施例通过对待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,将其存储芯片中的不稳定的块,即坏块挑选出来,保证eMMC产品的稳定性和高效性。
实施例三
本实施例为上述实施例的进一步拓展。
本发明的嵌入式多媒体卡的生产过程可使用机器控制实现,具体地,通过主处理机将机械臂、传感器、步进电机、气压泵以及测试机联结成一协调运作的整体,并通过XYZ坐标轴实现机械臂运行空间的精准控制。
其中,主处理机上安装有上层软件,可发送特定的命令给第一固件和第二固件,以控制各个阶段的开卡流程。
本实施例中,一台主处理机连接四台测试机,一台测试机上有32个端口,每个端口均通过相关的硬件装置连接一个待生产的嵌入式多媒体卡,也就是说,一个主处理机能同时控制128个嵌入式多媒体卡的生成过程,从而实现量产开卡。
整个开卡的硬件装置分为两类:FT1、FT3开卡时硬件装置一样,该装置可以适合该产品引脚规定并协助完成开卡过程;FT2开卡时是自主运行第一固件,因需在高温环境下进行,所以硬件装置与FT1、FT3有差别。
进一步地,可将整体机器系统的分为主处理机和测试机两大部分,机器系统完成开卡的整个过程均由主处理机控制,包括向测试机发出测试命令进行开卡,控制机械臂完成产品的取出与放置等等。具体的步骤如下所述:
主处理机发送自动开卡命令(ini命令)至测试机;
测试机判断自动开卡命令是否加载成功,若成功,则返回命令加载结果至主处理机;
主处理机控制机械臂将待测产品放置到测试区域,并发送开始命令至测试机;开始命令为“@STATR_TEST 00 11111111+”,其中“00”表示测试机所连硬件装置的第00排开始测试;“11111111”表示该排的八个测试位置开卡情况,“0”表示不需要开卡,“1”表示需要开卡;
测试机接收到所述开始命令后,根据所述开始命令进行开卡操作;等待该阶段的开卡结束后,测试机返回开卡结果至主处理机,即向主处理机发送“@TEST_DONE 00 01 0101 01 09 09 09 09+”命令回应开卡结果,其中,“0”表示第00排的测试位置;“01”表示开卡成功的返回值;“09”表示开卡失败的返回值;优选地,可预先设置表示开卡成功和开卡失败的返回值。
在上述过程中,当主处理机发送开始命令后,若超过预设的时间阈值仍未收到测试机返回的开卡结果,则主处理机会下发“@TIME_OUT 00+”命令控制机械臂将该排待测产品取回放置到Fail区。
在FT3开卡完成的同时,测试机回应的开卡结果包含BIN级划分和开卡结果的信息,主处理机会根据返回值将待测产品放置到对应的BIN级托盘区和Fail区。
通过采用机器实现嵌入式多媒体卡的生产过程,可实现嵌入式多媒体卡的自动批量生产,大大节约人工成本,提高生产效率,且成品的稳定性以及出现问题原因的可查性显著增强。
实施例四
请参照图4,本实施例为对应上述实施例的一种嵌入式多媒体卡的生产系统,包括:
第一导入模块1,用于导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
检测模块2,用于依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
第一设置模块3,用于根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
扫描模块4,用于依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
第二设置模块5,用于根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
老化测试模块6,用于根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
第二导入模块7,用于导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
划分模块8,用于依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分。
进一步地,所述老化测试模块6包括:
放置单元61,用于将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
遍历单元62,用于依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
擦除单元63,用于对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
写入单元64,用于将第一数据写入所述一块;
读取单元65,用于读取所述一块中的数据,得到第二数据;
判定单元66,用于若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
标记单元67,用于将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中。
进一步地,还包括:
第一获取模块9,用于获取参数数据信息;
第一判断模块10,用于判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
第一保存模块11,用于若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
进一步地,还包括:
第二获取模块12,用于依据所述第二固件,获取参数数据信息;
第二判断模块13,用于判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
第二保存模块14,用于若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
进一步地,所述划分模块8包括:
第一划分单元81,用于若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级;
第二划分单元82,用于若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级;
第三划分单元83,用于若新增坏块的数量在预设的第一范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级;
第四划分单元84,用于若新增坏块的数量在预设的第二范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级。
进一步地,所述第二固件包括对闪存的管理算法。
综上所述,本发明提供的一种嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统,通过在待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段中对应设置预设的参数数据,可以根据客户要求,定制eMMC信息;通过对待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,将其存储芯片中的不稳定的块,即坏块挑选出来,保证eMMC产品的稳定性和高效性;通过一体化的生产流程,减少生产工序的复杂性,节约成本,提高产能。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换,或直接或间接运用在相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,包括:
导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分;
所述第一固件用于完成嵌入式多媒体卡第一阶段和第二阶段;
所述第二固件用于完成嵌入式多媒体卡第三阶段。
2.根据权利要求1所述的嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,所述根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块具体为:
将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
将第一数据写入所述一块;
读取所述一块中的数据,得到第二数据;
若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中。
3.根据权利要求1所述的嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,所述根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息之后,进一步包括:
获取参数数据信息;
判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
4.根据权利要求1所述的嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,所述导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡之后,进一步包括:
依据所述第二固件,获取参数数据信息;
判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
5.根据权利要求1所述的嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,所述根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分具体为:
若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级;
若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级;
若新增坏块的数量在预设的第一范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级;
若新增坏块的数量在预设的第二范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级。
6.根据权利要求1所述的嵌入式多媒体卡的生产方法,其特征在于,所述第二固件包括对闪存的管理算法。
7.一种嵌入式多媒体卡的生产系统,其特征在于,包括:
第一导入模块,用于导入第一固件至待生产的嵌入式多媒体卡;
检测模块,用于依据所述第一固件,检测所述待生产的嵌入式多媒体卡的参数字段信息;
第一设置模块,用于根据所述参数字段信息,对应设置预设的参数数据信息;
扫描模块,用于依据所述第一固件,扫描所述待生产的嵌入式多媒体卡,得到扫描结果,所述扫描结果包括块的个数和块的类型;
第二设置模块,用于根据所述扫描结果,设置检测参数信息,所述检测参数信息包括需检测的块的数量和不同类型的块的检测顺序;
老化测试模块,用于根据所述检测参数信息,依据所述第一固件对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行老化测试,并根据测试结果,将不稳定的块标记为坏块;
第二导入模块,用于导入第二固件至所述待生产的嵌入式多媒体卡;
划分模块,用于依据所述第二固件,根据所述坏块以及预设的条件,对所述待生产的嵌入式多媒体卡进行等级划分;
所述第一固件用于完成嵌入式多媒体卡第一阶段和第二阶段;
所述第二固件用于完成嵌入式多媒体卡第三阶段。
8.根据权利要求7所述的嵌入式多媒体卡的生产系统,其特征在于,所述老化测试模块包括:
放置单元,用于将待生产的所述嵌入式多媒体卡放置在温度为60-80℃的环境下;
遍历单元,用于依据所述第一固件,根据不同类型的块的检测顺序,遍历所述待生产的嵌入式多媒体卡的存储芯片中需要检测的块;
擦除单元,用于对需要检测的块中的一块进行擦除操作;
写入单元,用于将第一数据写入所述一块;
读取单元,用于读取所述一块中的数据,得到第二数据;
判定单元,用于若所述第二数据与第一数据不一致,则判定所述一块为不稳定的块;
标记单元,用于将所述一块标记为坏块,将所述一块在所述存储芯片中的位置信息记录至预设的坏块表中。
9.根据权利要求7所述的嵌入式多媒体卡的生产系统,其特征在于,还包括:
第一获取模块,用于获取参数数据信息;
第一判断模块,用于判断所获取的参数数据信息与预设的参数数据信息是否一致;
第一保存模块,用于若是,则将所获取的参数数据信息保存至存储芯片中。
10.根据权利要求7所述的嵌入式多媒体卡的生产系统,其特征在于,所述划分模块包括:
第一划分单元,用于若固有坏块的数量小于或等于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第一等级;
第二划分单元,用于若固有坏块的数量大于预设的第一阈值且无新增坏块,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第二等级;
第三划分单元,用于若新增坏块的数量在预设的第一范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第三等级;
第四划分单元,用于若新增坏块的数量在预设的第二范围内,则将所述待生产的嵌入式多媒体卡划分为第四等级。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710219793.XA CN106951297B (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710219793.XA CN106951297B (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106951297A CN106951297A (zh) | 2017-07-14 |
CN106951297B true CN106951297B (zh) | 2020-07-28 |
Family
ID=59474471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710219793.XA Active CN106951297B (zh) | 2017-04-06 | 2017-04-06 | 嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106951297B (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109119124B (zh) * | 2018-08-27 | 2020-05-26 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 固态硬盘的生产方法及固态硬盘 |
