CN106908714B - 芯片自动检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电子芯片生产装置,具体为芯片自动检测装置,芯片载台搭载待检测的芯片,芯片载台包括底座;底板后侧固定连接有背板,底座的后侧还固定安装有限位板,限位板与底座相互垂直;背板与限位板之间有拉簧,背板的后表面上有弧形的导向架,导向架的弧形凹面朝向背板的后表面;传送机构上还安装有立柱,立柱上安装有悬臂,悬臂上安装有万向轮,万向轮在导向架弧形外凸面上滚动;检测探头安装在传送机构上,并位于底座的前侧。本发明提供的芯片自动检测装置,通过万向轮推动背板的弧形的导向架,将背板和芯片一起向前推动,将芯片和检测探头接触,进行测试。该装置自动化检测,并且主要依靠机械结构进行作业,成本低、效率高。

Description

芯片自动检测装置
技术领域
本发明提供一种电子芯片生产装置,具体为芯片自动检测装置。
背景技术
芯片封装后,需要经过检测,一般检查都是插入到专门设计的电路中进行测试。常规的检查都是人工进行检查,将芯片插入到检测插孔内,与测试平台对接,通电进行测试。但是人工操作效率低,并且容易出错。现在部分企业进行了自动化生产,依靠机械手进行操作,但是智能的机械手设备成本高,维护难。
发明内容
本发明的目的在于克服上述背景技术中的技术问题,提供一种自动化检测芯片的装置,并且提高效率、成本低。
为达上述目的,本发明采用的技术方案为:
芯片自动检测装置,包括传送机构、芯片载台和检测探头;所述的芯片载台搭载待检测的芯片,芯片载台放置在传送机构上传送到检测探头处;所述的芯片载台包括底座;所述的底座上铰接有底板,所述的底板后侧固定连接有背板,所述的背板与底板垂直;所述的底座的后侧还固定安装有限位板,所述的限位板与底座相互垂直;所述的背板与限位板之间有拉簧,拉簧将背板拉靠在限位板上;所述的背板的后表面上有弧形的导向架,所述的导向架的弧形凹面朝向背板的后表面;所述的传送机构上还安装有立柱,所述的立柱上安装有悬臂,所述的悬臂上安装有万向轮;所述的万向轮朝向背板的后表面,并且随着芯片载台在传送机构上运动,所述的万向轮与导向架的弧形外凸面接触,万向轮在导向架弧形外凸面上滚动;所述的检测探头安装在传送机构上,并位于底座的前侧。
所述的悬臂为伸缩杆,一端固定在立柱上,另一端连接万向轮。
所述的背板上有滑槽,所述的拉簧一端固定在限位板上,一端铰接在滑块上,所述的滑块安装在滑槽内,形成滑动副。
所述的限位板上还连接有防倒支架,所述的防倒支架前端还连接有限位挡块;待测芯片放置在所述的底板上,后表面靠在背板上,前表面由底板限位,两端由防倒支架限位。
所述的防倒支架通过带有复位弹簧的铰链铰接在限位板上。
所述的检测探头安装在探头支架上,所述的探头支架通过支架安装在传送机构上。
所述的检测探头包括多个均匀排布的探针,所述的检测探头通过减震弹簧安装在探头支架上。
本发明提供的芯片自动检测装置,在等待检测的时候,芯片放置在芯片载台上进行定位,然后运输到检测探头前,同时通过万向轮推动背板的后表面上的弧形的导向架,将背板和芯片一起向前推动,将芯片和检测探头接触,进行测试,然后再通过拉簧将背板拉靠在限位板上,使得芯片脱离检测探头。该装置自动化检测,并且主要依靠机械结构进行作业,成本低、效率高。
附图说明
图1 是本发明的测试状态结构示意图;
图2是本发明的复位状态结构示意图;
图3是本发明的俯视结构示意图。
具体实施方式
结合附图说明本发明的具体实施方式。
实施例1
如图1和图2、图3所示,芯片自动检测装置,包括传送机构1、芯片载台和检测探头17;所述的芯片载台搭载待检测的芯片,芯片载台放置在传送机构1上传送到检测探头17处;所述的芯片载台包括底座2;所述的底座2上铰接有底板3,所述的底板3后侧固定连接有背板6,所述的背板6与底板3垂直;所述的底座2的后侧还固定安装有限位板8,所述的限位板8与底座2相互垂直;所述的背板6与限位板8之间有拉簧7,拉簧7将背板6拉靠在限位板8上;所述的背板6的后表面上有弧形的导向架14,所述的导向架14的弧形凹面朝向背板6的后表面;所述的传送机构1上还安装有立柱11,所述的立柱11上安装有悬臂12,所述的悬臂12上安装有万向轮13;所述的万向轮13朝向背板6的后表面,并且随着芯片载台在传送机构1上运动,所述的万向轮13与导向架14的弧形外凸面接触,万向轮13在导向架14弧形外凸面上滚动;所述的检测探头17安装在传送机构1上,并位于底座2的前侧。
芯片载台搭载芯片,放在传送机构1上,进入检测区域后,背板6的弧形的导向架14与万向轮13接触,然后万向轮13在导向架14上向上坡滚动,将背板6逐步向前推送,直到芯片与检测探头17接触,然后万向轮13在弧形的导向架14向下坡滚动,背板6带着芯片离开检测探头17。完成整个检测过程。
所述的悬臂12为伸缩杆,一端固定在立柱11上,另一端连接万向轮13。伸缩杆可以调节万向轮13的位置,从而达到调整背板6推送的行程。
所述的背板6上有滑槽5,所述的拉簧7一端固定在限位板8上,一端铰接在滑块4上,所述的滑块4安装在滑槽5内,形成滑动副。
背板6转动时候,滑块4位置可调,避免拉簧7变形过大。
所述的限位板8上还连接有防倒支架9,所述的防倒支架9前端还连接有限位挡块10;待测芯片放置在所述的底板3上,后表面靠在背板6上,前表面由底板3限位,两端由防倒支架9限位。
所述的防倒支架9通过带有复位弹簧的铰链铰接在限位板8上。打开防倒支架9可以放入或者取出芯片,并通过防倒支架9对芯片两端进行定位。
所述的检测探头17安装在探头支架15上,所述的探头支架15通过支架16安装在传送机构1上。
所述的检测探头17包括多个均匀排布的探针,所述的检测探头17通过减震弹簧18安装在探头支架15上。多个探针提高了接触点。

