CN106165562B - 用于电子部件的托盘装载系统 - Google Patents

用于电子部件的托盘装载系统 Download PDF

Info

Publication number
CN106165562B
CN106165562B CN201580018407.XA CN201580018407A CN106165562B CN 106165562 B CN106165562 B CN 106165562B CN 201580018407 A CN201580018407 A CN 201580018407A CN 106165562 B CN106165562 B CN 106165562B
Authority
CN
China
Prior art keywords
tray
bin
good
mode
key
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201580018407.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN106165562A (zh
Inventor
D·M·小拉米雷斯
G·H·涅瓦
A·N·M·马卡拉纳斯
B·S·阿基诺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of CN106165562A publication Critical patent/CN106165562A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106165562B publication Critical patent/CN106165562B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/3404Sorting according to other particular properties according to properties of containers or receptacles, e.g. rigidity, leaks, fill-level

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)

Abstract

在所描述的示例中,用于被测试电子部件(111,113)的托盘装载系统(18)包括托盘装载箱(36),该托盘装载箱被适配成用于阻止在第一箱操作模式中可操作地接收第一配置的托盘(20),并且用于在第二箱操作模式中可操作地接收该第一配置的托盘(20)。该系统(18)还包括操作模式切换组件,该操作模式切换组件被适配成用于响应于与将该装载的第一配置的托盘(20)从该托盘装载箱(36)中移除相关联的操作而从该第二操作模式自动地改变到该第一操作模式。

