CN105765338A - 柔性设备形变测量 - Google Patents

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Abstract

监测柔性电子装置的形变。检测至少两个测量点之间的装置内的空间变化；以及基于至少两个测量点之间的装置内的空间变化来确定装置的形变程度。

Description

柔性设备形变测量
技术领域
本发明总体上涉及柔性电子设备，并且特别地而非排他性地涉及测量柔性电子设备的形变。
背景技术
电子设备可以由弹性、柔性或可弯曲材料制成，从而使得能够产生柔性电子设备。柔性电子设备也可以由刚性材料制成。例如，在履带链中以结合点组合很多刚性部件产生可以用于产生柔性电子设备的柔性结构。柔性电子设备可以包括通过使设备形变来控制的功能。
发明内容
根据本发明的第一示例方面，提供了一种方法，其包括：
监测柔性电子装置的形变；其中形变的上述监测包括：
检测至少两个测量点之间的装置内的空间的变化；以及
基于所检测的至少两个测量点之间的装置内的空间的变化来确定装置的形变程度。
根据本发明的第二示例方面，提供了一种装置，其包括：被配置成允许装置的形变的装置结构；
被配置成检测至少两个测量点之间的装置内的空间的变化的检测设备；以及
被配置成基于所检测的至少两个测量点之间的装置内的空间的变化来确定装置的形变程度的处理单元。
根据本发明的第三示例方面，提供了一种包括计算机代码的计算机程序产品，计算机代码在由装置执行时用于引起基于所检测的至少两个测量点之间的装置内的空间的变化来确定柔性电子装置的形变程度。另外，在另外的示例中，计算机程序产品包括在由装置执行时引起执行本发明的一个或多个示例实施例的方法的计算机代码。
根据本发明的第四示例方面，提供了一种包括本发明的第三示例方面的计算机程序的非暂态存储介质。
以上已经说明了本发明的不同的非限制性示例方面和实施例。以上实施例仅用于解释可以在本发明的实现中使用的所选择的方面或步骤。一些实施例可以仅参考本发明的某些示例方面来呈现。应当理解，对应实施例也可以应用于其他示例方面。
附图说明
将参考附图仅作为示例来描述本发明，在附图中：
图1a示出了根据本发明的示例实施例的装置的示意性前视图；
图1b示出了根据本发明的示例实施例的装置的示意性侧视图；
图2示出了根据本发明的示例实施例的装置的示意性框图；
图3a示出了非弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置的横截面侧视图；
图3b示出了弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置的横截面侧视图；
图4a示出了稍微弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置的横截面侧视图；
图4b示出了强烈弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置的横截面侧视图；
图5示出了根据本发明的示例实施例的装置的示意性前视图；
图6示出了图5的装置的线A-A上的横截面视图；
图7示出了片-孔结构的示意性视图；
图8图示片-孔结构的根据本发明的示例实施例的测量；以及
图9示出了图示根据本发明的示例实施例的方法的流程图。
具体实施方式
参考附图中的图1a至9来理解本发明的一些示例实施例和潜在优点。
柔性电子设备可以由设备的用户(暂时地)形变为不同的形状。设备的中性位置通常平坦。设备可以形变为很多不同形状，诸如凹陷形、凸起形、扭曲形、S和Z形、J和L形等。一个设备可以被配置成形变为一个或多个不同的形状。
在一个示例实施例中，柔性设备被配置成通过使设备形变来被控制。通过例如将设备弯曲或扭曲成不同形状可以控制设备进行某个动作(不同形状引起设备执行不同动作)。用户例如可以将设备弯曲以缩放或者将设备扭曲以浏览列表。这样的功能需要确定设备的形变程度使得能够确定要进行哪个动作。例如，需要知道设备的形变的方向和量以实现对设备的这样的运动(kinetic)控制(通过使设备形变进行的控制)。
柔性设备结构可以包括若干功能层和/或部件。这样的层通常具有有限的伸展和压缩能力。当目标弯曲或扭曲时，最远离中性平面的部分需要最大程度地伸展或压缩。弯曲一个厚的目标比弯曲同样厚的若干薄的目标的堆叠更困难。薄的目标也比厚的目标经历小的应力。因此，可能更可行的是，使得柔性设备的两个或多个薄层能够抵着彼此滑动而非将其绑在一起成为一个厚的目标。在示例实施例中，提供了一种装置，其包括两个或多个平行板或层，这些板或层被允许在平行方向上关于彼此移动以实现装置的形变。
柔性设备中的形变检测可以通过使用以下中的一个或多个来实现：电阻传感器、例如弯曲传感器、应变仪、压电部件和压电膜。这些测量的共同点在于，传感器本身与弯曲的设备一起弯曲并且传感器必须面对由于设备的形变而产生的张力和应力。因此，传感器的循环耐久性受到限制。并非所有这些测量方法都一定适合用于在移动设备中使用，或者没有小型化和大量制造的驱动电路系统可用于所有这些测量方法。还有一个问题是，将传感器在机械上和电气上附接至形变部分的可靠性。因此，需要开发另外的用于柔性设备的形变检测的解决方案以及特别是适合柔性移动设备(诸如移动电话、平板计算机以及其他手持式和可移动的用户设备)的解决方案。
根据本发明的示例实施例，柔性设备的形变感测或监测通过检测在设备的形变期间设备内(例如某些测量点之间或者设备的某些部分之间/内)的空间的变化以及通过基于这些变化确定设备的形变程度(即确定设备的形状)来实现。在示例实施例中，本文中提及的测量点指代空间中在物理上不同的位置。在替选示例中，测量点指代时域中不同的测量点。
在实施例中，空间的变化通过测量设备的部分的相对移动或者某些测量点关于彼此的相对移动来检测。例如，检测形成设备的设备盖或层的相对移动(例如滑动)，或者检测一个装置部分或结构的相对表面上的测量点的相对移动。
在实施例中，空间的变化通过测量刚性部件或部分之间、刚性和柔性部件或部分之间、柔性部件或部分之间和/或弹性材料内、或者某些测量点之间的间隙的变化(或者距离的变化)来测量。
在实施例中，空间的变化通过检测刚性部件或部分之间、刚性和柔性部件或部分之间、柔性部件或部分和/或弹性材料内的间隙或接触、和/或通过检测设备的盖上的间隙或接触、和/或某些测量点之间的间隙或接触来检测。
在实施例中，空间的变化通过测量设备的部分之间或者弹性材料内、或者某些测量点之间经历的力来检测。
在实施例中，使用非接触测量用于检测装置内的空间的变化。例如，使用磁体和磁力计。替选地，使用电容和电感测量。技术人员理解，也可以使用其他非接触测量技术。
在示例实施例中，装置包括触摸屏，并且触摸屏用于形变感测。触摸屏的电容环境很有可能由于装置的形变而发生变化，并且这一变化可以用于检测形变。在示例实施例中，接地金属面至少部分地放置在触摸屏下面的单独的层上，该层在装置形变时关于电容触摸屏滑动。以这一方式，确保了在装置的形变期间触摸屏的电容环境发生变化。以这一方式，现有的触摸屏可以用于实现电容感测。在示例实施例中，触摸屏电极网格中可以有一个测量点并且触摸屏的周围的某个地方(例如在触摸屏下面的层上)可以有另一测量点。然后可以检测到这些测量点之间的空间的变化(例如测量点之间的电容属性的变化)并且将其用于确定装置的形变程度。
图1a示出了根据本发明的示例实施例的装置100的示意性前视图，图1b示出了根据本发明的示例实施例的装置100的示意性侧视图。装置100例如是平板计算机、个人数字助理、智能电话、媒体播放器、电子书阅读器、显示器或平板电视。根据示例实施例的装置100包括在装置的至少一个表面上的用户界面单元110，诸如触敏显示器。在示例实施例中，装置包括正面130、背面120和四个侧面140、150。在示例实施例中，装置100基本上为矩形。
触敏显示器110包括用于检测用户在其上或附近的触摸的触摸传感器。在示例实施例中，触摸传感器包括电阻、表面声波、电容——诸如表面电容、投射电容、互电容、或者自电容——红外、光、色散信号和/或声脉冲识别触摸传感器或者其阵列。技术人员理解，在另外的示例实施例中，用户界面单元包括另外的元件，诸如硬件或软件按钮或另外的显示单元。在另外的示例实施例中，用户界面单元110被玻璃窗覆盖。在另外的示例实施例中，装置100用另外的方法来控制，诸如通过语音识别，通过跟踪用户的眼睛移动，通过识别用户的面部表情，或者通过识别用户的移动或姿势。
图2示出了示例实施例的装置100的示意性框图。装置100包括通信接口模块250、耦合至通信接口模块250的处理器240以及耦合至处理器240的存储器260。装置还包括输入/输出(I/O)单元230、测量单元280和用户界面(U/I)单元110，诸如触敏显示器，这些单元耦合至处理器240。
存储器260包括工作存储器和非易失性存储器，诸如只读存储器、闪存存储器、光或磁存储器。在存储器260中，通常至少初始在非易失性存储器中，存储有可操作以加载到处理器240中并且由处理器240来执行的软件270。软件270可以包括一个或多个软件模块，并且可以是作为存储在存储介质中的软件的计算机程序产品的形式。在本文档的上下文中，“存储介质”可以是能够包含、存储、通信、传播或传输用于由或者结合指令执行系统、装置或设备(诸如计算机)来使用的指令的任何非暂态介质或装置。
应当理解，本文档中的任何耦合指代功能或操作耦合；耦合的元件之间可以存在中间部件或电路系统，除非另外明确描述。
通信接口模块250被配置成通过一个或多个本地链路提供本地通信。链路可以是有线和/或无线链路。通信接口250可以另外地或者替选地实现适合用于与其他用户建立链路或者用于数据传送(例如使用因特网)的通信链路。这样的电信链路可以是使用以下中的任何一项的链路：无线局域网链路、蓝牙、超宽带、蜂窝或卫星通信链路。通信接口250可以集成到装置100中或者集成到适配器或卡中，适配器或卡可以插入到装置100的合适的槽或端口中。虽然图2示出了一个通信接口250，然而装置可以包括多个通信接口250。在另外的示例实施例中，装置100还包括近场通信(NFC)单元。
测量单元280被配置成执行用于检测装置100的形变(即检测形状或形式的变化)的测量。在示例实施例中，测量单元280被配置成测量装置内的空间的变化，诸如例如装置的部分之间或内的距离的变化或者至少两个测量点之间的空间的变化。在示例实施例中，测量单元280包括至少一个磁体和磁力计对。在另一实施例中，测量单元280包括只一个电感传感器或电容传感器。在示例实施例中，用户界面单元110中包括的触摸屏通过测量电容环境的变化来作为测量单元280来操作。
处理器240比如是中央处理单元(CPU)、微处理器、数字信号处理器(DSP)、图形处理单元、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列、微控制器或者这样的元件的组合。图2示出了一个处理器240，但是装置100可以包括多个处理器。在示例实施例中，处理器240被配置成处理由测量单元280提供的测量结果以检测装置的形变。替选地，测量单元可以包括被配置成处理测量结果并且向处理器240告知装置已经发生形变的功能。在示例实施例中，处理器被配置成响应于装置被弯曲或者形变来改变装置的操作模式，例如从省电模式变为浏览模式，或者接收用户输入或者进行某个其他动作。
如以上所提及的，存储器260可以包括易失性和非易失性存储器，诸如只读存储器(RAM)、可编程只读存储器(PROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、随机存取存储器(RAM)、闪存存储器、数据盘、光存储装置、磁存储装置或智能卡。在一些示例实施例中，装置100中仅存在易失性或非易失性存储器。另外，在一些示例实施例中，装置包括多个存储器。在一些示例实施例中，集成了各种元件。比如，存储器260可以被构造为装置100的部分，或者例如被插入到槽或端口中。另外，存储器260可以仅服务存储数据的目的，或者其可以被构造为服务其他目的的装置的部分，诸如处理数据。类似的选项也可考虑用于各种其他元件。
技术人员理解，除了图2所示的元件，装置100可以包括其他元件(诸如麦克风、显示器)以及另外的电路系统(诸如相机单元、另外的输入/输出(I/O)电路系统、存储器芯片、专用集成电路(ASIC)、用于特定目的的处理电路系统(诸如源编码/解码电路系统、信道编码/解码电路系统和加密/解密电路系统))。另外，装置100可以包括用于在外部供电不可用的情况下对装置供电的一次性或可再充电电池(未示出)。
还有用的是，认识到术语装置在本文档中在变化的范围内使用。在更广的权利要求和示例中的一些中，装置可以仅涉及图2中呈现的特征的子集或者甚至在没有图2的特征中的任何一个的情况下来实现。在示例实施例中，术语装置指代处理器240。
图3a和3b分别示出了在未弯曲位置和弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置的示意性侧视图。装置包括前盖或顶盖或A盖330以及后盖或底盖或B盖320。柱340以及滑动触点351和352将盖320和330接合在一起使得能够实现盖关于彼此的平行移动。盖320和330完全或者部分包括柔性结构，从而使得用户能够对装置进行形变。柔性可以由弹性或弹力材料的使用或者通过机械结构(诸如图7所示的片-孔结构或者由链接的机械部件制成的履带状结构)来提供以使得能够改变结构的形状。盖320和330可以由例如塑料、薄玻璃、薄金属或弹性体制成。
装置300还包括通过连接物321-324附接至B盖320的电部件331-334。电部件可以包括例如电池、印刷线路板(PWB)。连接物可以是例如螺钉或者其他接合元件。在示例实施例中，电部件可以是刚性部件。替选地，电子部件中的一些或全部可以是弹力的或者弹性的。技术人员理解，在示例实施例中，装置300的前盖或顶盖包括触摸屏或显示器并且还可能包括另外的结构(为了可理解性而没有示出)。技术人员理解，在示例实施例中，电部件中的一些或全部附接至A盖330而非B盖320。
在示例实施例中，装置300包括在盖320和330之间的空间中的弹力内部结构(未示出)。弹力内部结构在示例实施例中包括弹力材料，诸如胶体、弹性体、泡沫、橡胶或硅树脂。在另外的示例实施例中，弹力内部结构除了或者代替弹力材料还包括弹力结构，诸如中空、编织或盘绕结构、或者例如薄的织物聚合物的折叠薄膜。
当装置300如图3b所示弯曲时，电部件331-334与盖320和330之间的距离410变化。在示例实施例中，装置包括被配置成测量这些距离的变化、即测量装置300的部分之间的空间变化的一个或若干电容/电感传感器。这些变化然后可以用于定义装置在特定时刻300的形状。
图3a示出了测量设备的对，一个测量设备352位于电部件331中，另一测量设备351位于A盖330中。在示例实施例中，这些测量设备被配置成用于确定装置300的部分之间的空间或距离的变化或者装置300内的空间的变化，并且这些变化然后可以用于定义装置300在特定时刻的形状。
在示例实施例中，测量设备352是磁力计并且测量设备351是磁体。技术人员理解，代替磁体-磁力计对，电子部件331-334可以包括一个或若干磁力计并且A盖330可以包括一个或若干磁体。在另一实施例中，测量设备352是电感传感器的线圈，测量设备351是电感传感器的传导对应部分。在另一实施例中，测量设备352是电容传感器的电极，测量设备351是电容传感器的第二电极或者电容传感器的传导对应部分。
为了清楚的目的，图3a中仅示出了一个测量设备对，但是技术人员理解，可以存在多个测量设备并且它们不一定成对实现。相反，可以有例如不同数目的磁体和磁力计。
另外，注意，虽然图3a示出了位于装置的不同部分中的测量设备，然而技术人员理解，在一些其他示例中，相等的测量设备也可以用于测量一些其他测量点之间的变化。作为示例，这样的测量点可以位于一个部分或装置结构的不同表面上。
图4a示出了在稍微弯曲位置的根据本发明的示例实施例的装置400的横截面侧视图。装置包括被配置成在装置形变(例如弯曲)时关于彼此滑动的两个层440和420。层440和420包括测量点441和421，测量点441和421包括被配置成测量或检测测量点之间的空间的变化(诸如层关于彼此的移动)的测量设备。图4b示出了在强烈弯曲位置的图4a的装置400。可见，图4b中的测量点441和421之间的距离不同于图4a中的相应距离。在示例实施例中，这一距离的变化可以用于检测装置的形变。
注意，技术人员理解，图4a和4b的装置400可以包括比所示的两层更多的层。另外地或者替选地，层可以包括图4a和4b中未示出的部件。
在替选实施例中，图4a和4b的层440和420图示一个柔性部分的相对表面。另外，在这种情况下，基于测量点441和421之间的空间的变化来检测装置形变。在这种情况下，测量点441和421之间的空间的变化涉及表面440和420关于彼此的移动。
图5示出了根据本发明的示例实施例的装置500的示意性前视图，图6示出了图4所示的线A-A上的装置500的示意性横截面侧视图。装置500在某种程度上是图3a-4b的装置300和400的替选，并且技术人员理解，结合图3a-4b讨论的任何实施例也可以适用于装置500。装置500包括前盖或顶盖或A盖530以及后盖或底盖或B盖520。柱540和滑动触头552将盖520和530接合在一起。盖子520和530完全或部分包括柔性结构，从而使得用户能够对装置进行形变。柔性可以通过弹性或弹力材料的使用或者通过机械结构(诸如图7所示的片-孔结构)来提供以使得能够改变结构的形状。
装置500还包括在装置内在形成在盖520与530之间的空间中的电部件531-535。在示例实施例中，电部件是刚性部件。替选地，电子部件中的一些或全部可以是弹力或弹性的。部件532和534附接至B盖520，部件533和535附接至A盖530。
类似于图3a和3b所示的示例，在示例实施例中，装置500包括在盖520和530之间的空间中的弹力内部结构(未示出)。在示例实施例中，在装置被形变时，间隙610中的弹性材料抵着部件533和534压缩并且装置的形变程度基于所测量的在装置500内经历的力、张力、表面压力或流体压力来确定。可以有被配置成测量力的压力传感器或其他合适的传感器。在示例实施例中，在装置内有响应于装置的形变来改变其体积的气体或流体密封腔体。以这一方式，实现了流体压力测量并且通过检测腔体内的气体或流体经历的压力变化来检测装置内的空间变化。
在各种示例实施例中，检测至少两个测量点之间的空间变化。特别地，在涉及测量力或压力的变化的示例实施例中，测量点不一定是不同的物理位置但是是时域的不同点。也就是，可以仅有一个物理测量点并且在其之间检测变化的不同测量点是不同的时间点。