CN110032481B (zh) * | 2019-03-21 | 2023-08-18 | 杭州涂鸦信息技术有限公司 | 一种无线产品测试方法、无线产品测试系统及电子设备 |
CN110287074B (zh) * | 2019-06-28 | 2023-03-21 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Pcie ssd产品的一站式集成测试方法及其装置 |
CN111142889B (zh) * | 2019-12-30 | 2023-03-14 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | eMMC自动化量产方法、装置、存储介质和电子设备 |
CN114496057A (zh) * | 2022-01-13 | 2022-05-13 | 绵存(浙江)科技有限公司 | 固态硬盘的生产方法、生产设备及计算机可读存储介质 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1617438A1 (en) * | 2004-07-14 | 2006-01-18 | STMicroelectronics S.r.l. | Redundancy based NAND flash memory |
EP1909175A2 (en) * | 2006-08-04 | 2008-04-09 | Sony Ericsson Mobile Communications Japan, Inc. | Memory management method and portable terminal device |
CN101727989A (zh) * | 2008-10-16 | 2010-06-09 | 付建云 | 一种nand flash存储芯片测试系统 |
CN105006253A (zh) * | 2015-08-11 | 2015-10-28 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种闪存芯片数据保留性检查方法及系统 |
-
2017
- 2017-04-06 CN CN201710219793.XA patent/CN106951297B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1617438A1 (en) * | 2004-07-14 | 2006-01-18 | STMicroelectronics S.r.l. | Redundancy based NAND flash memory |
EP1909175A2 (en) * | 2006-08-04 | 2008-04-09 | Sony Ericsson Mobile Communications Japan, Inc. | Memory management method and portable terminal device |
CN101727989A (zh) * | 2008-10-16 | 2010-06-09 | 付建云 | 一种nand flash存储芯片测试系统 |
CN105006253A (zh) * | 2015-08-11 | 2015-10-28 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种闪存芯片数据保留性检查方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106951297A (zh) | 2017-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106951297B (zh) | 嵌入式多媒体卡的生产方法及其系统 | |
US8341337B1 (en) | Data storage device booting from system data loaded by host | |
US8683456B2 (en) | Test partitioning for a non-volatile memory | |
US9552287B2 (en) | Data management method, memory controller and embedded memory storage apparatus using the same | |
CN101853692A (zh) | 具闪存测试功能的控制器及其储存系统与测试方法 | |
WO2019041662A1 (zh) | Dram测试装置及方法 | |
CN112466387A (zh) | 一种nand flash芯片读写寿命的快速测试方法 | |
CN103761198B (zh) | 存储器芯片与数据保护方法 | |
US9082474B2 (en) | Method and apparatus for providing preloaded non-volatile memory content | |
US8001443B2 (en) | Data storage apparatus, data storage controller, and related automated testing method | |
CN101178660A (zh) | 存储器数据自动更新方法 | |
CN111028881B (zh) | 一种Open Block测试装置、方法及系统 | |
CN113421606A (zh) | flash检测方法及其检测系统 | |
CN110956998B (zh) | 一种存储器测试装置与系统 | |
TWI685791B (zh) | 產生bios變更紀錄的方法 | |
CN115373922A (zh) | 一种不同厂商smr硬盘自动测试装置、方法、终端及介质 | |
CN109376045A (zh) | 一种bios参数自动化验证装置及验证方法 | |
CN112965853B (zh) | 智能卡的数据存储及校验方法、装置及介质 | |
CN115602242A (zh) | 一种存储装置及其测试方法 | |
CN112463042B (zh) | 一种数据卷导入数据校验方法、装置、终端及存储介质 | |
CN109669685B (zh) | 通用编程器及其编程方法 | |
US10922023B2 (en) | Method for accessing code SRAM and electronic device | |
CN114496053A (zh) | 数据异常检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 | |
CN105807157A (zh) | 高温老化测试系统 | |
CN105679377A (zh) | CPU cache存储器的自适应测试方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |