CN106662612B - 射频测试座及测试探针 - Google Patents

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Abstract

一种射频测试座及测试探针。射频测试座包括输入引脚(101)、金属弹片(102)、输出引脚(103)、外壳(104)及金属台面(105)；金属弹片(102)与输入引脚(101)连接；金属弹片(102)与所述输出引脚(103)接触连接；金属弹片(102)具有磁性材料；金属弹片(102)的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。该实施例可保证射频测试座的弹片与各部件的连接可靠性。

Description

射频测试座及测试探针
技术领域
本发明实施例涉及射频测试技术，尤其涉及一种射频测试座及测试探针。
背景技术
无线终端内部通常都会配置射频测试座，作为测试连接器以对该无线终端的印制电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)上的一个电路进行测试。在正常情况下，该射频电路通过弹片与该PCB上的其他电路连接。当对该一个电路进行测试时，可通过断开该弹片与该其他电路的连接，将该弹片与测试仪连接，使得该一个电路与该测试仪连接，从而通过该测试仪对该一个电路进行测试。
通常可将测试探针插入该射频测试座顶部的测试孔中，按压该测试探针，使得该弹片与该其他电路的连接断开，该测试探针与该弹片接触。在PCB制造过程中，回流焊和/或波峰焊等阶段的助焊剂以及粉尘颗粒，会通过该开孔进入该射频测试座的内部，从而在该弹片上形成助焊剂层。
然而，该弹片上的助焊剂层可能会使得该弹片与各部件的连接不可靠。
发明内容
本发明实施例提供一种射频测试座及测试探针，以解决现有技术中射频测试座的弹片与各部件连接不可靠的问题。
第一方面，本发明实施例提供一种射频测试座，所述射频测试座包括输入引脚、金属弹片、输出引脚、外壳及金属台面；其中，所述金属弹片与所述输入引脚连接；所述金属弹片与所述输出引脚接触连接；所述外壳与所述金属台面之间存在绝缘层；所述金属弹片的长度为根据所述金属弹片与所述金属台面间的距离，和所述金属弹片与所述金属台面的夹角确定的；所述金属弹片粘附有磁性材料；所述金属弹片的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。
根据第一方面，在第一方面的第一种可能实现的方式中，所述金属弹片背离所述金属台面的一面具有磁性材料。
根据第一方面或第一方面的第一种可能实现的方式，在第二种可能实现的方式中，所述金属弹片向所述金属台面的一面具有突起部。
第二方面，本发明实施例提供一种测试探针，包括针套、针芯；所述针套为所述测试探针的接地壳；所述针套套设在所述针芯的外部；所述针芯与所述针套之间具有磁性材料；其中，所述测试探针的磁性材料与射频测试座的金属弹片的磁性材料的极性相反。
根据第二方面，在第二方面的第一种可能实现的方式中，所述测试探针还包括：法兰；所述法兰位于所述针套的外部；所述法兰包括至少一个通孔；
所述至少一个通孔，用于对所述测试探针进行固定，并安装在夹具上。
根据第二方面或第二方面的第一种可能实现的方式，在第二种可能实现的方式中，所述针芯与所述针套之间距离所述针芯的针头预设距离的范围内具有磁性材料。
本发明实施例射频测试座及测试探针，可通过在金属弹片上设置磁性材料，当配置相反极性的磁性材料的测试探针接触金属台面时，该金属弹片的磁性材料与该测试探针的磁性材料之间即可产生相互吸引的磁力，从而使得金属弹片与金属台面连接，使得测试探针通过该金属台面与该金属弹片连接，形成测试通路。该射频测试座的金属弹片与测试探针通过磁力连接，而无需通过金属台面的开孔的插入该射频测试座，因而，该金属台面无需配置开孔，助焊剂和/或粉尘颗粒无法进入该射频测试座的内部，从而保证射频测试座的该金属弹片与各部件连接的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一提供的射频测试座的剖面结构示意图；
图2为本发明实施例二提供的射频测试座的剖面结构示意图；
图3为本发明实施例三提供的测试探针的剖面示意图；
图4为本发明实施例三提供的另一种测试探针的剖面结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
本发明实施例一提供一种射频测试座。该射频测试座可称为射频开关(RadioFrequency Switch，简称RF-Switch)器件。该射频测试座可作为测试连接器，在无线终端的制造过程中，集成在该无线终端的PCB板上。图1为本发明实施例一提供的射频测试座的剖面结构示意图。如图1所示，该射频测试座包括输入引脚101、金属弹片102、输出引脚103、外壳104及金属台面105。其中，金属弹片102与输入引脚101连接；金属弹片102与输出引脚103接触连接。外壳104与金属台面105之间存在绝缘层106；金属弹片102的长度为根据金属弹片102与金属台面105间的距离，和，金属弹片102与金属台面105的夹角确定。金属弹片102粘附有磁性材料。
金属弹片102的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。
具体地，金属弹片102可以与该射频测试座的输入引脚101的一端连接，该输入引脚101的另一端可以与该射频测试座所在PCB板上的一个待测电路，如射频电路连接。金属弹片102可以与输出引脚103的一端接触连接，输出引脚103的另一端可以与该一个电路对应的另一电路，如天线电路。金属弹片102可以与输入引脚101固定连接，当金属弹片102受到测试探针的吸引力时，金属弹片102向金属台面105弯曲变形，从而与金属台面105连接。金属弹片102还可以是与输入引脚101活动连接，例如通过金属弹片102与输入引脚101连接处的转轴连接，当金属弹片102在受到测试探针的吸引力时，金属弹片102的一端可向金属台面105连接。金属弹片102与输出引脚103接触连接，指的是金属弹片102与输出引脚103通过相互接触从而形成电连接。由于金属弹片102与输入引脚101连接，而与输出引脚103接触连接，可使得射频测试座处于测试状态下，即测试探针接触金属台面105时，金属弹片102可通过旋转或弯曲变形，断开与输出引脚103的连接，继而与金属台面105连接。由于金属弹片102与金属台面105的长度为根据金属弹片102与金属台面105间的距离，和，金属弹片102与金属台面105的夹角确定的，因而，金属弹片102在与输入引脚101连接的情况，金属弹片102可通过旋转或弯曲变形从而与金属台面105相接触，形成电连接。
