CN101483419A - 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 - Google Patents
用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101483419A CN101483419A CNA2008100323638A CN200810032363A CN101483419A CN 101483419 A CN101483419 A CN 101483419A CN A2008100323638 A CNA2008100323638 A CN A2008100323638A CN 200810032363 A CN200810032363 A CN 200810032363A CN 101483419 A CN101483419 A CN 101483419A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- inductance
- matching circuit
- electric capacity
- debugging
- radio frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
本发明涉及一种用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法，该用于调试射频匹配电路的装置外部包括第一端口和第二端口以及至少两个调节旋钮；该装置内部包括至少两个电容和电感阵列以及至少由上述两个调节旋钮控制的三个开关，其中至少有一个开关连接一个电容和电感阵列，有两个开关连接一个电容和电感阵列。本发明用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法不需要多次焊接匹配电路，可以在不用测量系统输入输出阻抗，能很快确定理想的匹配电路。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法。
背景技术
在调试射频阻抗匹配的时候，图1是目前常用的匹配电路，理论上可以实现任意阻抗的匹配要求，其中Z1、Z2、Z3可为容抗或者感抗，两端为输入端和输出端，在3G以内可选用精密的分离器件(如陶瓷电容或者电感)来，在更高频段可用开路、短路微带线来实现阻抗匹配。由于输入和输出阻抗没有达到最佳匹配，往往需要测量系统的输入、输出阻抗(用非常昂贵的网络分析仪)，而且由于存在测量误差，以及前、后级的最佳匹配值往往难以确定(很多时候，50欧姆并非最佳匹配值)，经常需要多次试验、焊接，才能得到满意的结果。这样不但增加了焊接次数，而且容易损坏主板，造成不必要的损失。并且往往调试出来的一组匹配值，也只是符合要求的满意结果，要想得到最佳结果需要更大的工作量，浪费时间和精力。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法，该用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法可以在不用测量系统输入输出阻抗，也不用多次焊接主板的情况下，方便、快捷、准确地确定射频系统前后级的最佳匹配电路。
为达到上述目的，本发明提供一种用于调试射频匹配电路的装置，其实质性特点在于，该装置外部包括第一端口和第二端口以及至少两个调节旋钮；该装置内部包括至少两个电容和电感阵列以及至少由上述两个调节旋钮控制的三个开关，其中至少有一个开关连接一个电容和电感阵列，有两个开关连接一个电容和电感阵列。
优选地，所述开关通过传输线分别与第一端口、第二端口连接。
优选地，所述电容和电感阵列具有复数个电容和电感，所述开关具有对应上述电容和电感的控制旋钮，用以控制导通的电容和电感的数量。
本发明的另一技术方案是提供一种用于调试射频匹配电路的装置的使用方法，其包括以下步骤：先将原电路中的匹配电路去掉；再将装置第一端口、第二端口用传输线连接到需要调系统试的输入、输出；启动要调试的系统，使其正常工作，根据需要调试的指标用相应的测试仪器连接要调试的系统；调节调节旋钮控制开关来改变内部电容和电感阵列中的电容和电感值，并观察仪器的测量值，直至调试指标达到最佳值；读得装置中所指示的接入电路电容值和电感值，即为需要的匹配值，并取下本发明装置；根据读得的电容值和电感值焊接实际器件到电路上，验证调试结果。
优选地，所述测试仪器为能量测量功率仪器。
优选地，所述测试仪器为电流测试仪器。
本发明由于采用了上述的技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：本发明用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法最大优势是不需要多次焊接匹配电路，可以在在不用测量系统输入输出阻抗，能很快确定理想的匹配电路。
附图说明
图1为现有的射频匹配电路结构示意图；
图2为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的外部结构示意图；
图3为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的内部结构示意图；
图4为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的外部结构示意图；
图5为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的内部结构示意图；
图6为使用本发明装置的流程图。
具体实施方式
下面通过具体实施例并结合附图对本发明做进一步地描述。
图2为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的外部结构示意图；图3为本发明用于调试射频匹配电路的装置一实施方式的内部结构示意图。本发明用于调试射频匹配电路的装置外部包括第一端口1和第二端口2以及第一调节旋钮T1、第二调节旋钮T2，该装置内部包括第一电容和电感阵列Z11、第二电容和电感阵列Z12以及由第一调节旋钮T1控制的第一开关S1，由第二调节旋钮T2控制的第二开关S2、第三开关S3。第一开关S1为控制内部第一电容和电感阵列Z11的开关；第二开关S2、第三开关S3为控制第二电容和电感阵列Z12接法的开关，每一电容和电感阵列Z11、Z12具有复数个电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N。每一开关S1、S2、S3具有对应上述电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N的控制旋钮1、2...2n，根据开关所处位置的不同，导通的电容和电感的数目不同，相应的外部测量值亦不同。第一开关S1与第一电容和电感阵列Z11连接，第二开关S2、第三开关S3分别连接第二电容和电感阵列Z12两端，第一开关S1、第二开关S2通过一传输线L与第一端口1连接，第三开关S3通过另一传输线L与第二端口2连接。
图4为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的外部结构示意图；图5为本发明用于调试射频匹配电路的装置另一实施方式的内部结构示意图。如图4、图5所示，本发明用于调试射频匹配电路的装置外部包括第一端口1和第二端口2以及第一调节旋钮T11、第二调节旋钮T12、第三调节旋钮T13，该装置内部包括第一电容和电感阵列Z21、第二电容和电感阵列Z22、第三电容和电感阵列Z23以及由第一调节旋钮T11控制的第一开关S11和第二开关S12、由第二调节旋钮T12控制的第四开关S14、由第三调节旋钮T13控制的第三开关S13，第一开关S11、第二开关S12、第三开关S13、第四开关S14由与其连接的调节旋钮控制且其为控制内部第一电容和电感阵列Z21、第二电容和电感阵列Z22、第三电容和电感阵列Z23接法的开关，每一电容和电感阵列Z21、Z22、Z23具有复数个电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N，每一开关S11、S12、S13、S14具有对应上述电容C11、C12...C1N和电感L11、L12...L1N的控制旋钮1、2...2n，可以实现调节电容和电感阵列Z21、Z22和Z23的值，第一开关S11与第一电容和电感阵列Z21连接，第二开关S12、第四开关S14分别连接第二电容和电感阵列Z12两端，第三开关S13与第三电容和电感阵列Z23连接，第一开关S11、第二开关S12通过一传输线L与第一端口1连接，第三开关S13、第四开关S14通过另一传输线L与第二端口2连接。
图6为本发明装置使用方法的流程图。如图6所示，使用本发明用于调试射频匹配电路的装置调试匹配时，该使用方法包括以下步骤：
步骤B11：先将原电路中的匹配电路去掉；
步骤B12：再将装置第一端口1、第二端口2用传输线连接到需要调系统试的输入、输出；
步骤B13：启动要调试的系统，使其正常工作，根据需要调试的指标用相应的测试仪器连接要调试的系统，例如如需要调试匹配电路以达到传输功率最大，则将系统输出接能量测量功率仪器；需要调试匹配改善系统的耗流，则将系统电源接电流测试仪器(或使用能精确读取输出电流的电源)；
步骤B14：调节调节旋钮控制开关改变内部电容和电感阵列中的电容和电感值，并观察仪器的测量值，每调一次读一次测量指标值，直至测试指标达到最佳值；
步骤B15：读得装置中所指示的接入电路电容值和电感值，即为我们需要的匹配值，并取下本发明装置；
步骤B16：根据读得的电容值和电感值焊接实际器件到电路上，验证调试结果。
本发明用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法最大优势是不需要多次焊接匹配电路，可以在在不用测量系统输入输出阻抗，能很快确定理想的匹配电路。
以上介绍的仅仅是基于本发明的较佳实施例，并不能以此来限定本发明的范围。任何对本发明作本技术领域内熟知的步骤的替换、组合、分立，以及对本发明实施步骤作本技术领域内熟知的等同改变或替换均不超出本发明的揭露以及保护范围。
Claims (6)
1.一种用于调试射频匹配电路的装置，其特征在于，
该装置外部包括第一端口和第二端口以及至少两个调节旋钮；
该装置内部包括至少两个电容和电感阵列以及至少由上述两个调节旋钮控制的三个开关，其中至少有一个开关连接一个电容和电感阵列，有两个开关连接一个电容和电感阵列。
2.如权利要求1所述的用于调试射频匹配电路的装置，其特征在于，所述开关通过传输线分别与第一端口、第二端口连接。
3.如权利要求1所述的用于调试射频匹配电路的装置，其特征在于，所述电容和电感阵列具有复数个电容和电感，所述开关具有对应上述电容和电感的控制旋钮，用以控制导通的电容和电感的数量。
4.如权利要求1所述的用于调试射频匹配电路的装置的使用方法，其特征在于，其包括以下步骤：
先将原电路中的匹配电路去掉；
再将装置第一端口、第二端口用传输线连接到需要调系统试的输入、输出；
启动要调试的系统，使其正常工作，根据需要调试的指标用相应的测试仪器连接要调试的系统；
调节调节旋钮控制开关来改变内部电容和电感阵列中的电容和电感值，并观察仪器的测量值，直至调试指标达到最佳值；
读得装置中所指示的接入电路电容值和电感值，即为需要的匹配值，并取下本发明装置；
根据读得的电容值和电感值焊接实际器件到电路上，验证调试结果。
5.如权利要求4所述的用于调试射频匹配电路的装置的使用方法，其特征在于，所述测试仪器为能量测量功率仪器。
6.如权利要求4所述的用于调试射频匹配电路的装置的使用方法，其特征在于，所述测试仪器为电流测试仪器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNA2008100323638A CN101483419A (zh) | 2008-01-08 | 2008-01-08 | 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNA2008100323638A CN101483419A (zh) | 2008-01-08 | 2008-01-08 | 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101483419A true CN101483419A (zh) | 2009-07-15 |
Family
ID=40880385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNA2008100323638A Pending CN101483419A (zh) | 2008-01-08 | 2008-01-08 | 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101483419A (zh) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106885981A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-06-23 | 深圳天珑无线科技有限公司 | 一种射频阻抗匹配电路的调试装置 |
| CN107479603A (zh) * | 2017-08-25 | 2017-12-15 | 华大半导体有限公司 | 电容的性能稳定性的调节电路和方法 |
| CN107528563A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-12-29 | 艾君 | 一种用于射频电路匹配调试的调试装置 |
| CN111244632A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-06-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法 |
| CN111628794A (zh) * | 2020-05-15 | 2020-09-04 | Oppo广东移动通信有限公司 | 阻抗匹配电路和电子装置 |
| CN112924780A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-08 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
-
2008
- 2008-01-08 CN CNA2008100323638A patent/CN101483419A/zh active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106885981A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-06-23 | 深圳天珑无线科技有限公司 | 一种射频阻抗匹配电路的调试装置 |
| CN107528563A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-12-29 | 艾君 | 一种用于射频电路匹配调试的调试装置 |
| CN107528563B (zh) * | 2017-07-04 | 2020-12-25 | 艾君 | 一种用于射频电路匹配调试的调试装置 |
| CN107479603A (zh) * | 2017-08-25 | 2017-12-15 | 华大半导体有限公司 | 电容的性能稳定性的调节电路和方法 |
| CN111244632A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-06-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种频率调试板、频率调试系统和调试电子设备的方法 |
| US11892486B2 (en) | 2020-03-16 | 2024-02-06 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Frequency debugging board, frequency debugging system, and method for debugging electronic device |
| CN111628794A (zh) * | 2020-05-15 | 2020-09-04 | Oppo广东移动通信有限公司 | 阻抗匹配电路和电子装置 |
| CN112924780A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-08 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
| CN112924780B (zh) * | 2021-01-26 | 2023-08-04 | 安徽华东光电技术研究所有限公司 | 用于微波模块的调试装置及其制作方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101231332B (zh) | 全自动互感器校验仪整检系统 | |
| CN101483419A (zh) | 用于调试射频匹配电路的装置及其使用方法 | |
| EP2745121B1 (en) | An adaptive voltage divider with corrected frequency characteristic for measuring high voltages | |
| KR20080029790A (ko) | 가변 임피던스 분석을 이용하는 정합망 특성화 | |
| WO2000046612A1 (en) | Multi-port device analysis apparatus and method and calibration method thereof | |
| CN106534003B (zh) | 阻抗匹配方法、装置及通信网络 | |
| CN103364599A (zh) | 具有衰减功能的探头、信号采集系统和方法 | |
| CN103278753A (zh) | 用于变压器感应电压试验的装置 | |
| CA2938595A1 (en) | System and method for measuring wideband noise parameters using an impedance generator | |
| CN106998232B (zh) | 一种获取射频功放load pull参数的方法 | |
| US5777475A (en) | Automatic impedance adapter for a H.F. emitter or receiver in a nuclear spin tomography installation and process for operating the device | |
| CN202631642U (zh) | 电容、电感、电阻介损综合测试仪 | |
| Dolce et al. | Test instrument for the automatic compliance check of cast resin insulated windings for power transformers | |
| CN102055535B (zh) | 滤波装置及其工作方法 | |
| CN110780257A (zh) | 一种基于标准源的直流电流互感器检测系统及检测方法 | |
| CN107219415A (zh) | 一种用于干式空心电抗器综合电气性能参数测试的系统及方法 | |
| US7403031B2 (en) | Measurement apparatus for FET characteristics | |
| CN110764041A (zh) | 一种基于稳压标准源的直流电压互感器检测系统及检测方法 | |
| CN114545285A (zh) | 一种多路高压源阵列并行校准电路及装置 | |
| CN108957282A (zh) | 一种晶体振荡器电性能测试系统 | |
| CN106199285B (zh) | 任意交流载波下的电容特性测量设备及其测量方法 | |
| CN115407105A (zh) | 信号检测电路及射频功率检测装置 | |
| CN111736018B (zh) | 一种多通道介损测量装置及方法 | |
| CN111123073B (zh) | 一种硬件板卡快速自检装置 | |
| CN207369047U (zh) | 一种用于通信基站集成测试的开关箱 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20090715 |