技术人员理解，根据本发明的一些实施例的装置可以由两个或多个平行板形成，诸如图3-6的盖320、330、520和530，这些板与一个或多个接合点接合在一起，接合点使得板能够平行移动并且限制这些板之间的分离(尤其是在竖直方向上的分离但是在某种程度上也限制平行方向上的分离)。允许被放置在装置内部的任何部件关于平行板中的至少一个移动。
图7示出了片-孔(tab-and-hole)结构的示意性视图。结构包括松散地装配到孔710中的多个片(tab)720。片的松散装配使得在不折断结构的情况下能够弯曲或扭曲结构。结构可以由刚性或弹力材料制成。
图8图示在片-孔结构中的根据本发明的示例实施例的测量。在本发明的实施例中，距离d1-d4表示相应孔中片的位置，并且测量这些距离并且检测这些距离的任何变化用于确定结构(或者包括结构的装置)的形变程度。
图9示出了图示根据本发明的示例实施例的方法的流程图。方法可以例如由先前附图的装置100、300、400或500来执行。在方法的阶段910，装置执行监测装置的形变。这一监测例如在装置被打开或使用时持续地执行。装置可以包括根据需要关闭这一监测的功能，但是这样的特征不以任何方式是强制的。
在阶段920，检测装置内的空间变化。例如，检测至少两个测量点之间的空间变化。如同在先前的示例中所提及的，测量点可以位于被包括在装置中的不同的部分中或者被包括在装置中的一个部分的不同表面上。在后一种情况下，测量点之间的空间可以完全在装置的该一个部分内。在这种情况下，检测或测量该部分内的变化。使用以下机制中的一个或多个来检测变化：
921：检测或测量测量点的相对移动。可以在装置的不同部分之间或者在装置的一个部分的不同表面之间或者在装置的一个部分的任两个层之间检测相对移动。
922：测量测量点之间的间隙或距离的变化。
923：检测测量点之间的间隙或接触的出现或存在。测量点之间的接触指代其中测量点(例如包括测量点的装置的部分)彼此触碰(即测量点之间的最小距离为零)的情况。如果测量点之间的最小距离大于零，则测量点之间存在间隙。
924：检测测量点之间经历的力或者力的变化。在不同的实施例中，可以检测部分之间或者部分内的力的变化。另外地或者替选地，可以检测测量点之间经历的压力的变化。
技术人员理解，可以代替或者除了在此列出的机制来使用其他用于检测测量点之间的空间变化的机制。
在阶段930，基于所检测的变化确定形变程度(例如形变的方向或量)。
注意，本发明的各种实施例中提及的测量点可以位于装置的不同部分上。在示例实施例中，测量点位于装置内部。在示例实施例中，测量点中的至少一个位于装置的盖上。在示例实施例中，测量点位于一个装置结构或部分的不同(例如相对的)表面上。在示例实施例中，测量点位于装置的不同部分上。在示例实施例中，测量点位于装置的不同内部部分上。在示例实施例中，测量点位于装置的一个部分内。
在不以任何方式限制以下呈现的权利要求的范围、解释或应用的情况下，本文中公开的示例实施例中的一个或多个的技术效果是提供用于形变检测的持久的解决方案。本发明的各种实施例的解决方案使得能够使用非接触测量，从而不需要必须经历形变的应力以便提供测量信号的测量传感器。也就是，在各种实施例中，不需要对用于检测设备的形变的传感器施加应力。这与使用例如应变仪传感器相比是有利的，由于经历由形变引起的力，应变仪传感器倾向于不时地中断。注意，技术人员理解，虽然本发明的某些实施例中的测量涉及测量形变部分内的变化(例如位于形变部分的相对侧的测量点之间的距离)，但是测量的属性使得所使用的测量设备不必应变或形变。各种实施例中的测量可以在某些点上执行，并且不需要对于形变结构的整个长度的测量。
本文中所公开的示例实施例中的一个或多个的另一技术效果是成本降低。成本降低例如由于不需要实现用于对装置盖中的数据线供电以测量形变的电连接来实现。本文中所公开的示例实施例中的一个或多个的另一技术效果在于容易实现，因为驱动磁力计和电容/电感传感器的电子部件已经在移动设备中出于其他目的被使用。本文中所公开的示例实施例中的一个或多个的另一技术效果在于减少了柔性电子设备中所需要的部件的数目。作为示例，单个磁体和2轴磁力计能够测量由弯曲和扭曲引起的形变。作为比较，最少需要三个应变仪用于相同的测量。本文中所公开的示例实施例中的一个或多个的另一技术效果在于容易集成，因为能够使用成本有效且小的传感器，其可以直接安装在设备的引擎板上。
根据需要，可以按照不同顺序和/或彼此同时地执行本文中所讨论的不同功能。另外，根据需要，以上描述的功能中的一个或多个可以是可选的或者可以对其进行组合。
虽然独立权利要求中给出了本发明的各个方面，然而本发明的其他方面包括来自所描述的实施例和/或从属权利要求的特征与独立权利要求的特征的其他组合，而非仅在权利要求中明确给出的组合。
本文中还注意，虽然以上描述了本发明的示例实施例，然而这些描述不应当在限制意义上来理解。相反，存在可以在不偏离如所附权利要求中定义的本发明的范围的情况下做出的若干变型和修改。

Claims (24)

1.一种方法，包括：
监测柔性电子装置的形变；其中对形变的所述监测包括：
检测至少两个测量点之间的所述装置内的空间的变化；以及
基于所检测到的所述至少两个测量点之间的所述装置内的所述空间的变化来确定所述装置的形变程度。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少两个测量点位于所述装置的至少两个不同部分中，其中所述至少两个部分被配置成相对于彼此移动以允许所述柔性电子装置的形变。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少两个测量点位于所述装置的一个形变部分的不同表面上。
4.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少两个测量点位于所述装置内部。
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述两个测量点中的至少一个测量点位于所述装置的盖部分上。
6.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少两个测量点是时域中的不同点。
7.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述至少两个测量点关于彼此的相对移动。
8.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述至少两个测量点之间的距离的变化。
9.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述至少两个测量点之间的间隙。
10.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述至少两个测量点之间的接触。
11.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述至少两个测量点之间经历的力的变化。
12.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述装置内经历的压力的变化。
13.根据权利要求1所述的方法，其中所述装置在所述装置内包括填充有流体和气体中的任一项的腔体，并且对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述腔体内的所述流体和所述气体中的任一项经历的压力的变化。
14.根据权利要求1所述的方法，其中所述装置包括在所述至少两个测量点之间的弹性材料，并且对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述弹性材料内的变化。
15.根据权利要求1所述的方法，其中对所述装置内的空间的变化的所述检测通过使用非接触测量技术来执行。
16.根据权利要求1所述的方法，其中所述装置包括触摸屏，并且对所述装置内的空间的变化的所述检测包括检测所述触摸屏的电容环境的变化。
17.一种装置，包括：
装置结构，被配置成允许所述装置的形变；
检测设备，被配置成检测至少两个测量点之间的所述装置内的空间的变化；以及
处理单元，被配置成基于所检测的所述至少两个测量点之间的所述装置内的所述空间的变化来确定所述装置的形变程度。
18.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备被配置成检测所述至少两个测量点之间的距离的变化。
19.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备被配置成检测在所述至少两个测量点之间引起的力的变化。
20.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备包括非接触测量设备。
21.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备包括至少一个磁体和磁力计对。
22.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备包括至少一个电容传感器。
23.根据权利要求17所述的装置，其中所述检测设备包括至少一个电感传感器。
24.根据权利要求17所述的装置，还包括被配置成提供用户界面的至少一个触摸屏，并且所述触摸屏被配置成作为所述检测设备来操作并且检测所述触摸屏的电容环境的变化、所述装置内的空间变化。
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