Claims (7)

1.芯片自动检测装置,其特征在于,包括传送机构(1)、芯片载台和检测探头(17);所述的芯片载台搭载待检测的芯片,芯片载台放置在传送机构(1)上传送到检测探头(17)处;所述的芯片载台包括底座(2);所述的底座(2)上铰接有底板(3),所述的底板(3)后侧固定连接有背板(6),所述的背板(6)与底板(3)垂直;所述的底座(2)的后侧还固定安装有限位板(8),所述的限位板(8)与底座(2)相互垂直;所述的背板(6)与限位板(8)之间有拉簧(7),拉簧(7)将背板(6)拉靠在限位板(8)上;所述的背板(6)的后表面上有弧形的导向架(14),所述的导向架(14)的弧形凹面朝向背板(6)的后表面;所述的传送机构(1)上还安装有立柱(11),所述的立柱(11)上安装有悬臂(12),所述的悬臂(12)上安装有万向轮(13);所述的万向轮(13)朝向背板(6)的后表面,并且随着芯片载台在传送机构(1)上运动,所述的万向轮(13)与导向架(14)的弧形外凸面接触,万向轮(13)在导向架(14)弧形外凸面上滚动;所述的检测探头(17)安装在传送机构(1)上,并位于底座(2)的前侧。
2.根据权利要求1所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的悬臂(12)为伸缩杆,一端固定在立柱(11)上,另一端连接万向轮(13)。
3.根据权利要求1所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的背板(6)上有滑槽(5),所述的拉簧(7)一端固定在限位板(8)上,一端铰接在滑块(4)上,所述的滑块(4)安装在滑槽(5)内,形成滑动副。
4.根据权利要求1所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的限位板(8)上还连接有防倒支架(9),所述的防倒支架(9)前端还连接有限位挡块(10);待测芯片放置在所述的底板(3)上,后表面靠在背板(6)上,前表面由底板(3)限位,两端由防倒支架(9)限位。
5.根据权利要求4所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的防倒支架(9)通过带有复位弹簧的铰链铰接在限位板(8)上。
6.根据权利要求1所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的检测探头(17)安装在探头支架(15)上,所述的探头支架(15)通过支架(16)安装在传送机构(1)上。
7.根据权利要求6所述的芯片自动检测装置,其特征在于,所述的检测探头(17)包括多个均匀排布的探针,所述的检测探头(17)通过减震弹簧(18)安装在探头支架(15)上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018161239A1 (zh) * 2017-03-06 2018-09-13 邹霞 芯片自动检测装置
CN115775761B (zh) * 2023-02-09 2023-09-22 深圳市昌富祥智能科技有限公司 一种晶元芯片生产用自动检测装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1119965A (ja) * 1997-07-03 1999-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 金型保護装置
JP2007042956A (ja) * 2005-08-04 2007-02-15 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電子部品実装用フィルムキャリアテープの外観検査方法および外観検査装置
CN104502829A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 华中科技大学 一种倒装led芯片在线检测方法
CN205187177U (zh) * 2015-10-16 2016-04-27 杭州大和热磁电子有限公司 工件输送设备
CN205620308U (zh) * 2016-04-08 2016-10-05 深圳雷杜生命科学股份有限公司 生物芯片自动连续检测设备
CN205771617U (zh) * 2016-05-26 2016-12-07 深圳訾岽科技有限公司 自动化输送电路板测试站
CN205982536U (zh) * 2016-07-27 2017-02-22 竹昌精密冲压件(上海)有限公司 一种准确性高的检测机台

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1119965A (ja) * 1997-07-03 1999-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 金型保護装置
JP2007042956A (ja) * 2005-08-04 2007-02-15 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 電子部品実装用フィルムキャリアテープの外観検査方法および外観検査装置
CN104502829A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 华中科技大学 一种倒装led芯片在线检测方法
CN205187177U (zh) * 2015-10-16 2016-04-27 杭州大和热磁电子有限公司 工件输送设备
CN205620308U (zh) * 2016-04-08 2016-10-05 深圳雷杜生命科学股份有限公司 生物芯片自动连续检测设备
CN205771617U (zh) * 2016-05-26 2016-12-07 深圳訾岽科技有限公司 自动化输送电路板测试站
CN205982536U (zh) * 2016-07-27 2017-02-22 竹昌精密冲压件(上海)有限公司 一种准确性高的检测机台

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