CN111244632B - 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法 - Google Patents

一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111244632B
CN111244632B CN202010183045.2A CN202010183045A CN111244632B CN 111244632 B CN111244632 B CN 111244632B CN 202010183045 A CN202010183045 A CN 202010183045A CN 111244632 B CN111244632 B CN 111244632B
Authority
CN
China
Prior art keywords
frequency
antenna
tested
debugging
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010183045.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111244632A (zh
Inventor
邹祥祥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN202010183045.2A priority Critical patent/CN111244632B/zh
Publication of CN111244632A publication Critical patent/CN111244632A/zh
Priority to PCT/CN2021/081085 priority patent/WO2021185248A1/zh
Priority to US17/641,351 priority patent/US11892486B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN111244632B publication Critical patent/CN111244632B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q7/00—Loop antennas with a substantially uniform current distribution around the loop and having a directional radiation pattern in a plane perpendicular to the plane of the loop
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0871—Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00—Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/12—Supports; Mounting means
    • H01Q1/22—Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
    • H01Q1/2208—Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles associated with components used in interrogation type services, i.e. in systems for information exchange between an interrogator/reader and a tag/transponder, e.g. in Radio Frequency Identification [RFID] systems
    • H01Q1/2225—Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles associated with components used in interrogation type services, i.e. in systems for information exchange between an interrogator/reader and a tag/transponder, e.g. in Radio Frequency Identification [RFID] systems used in active tags, i.e. provided with its own power source or in passive tags, i.e. deriving power from RF signal
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00—Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/36—Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith
    • H01Q1/38—Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith formed by a conductive layer on an insulating support
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00—Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/52—Means for reducing coupling between antennas; Means for reducing coupling between an antenna and another structure
    • H01Q1/526—Electromagnetic shields
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q5/00—Arrangements for simultaneous operation of antennas on two or more different wavebands, e.g. dual-band or multi-band arrangements
    • H01Q5/30—Arrangements for providing operation on different wavebands
    • H01Q5/307—Individual or coupled radiating elements, each element being fed in an unspecified way
    • H01Q5/314—Individual or coupled radiating elements, each element being fed in an unspecified way using frequency dependent circuits or components, e.g. trap circuits or capacitors
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B5/00—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems
    • H04B5/70—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems specially adapted for specific purposes
    • H04B5/73—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems specially adapted for specific purposes for taking measurements, e.g. using sensing coils

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本发明提供一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法，所述电子设备包括待测天线和待测电容，所述频率调试板包括：底板，设置在底板上的第一探针、第二探针、开关和可变电容；所述第一探针用于连接所述待测电容，所述可变电容与所述第一探针连接；所述第二探针的数量为至少两个，相邻的任意两个所述第二探针之间通过所述开关连接，每个第二探针分别用于连接所述待测天线的不同部位。本发明实施例通过调整可变电容的电容值和开关的状态就可以调整天线的工作频率，提高了电子设备的工作频率的调试效率，能够方便地进行电路板整改。

Description

一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法
技术领域
本发明涉及电子设备调试技术领域，尤其涉及一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法。
背景技术
随着电子设备的越来越多元化，有些电子设备需要在一定的工作频率下才能工作。比如电子标签，用户可通过手机或NFC(近场通信)读写器实现电子标签的供电、数据交互和电子纸刷新，具有系统结构简单、低成本、低功耗、安全性高、使用方便等特点。但是在进行NFC通讯性能测试过程中，工作频率高于标准的13.56MHz，导致通讯距离和通讯质量大打折扣。
在电子设备上的天线已经制作完成的情况下，只能改变线圈电感和电容，来实现工作频率的调整。在调整工作频率的过程中，完全手动去调试，效率低，且改完的电路板不美观。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提出一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法，以解决电子设备调试效率低的问题。
根据本发明实施例的第一方面，其提供了一种频率调试板，用于调试电子设备，所述电子设备包括待测天线和待测电容，所述频率调试板包括：底板，设置在底板上的第一探针、第二探针、开关和可变电容；
所述第一探针用于连接所述待测电容，所述可变电容与所述第一探针连接；
所述第二探针的数量为至少两个，相邻的任意两个所述第二探针之间通过所述开关连接，每个所述第二探针分别用于连接所述待测天线的不同部位。
在本发明的一些实施例中，还包括控制单元，所述控制单元分别与所述可变电容、每个所述开关连接，用于改变所述可变电容的电容值以及所述开关的状态。
在本发明的一些实施例中，所述开关的数量为多个，所述开关串联在相邻的任意两个所述第二探针之间。
在本发明的一些实施例中，所述第二探针的数量与所述待测天线的匝数相同，每个所述第二探针与每一匝所述待测天线一一对应。
在本发明的一些实施例中，还包括覆盖在所述底板上的屏蔽层；当用所述频率调试板调试所述电子设备时，所述屏蔽层位于所述电子设备与所述底板之间。
在本发明的一些实施例中，还包括通信接口，用于与终端进行双向通信。
根据本发明实施例的第二方面，其提供了一种频率调试系统，用于调试电子设备，所述电子设备包括待测天线和待测电容，所述频率调试系统包括：上述任一实施例中所述的频率调试板、频率测试仪、测试线圈和终端；
所述频率测试仪分别与所述测试线圈、所述终端连接，所述终端还与所述频率调试板连接；所述电子设备位于所述频率调试板与所述测试线圈之间，所述待测天线与所述测试线圈相互靠近；
所述终端用于改变所述频率调试板上的可变电容的电容值和各个开关的状态；所述频率测试仪用于测试所述测试线圈的频率，并将测得的频率传输至所述终端。
在本发明的一些实施例中，所述终端还用于记录所述频率调试板上的所述可变电容的电容值和开关的状态以及所述频率测试仪传输的所述测试线圈的频率之间的对应关系。
根据本发明实施例的第三方面，其提供了一种采用上述任一实施例中所述的频率调试板调试电子设备的方法，所述电子设备包括待测天线和待测电容，所述方法包括：
计算所述待测天线的工作频率是否为目标频率值；
若否，则将所述第一探针与所述待测电容连接，将各个所述第二探针分别与所述待测天线的不同部位连接；以及，改变所述频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的工作频率为目标频率值，从而调整所述待测电容的电容值和所述待测天线的匝数。
在本发明的一些实施例中，改变频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的工作频率为目标频率值，从而调整所述待测电容的电容值和所述待测天线的匝数，包括：
根据所述目标频率值和所述待测电容的电容值计算所述待测天线的电感值；
若所述电感值大于等于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值和各个开关的状态，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值和所述各个开关的状态；将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上以及焊接所述待测天线；
若所述电感值小于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值；将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上。
从上面所述可以看出，本发明实施例通过调整可变电容的电容值和开关的状态可以调整电子设备上的电容和线圈电感，从而调整天线的工作频率，然后根据可变电容的电容值和各个开关的状态调试电子设备上的待测电容的电容值和待测天线的匝数，以保证待测天线处于目标频率值。本发明实施例通过调整可变电容的电容值和开关的状态就可以调整天线的工作频率，提高了电子设备的工作频率的调试效率，能够方便地进行电路板整改。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一个实施例的频率调试板的结构示意图；
图2为本发明另一个实施例的频率调试板的结构示意图；
图3为本发明实施例的通过频率调试板调试电子设备时的结构示意图；
图4为本发明实施例的频率调试系统的结构示意图；
图5为本发明实施例的调试电子标签的方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
需要说明的是，除非另外定义，本发明实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
天线的工作频率采用如下公式计算：
Figure BDA0002413228520000041
根据上述公式可知，可以通过调整电容C或者调整线圈电感L来调整天线的工作频率。为了高效地调整电子设备上的天线的工作频率，本发明实施例提供了一种频率调试板，如图1所示，所述频率调试板包括：底板1，设置在底板1上的第一探针2、第二探针3、开关4和可变电容5。其中，所述第一探针2用于连接所述电子设备的待测电容，所述可变电容5与所述第一探针2连接；所述第二探针3的数量为至少两个，相邻的任意两个所述第二探针3之间通过所述开关4连接，每个所述第二探针3分别用于连接所述电子设备的待测天线的不同部位。
在本发明的实施例中，通过调整可变电容5的电容值和开关4的状态可以调整电子设备上的电容C和线圈电感L，从而调整天线的工作频率，然后根据可变电容5的电容值和各个开关4的状态调试电子设备上的待测电容的电容值和待测天线的匝数，以保证待测天线处于目标频率值。可见，本发明实施例通过调整可变电容5的电容值和开关4的状态就可以调整天线的工作频率，提高了电子设备的工作频率的调试效率，能够方便地进行电路板整改。
需要指出的是，为了实现第一探针2、第二探针3与电子设备的电连接，电子设备上设置有触点，第一探针2、第二探针3与触点电连接，从而实现与电子设备上的待测电容、待测天线的电连接。
可选地，如图2所示，所述频率调试板还包括控制单元6，所述控制单元7分别与所述可变电容5、每个所述开关4连接，用于改变所述可变电容5的电容值以及所述开关4的状态。在该实施例中，可以通过控制单元6控制可变电容5的电容值大小以及每个开关4的状态(开启或者关闭)，自动地进行工作频率的调试，避免手动地去调试，进一步提高了电子设备的调试效率。
可选地，所述开关4的数量为多个，所述开关4串联在相邻的任意两个所述第二探针3之间。可选地，开关4的初始状态均为OPEN状态，受控制单元6控制，当处于CLOSE状态时，连接相邻的待测天线，改变线圈的电感值。可选地，为了方便区分，自下而上编号开关1、2、3、4、5…n。由于每个开关4都可以与控制单元6连接，因此通过控制单元6可以改变任意一个开关4的状态，从而使得相邻的任意两个第二探针3之间连通或者断开。
可选地，所述第二探针3的数量与所述电子设备上的待测天线的匝数相同，每个所述第二探针3与每一匝所述待测天线一一对应。由于通过控制开关4的状态可以控制相邻的任意两个第二探针3之间连通或者断开，因此通过控制开关4的状态可以控制待测天线的相邻的任意两匝线圈连通，从而调整待测天线的匝数。
可选地，如图3所示，所述频率调试板还包括覆盖在底板1上的屏蔽层8；当用所述频率调试板调试所述电子设备时，所述屏蔽层8位于所述电子设备与底板1之间。在底板1上设置屏蔽层8可以避免频率调试板上的电信号对电子设备产生干扰。可选地，如图2所示，所述频率调试板还包括通信接口7，用于与终端进行双向通信。所述频率调试板通过所述通信接口7与终端进行双向通信，便于调用数据、发送指令等。
本发明实施例还提供了一种频率调试系统，所述系统用于调试电子设备，如图3-4所示，包括：上述任一实施例中所述的频率调试板10、频率测试仪60、测试线圈20和终端50。其中，所述电子设备包括待测天线和待测电容，所述频率测试仪60分别与所述测试线圈20、所述终端50连接，所述终端50还与所述频率调试板10连接；所述电子设备位于所述频率调试板10与所述测试线圈20之间，所述电子设备的待测天线与所述测试线圈20相互靠近；所述终端50用于改变所述频率调试板10上的可变电容5的电容值和各个开关4的状态；所述频率测试仪60用于测试所述测试线圈20的频率，并将测得的频率传输至所述终端50。
如图3-4所示，电子设备作为被测样品，设置于频率调试板10与测试线圈20中间，主要包括电子纸显示屏(EPD)30和电路板40，其中，EPD朝向测试线圈20，电路板40朝向频率调试板10。电路板40上设置有待测天线和待测电容，为了实现第一探针2、第二探针3与待测电容、待测天线的电连接，待测电容、待测天线上均设置有触点(即金手指)41、42，第一探针2、第二探针3通过触点41、42与电路板40上的待测电容、待测天线电连接。而且每一匝线圈上都设置有一个触点，以保证每个第二探针3与每一匝待测天线上的触点一一对应。所述终端50改变频率调试板10上的可变电容5的电容值和各个开关4的状态，从而高效地改变电路板40上的待测天线的工作频率。
可选地，所述终端50还用于记录所述频率调试板10上的所述可变电容5的电容值和开关4的状态以及所述频率测试仪60传输的所述测试线圈20的频率之间的对应关系。所述终端50还用于输出所述可变电容5的电容值和开关4的状态以及所述频率测试仪60传输的所述测试线圈20的频率之间的对应关系。
可选地，所述频率测试仪60可以是矢量网络分析仪，连接测试线圈20，实时监控测试线圈20的频率，并输出频率至终端50。所述终端50可以是笔记本电脑、台式机、平板电脑、手机等，通过通信接口7连接频率调试板10，用于控制频率调试板10上的开关4的状态和可变电容5的电容值。
本发明实施例还提供了一种采用上述任一实施例中所述的频率调试板调试电子设备的方法，包括：计算电子设备的待测天线的工作频率是否为目标频率值；若否，则将所述第一探针与所述待测电容连接，将各个所述第二探针分别与所述待测天线的不同部位连接；以及，改变频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的工作频率为目标频率值，从而调整所述电子设备的待测电容的电容值和所述待测天线的匝数。如图3-4所示，连接频率调试板10、终端50、频率测试仪60、测试线圈20，并将电子设备置于频率调试板10与测试线圈20之间，通过改变频率调试板10上的开关4的状态(开启或者关闭)和/或可变电容5的电容值，从而改变电子设备上的待测天线的工作频率；然后根据可变电容5的电容值和各个开关的状态调试电子设备上的待测电容的电容值和待测天线的匝数，以保证待测天线处于目标频率值。
可选地，改变频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的频率值为目标频率值，从而调整所述电子设备上的待测电容的电容值和所述待测天线的匝数，包括：根据所述目标频率值和所述电子设备上的待测电容的电容值计算所述待测天线的电感值；若所述电感值大于等于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值和各个开关的状态，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值和所述各个开关的状态，将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上以及焊接所述待测天线；若所述电感值小于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值，将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上。
图5为本发明实施例的调试电子标签的方法的流程示意图。如图5所示，所述调试电子标签的方法可以包括以下步骤：
步骤501，EPD电子标签处于初始状态，将电子标签设置于如图4所示的测试环境中。
步骤502，如图4所示，采用频率测试仪测试电子标签上的待测天线的当前的工作频率f。
步骤503，判断工作频率f是否为目标频率值(比如13.56MHz左右等)；若是，则执行步骤509；若否，则执行步骤504。
步骤504，将第一探针与EPD电子标签上的待测电容连接，将各个第二探针分别与EPD电子标签上的待测天线的不同部位连接，并采用公式
Figure BDA0002413228520000081
计算出待测天线的电感值L；若电感值L≥5uH，则执行步骤505；若电感值L＜5uH；则执行步骤507。
步骤505，通过控制频率调试板上的各个开关的状态(排列组合
Figure BDA0002413228520000082
)，调整待测天线的电感值；与之同时，调整可变电容的大小(元器件库里电容元器件的大小)，终端记录对应状态下的工作频率值。
步骤506，终端输出工作频率最接近13.56MHz下对应的各个开关的状态和可变电容的大小；然后将该大小的电容焊接到电子标签的电路板上的对应位置，同时将开关处于CLOSE状态的两个第二探针对应的触点通过焊锡导通。
当天线电感太大时(超过5uH)，需要同时调整电感和电容时，可以根据公式计算出调整完天线电感后对应的电容值。电子标签上的电容与天线线圈组成LC谐振电路，增加天线的匝数可以增加电感值，使得天线工作距离更远，但相对应地，电容C则需要减小。在谐振频率为13.56MHz时，如果天线的电感太大(超过5uH)时，电容C的取值很小，这使得调谐电容的匹配变得很困难，电容不容易匹配。所以，将待测天线的电感值的取值范围控制在0.3～3uH范围内，这样电容匹配较易实现。
步骤507，调整可变电容的大小(元器件库里电容元器件的大小)，终端记录对应状态下的工作频率值。
步骤508，终端输出工作频率最接近13.56MHz下对应的可变电容的大小；然后将该大小的电容焊接到电子标签的电路板上的对应位置。
步骤509，调试结束。
需要指出的是，电感阈值可以是5uH，也可以根据不同产品或标准进行调整，本发明实施例对此不作限制。
本发明实施例通过调整频率调试板上的可变电容的电容值和开关的状态可以调整电子标签上的电容C和线圈电感L，从而调整天线的工作频率，然后根据可变电容的电容值和各个开关的状态调试电子标签上的待测电容的电容值和待测天线的匝数，以保证待测天线处于目标频率值。
可见，本发明实施例通过调整可变电容的电容值和开关的状态就可以调整天线的工作频率，提高了电子标签的工作频率的调试效率，能够方便地进行电路板整改。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。
另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本发明难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本发明难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本发明的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本发明的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本发明。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。
尽管已经结合了本发明的具体实施例对本发明进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。
本发明的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种频率调试板，用于调试电子设备的天线工作频率，所述电子设备包括待测天线和待测电容，其特征在于，所述频率调试板包括：底板，设置在底板上的第一探针、第二探针、开关和可变电容；
所述第一探针用于连接所述待测电容，所述可变电容与所述第一探针连接；
所述第二探针的数量为至少两个，相邻的任意两个所述第二探针之间通过所述开关连接，每个所述第二探针分别用于连接所述待测天线的不同部位；所述开关的数量为多个，所述开关串联在相邻的任意两个所述第二探针之间；
所述频率调试板还包括控制单元，所述控制单元分别与所述可变电容、每个所述开关连接，用于改变所述可变电容的电容值以及所述开关的状态。
2.根据权利要求1所述的频率调试板，其特征在于，所述第二探针的数量与所述待测天线的匝数相同，每个所述第二探针与每一匝所述待测天线一一对应。
3.根据权利要求1所述的频率调试板，其特征在于，还包括覆盖在所述底板上的屏蔽层；当用所述频率调试板调试所述电子设备时，所述屏蔽层位于所述电子设备与所述底板之间。
4.根据权利要求1所述的频率调试板，其特征在于，还包括通信接口，用于与终端进行双向通信。
5.一种频率调试系统，用于调试电子设备，所述电子设备包括待测天线和待测电容，其特征在于，所述频率调试系统包括：如权利要求1-4中任一项所述的频率调试板、频率测试仪、测试线圈和终端；
所述频率测试仪分别与所述测试线圈、所述终端连接，所述终端还与所述频率调试板连接；所述电子设备位于所述频率调试板与所述测试线圈之间，所述待测天线与所述测试线圈相互靠近；
所述终端用于改变所述频率调试板上的可变电容的电容值和各个开关的状态；所述频率测试仪用于测试所述测试线圈的频率，并将测得的频率传输至所述终端。
6.根据权利要求5所述的频率调试系统，其特征在于，所述终端还用于记录所述频率调试板上的所述可变电容的电容值和开关的状态以及所述频率测试仪传输的所述测试线圈的频率之间的对应关系。
7.一种采用如权利要求1-4中任一项所述的频率调试板调试电子设备的方法，所述电子设备包括待测天线和待测电容，其特征在于，所述方法包括：
计算所述待测天线的工作频率是否为目标频率值；
若否，则将所述第一探针与所述待测电容连接，将各个所述第二探针分别与所述待测天线的不同部位连接；以及，改变所述频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的工作频率为目标频率值，从而调整所述待测电容的电容值和所述待测天线的匝数。
8.根据权利要求7所述的调试电子设备的方法，其特征在于，改变所述频率调试板上的可变电容的电容值和/或开关的状态，使得所述待测天线的工作频率为目标频率值，从而调整所述待测电容的电容值和所述待测天线的匝数，包括：
根据所述目标频率值和所述待测电容的电容值计算所述待测天线的电感值；
若所述电感值大于等于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值和各个开关的状态，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值和所述各个开关的状态；将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上以及焊接所述待测天线；
若所述电感值小于电感阈值，则改变频率调试板上的可变电容的电容值，使得所述待测天线的工作频率随之改变；记录下所述待测天线的工作频率为目标频率值时所述可变电容的目标电容值；将目标电容值的电容焊接到所述电子设备上。
CN202010183045.2A 2020-03-16 2020-03-16 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法 Active CN111244632B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010183045.2A CN111244632B (zh) 2020-03-16 2020-03-16 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法
PCT/CN2021/081085 WO2021185248A1 (zh) 2020-03-16 2021-03-16 频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法
US17/641,351 US11892486B2 (en) 2020-03-16 2021-03-16 Frequency debugging board, frequency debugging system, and method for debugging electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010183045.2A CN111244632B (zh) 2020-03-16 2020-03-16 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111244632A CN111244632A (zh) 2020-06-05
CN111244632B true CN111244632B (zh) 2022-03-08

Family

ID=70872063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010183045.2A Active CN111244632B (zh) 2020-03-16 2020-03-16 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11892486B2 (zh)
CN (1) CN111244632B (zh)
WO (1) WO2021185248A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111244632B (zh) * 2020-03-16 2022-03-08 京东方科技集团股份有限公司 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2776781B1 (fr) * 1998-03-31 2000-05-05 Gemplus Card Int Dispositif de controle de l'impedance ramenee sur l'antenne d'une etiquette electromagnetique
JP2000284010A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Kokusai Electric Co Ltd アンテナ特性調整装置
US20020183013A1 (en) * 2001-05-25 2002-12-05 Auckland David T. Programmable radio frequency sub-system with integrated antennas and filters and wireless communication device using same
FR2847089B1 (fr) 2002-11-12 2005-02-04 Inside Technologies Circuit d'antenne accordable, notamment pour lecteur de circuit integre sans contact
CN101483419A (zh) * 2008-01-08 2009-07-15 上海晨兴电子科技有限公司 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法
CN101303379A (zh) * 2008-05-07 2008-11-12 中国电子科技集团公司第十研究所 单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数的测量方法
CN101290607B (zh) * 2008-05-31 2010-06-16 青岛海信电器股份有限公司 一种芯片调试接口装置
CN202025039U (zh) * 2010-12-24 2011-11-02 中科院杭州射频识别技术研发中心 超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试使用设备
GB2496387B (en) * 2011-11-08 2014-02-26 Cambridge Silicon Radio Ltd A near field communications reader
CN202383276U (zh) * 2011-12-28 2012-08-15 上海辰光医疗科技股份有限公司 磁共振柔性线圈巴伦调试装置
CN102636741A (zh) * 2012-04-27 2012-08-15 北京星河康帝思科技开发有限公司 电路板测试方法和系统
CN202564547U (zh) * 2012-05-11 2012-11-28 北京握奇数据系统有限公司 一种天线、电子标签、阅读器
US10707562B2 (en) 2015-09-22 2020-07-07 Futurewei Technologies, Inc. System and method for adaptive aperture tunable antenna
CN105391503A (zh) * 2015-10-21 2016-03-09 深圳市三极天线技术有限公司 一种适用于近场通讯的检测方法
CN111244632B (zh) * 2020-03-16 2022-03-08 京东方科技集团股份有限公司 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法
US11748590B2 (en) * 2020-12-18 2023-09-05 Nxp B.V. RFID tag with impedance tuning,and method of impedance tuning of an RRID tag

Also Published As

Publication number Publication date
US20220357378A1 (en) 2022-11-10
CN111244632A (zh) 2020-06-05
WO2021185248A1 (zh) 2021-09-23
US11892486B2 (en) 2024-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101916144B (zh) 触摸屏、通信设备和应用于通信设备的触摸屏中的方法
CN101866237B (zh) 一种触摸屏和应用于触摸屏的方法
CN103278751B (zh) 高压电力设备局部放电综合巡检仪
US20140111475A1 (en) Electronic device, wireless power receiving apparatus, and display apparatus
CN103580728B (zh) Nfc部件、电子系统、电子设备、和检查天线匹配的方法
US9768845B2 (en) System and method for detecting operation state of a mobile terminal to adaptively adjust antenna state
CN103596296A (zh) 天线切换方法以及终端
US10520535B1 (en) Groundless radio frequency test probe
US20100295569A1 (en) Rf performance test structure with electronic switch function
CN104297536A (zh) 具回馈测试功能的探针模块
CN111244632B (zh) 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法
US11196158B2 (en) Electric composite detection antenna
CN102457310B (zh) 多天线运用系统及方法
CN103728502B (zh) 一种天线测试的方法和系统、以及无线终端
CN107271944A (zh) 一种程控式电流互感器全自动接线装置
CN111323693B (zh) 一种测试电路、主板及终端设备
CN107850625B (zh) 一种射频检测装置
CN212727037U (zh) 射频信号测试的调谐电路、pcb板及设备
CN110308766A (zh) 穿戴式装置、腕表及短距离通信的切换方法
CN113660005A (zh) 一种终端设备及天线切换方法
CN112964955A (zh) 一种电路测试方法、系统、电子设备及介质
CN219979129U (zh) 一种具备nfc测试的屏幕测试装置
CN111310879A (zh) 一种在线调节rfid系统天线参数的测试装置和方法
CN202997038U (zh) 印刷电路板天线、印刷电路板及电子装置
CN217388780U (zh) 检测电路及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant