KR102289101B1 - 전자부품 테스트용 핸들러 및 그의 운반용 트레이 이송방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러와 그의 운반용 트레이 물류방법에 관한 것이다.
본 발명에 따르면 운반용 트레이들을 공급하거나 회수하기 위한 공급 및 회수 스택커들로부터 인출된 후 공급위치로 공급된 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커로 그대로 회수되며, 운반용 트레이들의 원활한 공급 및 회수를 위해 대기 스택커를 구비할 수 있다.
따라서, 스택커의 전체 개수를 줄여 장비의 대형화를 최소화시키면서도 전자부품들의 랏 별 구분을 유지시킬 수 있다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러 및 그의 운반용 트레이 이송방법 {HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS AND TRANSFERRING METHOD OF CARRYING TRAY THEREOF}

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것으로, 특히 운반용 트레이를 이송시키는 기술과 관련된다.

생산된 전자부품들은 테스터에 의해 테스트된 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다.

전자부품의 테스트 시에 테스터와 전자부품의 전기적인 연결은 전자부품 테스트용 핸들러(이하 ‘핸들러’라 함)에 의해 이루어진다.

핸들러의 기술과 관련해서는 대한민국 특허공개 10-2015-0117732호 등 다수의 특허문헌을 통해 제시된 바 있다.

일반적으로 도 1에서와 같이 핸들러(100)는 로딩장치(111), 소크챔버(113), 테스트챔버(115), 연결장치(116), 디소크챔버(117), 언로딩장치(119), 공급 스택커(120a, 120b)들, 회수 스택커(121a 내지 121c)들 및 트랜스퍼장치(122)를 포함한다.

로딩장치(111)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 로딩시킨다.

소크챔버(113)는 로딩위치(LP)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들에 열적인 자극을 가하기 위해 마련된다. 생산된 전자부품은 상온에서 테스트되는 경우도 있지만, 열적으로 열악한 사용 환경(고온 또는 저온)을 고려할 필요가 있기 때문에, 대개의 경우 고온 또는 저온 상태에서 테스트된다. 이러한 열적인 자극을 가하기 위해 소크챔버(113)가 구비되는 것이다.

테스트챔버(115)는 소크챔버(113)를 거쳐 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들이 테스트될 수 있는 공간을 제공한다. 이를 위해 테스터(TESTER)는 테스트챔버(115) 측으로 결합되어 있다.

연결장치(116)는 테스트챔버(115) 내의 테스트위치(TP)에 있는 테스트용 트레이(TT)의 전자부품들을 테스터(TERSTER)의 테스트소켓 측으로 가압하여 전자부품들이 테스트소켓에 전기적으로 연결될 수 있게 한다.

디소크챔버(117)는 테스트챔버(115)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품으로부터 열적인 자극을 제거하기 위해 마련된다. 따라서 디소크챔버(117) 내에서 열적인 자극이 제거된 전자부품은 언로딩장치(119)에 의해 테스트용 트레이(TT)로부터 적절히 언로딩될 수 있게 된다.

언로딩장치(119)는 언로딩위치(UP)로 온 테스트용 트레이(TT)로부터 전자부품들을 언로딩시키면서 회수위치(RP)에 있는 빈 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다.

참고로, 위의 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)는 테스트용 트레이(TT)의 위치를 기준으로 명칭되며, 테스트용 트레이(TT)에는 다수의 전자부품들이 적재될 수 있고, 이송장치(도시되지 않음)들에 의해 위의 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 로딩위치(LP)로 이어지는 폐쇄된 순환경로(C)를 따라 이송된다.

한편, 공급 스택커(120a, 120b)에는 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재되어 있다.

회수 스택커(121a 내지 121c)에는 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이(CT)들이 적재된다.

트랜스퍼장치(122)는 공급 스택커(120a, 120b)들로부터 운반용 트레이(CT)를 인출하여 공급위치(SP)로 공급하거나, 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)를 회수 스택커(121a 내지 121c)들로 회수한다. 이를 위해 트랜스퍼장치(122)는 운반용 트레이(CT)를 이동시키기 위한 적어도 하나의 트랜스퍼를 가진다.

위와 같은 구성을 가지는 핸들러(100)에서 테스트되어야 할 전자부품들은 운반용 트레이(CT)를 따라서 공급 스택커(120a, 120b)로부터 공급위치(SP)로 공급되고, 테스트가 완료된 전자부품들은 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)를 따라서 회수위치(RP)로부터 회수 스택커(121a 내지 121c)로 회수된다.

그런데, 위와 같은 종래의 핸들러(100)는 다음과 같은 문제점이 있다.

첫째, 공급 스택커(120a, 120b)에 적재될 수 있는 운반용 트레이(CT)의 개수가 한정되어 있으므로, 테스트되어야 할 전자부품들의 1랏(lot)의 물량이 많은 경우에는 여러 번에 걸쳐 핸들러(100)를 가동시켜야하므로 핸들러(100)의 가동률이 떨어진다.

둘째, 핸들러(100)의 1회 가동에 의해 처리될 수 있는 전자부품의 물량을 늘리려면 공급 스택커(120a, 120b) 및 회수 스택커(121a 내지 121c)를 더 많이 구비시켜야 하고, 이러한 경우 핸들러(100)의 규모가 그만큼 더 커진다.

한편, 대개의 경우 핸들러(100)는 서로 다른 랏의 물량들이 혼합되는 것을 방지하기 위해 1랏의 물량을 기준으로 1회 가동된다. 그런데, 반도체소자가 수십개씩 탑재된 모듈램과 같은 대형 전자부품은 최종 생산 제품에 특화되어 제작되기 때문에 1랏의 물량이 적다. 따라서 여러개의 랏 물량을 테스트하기 위해서는 핸들러(100)를 여러번 가동해야 되고, 이러한 점도 핸들러(100)의 가동률이 떨어트리는데 기여한다.

본 발명은 다음과 같은 목적을 가진다.

첫째, 핸들러의 규모 확대를 최소화시키면서도 핸들러의 1회 가동에 더 많은 양의 전자부품들이 테스트될 수 있는 기술을 제시한다.

둘째, 1회 가동에 의해 여러 랏의 전자부품들이 순차적으로 테스트될 수 있으면서도 서로 다른 랏의 전자부품들이 섞이지 않는 기술을 제시한다.

본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 공급위치에 있는 운반용 트레이로부터 로딩위치에 있는 테스트용 트레이로 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩시키는 로딩장치; 상기 로딩장치에 의해 로딩이 완료된 후 상기 로딩위치에서 테스트위치로 이동된 테스트용 트레이에 실린 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치; 전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 테스트위치에서 언로딩위치로 이동된 테스트용 트레이로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 언로딩시켜서 회수위치에 있는 운반용 트레이로 이동시키는 언로딩장치; 상기 공급위치로 공급될 운반용 트레이들이 적재될 수 있거나 상기 회수위치에서 회수되는 운반용 트레이들이 적재될 수 있는 될 수 있는 복수의 공급 및 회수 스택커; 상기 복수의 공급 및 회수 스택커로부터 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하고, 상기 공급위치에 있는 빈 운반용 트레이를 상기 회수위치로 이동시키며, 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 상기 복수의 공급 및 회수 스택커로 회수하는 트랜스퍼장치; 및 상기 트랜스퍼장치에 의해 공급위치에서 회수위치를 거쳐 상기 복수의 공급 및 회수 스택커로 회수될 개개의 운반용 트레이들을 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커로 그대로 회수되도록 상기 트랜스퍼장치를 제어하는 제어기; 를 포함한다.

상기 트랜스퍼장치에 의한 운반용 트레이의 이송 작업을 원활하게 하기 위해 운반용 트레이들을 대기시키기 위한 대기 스택커를; 더 포함하고, 상기 트랜스퍼장치는, 테스트되어야 할 전자부품이 실린 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하는 제1 트랜스퍼; 및 빈 운반용 트레이를 회수위치로 공급하고, 테스트가 완료된 전자부품이 실린 운반용 트레이를 회수위치로부터 회수하는 제2 트랜스퍼; 를 포함하며, 상기 제어기는 상기 공급위치 또는 상기 회수위치로 운반용 트레이를 공급하거나 상기 회수위치로부터 운반용 트레이를 회수할 때 필요에 따라서 상기 대기 스택커를 선택적으로 이용하도록 상기 제1 트랜스퍼 및 제2 트랜스퍼를 제어한다.

상기 복수의 공급 및 회수 스택커는 상기 대기 스택커를 사이에 두고 나누어 배치되며, 상기 제1 트랜스퍼는 상기 대기 스택커의 일 측에 있는 공급 및 회수 스택커, 상기 대기 스택커, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 일부의 공급 및 회수 스택커를 대상으로 운반용 트레이의 이송 작업을 담당하고, 상기 제2 트랜스퍼는 상기 대기 스택커, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 공급 및 회수 스택커를 대상으로 운반용 트레이의 이송 작업을 담당한다.

상기 대기 스택커의 일 측에 있는 공급 및 회수 스택커는 상기 공급위치의 전방에 위치하고, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 공급 및 회수 스택커는 상기 회수위치의 전방에 위치하며, 상기 공급 및 회수 스택커들 중 적어도 일부는 전후 방향으로 이동할 수 있고, 상기 제어기는 가동 시작 시에 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 일부의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이부터 상기 공급위치로 공급되도록 상기 제1 트랜스퍼를 제어한다.

또한, 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러의 운반용 트레이 이송방법은 수급 스택커로부터 인출된 운반용 트레이를 공급위치로 공급하는 공급단계; 상기 공급단계에서 상기 공급위치로 공급한 운반용 트레이로부터 전자부품이 모두 비워지면, 빈 운반용 트레이를 상기 공급위치에서 회수위치로 이송시키는 이송단계; 및 상기 회수위치로부터 운반용 트레이를 공급 및 회수 스택커로 회수하는 회수단계; 를 포함하고, 상기 회수단계는 운반용 트레이들을 복수개의 공급 및 회수 스택커들 중 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커로 그대로 회수한다.

상기 공급단계는 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 운반용 트레이를 직접 상기 공급위치로 공급하는 제1 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하거나, 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 운반용 트레이를 대기 스택커를 거쳐 상기 공급위치로 공급하는 제2 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하며, 상기 제1 이송흐름과 상기 제2 이송흐름에 따른 운반용 트레이의 이송은 공급 및 회수 스택커들의 위치나 트랜스퍼장치의 작업 상황 중 적어도 어느 하나에 의해 결정된다.

상기 이송단계는 운반용 트레이를 상기 공급위치에서 상기 대기 스택커를 거쳐 상기 회수위치로 이송시킨다.

상기 회수단계는 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 직접 상기 공급 및 회수 스택커로 회수하는 제1 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 회수하거나, 상기 회수위치에서 대기 스택커를 거쳐 공급 및 회수 스택커로 회수하는 제2 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 회수하며, 상기 제1 이송흐름과 상기 제2 이송흐름에 따른 운반용 트레이의 이송은 공급 및 회수 스택커들의 위치나 트랜스퍼장치의 작업 상황 중 적어도 어느 하나에 의해 결정된다.

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 공급용 스택커와 회수용 스택커를 통합함으로써 스택커가 운반용 트레이의 공급과 회수에 모두 이용되기 때문에, 핸들러의 1회 가동에 의해 테스트될 수 있는 전자부품의 물량을 최대화하여 핸들러의 가동률을 향상시키면서도 핸들러의 규모를 최소화시킬 수 있다.

둘째, 운반용 트레이 및 그에 실린 전자부품들이 원래 인출되었던 스택커로 그대로 회수되기 때문에, 스택커들 별로 구분하여 랏 물량을 적재시켜 놓으면 여러 랏의 물량들이 순차적으로 테스트되면서도 서로 다른 랏의 물량들이 섞이는 것이 방지된다. 따라서 핸들러의 1회 가동에 의해 여러 랏의 물량이 연속적으로 테스트될 수 있어서 핸들러의 가동률을 더욱 향상시킨다.

셋째, 대기 스택커를 구비함으로써 2개의 트랜스퍼가 적용되더라도 양 트랜스퍼 간의 간섭을 최소화시키면서 운반용 트레이의 물류가 원활하게 이루어질 수 있게 한다.

도 1은 종래의 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 4는 도 2의 핸들러에서 일부의 스택커가 전방으로 이동되는 기술을 설명하기 위한 참조도이다.
도 5 내지 도 10은 도 2의 핸들러에서 운반용 트레이가 이송되는 이송흐름을 설명하기 위한 참조도이다.

본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복 또는 실질적으로 동일한 구성에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.

< 핸들러에 대한 설명>

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러(200)에 대한 개념적인 평면도이다.

도 2의 핸들러(200)는 로딩장치(211), 식별코드 인식기(212), 소크챔버(213), 제1 로테이터(214), 테스트챔버(215), 연결장치(216), 디소크챔버(217), 제2 로테이터(218), 언로딩장치(219), 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들, 대기 스택커(221), 트랜스퍼장치(222), 라벨 프린터(223) 및 제어기(224)를 포함한다.

로딩장치(211)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 로딩시킨다. 이러한 로딩장치(211)는 로더(211a)와 로딩셔틀(211b)을 포함한다.

로더(211a)는 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 로딩셔틀(211b)의 로딩테이블(211b-1)로 전자부품들을 이동시키거나, 로딩테이블(211b-1)로부터 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 전자부품들을 이동시킨다. 물론, 실시하기에 따라서는 도 3에서와 같이 공급위치(SP)에 있는 운반용 트레이(CT)로부터 로딩테이블(211b-1)로 전자부품을 이동시키는 제1 로더(211a-1)와 로딩테이블(211b-1)로부터 로딩위치(LP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로 전자부품을 이동시키는 제2 로더(211a-2)가 각각 별개로 구비될 수도 있다.

로딩셔틀(211b)은 전후 방향으로 왕복 이동이 가능한 로딩테이블(211b-1)을 가진다. 즉, 로딩테이블(211b-1)은 그 이동에 의해 공급위치(SP)의 좌측에 위치되거나 로딩위치(LP)의 좌측에 위치될 수 있다. 이로 인해 로더(211a)에 의해 이동되는 전자부품들의 이동 거리를 최소화시켜 로딩속도를 향상시킬 수 있게 된다. 만일 신속한 로딩이 더욱 요구되는 경우에는 로딩셔틀(211b)에 복수개의 로딩테이블(211b-1)을 구비시킬 수도 있다. 그러나 반대로 상대적으로 테스트 시간이 길어서 로딩 속도가 빠를 필요가 없는 경우에는, 로딩셔틀(211b)을 구비하지 않고 로더(211a)가 운반용 트레이(CT)에서 테스트용 트레이(TT)로 직접 전자부품들을 이동시키도록 하는 구조도 충분히 고려될 있다.

식별코드 인식기(212)는 로딩테이블(211b-1)에 실린 전자부품들의 식별코드를 인식함으로써 전자부품 개개별로 그 이력 및 테스트 결과 등이 관리될 수 있게 한다. 여기서 식별코드는 바코드로 구비되는 것이 바람직하게 고려될 수 있으나, 식별코드가 반드시 바코드에 한정될 필요는 없다. 이러한 식별코드 인식기(212)에 의해 전자부품들의 식별코드가 읽힐 수 있도록, 전자부품들을 실은 로딩테이블(211b-1)은 전방에서 후방으로 이동할 때 식별코드 인식기(212)가 식별코드를 인식할 수 있는 위치에 잠시 정지하게 된다.

소크챔버(213)는 로딩위치(LP)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들에 열적인 자극을 가하기 위해 마련된다.

제1 로테이터(214)는 수평 상태의 테스트용 트레이(TT)를 수직 상태로 자세 변환시킨다. 즉, 본 실시예에 따른 핸들러(100)는 제1 로테이터(214)에 의해 테스트용 트레이(TT)가 수직으로 세워진 상태에서 테스트용 트레이(TT)에 실린 전자부품들이 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결될 수 있게 하는 수직식 핸들러이다.

테스트챔버(215)는 소크챔버(213)를 거쳐 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품들이 테스트될 수 있는 공간을 제공한다.

연결장치(216)는 테스트챔버(215) 내의 테스트위치(TP)에 있는 테스트용 트레이(TT)의 전자부품들을 테스터(TESTER)의 테스트소켓 측으로 가압하여 전자부품들이 테스트소켓에 전기적으로 연결될 수 있게 한다.

디소크챔버(217)는 테스트챔버(215)에서 온 테스트용 트레이(TT)에 적재된 전자부품으로부터 열적인 자극을 제거하기 위해 마련된다.

제2 로테이터(218)는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 언로딩시키기에 앞서 수직 상태의 테스트용 트레이(TT)를 다시 수평 상태로 자세 변환시킨다.

언로딩장치(219)는 언로딩위치(UP)로 온 테스트용 트레이(TT)로부터 전자부품들을 언로딩시키면서 테스트 결과에 따라 분류하여 회수위치(RP)에 있는 빈 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다. 이러한 언로딩장치(219)도 언로더(219a) 및 언로딩셔틀(219b)을 구비한다.

언로더(219)는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품을 테스트 결과에 따라 분류하면서 언로딩셔틀(219b)의 언로딩테이블(219b-1)로 이동시키거나, 언로딩테이블(219b-1)로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)로 이동시킨다. 마찬가지로 언로딩 속도를 높이기 위해, 로딩장치(211)에서와 같이 언로딩위치(UP)에 있는 테스트용 트레이(TT)로부터 테스트가 완료된 전자부품을 언로딩테이블(219b-1)로 이동시키는 제1 언로더와 언로딩테이블(219b-1)로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)로 이동시키는 제2 언로더로 나뉘어 구비될 수 있다.

언로딩셔틀(219b)은 전후 방향으로 왕복 이동이 가능한 언로딩테이블(219b-1)을 가진다. 물론, 언로딩테이블(219b-1)은 그 이동에 의해 언로딩위치(UP)의 좌측에 위치되거나 회수위치(RP)의 후방에 인접하게 위치될 수 있다. 또한, 언로딩 속도를 높이기 위해 언로딩테이블(219b-1)도 복수개로 구비될 수 있다.

본 실시예에 따른 핸들러(200)에서도 테스트용 트레이(TT)는 도시되지 않은 이송장치들에 의해 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 로딩위치(LP)로 이어지는 폐쇄된 순환경로(C)를 따라 이송된다.

공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들은 공급위치(SP)로 공급될 운반용 트레이(CT)들을 수납 적재하거나 회수위치(RP)에서 회수되는 운반용 트레이(CT)들을 수납 적재하기 위해 마련된다. 이러한 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들은 대기 스택커(221)를 사이에 두고 2개씩 나뉘어 배치된다. 따라서 부호 220a 및 220b의 공급 및 회수 스택커는 공급위치(SP)의 전방에 구비되고, 부호 220c 및 220d의 공급 및 회수 스택커는 회수위치(RP)의 전방에 구비된다. 물론, 실시하기에 따라서 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들은 2개 이상 구비되면 족하며, 대기 스택커(221)를 사이에 두고 나뉘는 개수도 다를 수 있다.

한편, 도 4에서와 같이 부호 220c 및 220d의 공급 및 회수 스택커는 레일(R)을 따라 전후 방향으로 이동될 수 있다. 이에 따라 작업자가 핸들러(200)의 내부로 진입하여 편리하게 부품의 교체나 수리 작업을 수행할 수 있다. 물론, 부호 220a 및 부호 220d의 공급 및 회수 스택커가 전후 방향으로 이동될 수 등 적어도 하나의 공급 및 회수 스택커가 전후 방향으로 이동되면 족하다.

대기 스택커(221)는 트랜스퍼장치(222)에 의한 운반용 트레이(CT)의 이송 작업을 원활하게하기 위해 운반용 트레이(CT)들이 잠기 대기할 수 있는 공간을 제공한다. 이러한 대기 스택커(221)에는 빈 운반용 트레이(CT)를 소정 개수 미리 적재시켜 놓을 수 있으며, 이러한 경우 빈 운반용 트레이(CT)는 불량 판정된 전자부품이나 리테스트가 필요한 전자부품을 담아 놓을 수 있는 용도로 활용될 수 있다.

트랜스퍼장치(222)는 운반용 트레이(CT)의 물류를 담당한다. 이를 위해 트랜스퍼장치(222)는 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)를 포함한다.

제1 트랜스퍼(222a)는 테스트되어야 할 전자부품이 실린 운반용 트레이(CT)를 공급위치(SP)로 공급한다. 이러한 제1 트랜스퍼(222a)는 대기 스택커(221)의 좌측에 있는 공급 및 회수 스택커(220a, 220b), 대기 스택커(221) 및 대기 스택커(221)의 우측에 있는 하나의 공급 및 회수 스택커(220c)를 대상으로 운반용 트레이(CT)의 이송 작업을 담당한다. 즉, 제1 트랜스퍼(222a)에서 운반용 트레이(CT)를 파지하거나 파지를 해제하는 파지헤드(222a-1)의 이동 구간은 도 2에서 참조되는 바와 같이 부호 220a의 공급 및 회수 스택커에서 부호 220c의 공급 및 회수 스택커까지의 구간(S₁)이다.

제2 트랜스퍼(222b)는 빈 운반용 트레이(CT)를 회수위치(RP)로 공급하고, 테스트가 완료된 전자부품이 실린 운반용 트레이(CT)를 회수위치(RP)로부터 회수한다. 이러한 제2 트랜스퍼(222b)는 대기 스택커(221), 대기 스택커(221)의 우측에 있는 공급 및 회수 스택커(220c, 220d)를 대상으로 운반용 트레이(CT)의 이송 작업을 담당한다. 따라서 제2 트랜스퍼(222b)에 구성된 파지헤드(222b-1)의 이동 구간은 도 2에서 참조되는 바와 같이 대기 스택커(221)에서 부호 220d의 공급 및 회수 스택커까지의 구간(S₂)이다.

참고로 위의 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)와 대기 스택커(221)는 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)의 구성 및 작업의 간소화를 위해 승강 가능하게 구비되는 것이 바람직하게 고려될 수 있다.

위의 제1 트랜스퍼(222a) 및 제2 트랜스퍼(222b)의 구체적인 작동과 대기 스택커(221)의 구체적인 역할에 대해서는 후술한다.

라벨 프린터(223)는 랏 정보나 테스트 결과에 따른 정보를 라벨에 프린트 하고, 해당 라벨을 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이(CT)에 부착시킨다. 라벨이 운반용 트레이(CT)에 부착될 때 운반용 트레이(CT)는 제2 트렌스퍼(222b)에 의해 파지된 상태를 유지한다. 여기서 테스트가 완료된 전자부품들은 라벨 프린터(223)에 의해 라벨이 부착된 운반용 트레이(CT)에 담긴 채로 고객들에게 납품된다.

제어기(224)는 공급위치(SP)에서 회수위치(RP)를 거쳐 공급 및 회수 스택커(220a/220b/220c/220d)로 회수될 개개의 운반용 트레이(CT)들을 개개의 운반용 트레이(CT)들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커(220a/220b/220c/220d)로 그대로 회수되도록 제1 트랜스퍼(222a) 및 제2 트랜스퍼(222b)를 제어한다. 또한, 제어기(225)는 공급위치(SP) 또는 회수위치(RP)로 운반용 트레이(CT)를 공급하거나 회수위치(RP)로부터 운반용 트레이(CT)를 회수할 때 필요에 따라서 대기 스택커(221)를 선택적으로 이용하도록 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)를 제어한다. 그리고 가동 시작 시에 대기 스택커(221)의 우측에 있는 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)부터 공급위치(SP)로 공급되도록 제1 트랜스퍼(222a)를 제어한다.

계속하여 위와 같은 구성들을 가지는 핸들러(200)에서 이루어지는 운반용 트레이(CT)의 이송방법에 대하여 설명한다.

< 핸들러의 운반용 트레이 이송방법에 대한 설명 >

1. 제1 이송작업

제1 이송작업은 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)의 이송작업이다.

도 5 내지 도 8은 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)의 이송흐름이다.

먼저 도 5를 참조하면, 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 직접 공급<S111>될 수 있다. 그리고, 전자부품들이 로딩테이블(211b-1)로 모두 이동되면, 비워진 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 회수위치(RP)로 공급<S112>된다. 회수위치(RP)에서 운반용 트레이(CT)로 테스트가 완료된 전자부품들이 모두 채워지면 제2 트랜스퍼(222b)가 회수위치(RP)로부터 운반용 트레이(CT)를 회수한다. 그리고 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수된 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 파지된 상태로 라벨프린터(223) 측으로 이송<S113>되고, 라벨프린터(223)에 의해 라벨이 부착된 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 처음 인출되었던 부호 220의 공급 및 회수 스택커로 이송<S114>된다.

도 6을 참조하면, 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 직접 공급<S121>된 후, 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 대기 스택커(221)로 이송<S122>된다. 그리고, 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 비워진 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수위치(RP)로 공급<S123>되고, 차후 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수위치(RP)에서 회수된 후 라벨프린터(223) 측을 거쳐<SS124> 부호 220c의 공급 및 회수 스택커로 이송<S125>된다.

또한 도 7을 참조하면, 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 대기 스택커(221)로 이송<S131>되고, 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 공급<S132>된다. 그리고, 공급위치(SP)에서 전자부품들이 비워진 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)에서 회수위치(RP)로 공급<S133>된 후, 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수되어 라벨프린터(223) 측을 거쳐<S134> 부호 220c의 공급 및 회수 스택커로 이송<S135>된다.

이어서 도 8을 참조하면, 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 대기 스택커(221)로 이송<S141>되고, 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 공급<S142>된다. 공급위치(SP)에서 전자부품들이 비워진 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)에서 대기 스택커(221)로 이송<S143>된다. 그리고 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수위치(RP)로 공급<S144>된 후, 다시 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수되어 라벨프린터(223) 측을 거쳐<S145> 부호 220c의 공급 및 회수 스택커로 이송<S146>된다.

위의 도 5 내지 도 8의 이송흐름은 선택적으로 이루어질 수 있다. 즉, 제어기(224)는 현재 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)의 작업 상황이나 상호의 간섭 방지를 고려하여 도 5 내지 도 8의 이송흐름 중 어느 하나의 이송흐름으로 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있던 운반용 트레이(CT)의 이송 작업이 이루어지도록 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)를 제어한다.

1. 제2 이송작업

제2 이송작업은 부호 220d의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)의 이송작업이다. 제2 이송작업은 위의 도 7의 이송흐름과 유사하다.

도 9를 참조하면, 부호 220d의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 대기 스택커(221)로 이송<SS211>되고, 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 공급<S212>된다. 그리고, 공급위치(SP)에서 전자부품들이 비워진 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)에서 회수위치(RP)로 공급<S213>된 후, 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수되어 라벨프린터(223) 측을 거쳐<S214> 부호 220d의 공급 및 회수 스택커로 이송<S215>된다.

마찬가지로, 위의 도 8과 같은 이송흐름과 유사하게, 제2 이송작업은 공급위치(SP)에서 비워진 운반용 트레이(CT)를 대기 스택커(221)을 거쳐 회수위치(RP)로 공급하는 이송흐름을 가질 수도 있다.

3. 제3 이송작업

제3 이송작업은 부호 220a의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)의 이송작업이다.

도 10을 참조하면, 부호 220a의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 공급위치(SP)로 공급<S311>된 후 전자부품들이 비워진 상태에서 회수위치(RP)로 공급<S312>된다. 그리고, 제2 트랜스퍼(222b)에 의해 회수위치(RP)로부터 회수된 후 라벨프린터(223) 측을 거쳐<S313> 대기 스택커(221)로 이송<S314>된다. 이어서 대기 스택커(221)에서 대기하고 있던 운반용 트레이(CT)는 제1 트랜스퍼(222a)에 의해 부호 220a의 공급 및 회수 스택커로 이송<S315>된다. 여기서도 공급위치(SP)에서 회수위치(RP)로 이송되는 과정에서 운반용 트레이(CT)가 대기 스택커(221)을 거칠 수도 있다.

3. 제4 이송작업

제4 이송작업은 부호 220b의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이(CT)의 이송작업이다. 이러한 제4 이송작업에서도 제3 이송작업과 유사한 이송흐름으로 운반용 트레이(CT)들의 이송이 이루어질 수 있다. 즉, 부호 220b의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있던 운반용 트레이(CT)는 부호 220b의 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 후 공급위치(SP), [대기 스택커(221)], 회수위치(RP), 라벨프린터(223) 측, 대기 스택커(221)을 거쳐 부호 220b의 공급 및 회수 스택커로 되돌아오는 이송흐름으로 이송될 수 있다.

즉, 위의 제1 내지 제4 이송작업을 살펴보면, 개개의 모든 운반용 트레이(CT)들은 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커(220a/220b/220c/220d)로 그대로 회수되는 것이다.

또한, 운반용 트레이(CT)들이 대기 스택커(221)을 거치지 않는 이송흐름으로 이송되거나, 대기 스택커(221)을 거치는 이송흐름으로 이송될 수 있다. 이 때, 제어기(224)에 의한 이송흐름의 선택은 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들의 위치, 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b)의 현재의 작업 상황 또는 양자 간의 간섭 방지를 고려하여 결정될 수 있다.

한편, 위의 이송작업들을 간략하게 설명하면, 첫째, 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)에 있는 운반용 트레이(CT)들이 직접 공급위치(SP)로 공급되거나 대기 스택커(221)을 거쳐 공급위치(SP)로 공급될 수 있고, 둘째, 공급위치(SP)에 있는 비워진 운반용 트레이(CT)가 회수위치(RP)로 직접 이송되거나 대기 스택커(221)을 거쳐 이송될 수 있으며, 셋째, 회수위치(RP)에서 회수된 운반용 트레이(CT)가 직접 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)로 이송되거나 대기 스택커(221)을 거쳐 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)로 이송될 수 있다.

<참고 사항>

1. 위의 실시예는 수직식 핸들러를 예로 들어 설명하고 있지만, 본 발명은 테스트용 트레이(TT)가 수평인 상태에서 해당 테스트용 트레이(TT)에 실린 전자부품이 테스터와 전기적으로 연결되는 수평식 핸들러에도 얼마든지 적용 가능하다. 물론, 수평식 핸들러에서는 위의 실시예에서 언급한 제1 로테이터(214)와 제2 로테이터(218)가 생략된다.

2. 본 발명에 따른 핸들러(100)에 의하면, 운반용 트레이(CT)들이 인출되었던 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)로 그대로 회수되고 테스트가 완료된 전자부품들 또한 처음 담아졌었던 운반용 트레이(CT)로 그대로 담기기 때문에 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)들 각자에 서로 다른 랏의 전자부품들이 수납되어 있더라도 서로 다른 랏의 전자부품들이 섞여서 회수되는 것이 방지된다. 즉, 운반용 트레이(CT)를 게재하여 부호 220a와 부호 220b 공급 및 회수 스택커에는 제1 랏 의 전자부품들이 수납되고, 부호 220c 및 부호 220d의 공급 및 회수 스택커에는 제2 랏의 전자부품들이 수납될 수 있는 것이다. 따라서 본 발명은 1랏의 물량이 적은 모듈램의 테스트를 지원하는 핸들러에 특히 적절히 적용될 수 있다.

3. 만일 전자부품들을 테스트용 트레이(TT)로 로딩하는 로딩 시간이나 전자부품을 테스트용 트레이(TT)로부터 언로딩하는 언로딩 시간에 비하여 테스트 시간이 상대적으로 긴 경우에는 운반용 트레이(CT)의 이송이 신속히 이루어질 필요가 없다. 이러한 경우 하나의 트랜스퍼만 구비되어도 족할 수 있으며, 대기 스택커(221)는 생략될 수 있다.

4. 위의 실시예에서는 제1 이송작업 내지 제4 이송작업을 나누어 설명하고 있지만, 각각의 이송작업들이 서로 중첩되게 이루어질 수 있다. 예를 들면, 제1 트랜스퍼(222a)가 부호 220c의 공급 및 회수 스택커로부터 운반용 트레이(CT)를 공급위치(SP)로 공급하는 작업이 이루어질 때, 제2 트랜스퍼(222b)가 부호 220d의 공급 및 회수 스택커로부터 운반용 트레이(CT)를 대기 스택커(221)로 미리 이송시켜 놓는 작업을 수행하도록 프로그램화될 수 있다. 물론, 제2 트랜스퍼(222b)의 작업은 로딩장치(211)에 의한 로딩 작업의 상황이나 제1 트랜스퍼(222a)의 위치 등을 고려하여 제1 트랜스퍼(222a)와 제2 트랜스퍼(222b) 간에 상호 작업 간섭이 발생하지 않는 범위 내에서 수행되어져야 할 것이다.

5. 위의 제1 이송작업 내지 제4 이송작업은 편의상 순서를 붙였으나, 반드시 본 설명에서 매긴 번호의 순서에 따라 이송작업이 이루어질 필요는 없다. 예를 들며, 구체적인 실시 태양에 따라서 부호 220a의 공급 및 회수 스택커 또는 부호 220d의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)가 가장 먼저 공급위치(SP)로 공급될 수 있는 것이다. 즉, 전제 가동 시간을 가장 줄일 수 있는 순서대로 제1 이송작업 내지 제4 이송작업의 선후가 결정되면 족하다.

다만, 본 실시예에서는 제1 이송작업이 가장 먼저 이루어지는 경우를 상정하였다. 왜냐하면, 로딩 작업에 비하여 테스트 결과에 따른 분류작업까지 포함된 언로딩 작업이 더 시간이 오래 걸리는데, 이에 의해 전단의 작업(공급위치로 운반용 트레이를 공급하는 작업, 로딩 작업, 테스트용 트레이를 순환 이동시키는 작업 등)들이 정체될 수밖에는 없기 때문이다. 즉, 초기 작업 시에 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)를 공급 및 회수 스택커로 신속하게 이동시킬 수 있어야 전단의 작업이 더 빨리 이루어질 수 있게 되는 것이다. 따라서 핸들러(100)의 가동 초기에 회수위치(RP)에 있는 운반용 트레이(CT)가 공급 및 회수 스택커(220a 내지 220d)로 가장 빠르게 회수될 수 있도록 부호 220c의 공급 및 회수 스택커에 적재되어 있는 운반용 트레이(CT)들부터 공급위치(SP)로 공급되게 한 것이다.

6. 실시하기에 따라서는 로더(211a)와 언로더(219b)의 대기 시간을 최소화시키기 위해 공급위치(SP)와 회수위치(RP)는 각각 복수일 수 있다.

7. 위의 실시예에서는 도 2의 핸들러(200)에서 이루어질 수 있는 다양한 운반용 트레이의 이송흐름 중 극히 일부의 이송흐름만을 제시하였다. 따라서 프로그램을 어떻게 구성하느냐에 따라 위에서 설명된 이송흐름 외에도 더 다양한 이송흐름들이 가능할 것이다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어져야 할 것이다.

200 : 전자부품 테스트용 핸들러
211 : 로딩장치
216 : 연결장치
219 : 언로딩장치
220a 내지 220d : 공급 및 회수 스택커
221 : 대기 스택커
222 : 트랜스퍼장치
222a : 제1 트랜스퍼
222b : 제2 트랜스퍼
224 : 제어기

Claims (8)

1. 공급위치에 있는 운반용 트레이로부터 로딩위치에 있는 테스트용 트레이로 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩시키는 로딩장치;
   상기 로딩장치에 의해 로딩이 완료된 후 상기 로딩위치에서 테스트위치로 이동된 테스트용 트레이에 실린 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결장치;
   전자부품들의 테스트가 완료된 후 상기 테스트위치에서 언로딩위치로 이동된 테스트용 트레이로부터 테스트가 완료된 전자부품들을 언로딩시켜서 회수위치에 있는 운반용 트레이로 이동시키는 언로딩장치;
   상기 공급위치로 공급될 운반용 트레이들이 적재될 수 있거나 상기 회수위치에서 회수되는 운반용 트레이들이 적재될 수 있는 될 수 있는 복수의 공급 및 회수 스택커;
   상기 복수의 공급 및 회수 스택커로부터 테스트되어야 할 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하고, 상기 공급위치에 있는 빈 운반용 트레이를 상기 회수위치로 이동시키며, 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 상기 복수의 공급 및 회수 스택커로 회수하는 트랜스퍼장치; 및
   상기 트랜스퍼장치에 의해 공급위치에서 회수위치를 거쳐 상기 복수의 공급 및 회수 스택커로 회수될 개개의 운반용 트레이들을 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커로 그대로 회수되도록 상기 트랜스퍼장치를 제어하는 제어기; 를 포함하는
   전자부품 테스트용 핸들러.
2. 제1 항에 있어서,
   상기 트랜스퍼장치에 의한 운반용 트레이의 이송 작업을 원활하게 하기 위해 운반용 트레이들을 대기시키기 위한 대기 스택커를; 더 포함하고,
   상기 트랜스퍼장치는,
   테스트되어야 할 전자부품이 실린 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하는 제1 트랜스퍼; 및
   빈 운반용 트레이를 회수위치로 공급하고, 테스트가 완료된 전자부품이 실린 운반용 트레이를 회수위치로부터 회수하는 제2 트랜스퍼; 를 포함하며,
   상기 제어기는 상기 공급위치 또는 상기 회수위치로 운반용 트레이를 공급하거나 상기 회수위치로부터 운반용 트레이를 회수할 때 필요에 따라서 상기 대기 스택커를 선택적으로 이용하도록 상기 제1 트랜스퍼 및 제2 트랜스퍼를 제어하는
   전자부품 테스트용 핸들러.
3. 제2 항에 있어서,
   상기 복수의 공급 및 회수 스택커는 상기 대기 스택커를 사이에 두고 나누어 배치되며,
   상기 제1 트랜스퍼는 상기 대기 스택커의 일 측에 있는 공급 및 회수 스택커, 상기 대기 스택커, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 일부의 공급 및 회수 스택커를 대상으로 운반용 트레이의 이송 작업을 담당하고,
   상기 제2 트랜스퍼는 상기 대기 스택커, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 공급 및 회수 스택커를 대상으로 운반용 트레이의 이송 작업을 담당하는
   전자부품 테스트용 핸들러.
4. 제3 항에 있어서,
   상기 대기 스택커의 일 측에 있는 공급 및 회수 스택커는 상기 공급위치의 전방에 위치하고, 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 공급 및 회수 스택커는 상기 회수위치의 전방에 위치하며,
   상기 공급 및 회수 스택커들 중 적어도 일부는 전후 방향으로 이동할 수 있고,
   상기 제어기는 가동 시작 시에 상기 대기 스택커의 타 측에 있는 일부의 공급 및 회수 스택커에 적재된 운반용 트레이부터 상기 공급위치로 공급되도록 상기 제1 트랜스퍼를 제어하는
   전자부품 테스트용 핸들러.
5. 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 운반용 트레이를 공급위치로 공급하는 공급단계;
   상기 공급단계에서 상기 공급위치로 공급한 운반용 트레이로부터 전자부품이 모두 비워지면, 빈 운반용 트레이를 상기 공급위치에서 회수위치로 이송시키는 이송단계; 및
   상기 회수위치로부터 운반용 트레이를 공급 및 회수 스택커로 회수하는 회수단계; 를 포함하고,
   상기 회수단계는 운반용 트레이들을 복수개의 공급 및 회수 스택커들 중 개개의 운반용 트레이들이 각자 인출되었던 공급 및 회수 스택커로 그대로 회수하는
   전자부품 테스트용 핸들러의 운반용 트레이 이송방법.
6. 제5 항에 있어서,
   상기 공급단계는 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 운반용 트레이를 직접 상기 공급위치로 공급하는 제1 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하거나, 공급 및 회수 스택커로부터 인출된 운반용 트레이들을 대기시키기 위한 대기 스택커를 거쳐 상기 공급위치로 공급하는 제2 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 상기 공급위치로 공급하며,
   상기 제1 이송흐름과 상기 제2 이송흐름에 따른 운반용 트레이의 이송은 공급 및 회수 스택커들의 위치나 트랜스퍼장치의 작업 상황 중 적어도 어느 하나에 의해 결정되는
   전자부품 테스트용 핸들러의 운반용 트레이 이송방법.
7. 제5 항에 있어서,
   상기 이송단계는 운반용 트레이를 상기 공급위치에서 운반용 트레이들을 대기시키기 위한 대기 스택커를 거쳐 상기 회수위치로 이송시키는
   전자부품 테스트용 핸들러의 운반용 트레이 이송방법.
8. 제5 항에 있어서,
   상기 회수단계는 운반용 트레이를 상기 회수위치에서 직접 상기 공급 및 회수 스택커로 회수하는 제1 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 회수하거나, 상기 회수위치에서 운반용 트레이들을 대기시키기 위한 대기 스택커를 거쳐 공급 및 회수 스택커로 회수하는 제2 이송흐름에 따라 운반용 트레이를 회수하며,
   상기 제1 이송흐름과 상기 제2 이송흐름에 따른 운반용 트레이의 이송은 공급 및 회수 스택커들의 위치나 트랜스퍼장치의 작업 상황 중 적어도 어느 하나에 의해 결정되는
   전자부품 테스트용 핸들러의 운반용 트레이 이송방법.

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