Description

用于电子部件的托盘装载系统
背景技术
现代电子装置通常包括多个电子部件,比如集成电路管芯和无源部件。通常在一个设施处制造这种电子部件,然后将其运送到另一个设施,在另一个设施处对其进行测试并基于测试结果对其进行分类。有时简单地将这些类别进行标记为:对于已经通过测试要求的部件为“良好”;或者对于不合格的部件为“不良”。在其他情况下,可以存在多于两个类别,比如:对于满足第一组测试标准的部件为“良好1”;对于满足第二较小组测试标准的部件为“良好2”;以及对于不合格的部件为“不良”。
基于部件各自的测试类别,将部件放置在不同的运输容器中。之后,通常向制造商或者制造商的指定人员返回装载的运输容器,在制造商或者制造商的指定人员处对部件进行进一步处理。例如,可以将良好1部件安装在电路板上,可以对良好2部件进行进一步测试,并且可以在测试设施处丢弃不良部件或者向制造商返回不良部件以供分析。
通常在部件托盘中运输如集成电路管芯等更加复杂的电子部件。大部分现代托盘符合针对尺寸、形状和成分的行业标准。有时被称为“矩阵托盘”的这种部件运输托盘在形状上是矩形的并且具有安排在矩形网格中的多个完全相同的部件接收区室。有时,托盘的形状用于标识包含在托盘中的部件的类别。出于此原因,许多运输托盘被构造成用于接收可以用于选择性地改变托盘的形状/占用面积的外部插入件。
已经使用各种类型的自动化部件测试和处理机器来测试部件并且在连续的过程中将其装载到适当的部件运输托盘中。例如,在美国专利号5,150,797、美国专利号5,290,134、美国专利号5,807,066、美国专利号6,070,731、以及美国专利号6,384,361中描述了这种系统,所有这些专利都通过引用完全结合在本文中。
发明内容
在所描述的示例中,一种用于被测试电子部件的托盘装载系统包括托盘装载箱,该托盘装载箱被适配成用于阻止在第一箱操作模式中可操作地接收第一配置的托盘,并且用于在第二箱操作模式中可操作地接收该第一配置的托盘。该系统还包括操作模式切换组件,该操作模式切换组件被适配成用于响应于与将装载的该第一配置的托盘从该托盘装载箱中移除相关联的操作而从该第二操作模式自动地改变到该第一操作模式。
附图说明
图1A(现有技术)是常规电子部件测试和处理机器的示意图。
图1B(现有技术)是图1的测试和处理机器的常规托盘装载系统的示意图。
图2是一种不可操作地安装在托盘箱中的所示出的第一配置的电子部件托盘的示意性俯视图。
图3是一种可操作地安装在图2的托盘箱中的所示出的第二配置的电子部件托盘的示意性俯视图。
图4是一种托盘装载系统的示意图,展示了其主要操作单元。
图5至图27是图4的托盘装载系统的示意图,展示了可以由托盘装载系统执行的一系列操作。
图28是一种用于伸出和缩回箱锁芯的电路。
图29是一种用于使用切换组件的方法的流程图。
具体实施方式
图1A是称为横河
Figure BPA0000230526240000021
分选机(
Figure BPA0000230526240000022
Handler)的常规电子部件测试和处理机器10的示意图。测试和处理机器10(“分选机10”)具有输入托盘装载站11。在站11处,分选机10接收装载有待测试电子部件的输入托盘。这里,比如由常规拾放机器将部件从托盘中卸载并将其移动到预热站12处。在预热站12处,将部件加热到预定的温度。接下来,在负载往返站13处,以预定的对齐方式放置预热的部件以供测试。之后,在测试站14处,将部件移动到一系列测试插座处,在测试插座处对部件进行一个或多个功能和连续性测试。将每一个部件的各测试结果与该部件链接,并将其存储在机器测试结果数据库(未示出)中。接下来,将部件移动到卸载站15处以供对齐。之后,在转移袋站16处,精确地将部件对齐以供装载到运输托盘中。最后,在托盘装载站17处,基于每一个部件的各自测试结果,将部件装载(比如由另一台拾放机器)到不同的托盘中以供运输。
图1B示出了常规托盘装载系统17的比如由横河
Figure BPA0000230526240000031
分选机使用的主要操作单元。两个托盘箱(箱1和箱2)接收待装载有被测试部件的空托盘。第三托盘箱(箱3)用于储存空的良好托盘。每一个托盘箱分别具有自动托盘装载器门1A,2A,3A。门1A和2A使装满的托盘的堆叠体能够从箱1或者箱2中移除。针对箱3,门3A用于插入空托盘的堆叠体。自动托盘转移系统5具有托盘转移路径,该托盘转移路径从空托盘箱3伸出到其他两个箱1和2中的每一个箱处。拾放机器6将来自部件临时储存区域7的合格的(或者良好)部件G以及不合格的(或者不良)部件B装载到箱1和箱2中的托盘中。
托盘装载系统17具有两个不同的托盘装载状态并且必须被手动地重新配置成从一个状态改变到另一个状态。在第一装载状态中,将良好电子部件G装载到第一配置的托盘(“良好托盘”)中,并且将不良部件B装载到第二配置的托盘(“不良托盘”)中。在第二装载状态中,基于良好部件的测试结果,比如“良好1”或者“良好2”(未在图1B中示出),将良好部件分成两个不同的类别。具有预定配置的“良好托盘”用于接收良好1和良好2部件中的两者。然而,每一个单独的良好托盘仅装载有一种类型的良好部件。在此第二装载状态中,未将不良部件装载到托盘中。
如图1B所示出的,在托盘装载有部件之前,将托盘移动到托盘装载箱中。如前所述,系统17仅具有两个托盘装载箱,为箱1和箱2。另一个箱(箱3)用于储存空的良好托盘。托盘装载箱之一(箱1)可以被配置成用于接收良好托盘或者不良托盘。另一个托盘装载箱(箱2)是专用箱,仅能接收良好托盘。
可以通过将被称为“箱钥匙”1B的机械构件放置在箱1中的预定位置处来将可配置的箱1放置在“仅不良托盘”接收配置中。在此位置中时,箱钥匙1B基于良好托盘与不良托盘在形状上的差异物理地干扰对良好托盘的适当就位。在一个实施例中,通过物理地移除箱钥匙1B来将可配置的箱1放置在良好托盘接收配置中。在一个实施例中,箱钥匙1B是电动柱,该电动柱具有与箱1的不良托盘接收配置相关联的伸出活塞位置,并且具有与箱1的良好托盘接收配置相关联的缩回活塞位置。
如之前所指出的,在图1B的常规托盘装载系统17中,在第一装载状态中,仅将部件分类为“良好”或者“不良”。专用箱2仅接收良好托盘,并且可配置的箱1被配置成用于仅接收不良托盘。在此第一状态中,将箱钥匙1B进行定位,以使得其阻止将良好托盘适当地就位在可配置的箱1中。由自动托盘转移系统5将空的良好托盘从空的良好托盘储存箱3移动到专用箱2中。手动地将不良托盘从不良托盘堆叠体4装载到箱1中。
如前所述,第二装载状态具有两种不同类型的良好部件。仅将两种类型的良好部件装载到良好托盘中。所有良好托盘具有相同的形状。在此第二装载状态中,将箱钥匙1B从可配置的箱1中移除,由此使箱1能够接收良好托盘。由自动托盘转移系统5将空的良好托盘从空的良好托盘储存箱3移动到箱1和箱2两者中。将第一测试等级(“良好1”(未在图1A中示出))的良好部件装载到良好托盘中,由自动托盘转移系统5将良好托盘移动到专用箱2中。将第二测试等级(“良好2”(未在图1A中示出))的良好部件装载到良好托盘中,由自动托盘转移系统5将良好托盘移动到可配置的箱1中。
在第一和第二装载状态中,由拾放机器6最初地将被测试部件从部件临时储存区域7移动到位于箱1或者箱2中的托盘中。在第一测试状态中时,基于部件放置在部件临时储存区域7中的位置,拾放机器6可以识别良好部件G或者不良部件B。在第二测试状态中时,其可以识别良好1部件(未在图1A中示出)以及良好2部件(未在图1A中示出)。根据装载状态和可配置的箱1的相关联的配置,拾放机器6将所选择的部件移动到在适当的箱1或者箱2中的适当的托盘中。
有时出现与重新配置可配置的箱1相关联的问题。当从第二装载状态改变到第一装载状态时,操作者忘记将箱钥匙1B放置在箱1中时,出现该问题。箱钥匙1B的不存在允许在第一装载状态的过程中将良好托盘装载到可配置的箱1中,在第一装载状态中,应当仅将不良托盘装载到箱1中。因此,可能将不良部件装载到良好托盘中。如果没有立即发现该问题,那么可以质疑整个装载期间(也许一整天或更多)的装载完整性。在这种事件之后,可能要求(对许多托盘的内容)进行召回和检查,以解决系统的完整性。可能要求对在该期间内所装载的部件进行重新测试,以确保良好托盘不包含不良部件。而且,如果在早期没有发现错误,那么制造商可能使用不良部件来组装电路板。两个结果中的任何一个结果对测试组织的代价可能非常高,并且可能显著地损害顾客信誉。在下文中参照图2至图28所描述的新托盘装载系统10的结构和操作被设计成用于减少或者消除这种问题的出现。
此说明书总体上披露了一种用于装载被测试电子部件(包括图4的良好部件111(在附图中示出为包含数字“1”的框)、第二等级的良好部件112(在如图14等附图中示出为包含数字“2”的框)、或者不良部件113(在附图中示出为包含数字“3”的框)的新托盘装载系统18。托盘装载系统18包括第一托盘装载箱36(图2)。第一托盘装载箱36(也被称为可配置的箱36)被适配成用于在第一操作模式中不可操作地接收(即,在不允许对部件的装载的取向中接收)第一配置(图2)的托盘20。第一托盘装载箱36还被适配成用于当系统18处于第二操作模式中并且箱钥匙40被定位在如在图2中由虚线所示出的位置时,可操作地接收(即,在允许对部件的装载的取向中接收)第一配置的托盘20。托盘装载系统18包括可电致动的组件120(图28),该可电致动的组件被适配成用于根据将托盘移动进出可配置的箱36来自动地将托盘装载系统18放置在在第一操作模式或者第二操作模式中。
图2是用于接收良好部件11或12(图14)的第一配置的电子部件托盘20的示意性俯视图。将在本文中将此托盘称为“良好托盘20”或者简单地称为“托盘20”。良好托盘20具有多个部件接收袋32、前缘部分22、后缘部分24以及两个侧边缘部分26,28。托盘20可以具有相对窄宽度前缘矩形切除部分34,或者将其与不良托盘50(图3)区分开的另一个外部结构。
可调整的托盘箱36具有入口端部分37(图4),托盘穿过该入口端部分进入箱36。该可调整的托盘箱具有出口端部分38,可打开和可关闭的箱门39位于该出口端部分处。可以手动地打开箱门39,以使得能够从箱36中卸载托盘的堆叠体。出口端部分38还在其上支撑自动可致动的箱钥匙40。箱钥匙40可以包括如螺线管130(图28)等电动可移位构件。螺线管130的可移位构件可以具有如在图2中由实线所示出的伸出位置。良好托盘20中的托盘切除部分34相对于箱钥匙40的横向尺寸具有相对小的横向尺寸。因此,阻止将良好托盘20(当在箱出口端部分38的方向上被推进时)适当地就位在箱36中。相应地,在此实施例中,托盘20的前缘22与箱36的接合表面42间隔间隙距离44。托盘20在此位置时,拾放机器(或者接近度传感器或其他探测器)将识别托盘20不在适当的装载位置并且将生成用于终止对托盘装载系统18的操作的信号。在本文中,有时将处于这种未就位的位置中的托盘称为被“不可操作地接收”在箱36中。然而,如果将箱钥匙40移动到其缩回位置,如在图2中由虚线所示出的,那么托盘20将适当地就位于箱36中,在本文中有时将这种情况称为被“可操作地接收”或者“可操作地安装”在箱中。
图3是可操作地安装在可配置的托盘箱36中的第二配置的电子部件托盘50的示意性俯视图。在所展示的实施例中,部件托盘50被适配成用于接收不良部件并且在本文中有时被称为“不良托盘”。托盘50具有前缘52、后缘54、以及第一和第二侧缘56,58。该托盘包含多个电子部件接收袋62并且具有切口54,该切口的横向尺寸大于箱钥匙40的螺线管可移位部分34的横向尺寸。不论箱钥匙40是否在图3中所示出的伸出位置或者在图2中由虚线所示出的缩回位置中,由于这个相对大尺寸的切口54以及切口54与箱钥匙40的对齐,所以可以将不良托盘50可操作地接收到其前缘52被定为成与托盘箱36的接合表面42接合的托盘箱36中。因此当可操作地将托盘50接收到可调整的托盘箱36中时,将不会终止系统操作,并且在第一操作模式中的操作可以继续。
总之,当箱钥匙40的螺线管部分处于伸出位置时(在图2和图3中由实线展示),箱36将不会适当地接收良好托盘20,但是其将适当地接收不良托盘50。当箱钥匙40处于在图2中由虚线所示出的缩回位置时,箱36将适当地接收良好托盘20和不良托盘50两者。然而,因为仅由操作者手动地装载不良托盘50,所以不存在当系统处于第二操作模式中时,将不良托盘50装载到可调整的第一箱36中的问题。
图4是一种新托盘装载系统18的示意图,展示了其主要操作单元。托盘装载系统18具有可配置的/可调整的箱36,该箱具有如在之前参照图2和图3所描述的自动致动的箱钥匙40。系统18包括专用箱66(在本文中有时将被称为第二箱66),该专用箱被适配成用于在两种操作模式中仅接收良好托盘20。和可配置的箱36类似,专用箱66具有托盘入口部分67以及具有卸载门69的托盘出口部分68。
托盘装载系统18具有用于保持空的良好托盘20的供应的储存箱80。该储存箱具有入口部分82,该入口部分具有可以被打开以插入良好托盘20的门84。储存箱80具有托盘出口部分86,空托盘通过该托盘出口部分86离开储存箱。比如通过引用结合在本文中的上述专利中所披露的,由自动托盘转移系统90使用可移位的托架或头部92来将托盘移出储存箱80并且转移到其他两个箱36,66中。可以将不良托盘50储存在堆叠体100中,当托盘装载系统18处于第一操作模式中时,手动地将不良托盘从该堆叠体100中装载到可配置的箱36中。
被测试部件(比如待装载的111和113)位于在本领域中有时被称为“转移袋(transfer pocket)”的临时储存单元16中的已知位置处。位于储存单元16中的每一个位置处的部件的类型(图14中良好1111和良好2112,或者不良113)存储在机器存储器中。拾放机器110常规地使用此信息来确定将把每一个部件移动到托盘装载箱36还是托盘装载箱66中。
箱钥匙致动电路组件120(图28)包括沿着自动托盘转移系统(“ATT”)90的路径定位的第一开关SW1,当由托盘转移系统90沿着该路径将托盘移动到可调整的第一箱36中时,该第一开关被触发。箱钥匙致动电路组件120还包括可以由操作者选择性地切换的手动托盘开关SW2。通过打开可调整的托盘箱36的托盘卸载门39来切换第三开关SW3。提供了继电器R1,当电流流过该继电器时,该继电器切换第四开关SW4和第五开关SW5。在箱钥匙致动电路组件120的特定切换状态中,该继电器自动地终止至螺线管130的电流,由此引起如在图28中由虚线所示出的活塞臂132的伸出。可以将活塞臂132连接到如在图2和图3中所示出的箱钥匙40。通过将活塞臂132放置在伸出位置中来启动系统的第一(良好/不良)操作模式。电路自动地向螺线管130提供电流,以将其活塞臂132放置在图28中由实钱所示出的缩回位置中,从而启动箱的第二(良好1/良好2)操作模式。在一些实施例中,螺线管130及其活塞臂132是箱钥匙40的部件。活塞132的终止端133与良好托盘20接合,由此阻止活塞臂132伸出时良好托盘20的可操作安装。在下文中进一步详细地描述箱钥匙电路120的操作序列。
现在将描述对托盘装载系统18的操作,这些操作开始于在图5至图13中对在第一装载状态中的装载系统18的操作,并且结束于在图14至图27中系统在第二装载状态中。在此新托盘装载系统18中,将箱钥匙40的螺线管活塞臂132部分移动到不同的位置,从而在可调整的箱36的两个操作模式之间改变。当不良托盘50就位于箱36中并且被装载时,在第一装载状态的部分的过程中,箱36处于第一操作模式中。当良好托盘20就位于箱36中并且被装载时,在第二装载状态的部分的过程中,箱36处于第二操作模式中。然而,在整个第二状态的过程中,可调整的箱36不都处于第二操作模式中。例如,在一些时候,在第二装载状态的过程中,可调整的箱36处于第一操作模式中。
