CN106276922B - 一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 - Google Patents
一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106276922B CN106276922B CN201610648682.6A CN201610648682A CN106276922B CN 106276922 B CN106276922 B CN 106276922B CN 201610648682 A CN201610648682 A CN 201610648682A CN 106276922 B CN106276922 B CN 106276922B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- reaction
- sio
- temperature
- substrate
- quartz
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 122
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims abstract description 93
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 78
- 239000002073 nanorod Substances 0.000 claims abstract description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 55
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims abstract description 25
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 88
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 12
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 8
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims description 3
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 5
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 10
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 abstract description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 3
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 abstract description 3
- 239000003814 drug Substances 0.000 abstract description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000006555 catalytic reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 abstract 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 12
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000000103 photoluminescence spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003889 chemical engineering Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000002848 electrochemical method Methods 0.000 description 1
- 238000000724 energy-dispersive X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000005543 nano-size silicon particle Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000005476 size effect Effects 0.000 description 1
- 238000004729 solvothermal method Methods 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/113—Silicon oxides; Hydrates thereof
- C01B33/12—Silica; Hydrates thereof, e.g. lepidoic silicic acid
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2002/00—Crystal-structural characteristics
- C01P2002/80—Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70
- C01P2002/85—Crystal-structural characteristics defined by measured data other than those specified in group C01P2002/70 by XPS, EDX or EDAX data
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/01—Particle morphology depicted by an image
- C01P2004/03—Particle morphology depicted by an image obtained by SEM
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/10—Particle morphology extending in one dimension, e.g. needle-like
- C01P2004/16—Nanowires or nanorods, i.e. solid nanofibres with two nearly equal dimensions between 1-100 nanometer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/60—Particles characterised by their size
- C01P2004/61—Micrometer sized, i.e. from 1-100 micrometer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/60—Particles characterised by their size
- C01P2004/62—Submicrometer sized, i.e. from 0.1-1 micrometer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2006/00—Physical properties of inorganic compounds
- C01P2006/80—Compositional purity
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
本发明属于低维纳米材料领域,特别涉及一种垂直交叉SiO2纳米棒的制备方法。利用热蒸发法无需金属催化剂,将SiO粉置于炉心高温区,收集基底同样也放置于高温区,将炉腔体内充入氩气并将管式炉中心区升温至1050‑1150℃,保温3‑4 hrs,保温时间届满后,所述生长衬底上即生长出交叉垂直SiO2纳米棒。本发明具有环保安全、方法简单、反应快速、无污染、成本低、样品纯度高等优点。制备的交叉垂直纳米棒在医药、滤光、催化、光吸收及新型材料等领域具有很大的应用潜力。
Description
技术领域
本发明涉及一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法,属于低维纳米材料领域。
背景技术
SiO2材料具有电绝缘性和优异的光学透明性,一直以来在发光领域和光波导领域引起人们的广泛关注。纳米SiO2是非常重要的高科技超细无机新材料之一,由于其比表面积大、粒径很小、表面吸附力强、化学纯度高、电阻热阻、分散性能好等方面具有独特的性能;在高温下仍具有热稳定性好、补强性高、韧性高等特性,纳米二氧化硅可广泛应用各个领域。
SiO2纳米棒作为一维纳米材料的一种形态,形态上像一个棒子,其卓越的体积效应、量子尺寸效应、宏观量子隧道效应等,使其不仅具有普通二氧化硅的性质,而且具备一维纳米材料所特有的性质,在化工、生物医学、环境、食品等领域都具有广泛的应用前景。垂直交叉排列的SiO2纳米棒是一种三维光子晶体,这种特殊材料具有光子局域、抑制自发辐射等特性,在光子学器件,激光器,发光二极管,光信息技术领域有广泛的应用前景。而目前,有关交叉垂直SiO2纳米棒的研究还未见报道,它的性能及应用还有待于进一步证实。因此,对于交叉垂直SiO2纳米棒的开发以及对其材料物化性能的研究具有着重要意义。
纳米棒的制备方法有很多,例如激光烧蚀法、溶剂热法、模板辅助电化学法等,这些方法各有利弊。本发明利用热蒸发法,特别设计将衬底光滑面朝下放置在石英舟上,再将石英舟放置在两端开口石英管内,通入较高流量(80-90 sccm)载气,对反应腔内气氛和饱和蒸气压进行调控,成功制备交叉垂直SiO2纳米棒,制备过程中仅使用SiO作为反应原材料,无需引入金属催化剂或其他有毒易爆等气体材料,制备出的纳米棒具有纯度高、成本低、污染少、粒径分布均匀等优点,从而拓宽了其应用领域。
发明内容
本发明的目的在于克服和完善现有技术中存在的问题,本发明提出了一种环保、安全、成本低、沉积过程简易、结构排列有序的垂直交叉SiO2纳米棒材料及其制备方法,通过特别设计石英管套石英舟,并在石英舟上倒置放置衬底的装置,获得垂直交叉SiO2纳米棒,通过控制工艺参数从而对纳米棒的光学性能进行调控,使其具备较好荧光性能。操作简单,节约生产成本。
一种交叉垂直SiO2纳米棒材料的制备方法,工艺步骤如下:
第一步:将衬底基片和载物石英舟、两端开口石英管进行预处理清洗干净;
第二步:将SiO粉作为反应源,放入石英舟内,然后再将预处理完毕的衬底基片亮面朝下盖在石英舟内的反应源上,但不能与反应源接触,接下来再将石英舟放进两端开口石英管内,最后再将此石英管反应体系放入管式炉内,通入保护气体Ar;
第三步:将炉子升温至使炉内源温度达到适宜的反应温度,保温3-4 hrs;反应结束后将反应温度降至室温并取出石英管,所述生长衬底上即生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒。
所述反应源仅为SiO粉。
所述石英管为两端开口,石英管的一端放有石英舟,石英舟内装有反应源,将衬底基片亮面朝下盖在反应源上,但不能与反应源接触,衬底距离炉心的距离为0.4-2.4 cm。
所述的衬底为Si片或石英片。
第三步中的反应温度为1050-1150 ℃,则沉积温度稳定在1040-1050 ℃或1140-1150 ℃范围内。
第二步中保护气体的流量为80-90 sccm。
反应时间为3-4 hrs,然后降温,降温过程的物理环境为室温,大气条件下,反应完毕即关闭Ar,取出石英管。
制备的垂直交叉SiO2纳米棒直径在100-800 nm范围内,长度在0.56-3.92 μm范围内,纳米棒在衬底上程局部分布均匀状态。
本发明所述的方法绿色,简单,安全,成本低廉,无杂质,实验结果纯度高。本发明所述的方法对衬底要求不高,且沉积过程简易,可以实现硅片或其他材料上的原位生长,便于兼容各种集成工艺。本发明所述控制交叉垂直SiO2纳米棒生长的方法产量高,操作简单,安全环保,在微电子工艺、光学、医学等领域有很重要的应用前景。
附图说明
图1是交叉垂直的SiO2纳米棒的SEM图,其中纳米棒的直径为700 nm,长度为2.78μm。
图2是交叉垂直SiO2纳米棒样品的XRD图谱。
图3是交叉垂直SiO2纳米棒的EDX能谱图,其中O原子和Si原子比为70 % : 30 %。
图4是交叉垂直SiO2纳米棒样品的光致发光图谱。
具体实施方式
本发明利用热蒸发法,利用管式加热炉,无需金属催化剂,使用SiO粉置于管式炉腔中,在反应腔内充入流动的保护气体,在1105-1150 ℃保持3-4 hrs,衬底放入管式炉腔内的高温区用以收集产品。衬底预处理过程需先用丙酮超声,再用去离子水清洗。制备交叉垂直纳米棒时要求保护气体流量控制在80 sccm。
本发明所述的交叉垂直SiO2纳米棒材料的制备方法,其步骤如下:
第一步:将衬底基片和载物石英舟、两端开口石英管进行预处理清洗干净;
第二步:将SiO粉作为反应源,放入石英舟内,然后再将预处理完毕的衬底基片亮面朝下盖在石英舟内的反应源上,但不能与反应源接触,接下来再将石英舟放进两端开口石英管内,最后再将此石英管反应体系放入管式炉内,通入保护气体Ar;
第三步:将炉子升温至使炉内源温度达到适宜的反应温度,保温3-4 hrs;反应结束后将反应温度降至室温并取出石英管,所述生长衬底上即生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒。
所述质量为0.4 g的SiO粉作为反应源,确保反应充分进行,且在反应时间内无浪费。
所述石英管为两端开口,石英管的一端放有石英舟,石英舟内装有反应源,将衬底基片亮面朝下盖在反应源上,但不能与反应源接触,衬底距离炉心的距离为0.7-7.7 cm。以保证载气能够顺利通过反应区域,衬底的放置方式可确保样品的顺利生长,及生长样品的高纯度。
所述的衬底为石英片或Si片。以实现对微电子器件工艺兼容,扩大工艺应用前景。
第三步中反应温度为1050-1150 ℃,则沉积温度稳定1140-1050 ℃或1140-1150℃。
第二步中保护气体的流量为80-90 sccm。在确保样品顺利生长的同时避免流量过大造成浪费。
反应时间为3-4 hrs,反应完毕,开始降温,降温过程的物理环境为室温,大气条件下,降至室温后即关闭Ar,取出石英管和石英舟,可发现纳米棒顺利沉积。
制备的SiO2纳米棒直径在100-800 nm范围内,长度在0.56-3.92 μm范围内,纳米棒的形貌和结构在衬底上局部分布均匀。垂直排列纳米棒具备很好的发光性能。
下面结合具体实施例对本发明做进一步说明。
实施例1:
将纯度为99.99 %的0.4 g SiO粉作为反应源,放入石英舟内,再将石英舟放入石英管内;使用n型Si(111)片作为衬底基片,将其清洗干净,放入石英舟内在距离炉心0.7-3.7 cm处放置衬底,把装有反应源的石英舟放入石英管中,然后再将石英管放入管式炉内,通入保护气体Ar,把流量控制在80 sccm;打开管式炉的升温组件,使炉内反应源温度达到1150 ℃,衬底温度约为1147-1150 ℃,并保持恒温3 hrs;降至室温并取出石英管,即在衬底上有序生长出白色絮状垂直交叉的SiO2纳米棒,参阅图1。图1中SiO2纳米棒的沉积温度约为1147 ℃,其直径在100-800 nm范围内,长度在0.56-3.92 μm范围内。
实施例2:
将纯度为99.99 %的0.4 g的SiO粉作为反应源,放入石英舟内;使用石英玻璃片作为衬底基片,将其清洗干净,沿着石英管在距离反应源1.7-3.7 cm处放置衬底,把装有反应源和衬底的石英管放入管式炉内,通入保护气体Ar,把流量控制在90 sccm;打开管式炉的升温组件,使炉内反应源温度达到1050 ℃,衬底温度为1040-1050 ℃,并保持恒温4 hrs;取出石英管并降至室温,即在石英衬底上生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒。生长纳米棒的直径在100-800 nm范围内,长度范围0.5-4 μm。
实施例3:
将纯度为99.99 %的0.4 g的SiO粉作为反应原,放入石英舟内,再将石英舟放入石英管一端;使用n型Si(111)片作为衬底基片,将其清洗干净,沿着石英管在距离反应源0.7-4.7 cm处放置衬底,把装有反应源和衬底的石英舟放入石英管中,再将石英管放入管式炉内,通入保护气体Ar,把流量控制在 85 sccm;打开管式炉的升温组件,使炉内反应源温度达到1150 ℃,衬底温度约为1147-1150 ℃,并保持恒温3 hrs;取出石英管并降至室温,即在衬底上有序生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒。本实施例制备垂直交叉纳米棒样品的XRD图如图2所示,其中位于25º衍射峰来源于纳米棒,位于28º宽衍射同样也来自于SiO2纳米棒。本实施例制备交叉垂直纳米棒样品的EDX能谱图如图3所示,说明该纳米棒的成分为SiO2。本实施例制备交叉垂直纳米棒样品的光致发光图谱如图4所示,位于563 nm和 632nm的发光峰最可能来源于样品内在氧空位处引起的缺陷发光。
实施例4:
将纯度为99.99 %的0.4 g的SiO粉作为反应源,将其放入石英舟中,再将石英舟放入石英管一端;使用n型Si(111)片作为衬底基片,将其清洗干净,沿着石英管在距离反应源0.4-2.4 cm处放置衬底,把装有反应源和衬底的石英管放入管式炉内,通入保护气体Ar,把流量控制在90 sccm;打开管式炉的升温组件,使炉内反应源温度达到1050 ℃,衬底温度为1040-1050 ℃,并保持恒温4 hrs;取出石英管并降至室温,即在衬底上有序生长出白色絮状交叉垂直SiO2的纳米棒。生长的纳米棒的直径在100-800 nm之间,长度范围0.5-4 μm。
实施例5:
将纯度为99.99 %的0.4 g的SiO粉作为反应源,放入石英舟中,再将石英舟放入石英管一端;使用石英玻璃片作为衬底基片,将其清洗干净,沿着石英管在距离反应源0.7-7.7 cm处放置衬底,把装有反应源和衬底的石英舟放入石英管中,再将石英管放入管式炉内,通入保护气体Ar,把流量控制在90 sccm;打开管式炉的升温组件,使炉内反应源温度达到1150 ℃,衬底温度在1140-1150 ℃,并保持恒温3 hrs;取出石英管并降至室温,即在衬底上有序生长出白色絮状交叉垂直SiO2的纳米棒。生长的纳米棒的直径在100-800 nm范围内,长度范围0.5-4 μm。
Claims (5)
1.一种SiO2交叉垂直晶体纳米棒,其特征在于直径为100-800 nm,SiO2纳米棒在衬底上相互间呈90 °交叉排列生长,整体呈独特三维结构排列;
制备SiO2交叉垂直晶体纳米棒的方法步骤如下:
第一步:将衬底基片和载物石英舟、两端开口石英管进行预处理清洗干净,需先用丙酮超声,再用去离子水清洗;
第二步:将SiO粉作为反应源,放入石英舟内,然后将预处理完毕的衬底基片亮面朝下盖在石英舟内的反应源上,但不能与反应源接触,接下来再将石英舟放进两端开口石英管内,最后再将此石英管反应体系放入管式炉内,通入保护气体Ar;
第三步:将炉子升温至使炉内源温度达到适宜的反应温度,保温3-4 hrs,反应结束后将反应温度降室温并取出石英管,所述生长衬底上即生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒;
反应源的反应温度为1050 ºC时,沉积温度范围在1040-1050 ºC;反应源的反应温度为1150 ºC时,沉积温度范围在1140-1150 ºC;
第二步中保护气体的流量为80-90sccm。
2.根据权利要求1所述的SiO2交叉垂直晶体纳米棒,其特征在于:所述纳米棒的制备不使用催化剂,产物成分为Si和O。
3.根据权利要求1所述的交叉垂直SiO2纳米棒的制备方法,其特征在于:该方法步骤如下:
第一步:将衬底基片和载物石英舟、两端开口石英管进行预处理清洗干净,需先用丙酮超声,再用去离子水清洗;
第二步:将SiO粉作为反应源,放入石英舟内,然后将预处理完毕的衬底基片亮面朝下盖在石英舟内的反应源上,但不能与反应源接触,接下来再将石英舟放进两端开口石英管内,最后再将此石英管反应体系放入管式炉内,通入保护气体Ar;
第三步:将炉子升温至使炉内源温度达到适宜的反应温度,保温3-4 hrs,反应结束后将反应温度降室温并取出石英管,所述生长衬底上即生长出白色絮状交叉垂直的SiO2纳米棒;
反应源的反应温度为1050 ºC时,沉积温度范围在1040-1050 ºC;反应源的反应温度为1150 ºC时,沉积温度范围在1140-1150 ºC;
第二步中保护气体的流量为80-90sccm。
4.根据权利要求3所述的交叉垂直SiO2纳米棒的制备方法,其特征在于:所述的衬底为Si片或石英片。
5.根据权利要求3所述的交叉垂直SiO2纳米棒的制备方法,其特征在于:制备的SiO2交叉垂直晶体纳米棒直径为100-800nm,且在衬底上相互间呈90°交叉排列生长,整体呈独特三维结构排列。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610648682.6A CN106276922B (zh) | 2016-08-10 | 2016-08-10 | 一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610648682.6A CN106276922B (zh) | 2016-08-10 | 2016-08-10 | 一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106276922A CN106276922A (zh) | 2017-01-04 |
CN106276922B true CN106276922B (zh) | 2022-06-10 |
Family
ID=57667256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610648682.6A Active CN106276922B (zh) | 2016-08-10 | 2016-08-10 | 一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106276922B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108147418B (zh) * | 2017-12-26 | 2021-11-19 | 渤海大学 | 一种平行排列的SiO2纳米线及其制备方法 |
CN113800939B (zh) * | 2021-08-30 | 2023-02-28 | 华中科技大学 | 一种纳米纤维SiO2多孔陶瓷材料及其制备方法 |
CN115043410B (zh) * | 2021-12-29 | 2024-03-01 | 渤海大学 | 一种Sm3+掺杂SiO2纳/微米棒及其制备方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1808688A (zh) * | 2005-01-18 | 2006-07-26 | 中国科学院半导体研究所 | 大面积制备二氧化硅或者硅纳米线的控制生长方法 |
CN101284667A (zh) * | 2008-05-29 | 2008-10-15 | 复旦大学 | 一种硅纳米管的制备方法 |
KR20120119251A (ko) * | 2011-04-21 | 2012-10-31 | 연세대학교 산학협력단 | 무촉매 나노와이어 제조 방법 및 이를 위한 장치 |
CN102976328A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-03-20 | 复旦大学 | 一种形貌可控的一维硅纳米材料的制备方法 |
CN104016359A (zh) * | 2014-06-27 | 2014-09-03 | 四川大学 | 一种锥形的非晶SiO2纳米线及其制备方法 |
CN105502413A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-04-20 | 渤海大学 | 一种SiO2非晶纳米线及纳米晶粒的制备方法 |
-
2016
- 2016-08-10 CN CN201610648682.6A patent/CN106276922B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1808688A (zh) * | 2005-01-18 | 2006-07-26 | 中国科学院半导体研究所 | 大面积制备二氧化硅或者硅纳米线的控制生长方法 |
CN101284667A (zh) * | 2008-05-29 | 2008-10-15 | 复旦大学 | 一种硅纳米管的制备方法 |
KR20120119251A (ko) * | 2011-04-21 | 2012-10-31 | 연세대학교 산학협력단 | 무촉매 나노와이어 제조 방법 및 이를 위한 장치 |
CN102976328A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-03-20 | 复旦大学 | 一种形貌可控的一维硅纳米材料的制备方法 |
CN104016359A (zh) * | 2014-06-27 | 2014-09-03 | 四川大学 | 一种锥形的非晶SiO2纳米线及其制备方法 |
CN105502413A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-04-20 | 渤海大学 | 一种SiO2非晶纳米线及纳米晶粒的制备方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Large-scalesynthesis,characterization and photoluminescence properties of amorphous silica nanowires by thermal evaporation of silicon monoxide;SanjayK.Srivastava et.al;《Physica E》;20090507;第41卷;第1545–1549页 * |
制备和表征直的Y形SiO2纳米棒;朱光等;《第十五届全国高技术陶瓷学术年会摘要集》;20081231;第180页倒数第2段 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106276922A (zh) | 2017-01-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Geng et al. | Well‐Aligned ZnO Nanowire Arrays Fabricated on Silicon Substrates | |
Liu et al. | Tartaric acid assisted hydrothermal synthesis of different flower-like ZnO hierarchical architectures with tunable optical and oxygen vacancy-induced photocatalytic properties | |
Chen et al. | Synthesis and photoluminescence of tetrapod ZnO nanostructures | |
Duo et al. | A facile salicylic acid assisted hydrothermal synthesis of different flower-like ZnO hierarchical architectures with optical and concentration-dependent photocatalytic properties | |
CN106276922B (zh) | 一种交叉垂直SiO2纳米棒及其制备方法 | |
Hirate et al. | Effects of laser-ablated impurity on aligned ZnO nanorods grown by chemical vapor deposition | |
Xu et al. | Synthesis and characterization of high purity GaN nanowires | |
Shen et al. | Controlled synthesis and assembly of nanostructured ZnO architectures by a solvothermal soft chemistry process | |
Jeon et al. | Fabrication of porous ZnO nanorods with nano-sized pores and their properties | |
He et al. | Polymer-assisted complexing controlled orientation growth of ZnO nanorods | |
Rodrigues et al. | ZnO nano/microstructures grown by laser assisted flow deposition | |
CN109706434B (zh) | 一种固溶体纳米线及其制备方法和用途 | |
CN109384258B (zh) | 采用化学气相沉积法生长β-Ga2O3微米线的方法 | |
CN109183151B (zh) | 石墨烯量子点掺杂氧化镓晶体材料及其制备方法 | |
CN108147418B (zh) | 一种平行排列的SiO2纳米线及其制备方法 | |
Sang et al. | Novel synthesis method of ZnO nanorods by ion complex transformed PVA-assisted nucleation | |
CN105603527B (zh) | 一种氧化锌纳米单晶的制备方法 | |
Mo et al. | Synthetic and effect of annealing on the luminescent properties of ZnO nanowire | |
CN106367063B (zh) | 一种S掺杂SiO2微球及其制备方法 | |
JP4576607B2 (ja) | 単結晶硫化亜鉛ナノチューブとその製造方法 | |
Wei et al. | Synthesis, characterization and growth mechanism of β-Ga 2 O 3 nano-and micrometer particles by catalyzed chemical vapor deposition | |
CN105019028B (zh) | 一种制备特定形貌和晶体结构的InAs纳米线的方法 | |
Lei et al. | Facile approach to ZnO nanorods by directly etching zinc substrate | |
Srivatsa et al. | Effect of oxygen admittance temperature on the Growth of ZnO microcrystals by thermal evaporation technique | |
Charnhattakorn et al. | Controlled synthesis of defects-containing ZnO by the French process modified with pulsed injection and its luminescence properties |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20240410 Address after: 121007 4th Floor, Building 46-2, Huanghai Street, Songshan New District, Jinzhou City, Liaoning Province Patentee after: Jinzhou Yihe New Materials Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Address before: 121013 No. 19 Science and Technology Road, Songshan New District, Jinzhou City, Liaoning Province Patentee before: BOHAI University Country or region before: China |