CN101368981A - 射频模块测试平台 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种射频模块测试平台,其包括:一金属壳体,其成形一测试空间于该金属壳体内部,其中该金属壳体内表面设有一隔离射频(RF)讯号的隔离胶层;一测试模块,其设置于该测试空间;以及一压力模块,其移动地穿设于该金属壳体,且该压力模块的一端延伸至该测试空间。其中该压力模块可通过一自动化控制施加一压力于一置于该测试模块的射频模块,以进行该射频模块的测试。通过上述的测试平台,可建构一高抗干扰的测试机台且可有效提升测试的效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种射频模块测试平台,尤指一种具有高抗干扰且提高测试效率的射频测试平台。
背景技术
随着通讯技术增进则使移动版图渐趋扩大,为求实时即地交流信息与服务,无线通讯发展遂成为全球半导体产业主流,移动电话、个人数字助理(PDA)、卫星通讯等相关应用市场更是热络非凡。然而无线通讯产品所必需的高频特性必得依赖射频集成电路(RFIC)来达成,射频集成电路的测试技术与一般传统数字逻辑集成电路及内存的测试技术大不相同,其所需的技术层次及障碍均较高。
另一方面,射频集成电路的应用越来越广泛,单一芯片的复杂度也越来越高,将更多的功能整合在单一射频模块中,一定是未来的趋势,例如无线网络(WLAN)整合蓝牙(Bluetooth)或卫星导航(GPS)等模块;但功能越多、整合程度越高,对于测试而言将会是更大的挑战,因为这些射频模块必须满足严格的可靠性要求,所以在调节和最终测试中必须能够获得可再现的测量结果。
而现有技术则是利用射频测试器具置于一隔离箱(shielding box)作为高频元件的测试平台,其缺点在于必须使用人工操作的方式进行测试作业,测试时程较为冗长而较无效率;另外利用人工置放射频模块易造成误判的情况;再者目前现有隔离箱的制作成本十分昂贵,故目前射频模块的测试无法有效率的执行,且成本非常高。
发明内容
本发明的主要目的在于克服现有技术的不足与缺陷,提出一种射频模块测试平台,其可形成一射频讯号的隔离环境,以有效防止信号外泄或相互干扰等影响,进而可达成有效率的测试作业。
本发明的另一目的在于,提供一种射频模块测试平台,其为一成本较低,且可自动化控制的射频模块测试架构。
为了达成上述目的,本发明提供一种射频模块测试平台,其包括:一金属壳体,其成形一测试空间于该金属壳体内部,其中该金属壳体内表面设有一隔离射频(RF)讯号的隔离胶层;一测试模块,其设置于该测试空间;以及一压力模块,其移动地穿设于该金属壳体,且该压力模块的一端延伸至该测试空间。其中该压力模块可通过一自动化控制施加一压力于一置于该测试模块的射频模块,以进行该射频模块的测试。
本发明具有以下有益的效果:本发明提出的射频模块测试平台应用于射频元件效能的测试,该射频模块测试平台可隔离并遮蔽该射频信号的外泄,以达成高抗干扰,且可提高测试效率。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而所附图式仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1A为本发明射频模块测试平台的示意图;
图1B为本发明射频模块测试平台的剖视图;
图2A为本发明压力模块的绝缘层的第一实施例;
图2B为本发明压力模块的绝缘层的第二实施例。
图中符号说明
1 射频模块测试平台
10 金属壳体 101 金属外壳
1011 支撑件 1012 调整件
102 金属上盖 1021 穿孔
11 测试空间
2 测试模块
21 测试器具 211 高频探针
22 电路板
3 隔离胶层
4 压力模块 41 绝缘层
5 射频模块
具体实施方式
请参阅图1A及1B,本发明提供一种射频模块测试平台1,其包括:一金属壳体10,其成形一测试空间11于该金属壳体10内部,其中该金属壳体10内表面设有一隔离射频(RF)讯号的隔离胶层3;一测试模块2,其设置于该测试空间11;以及一压力模块4,其移动地穿设于该金属壳体10,且该压力模块4的一端延伸至该测试空间11;由此,该压力模块4施加一压力于一置于该测试模块2的射频模块5,以进行该射频模块5的测试。此射频模块测试平台1可提供一高抗干扰的测试环境,且可自动化操作以加速整体测试速度。
在本实施例中,该金属壳体10由一金属外壳101及一金属上盖102所组成,其中该金属上盖102盖合于该金属外壳101,且形成一测试空间11;再者为了讯号不会相互干扰,该金属上盖102的一侧面与该金属外壳101的内壁面均涂布形成一隔离胶层3,该隔离胶层3可通过涂布、贴附等方式成形于该金属壳体10的内壁面。此外,该隔离胶层3具有吸波与隔离讯号的功能,使该金属壳体10内部的测试空间11可形成一与外部隔离的测试环境。
另一方面,该金属上盖102设有一穿孔1021,而上述的该压力模块4则可经由该穿孔1021延伸于该测试空间11中。本实施例中,该压力模块4为一金属臂,且该金属臂的外型、尺寸均相对应于该穿孔1021,使得该测试空间11依然保持与外部隔离的状态,以避免讯号的外泄。同时,该压力模块4,即本实施例中的金属臂表面成形有一绝缘层41,以避免静电对于该待测的射频模块5造成的伤害;而该绝缘层41可以仅成形于该金属臂接触该射频模块5的一表面(请参考图2A及2B)。换句话说,该绝缘层41设置在该压力模块4的表面防止静电对电子元件造成影响。
再者,该测试模块2包含一测试器具21,其设有数个高频探针211;及一与该测试器具电性连接的电路板22。而一该待测的射频模块5即设置于该测试器具21上,且所述的高频探针211则用以接收该射频模块5的信号进而进行分析与测试。进一步针对该测试模块2进行说明,该电路板22最佳为一可换式的转接板,故不论维修或测试上的要求必须加以更换时,即可以快速地进行替换;而该电路板22亦可为固定式的转接板,亦即该电路板22可视测试环境的要求加以调整。同时,为了讯号的测试,该电路板22更进一步连接接口滤波器、射频滤波器等其它元件,并与一计算机与射频测试机台(图未示)连接,以进行讯号的分析与量测。但接口滤波器、射频滤波器、计算机等相关装置并非本发明的重点,故在此不加以详述。
在本实施例中,该测试模块2设置于一支撑件1011上,且该支撑件1011进一步设有一调整件1012;该调整件1012可调整该测试模块2的水平状态,也就是必须将放置于该测试器具21的射频模块5调整为水平,使在该压力模块4下压时,可以平整地压制该射频模块5,使测试结果最为准确且可信。
在本发明中,该射频模块测试平台1可利用自动化的控制,以更有效率的进行高频元件性能的测试。详细来说,首先将一待测的射频模块5放置于该测试模块2的测试器具21上,且该测试模块2设有数个高频探针211,用以接收高频信号;将该金属上盖102盖合于该金属外壳101以形成一测试空间11,且该测试空间11的内壁面设置有一隔离胶层3,故放置于该测试空间11内的射频模块5所传输的信号会被该隔离胶层3吸收且加以隔离,而不会干扰到其它测试作业;自动化控制该压力模块4提供一压力于该射频模块5,该压力模块4可为一镀有绝缘层的金属臂,以防止静电对该射频模块5的伤害;最后将该射频模块5传输的信号经由接口滤波器、射频滤波器、射频测试线等传送至计算机并进行数据的测试与分析。
故本发明可利用自动化控制下压力臂的功能配合一低成本的测试环境,以构成一快速且可防止干扰的射频测试机台。
综上所述,本发明具有下列优点:
1、由于本发明利用具有吸波及隔离信号的隔离胶,可建构一可抗干扰的测试机台;另一方面,由于测试环境之间不会相互干扰,故可以同时进行多组射频元件的测试。
2、再者,本发明利用自行设计开发的可隔离讯号的隔离盒,配合可自动化控制的压力模块4,可解决人工操作费时的缺点,进一步提高测试效率;同时自动化测试更可提高测试数据的可信度,以解决人工测试可能出现的误判。
3、本发明所提出的射频模块测试平台1,其中该测试模块2内含一可拆换式的电路板22,故在维修或是需要更换时,均可快速地进行替换,而不会大幅地影响测试作业的进行。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,非意欲局限本发明的专利保护范围,故举凡运用本发明说明书及附图内容所为之等效变化,均同理皆包含于本发明的权利保护范围内。
Claims (9)
1.一种射频模块测试平台,其特征在于,包含:
一金属壳体,其成形一测试空间于该金属壳体内部,其中该金属壳体内表面设有一隔离射频讯号的隔离胶层;
一测试模块,其设置于该测试空间;以及
一压力模块,其移动地穿设于该金属壳体,且该压力模块的一端延伸至该测试空间;
由此,该压力模块施加一压力于一置于该测试模块的射频模块,以进行该射频模块的测试。
2.如权利要求1所述的射频模块测试平台,其特征在于,该金属壳体包含一金属外壳及一盖合于该金属外壳的金属上盖,该金属上盖内表面设有一隔离射频讯号的隔离胶层。
3.如权利要求2所述的射频模块测试平台,其特征在于,该金属上盖设有一穿孔,且该压力模块经由该穿孔延伸于该测试空间中。
4.如权利要求1所述的射频模块测试平台,其特征在于,该测试模块包含一测试器具,其设有数个高频探针;及一与该测试器具电性连接的电路板。
5.如权利要求4所述的射频模块测试平台,其特征在于,该测试模块设置于一支撑件上,且该支撑件包含一调整该测试器具的水平状态的调整件。
6.如权利要求1所述的射频模块测试平台,其特征在于,该压力模块为一金属臂。
7.如权利要求6所述的射频模块测试平台,其特征在于,该金属臂表面成形有一绝缘层。
8.如权利要求7所述的射频模块测试平台,其特征在于,该金属臂与该射频模块接触的表面成形有一绝缘层。
9.如权利要求1所述的射频模块测试平台,其特征在于,该隔离胶具有吸波与隔离讯号的功能。
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