现在将参照图5至图28描述典型的操作顺序。图5至图13示出了处于第一装载状态中的系统18,在该第一装载状态的过程中,良好托盘20装载有良好部件111;并且不良托盘50装载有不良部件113。图14至图27示出了处于第二装载状态中的系统18,在该第二装载状态的过程中,通过将每一种类型部件装载到不同的良好托盘20中来将良好1部件111和良好2部件112隔离。在图4至图21中,可调整的箱36处于第一操作模式中(箱钥匙40阻止良好托盘20的适当就位),并且在图21至图26中处于第二操作模式中(箱钥匙40缩回),在图27中回到第一操作模式。
图5是图4的托盘装载系统的示意图,展示了在第一操作模式中的操作顺序,在该第一操作模式的过程中,将自动托盘转移系统90的托架92移动到空托盘储存箱80,以接合储存在其中的良好托盘20。接下来,如在图6中所示出的,托架92将接合的良好托盘20移动到专用良好托盘箱66。之后,如在图7中所示出的,输送托架92回到其起始位置。
图8示出了下一个操作顺序,在该操作顺序中,拾放机器110的头部移动到部件临时储存平台16,以接合良好部件112,在图8中将该良好部件112示出为被拾放机器110的头部覆盖。之后,如图9所示出的,拾放机器110的头部移动到专用良好部件箱66,以将良好部件112存放在其良好托盘20中。重复在图8至图10中所示出的顺序,直到已经将临时储存平台16上的所有良好部件移动到箱36中的(一个或更多个)良好托盘20为止。
图11展示了在第一操作模式中发生的下一个操作顺序。在此顺序中,已经手动地将不良托盘50从不良托盘堆叠体100移开并放置在可配置的托盘箱36中。可配置的托盘箱36被配置成用于可操作地接收不良托盘50并且用于阻止将良好托盘20可操作地接收在其中。因此,箱钥匙40处于伸出位置中。接下来,如在图12中所示出的,拾放机器110的头部移动到部件临时储存平台16,以接合不良部件114,该不良部件114被拾放机器110的头部覆盖并且因此在图112中是不可见的。之后,如在图13中所示出的,拾放机器110的头部移动到可配置的托盘箱36,以将不良部件114存放在其不良托盘50中。重复图12和图13的操作,直到已经将所有不良部件装载到(一个或更多个)托盘50中为止。之后,拾放头部110回到如之前在图10中所示出的其起始位置。
图14是托盘装载系统18要在第二装载状态中操作时,系统18的主要操作单元的示意图。可调整的/可配置的箱36仍处于第一操作模式中,箱钥匙40处于伸出位置中。系统18在第二装载状态中操作,因为临时储存平台16现在仅包含要在装载到不同的良好托盘36中的过程中被分开(即,装载的每一个良好托盘仅包含良好1部件111或者仅包含良好2部件112)的良好部件(良好1 111和良好2 112)。
最初,如在图15中所示出的,托盘转移系统托架92移动到托盘储存箱80并且与良好托盘36接合。图16展示了下一个操作,在该操作中托架92将良好托盘20转移到专用储存箱66。之后,如在图17中所示出的,托架92回到其起始位置。接下来,如图18所示出的,拾放机器头部110移动到部件临时储存平台16,以接合满足第一标准(“良好1”)的良好部件112。图19示出了下一个操作顺序,在该操作顺序中,拾放机器110的头部将良好1部件112移动到专用箱66,以将良好1部件112存放在其良好托盘20中。重复图18和图19的顺序,直到已经将所有良好1部件112移动到专用箱66中的(一个或更多个)良好托盘20为止。
图20展示了下一个操作顺序,在该操作顺序中,托架92与空托盘储存箱80中的良好托盘20接合。
之后,如图21所示出的,将接合的良好托盘20移动到可配置的托盘箱36。此操作切断沿着托盘移动到可配置的托盘箱36的路径定位的开关122(开关122对应于在电路120中的开关SW1)。对SW1的这种切断(由处于其切断状态中的三角形表示)启动了这样的过程:在该过程中,将箱钥匙40从伸出位置(与第一操作模式相关联)移动到缩回位置(与第二操作模式相关联)。箱钥匙40处于此缩回位置时,可配置的箱36现在处于第二操作模式中,并且现在能够可操作地接收良好托盘20。因此,可操作地将移动到托盘箱36的托盘20接收到箱36中。接下来,如在图22中所示出的,托架92回到其起始位置。
图23示出了下一个操作顺序,在该操作顺序中,拾放机器110的头部移动到部件临时储存平台16,以接合满足第二标准(“良好2”)的良好部件112(由头部110隐藏)。之后,如在图24中所示出的,拾放机器110的头部移动到可配置的托盘箱36,以将良好2部件112存放在其良好托盘20中。
图25示出了已经在连续的拾放循环中将良好2部件112完全装载在箱36中的多个托盘20之后的系统18。在图25中,拾放头部110已经回到其起始位置,并且准备好将堆叠的托盘20从箱36中移除,但是仍未打开箱门39。
在图26中,已经将箱门39打开,以将良好托盘20的堆叠体从可配置的箱36中移除。打开箱门39就断开了对应于图28的电路120中的开关SW3的箱门开关124,由此使箱钥匙40伸出。然而,因为箱钥匙40安装在门39上,并且在图26中门39是打开的,所以箱钥匙40不与可配置的箱36中的良好托盘20中的任何良好托盘接触。
图27示出了已经手动地将装载的良好托盘20的堆叠体从可配置的箱36中移除。断开开关124已经使螺线管130和相关联的箱钥匙40移动到伸出位置。因此,已经启动了在可配置的箱36的第一操作模式中的操作,并且已经终止了在第二操作模式中的操作。图27还示出了(在虚线中)关闭箱门39的进一步操作。安装在门39上的箱钥匙随着关闭的门移动,并且现在伸出到箱36中。现在,不能够再将良好托盘20可操作地接收到可配置的箱36中。
关闭箱门39还闭合了门开关SW3。尽管对门开关SW3的断开使系统从第二操作模式切换到第一操作模式,但是对门开关的闭合并不(由其自己)使系统切换回到第二操作模式。因此,在闭合箱开关SW3时,箱36仍然处于第一操作模式中。除了通过关闭箱门39来闭合开关SW3以外,为了改变操作模式(即,为了在第二操作模式中启动对箱36的操作),必须执行另一个切换操作。此附加切换操作可以是以下两者中的任一者:(a)使用由自动托盘转移系统90移动托盘切断开关SW1;或者(b)由操作者手动地切断开关SW2。闭合门开关SW3的同时已经完成这两个动作中的任一动作时,使箱钥匙40(活塞臂132)移动到其伸出位置。在图27中所示出的伸出位置中,箱钥匙40阻止良好托盘20进入可配置的箱36中。箱36现在再次处于第一操作模式中,在第一操作模式中,箱36不再可操作地接收良好托盘20,而是将仅可操作地接收不良托盘50。
现在将进一步详细地描述图28的箱钥匙电路120的操作方式。在螺线管130的正常未供电状态中,活塞臂132伸出,并且可调整的箱处于第一操作模式中。当螺线管130接收电流时,活塞臂132缩回,将箱36置于第二操作模式中。当继电器R1闭合开关SW5时,螺线管130接收电流。由继电器R1将开关SW4和SW5一起断开和闭合。当(通过电流流过该继电器)继电器R1启动时,R1闭合这些开关SW4和SW5,并且当停用(当没有电流流过该继电器时)继电器R1时,这些开关断开。
当闭合(通过关闭箱门39)可调整的箱门39上的开关SW3时,以及当以下两者中的任一者发生时,继电器R1启动:(a)自动托盘转移系统开关SW1闭合;或者(b)手动托盘开关SW2闭合。继电器R1启动时,开关SW4闭合,该开关保持启动继电器R1,直到箱门39(开关SW3)打开为止。
该装置通过以下两者中的任一者来将箱放置在第二操作模式(良好1/良好2)中:(a)闭合开关SW1(通过操作托盘转移系统90);或者(b)在闭合开关SW3之后(通过在卸载可调整的箱36之后关闭卸载门39)闭合开关SW2(由操作者通过手动切断)。之后,继电器R1闭合开关SW4和SW5。当开关SW4和SW5闭合时,螺线管130接收使活塞臂132缩回的电力。活塞132缩回时,能够可操作地将良好托盘20装载到可调整的箱36中。当开关SW4闭合时,继电器R1保持活跃。因此,断开开关SW3(通过打开箱门39)是停用继电器R1并且返回到第一操作模式的唯一方式。
总之,打开箱门39终止了使螺线管130的活塞臂132移动到并且停留在正常伸出位置中的电流的流动。这就是可调整的箱36的第一操作模式。
相比之下,通过关闭箱门39和以下两者中的任一者来使螺线管130的电流流动(这使活塞臂132移动到伸出位置):(a)闭合自动托盘转移系统开关SW1,比如通过开关SW1与移动的托盘的接合;或者(b)闭合手动托盘开关SW2,比如由人类操作者闭合该手动托盘开关。这就是可调整的箱36的第二操作模式。
在此安排下,在门39已经打开之后,系统18进入第一操作模式中并且将不会将良好托盘接收到箱36中。仅可以通过以下各项来将系统18放置在第二操作模式中:(a)在箱门开关SW3闭合的同时使用托盘转移系统90来将良好托盘移动到箱36中(闭合开关SW1);或者(b)在箱门39(开关SW3)关闭的同时由操作者闭合开关SW2。这将阻止将不良部件装载到错误地放置在箱36中的良好托盘20中。此结果的原因是:在不采取两个积极的切换动作以改变箱钥匙40/螺线管活塞132的位置的情况下,在已经从箱36中卸载良好托盘的堆叠体之后,将永远不会将良好托盘20可操作地接收到该箱中。
所描述的示例包括一种用于使用切换组件的方法,已经在图29中披露和示出该方法。该切换组件包括电压源和地;门开关,该门开关与托盘出口门相关联;自动托盘转移系统开关,该自动托盘转移系统开关与该门开关串联连接,并且被适配成用于当该自动托盘转移系统从托盘装载状态转到空闲状态时改变开关状态。该切换组件还包括操作者可切断开关,该操作者可切断开关与该自动托盘转移系统开关并联连接;继电器,该继电器位于该电压源与该自动托盘转移系统开关之间;以及第一继电器致动开关,该第一继电器致动开关与该自动托盘转移系统开关和该操作者可切断开关并联连接。该组件进一步包括第二继电器致动开关,该第二继电器致动开关与该自动托盘转移系统开关、该操作者可切断开关以及该第一继电器致动开关串联连接。该组件还包括螺线管,该螺线管具有第一操作状态和第二操作状态并且与该第二继电器致动开关和该地串联连接。该方法包括,如在框201处所示出的,响应于断开该门开关而将该螺线管从该第二操作状态改变到该第一操作状态。该方法还包括,如在框202处所示出的,响应于闭合该门开关以及使用该托盘转移系统来装载托盘或者切断操作者可切断开关而将该螺线管从该第一操作状态改变到该第二操作状态。
在所要求保护的范围内,在所描述的实施例中修改是可能的,并且其他实施例是可能的。

Claims (8)

1.一种托盘装载系统,该系统包括:
第一托盘,该第一托盘具有第一配置和第一切除部分;
第二托盘,该第二托盘具有第二配置和第二切除部分;
托盘装载箱,该托盘装载箱包括入口端和出口端,该入口端被配置成接收该第一托盘或该第二托盘,该出口端具有接合表面和箱钥匙管道;
箱钥匙,该箱钥匙沿该箱钥匙管道可移动,该箱钥匙成形为适合该第一切除部分并且与该第二切除部分不匹配,该箱钥匙可延伸超出该接合表面以阻止该第二托盘与该接合表面接合,以及该箱钥匙可从超出该接合表面的延伸位置缩回以允许该第二托盘与该接合表面接合;以及
传感器,该传感器被配置成检测该接合表面被接合还是未被接合,并且在该接合表面未被接合时生成终止信号。
2.如权利要求1所述的托盘装载系统,其中:
该箱钥匙包括电路,该电路具有可移位的机械构件;
该电路被配置成在该可移位的机械构件处于与该箱钥匙延伸超出该接合表面相关联的第一位置时生成第一操作模式信号;以及
该电路被配置成在该可移位的机械构件处于与该箱钥匙从该接合表面缩回相关联的第二位置时生成第二操作模式信号。
3.如权利要求2所述的托盘装载系统,其中,该可移位的机械构件包括螺线管。
4.如权利要求2所述的托盘装载系统,其中,该托盘装载箱在接收到该第一操作模式信号后被配置成第一操作模式。
5.如权利要求4所述的托盘装载系统,其中,该第一操作模式与该第一托盘的该第一配置相关联。
6.如权利要求2所述的托盘装载系统,其中,该托盘装载箱在接收到该第二操作模式信号后被配置成第二操作模式。
7.如权利要求6所述的托盘装载系统,其中,该第二操作模式与该第二托盘的该第二配置相关联。
8.如权利要求1所述的托盘装载系统,其中,该托盘装载箱包括装载箱出口门。
CN201580018407.XA 2014-04-10 2015-04-10 用于电子部件的托盘装载系统 Active CN106165562B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/249,526 US9638748B2 (en) 2014-04-10 2014-04-10 Tray loading system for electronic components
US14/249,526 2014-04-10
PCT/US2015/025437 WO2015157708A1 (en) 2014-04-10 2015-04-10 Tray loading system for electronic components