外壳104可以为金属外壳，为避免外壳104与金属台面105之间产生短路，可在外壳104与金属台面105间设置绝缘层。其中，该绝缘层可以由绝缘材料组成。为了保证射频信号的屏蔽和阻抗匹配，还可在该射频测试座的外壳104上金属台面105的外侧设置接地壳，或者，将外壳104与接地端连接使得外壳104形成接地壳。
当射频测试座100处于正常工作状态，也就是测试探针远离金属台面105，测试探针的磁性材料与金属弹片102的磁力材料之间不存在磁力，因而金属弹片102处于常闭状态，也就是说，金属弹片102与输出引脚103之间是保持连接状态，从而形成输入引脚101、金属弹片102与输出引脚103之间的工作通路。
当射频测试座100处于测试状态，也就是该测试探针接触该金属台面105，测试探针的磁性材料与金属弹片102的磁力材料，由于极性相反产生相互吸附的磁力，该测试探针可通过该磁力驱动金属弹片102断开与输入引脚103的连接，以金属弹片102与输入引脚101的连接点为中点，朝靠近测试探针的方向旋转移动或朝靠近测试探针的方向弯曲变形，从而与金属台面105连接。由于测试探针接触金属台面105，即测试探针与金属台面105连接，当该金属弹片102与金属台面105连接时，该测试探针可通过金属台面105与金属弹片102连接。需要说明的是，该测试探针至少还可与测试电路连接。此时，金属弹片102与待测电路之间一直是保持连接状态，当测试探针连接测试电路时，该测试电路实际可依次通过测试探针、金属台面105、金属弹片102与待测电路连接，形成待测电路至测试电路的测试通路，以使得测试电路对该待测电路进行测试。
本发明实施例一所提供的射频测试座，可通过在金属弹片上设置磁性材料，当配置相反极性的磁性材料的测试探针接触金属台面时，该金属弹片的磁性材料与该测试探针的磁性材料间产生相互吸引的磁力，从而使得金属弹片与金属台面连接，使得测试探针通过该金属台面与该金属弹片连接，形成测试通路。该射频测试座的金属弹片与测试探针通过磁力连接，而无需通过金属台面的开孔的插入该射频测试座，因而，该金属台面无需配置开孔，这使得射频测试座为全封闭的结构。对于全封闭的射频测试座，助焊剂和/或粉尘颗粒无法进入该射频测试座的内部，从而保证射频测试座的内部该金属弹片与各部件的连接可靠性。
同时，该全封闭的射频测试座由于脏污物无法进入，其测试的准确度也更高。
并且，由于金属台面与测试探针的接触面积越大，该射频测试座可更好地保证测试精度，特别是对于器件集成度越高，器件密度越高，器件越小的无线终端，该射频测试座可更好地保证测试精度。
实施例二
本发明实施例二还提供一种射频测试座。图2为本发明实施例二提供的射频测试座的剖面结构示意图。如图2所示，可选的，在上述实施例一的射频测试座中，金属弹片102背离金属台面105的一面粘附有磁性材料201。
若磁性材料201粘附在金属弹片102向金属台面105的一面，当测试探针接触金属台面105，金属弹片102的磁性材料201与测试探针的磁性材料之间的磁力对金属弹片102产生拉力，从而使得金属弹片102断开与输出引脚103的连接，而与金属台面105连接。然而，射频测试座的测试次数超过一定次数时，该磁力对金属弹片102产生的拉力，可能会使得金属弹片102与磁性材料201之间存在间隙，进而分离。
因而，为保证射频测试座反复测试使用过程中，金属弹片102的磁性材料201与测试探针磁性材料之间的相对位置的稳定性、金属弹片102的测试灵敏度以及射频测试座的使用寿命，可将磁性材料201粘附在金属弹片102背离金属台面105的一面。这是由于当磁性材料201粘附在金属弹片102背离金属台面105的一面时，测试探针接触金属台面105，金属弹片102的磁性材料201与测试探针的磁性材料之间的磁力对金属弹片102产生推力，该推力使得金属弹片102断开与输出引脚103的连接，而与金属台面105连接，该推力还可使得磁性材料201与金属弹片102之间的连接更紧密。
可选的，金属弹片102向金属台面105的一面具有突起部202。
具体地，为保证射频测试座的测试灵敏度，使得测试探针接触金属台面105之后，金属弹片102可尽可能快的与金属台面105连接，且接触点更可靠，可金属弹片102向金属台面105的一面具有突起部202，通过突起部202与金属台面105的连接实现金属弹片102与金属台面105的连接。
本发明实施例二所提供射频测试座，由于在金属弹片背离金属台面的一面粘附有磁性材料，可保证射频测试座反复测试使用过程中，金属弹片的磁性材料与测试探针磁性材料之间的相对位置的稳定性、金属弹片的测试灵敏度以及射频测试座的使用寿命；同时，金属弹片上面向金属台面的一面具有突起部，还可使得测试探针接触金属台面之后，金属弹片可尽可能快的与金属台面连接且接触点更可靠，从而保证射频测试座的测试灵敏度。
实施例三
本发明实施例三还提供一种测试探针。本发明实施例三的测试探针通过对上述实施例一或实施例二中任一所述的射频测试座对终端的进行电路测试。图3为本发明实施例三提供的测试探针的剖面示意图。如图3所示，测试探针可包括针套301、针芯302。
针套301为测试探针的接地壳；针套301套设在针芯302的外部；针芯302与针套301之间具有磁性材料303。其中，测试探针的磁性材料303与射频测试座的金属弹片的磁性材料的极性相反。
本发明实施例三的测试探针，可通过上述实施例一或实施例二的射频测试座对终端进行电路测试，其有益效果与上述实施例类似，在此不再赘述。
本发明实施例三还提供另一种测试探针。图4为本发明实施例三提供的另一种测试探针的剖面结构示意图。如图4所示，测试探针在本发明实施例三上述方案的基础上，还包括：法兰401；法兰401位于针套301的外部；法兰401包括至少一个通孔402。
该至少一个通孔，用于对该测试探针进行固定，并安装在夹具上。
该测试探针的法兰上的通孔，可使得夹具对测试探针的固定更稳定，更好地保证测试精度。
该针芯302与针套301之间距离针芯302的针头预设距离的范围内具有磁性材料。
本发明实施例三所提供的测试探针，可通过上述实施例一或实施例二的射频测试座对终端进行电路测试，其有益效果与上述实施例类似，在此不再赘述。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (6)

1.一种射频测试座，其特征在于，所述射频测试座包括输入引脚、金属弹片、输出引脚、外壳及金属台面；其中，所述金属弹片与所述输入引脚连接；所述金属弹片与所述输出引脚接触连接；所述外壳与所述金属台面之间存在绝缘层；所述金属弹片的长度为根据所述金属弹片与所述金属台面间的距离，和，所述金属弹片与所述金属台面的夹角确定；所述金属弹片黏附有磁性材料；所述金属弹片的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。
2.根据权利要求1所述的射频测试座，其特征在于，所述金属弹片背离所述金属台面的一面粘附有磁性材料。
3.根据权利要求1或2所述的射频测试座，其特征在于，所述金属弹片向所述金属台面的一面具有突起部。
4.一种测试探针，其特征在于，包括针套、针芯；所述针套为所述测试探针的接地壳；所述针套套设在所述针芯的外部；所述针芯与所述针套之间具有磁性材料；所述测试探针的磁性材料与权利要求1所述的射频测试座的金属弹片的磁性材料的极性相反。
5.根据权利要求4所述的测试探针，其特征在于，所述测试探针还包括：法兰；所述法兰位于所述针套的外部；所述法兰包括至少一个通孔；
所述至少一个通孔，用于对所述测试探针进行固定，并安装在夹具上。
6.根据权利要求4或5所述的测试探针，其特征在于，所述针芯与所述针套之间距离所述针芯的针头预设距离的范围内具有磁性材料。
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