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106165562A CN106165562A (zh) 2016-11-23
CN106165562B true CN106165562B (zh) 2020-02-07

Family

ID=54264490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201580018407.XA Active CN106165562B (zh) 2014-04-10 2015-04-10 用于电子部件的托盘装载系统

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9638748B2 (zh)
EP (1) EP3130210B1 (zh)
CN (1) CN106165562B (zh)
WO (1) WO2015157708A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108646171A (zh) * 2018-05-18 2018-10-12 广东中南人力资源有限公司 一种自动化集成电路测试装置
KR102581147B1 (ko) * 2018-07-12 2023-09-25 (주)테크윙 전자부품 재배치장치
US10871507B2 (en) 2018-12-20 2020-12-22 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device handler with chuck clamp interlock
WO2022082423A1 (zh) * 2020-10-19 2022-04-28 梁左男 一种自动循环托盘机

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384361B1 (en) * 2000-06-27 2002-05-07 Advanced Micro Devices, Inc. Error free trays for bin sorting

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3308977A (en) * 1965-10-04 1967-03-14 Ibm Automatic tray handler
US5313156A (en) 1991-12-04 1994-05-17 Advantest Corporation Apparatus for automatic handling
DE19581661C2 (de) * 1994-09-22 1998-11-26 Advantest Corp Ic-Aufnahmeschalen-Lagervorrichtung und Montagevorrichtung für diese
US7275645B2 (en) * 2003-09-19 2007-10-02 Vesta Medical, Llc Handheld medical waste sorting device
US7700891B2 (en) 2005-03-30 2010-04-20 Delta Design, Inc. Process for handling semiconductor devices and transport media in automated sorting equipment
KR100861006B1 (ko) * 2007-02-28 2008-09-30 (주)테크윙 테스트핸들러용 테스트트레이 이송장치
KR100899942B1 (ko) * 2007-05-31 2009-05-28 미래산업 주식회사 테스트 핸들러, 그를 이용한 반도체 소자 제조방법, 및테스트트레이 이송방법

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384361B1 (en) * 2000-06-27 2002-05-07 Advanced Micro Devices, Inc. Error free trays for bin sorting

Also Published As

Publication number Publication date
EP3130210A4 (en) 2018-04-25
WO2015157708A1 (en) 2015-10-15
CN106165562A (zh) 2016-11-23
US20150291369A1 (en) 2015-10-15
EP3130210B1 (en) 2020-01-01
EP3130210A1 (en) 2017-02-15
US9638748B2 (en) 2017-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106165562B (zh) 用于电子部件的托盘装载系统
KR20000013411A (ko) 반도체 번-인 공정의 반도체 디바이스 추출/삽입 및자동분류장치
US7541828B2 (en) Burn-in sorter and sorting method using the same
US20090058439A1 (en) Electronic device test system
KR20230165173A (ko) 소자소팅장치
US20230298919A1 (en) Apparatus and methods for handling die carriers
KR20150104904A (ko) 반도체소자 테스트용 핸들러 및 반도체소자 테스트용 핸들러에서의 테스트 지원 방법
CN104971908A (zh) 测试分选机及其推进装置、测试托盘以及测试机用接口板
KR100252571B1 (ko) 반도체장치운반및취급장치와함께사용하기위한제어시스템
US20040045668A1 (en) Semiconductor device manufacturing line
KR102289101B1 (ko) 전자부품 테스트용 핸들러 및 그의 운반용 트레이 이송방법
DE19652035C2 (de) Prüfplatz und Verfahren für elektronische Baueinheiten, insbesondere Mobilfunktelefone
WO2015059359A1 (en) Method and apparatus for handling books and other library material in a library
KR101032598B1 (ko) 테스트 핸들러 및 그 부품 이송방법
KR102035413B1 (ko) 반도체 소자 핸들러
CN116359699A (zh) 元件处理器
JPH0451543A (ja) 部品搬送治具
US20220315334A1 (en) Tray exchange and dispositioning systems, methods, and apparatuses
JPH0454976Y2 (zh)
KR102058442B1 (ko) 핸들러용 트레이 이송기 및 핸들러
KR20150140889A (ko) 트레이 이송장치 및 전자부품 테스트 핸들러
KR20060100910A (ko) 번인 소터
KR200155447Y1 (ko) 반도체 패키지 제조장비의 트레이 고정장치
JP7413978B2 (ja) 荷物積付システム
KR20240082317A (ko) 전자부품 테스트용 핸들러

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant