CN105224209A - 电子设备及其信息处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备及其信息处理方法，电子设备包括：至少一个电容单元，用于产生至少两组信号，其中，所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变；传输单元，与所述至少一个电容单元连接，用于获取所述至少两组信号，所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形。通过本发明，能够获取在任意情况下都能够获取表征电容单元是否发生变形的信号，从而能够基于获取的数据解析电子设备是否接收到操作、以及解析接收到的操作的特征。

Description

电子设备及其信息处理方法

技术领域

本发明涉及检测电子设备的检测技术，尤其涉及一种电子设备及其信息处理方法。

背景技术

目前，电子设备的一些应用场景中需要检测电子设备是否接收到特定形式的操作，如被按压或被握持进行特定方式的运动(如甩动)，相关技术通常是利用电子设备中设置传感器(如重力传感器、陀螺仪)或触控面板等检测电子设备的运动状态来判断电子设备是否接收到特定形式的操作(如按压、甩动等)，不仅需要相当的实施成本，并且容易出现误判的情况(因为电子设备的运动并不都是由于电子设备受到按压引起的)；而利用触控面板的方式仅能检测到导体触控或按压的情况，如果佩戴手套或使用绝缘体按压触控面板时，电子设备无法检测到按压；

综上，对于获取在任意情况下都能够获取信号，以用于解析电子设备是否接收到操作、以及解析接收到的操作的特征，相关技术尚无有效解决方案。

发明内容

本发明实施例提供一种电子设备及其信息处理方法，能够获取在任意情况下都能够表征电容单元是否发生变形的信号，以用于解析电子设备是否接收到操作、以及解析接收到的操作的特征。

本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个电容单元，用于产生至少两组信号，其中，所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变；

传输单元，与所述至少一个电容单元连接，用于获取所述至少两组信号并进行传输，所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形。

优选地，所述电子设备还包括：

壳体，具有容置空间，用于容置所述至少一个电容单元和所述传输单元；

所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到的外力使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力导致所述外力传导至所述电容单元，使所述电容单元因感应到所述传导的外力而使所述电容单元内部的电介质发生变形，或者，因所述壳体的至少第一部分感应到外力而与所述壳体同步发生惯性变更的运动，因所述惯性变更的运动而使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力使所述壳体上承载所述电容单元的第一区域发生变形时，或者使所述壳体内部承载所述电容单元的部件发生变形时，使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电容单元，设置于所述壳体的所述第一区域，还用于因所感应到所述壳体的所述第一区域的变形传导的外力而使所述电容单元中电介质发生变形，并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电子设备还包括支撑件，设置于所述壳体的所述容置空间中，用于作为承载所述电容单元的所述部件，并因感应到所述壳体的至少第一部分发生的变形所传导的外力而发生变形；

所述电容单元，还用于因所述支撑件的变形所传导的外力使所述电容单元中电介质发生变形，并因所述电介质变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电子设备还包括刚性支撑件，设置于所述壳体的容置空间中，用于设置所述电容单元，以使所述电容单元相对于所述壳体的位置固定；

所述壳体还用于在所述壳体的至少第一部分感应到所述外力时，因所述外力而发生导致惯性变更的运动，使所述电容单元与所述壳体同步发生所述惯性变更的运动；

所述电容单元，还用于所发生的惯性变更的运动使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

优选地，所述电子设备还包括：

处理单元，与所述传输单元连接，用于基于所述至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化量，和/或，基于所述第一组信号、所述第二组信号相对于参考信号的变化量，判断所述电容单元的形态发生的变化；

所述处理单元，还用于基于所述至少一个电容单元的形态的变化量与参考变化量的比较结果，确定所述电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征。

本发明实施例还提供一种信息处理方法，所述方法包括：

电子设备中的至少一个电容单元产生至少两组信号，其中，所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变；

传输所获取的所述至少两组信号，以基于所述至少两组信号确定所述电容单元是否发生变形。

优选地，所述基于所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形，包括：

基于所述至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化，和/或，基于所述第一组信号、所述第二组信号相对于参考信号的变化量，判断所述至电容单元的形态发生的变化；

所述方法还包括：基于所述至少一个电容单元的形态的变化量与参考变化量的比较结果，确定所述电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征。

本发明实施例中，电子设备中设置有电容单元，并由传输单元将从电容单元获取的信号进行传输，例如传输至处理单元，处理单元可以为电子设备的应用处理器、协处理器、专用集成电路(ASIC)或逻辑可编程门阵列(FPGA)等，使处理单元可以基于信号的变化判定出电容单元是否发生变形，进而能够判断出是否接收到特定形式的操作(如按压和甩动等)以及操作的特征。

附图说明

图1为本发明实施例中电子设备的功能结构示意图一；

图2为本发明实施例中电子设备的功能结构示意图二；

图3为本发明实施例中电容单元的结构示意图；

图4为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图一；

图5为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图二；

图6为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图三；

图7为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图四；

图8为本发明实施例中电容单元的设置示意图一；

图9为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图五；

图10为本发明实施例中电容单元的设置示意图二；

图11为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图六；

图12为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图七；

图13为本发明实施例中电容单元的设置示意图三；

图14为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图八；

图15为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图九；

图16为本发明实施例中电容单元的设置示意图四；

图17为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十；

图18为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十一；

图19为本发明实施例中电容单元的设置示意图五；

图20为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十二；

图21为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十三；

图22为本发明实施例中电容单元的设置示意图六；

图23为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十四；

图24为本发明实施例中电容单元内部电解质变形的示意图十五；

图25为本发明实施例中信息处理方法的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。

本发明实施例中记载的电子设备，可以以各种形式来实施，例如，电子设备可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑或穿戴式设备(如智能手表等)。

本发明实施例记载的电子设备包括壳体，壳体中具有容置空间，参见图1，容置空间中包括：

至少一个电容单元，用于产生至少两组信号，电容单元产生的信号因电容单元的形态而改变，具体来讲，是由于电容内部的电介质发生变形而产生压电效应，使电容单元输出与未发生变形时不同的信号(电压信号)，上述的电容单元可以是为实施本发明而在电子设备中专门设置的电容单元，也可以是复用的电子设备中为实现特定功能(如滤波、掉电保护)而设置的电容单元。

参见图1，电子设备还包括传输单元，与至少一个电容单元连接，用于获取电容单元输出的至少两组信号，图1中示出的传输单元与电容单元的连接可以是与每个电容单元分别连接，参见图2，传输单元与电容单元的连接还可以是传输单元与至少一个电容单元的整体的信号输出端连接，此时电容单元之间可以采用并联或串联的形式；可选地，传输单元可以将电容单元输出信号传输至电子设备中的预处理单元(电容单元与预处理单元之间设置的传输单元可以是模拟信号的传输介质)，由预处理单元对信号进行预处理(如信号放大、模数转换)的功能，并继续通过传输单元将预处理后的信号传输至电子设备中的处理单元(预处理单元与处理单元之间的传输单元可以是电子设备中的数据传输总线)进行分析，以确定电容单元是否发生变形。

上述的至少两组信号是在不同的时刻所获得，至少两组信号用于表征在不同时刻电容单元是否发生变形，处理单元基于对至少两组信号的分析(例如通过比较第一组信号相对于第二组信号的变化的方式，或者通过比较至少两组信号与参考信号的方式)来判断出电容单元是否发生变形，并基于发生变形的特征(如变形的频率、变形的幅度)等综合判断出电子设备是否接收到特定形式的操作(如按压、甩动等)，以及接收到操作的特征(如操作的力度、操作的频率等)。

例如输出一组相对参考信号的变化量超出预设值的一组信号时，则判定接收到一次按压操作，输出一组相对参考信号的变化量未超出预设值的一组信号时，判定该信号是由于电子设备的电噪声导致的，不予处理；再例如，可以基于输出信号相对参考信号的变化量确定操作的力度(操作的力度与变化量正相关，也就是操作的力度越大则变化量越大)；

实际应用中，电子设备可以基于接收到操作的特征(如操作的力度、使用操作的频率)进行不同方式的响应，例如运行不同的应用，或切换到不同的工作状态等。

基于上述记载的电子设备，电子设备中设置有电容单元，并由传输单元将电容单元输出的信号进行传输，例如传输至处理单元，处理单元可以为电子设备的应用处理器、协处理器、专用集成电路(ASIC)或逻辑可编程门阵列(FPGA)等，使处理单元可以基于信号的变化判定出电容单元是否发生变形，进而判断出是否接收到特定形式的操作(如按压和甩动等)以及操作的特征，克服了相关技术通过设置专用的传感器不能广泛适用所有场景的限制，并且无需在电子设备中设置专用的传感器，使电子设备的功耗更低，提升了电子设备的续航性能，并且，在使用的电容单元为电子设备中为实现特定功能(如滤波、掉电保护)而设置的电容单元时，也不需要在电子设备中专门设置电容单元来实施本发明，这就进一步降低了电子设备的制造成本。

下面从不同的角度再对电容单元内部的电介质发生变形的触发进行说明。

一、从触发电容单元中的电介质发生变形的外力的类型的角度，包括以下两种情况：

情况1、电子设备壳体的至少第一部分感应到外力，导致外力在电子设备中进行了传导，最终传导至电容单元，使电容单元因感应到传导的外力而使电容单元内部的电介质发生变形，有以下几种示例：

1)电容单元固定设置在壳体的第一区域，当壳体的至少第一部分感应到外力时导致壳体的第一区域发生变形，变形传导的外力使固定设置第一区域的电容单元内部的电介质发生变形。

2)壳体的至少第一部分感应到外力发生变形时，与壳体内部承载电容单元的部件(例如电路板等支撑件)形成接触导致部件发生变形，部件发生变形传递的外力使电容单元中的电介质发生变形。

3)壳体的至少第一部分感应到外力发生变形时，外力通过可以传递至壳体内部承载电容单元的部件上使部件发生变形，部件发生变形传递的外力使电容单元中的电介质发生变形。

对于上述示例1)至示例3)中电介质的变形可以参见图3至图5，图3示出使用电子设备中的部件(如壳体、电路板等支撑件)承载的电容单元，帽端之间设置有电介质；参见图4和图5，当承载电容单元的部件感应到在电子设备中传导的外力(如按压或按压壳体在电子设备中传导的外力时，电容单元中的电介质因受到来自端帽的压力发生变形。

情况2、电子设备壳体的至少第一部分感应到外力而发生惯性变更的运动(如用户握持电子设备壳体的至少第一部分而进行来回甩动)，并且，电容单元相对于壳体是固定设置(例如固定设置与壳体上，或固定设置与壳体内部的部件上)，使电容单元与壳体同步发生惯性变更的运动，参见图4和图5，因惯性变更的运动而使电容单元内部的电介质发生变形，并电介质的变形触发压电效应而输出与壳体的至少第一部分未感应到外力时不同的信号。

对于上述情况2中电介质的变形可以参见图6和图7，当电容单元相对与电子设备的壳体固定设置(也就是此时电容单元不受在在电子设备中传导的外力的影响)时，电子设备壳体的至少第一部分受力导致发生惯性改变的运动(例如来回甩动)发生变形，导致电介质发生压电效应而输出(至少一组)与未发生变形前不同的电压信号。

二、从触发电容单元中电介质发生变形的对象的角度，以下两种情况：

情况1，壳体的至少第一部分感应到外力使壳体上承载电容单元的第一区域发生变形(变形可能是用于传导外力的，也可能不用于传导外力而仅仅是因为握持壳体进行惯性变更的运动时产生的)，进而使电容单元内部的电介质发生变形，有以下几种示例：

1)电容单元固定设置在壳体的第一区域，当壳体的至少第一部分感应到外力时导致壳体的第一区域发生变形，变形传导的外力使固定设置第一区域的电容单元内部的电介质发生变形。

对于上述示例1)中电介质的变形的实现，可以参见图3至图5，这里不再赘述。

2)电容单元固定设置在电子设备中(例如固定设置在壳体上，或固定设置在壳体内部的刚性支撑件上)，壳体的至少第一部分感应到外力发生变形时，因所发生的变形传导的外力而发生导致惯性变更的运动，使电容单元与壳体同步发生惯性变更的运动，电容单元因所发生的惯性变更的运动使电容单元中电介质发生变形。

对于上述示例2)的电介质的变形的实现，可以参见图6至图7，这里不再赘述。

情况2，壳体的至少第一部分感应到外力，导致壳体内部承载电容单元的部件(电容单元固定设置在部件上，部件可以为电路板等支撑件)发生变形，因发生的变形所传导的外力使电容单元内部的电介质发生变形，有以下两种示例：

1)壳体的至少第一部分感应到外力发生变形时，与壳体内部承载电容单元的部件形成接触导致部件发生变形，部件发生变形传递的外力使电容单元中的电介质发生变形。

2)壳体的至少第一部分感应到外力发生变形时，外力通过可以传递至壳体内部承载电容单元的部件上使部件发生变形，部件发生变形传递的外力使电容单元中的电介质发生变形。

对于上述示例1)、示例2)中电介质的变形的实现，可以参见图3至图5，这里不再赘述。

基于上述记载的电子设备的结构，再结合具体示例对电容单元在电子设备中不同设置方式、以及电容单元中的电介质发生变形的具体实现进行说明，需要指出的是，后续示例中均以电子设备中设置一个电容单位为例进行说明，对于两个以上电容单元的设置与一个电容单元的设置情况是类似的，为节约篇幅不再展开说明。

具体示例1

参见图8示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元，用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图8中未示出)；

参见图9，当外力按压壳体的第一部分时，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，由于电容单元是固定设置在壳体上的，使变形传导的外力传导至电容的帽端，使电容单元内部的电介质发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号；

本示例中优选方案是电容单元在壳体上设置位置与壳体感应到外力的第一部分对应，此时能够输出准确反映实施外力的操作的特征的信号；

当然，当电容单元在壳体的设置位于没有与第一部分完全对应(设电容单元设置在壳体的第二部分)时，如果壳体的第一部分感应到外力，壳体中除第一部分之外的部分(包括第二部分)也会发生变形(变形的幅度小于第一部分)，第二部分发生形变传导外力使电容单元内部的电介质也会发生变形，从而输出与电介质未发生变性前不同的信号。

具体示例2

参见图10示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元，用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图10中未示出)；

参见图11和图12，当外力按压壳体的第一部分时(也就是图11在握持部分实施外力以握持壳体)，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，同时壳体外力的作用下发生运动惯性改变的运动，图11和图12中以上下甩动为例，由于电容单元是固定设置在壳体的内壁上的，因而壳体的帽端与壳体同步运动，而电介质会在惯性作用下发生变形，而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号。

具体示例3

参见图13示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元和刚性支撑件，传输单元用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图13中未示出)，刚性支撑件上设置有电容单元；

参见图14和图15，当外力按压壳体的第一部分时(也就是图14在握持部分实施外力以握持壳体)，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，同时壳体外力的作用下发生运动惯性改变的运动，图14和图15中以上下甩动为例，由于电容单元是固定设置在刚性支撑件上的，因而壳体的帽端与壳体同步运动，而电介质会在惯性作用下发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号。

具体示例4

参见图16示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元和支撑件(图16中以电路板为例)，传输单元用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图16中未示出)，支撑件上设置有电容单元；

参见图17，当外力按压壳体的第一部分时，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，使外力通过壳体可以传递至壳体内部承载电容单元的支撑件上从而使支撑件发生变形，支撑件发生变形传递的外力使电容单元中的电介质发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号；

本示例中优选方案是电容单元在支撑件上的设置位置与壳体感应到外力的第一部分对应，此时能够输出准确反映实施外力的操作的特征的信号；

当然，参见图18，当电容单元在支撑件的设置位置没有与第一部分完全对应时，如果壳体的第一部分感应到外力，外力可以通过壳体的整体性变形传递至壳体内部承载电容单元的支撑件上使支撑件发生变形，变形产生的外力仍然可以使电容单元内部的电介质也会发生变形(变形的幅度小于图17电介质变形的幅度)，从而输出与电介质未发生变性前不同的信号。

具体示例5

参见图19示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元和支撑件(图19中以电路板为例)，传输单元用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图19中未示出)，支撑件上设置有电容单元；

参见图20和图21，当外力按压壳体的第一部分时，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，与设置在支撑件的电容单元形成接触，使电容单元中的电介质发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号；

本示例中优选方案是电容单元在支撑件上的设置位置与壳体感应到外力的第一部分对应，此时能够输出准确反映实施外力的操作的特征的信号；

当然，当电容单元在壳体的设置位于没有与第一部分完全对应(设电容单元设置在壳体的第二部分)时，如果壳体的第一部分感应到外力，当壳体的第一区域与支撑件的电容单元形成接触时，仍然会使电容单元中的电介质发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号。

具体示例6

参见图22示出的电子设备，包括壳体，壳体中形成有容置空间，容置空间中设置传输单元和支撑件(图22中以电路板为例)，传输单元用于连接设置在壳体内壁上的电容单元和容置空间中的处理单元(图22中未示出)，支撑件上设置有电容单元；

参见图23和图24，当外力按压壳体的第一部分时(也就是图23在握持部分实施外力以握持壳体)，导致壳体中设置有电容单元的第一区域发生变形，同时壳体外力的作用下发生运动惯性改变的运动，由于支撑件是具有弹性的，在壳体运动过程中由于惯性的作用会发型变形，变形传导的外力使电容单元中的电介质发生变形而产生压电效应，输出与未发生变形前不同的信号。

结合上述示例可以看出，本发明实施例是基于电容单元的不同形态输出的信号来判断电容单元是否变形，进一步可以判断出电子设备是否被操作(如敲击)等，由于电容单元的形态变化是一种在物理形态上的变化，因此对触发电容单元形态发生改变的力的类型没有限制，不管是人体直接对电子设备实施外力，还是握持绝缘体或导体来对电子设备实施外力，只要外力能够使电容单元内部的电介质发生形变而输出与不同的形态状态对应的信号，就可以检测出电容单元发生形变；

同理，实施本发明对环境没有特定要求，只要环境(如温度、湿度等)能够支持常规的电子元器件工作，就可以基于电容单元输出的信号来判断电容单元是否发生变形，进而可以基于形态的变化量确定电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征(例如是否接收到敲击以及敲击的频率、持续时间等)；对于在不能使电子设备中的电子元器件正常工作的特殊环境，如果针对电子设备所处的特殊环境进行防护，如进行防水保护之后在水下使用，则电子设备仍然可以基于电容单元的形态变化检测操作。

上述示例中，电容单元输出与未发生变形前不同的信号，参见图25，也就是实现了电子设备中的至少一个电容单元产生至少两组信号(步骤101)，其中，电容单元产生的信号因电容单元的形态而改变；具体来说，电容单元中电介质的变形幅度与电容单元输出信号相对与参考信号(例如电子设备处于未操作状态时电容单元输出的信号)的变化量成正相关关系，电容单元中电介质的变幅度越大，则电容单元输出信号相对与参考信号的变化量也越大。

电子设备的壳体中设置的传输单元传输从电容单元获取的至少两组信号(步骤102)，例如传输至电子设备的壳体中设置的处理单元，以供电子设备中的处理单元基于至少两组信号确定电容单元是否发生变形。

作为一个示例，可以基于至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化，和/或，基于第一组信号、第二组信号相对于参考信号((例如电子设备处于未操作状态时电容单元输出的信号))的变化，判断至电容单元的形态发生的变化。

处理单元在确定电容单元是否发生变形之后，可以基于至少一个电容单元的形态发生的变化与参考变化量的比较结果，确定电子设备是否接收到操作、例如电容单元的形态的变化量与参考变化量(参考变化量可以采用多个，不同的参考变化量与不同的操作力度对应)比较，基于与参考变化量的比较结果确定操作的力度，结合接收到操作的频率，可以对实施外力的操作进行预定的响应；例如实现连续按压、单次按压的区别响应(运行不同的应用，或切换到不同的工作状态，再例如实现轻力度按压和重力度按压的区别响应(如运行不同的应用，或切换到不同的工作状态)。

本发明实施例中，电子设备中设置有电容单元，并由传输单元将电容单元输出的信号进行传输，例如传输至处理单元，处理单元可以为电子设备的应用处理器、协处理器、专用集成电路(ASIC)或逻辑可编程门阵列(FPGA)等，使处理单元可以基于信号的变化判定出电容单元是否发生变形，进而判断出是否接收到特定形式的操作(如按压和甩动等)以及操作的特征，克服了相关技术通过设置专用的传感器不能广泛适用所有场景的限制，并且无需在电子设备中设置专用的传感器，使电子设备的功耗更低，提升了电子设备的续航性能，也降低了电子设备的制造成本。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个电容单元，用于产生至少两组信号，其中，所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变；

传输单元，与所述至少一个电容单元连接，用于获取所述至少两组信号并进行传输，所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形。

2.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

壳体，具有容置空间，用于容置所述至少一个电容单元和所述传输单元；

所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到的外力使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

3.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，

所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力导致所述外力传导至所述电容单元，使所述电容单元因感应到所述传导的外力而使所述电容单元内部的电介质发生变形，或者，因所述壳体的至少第一部分感应到外力而与所述壳体同步发生惯性变更的运动，因所述惯性变更的运动而使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

4.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，

所述电容单元，用于因所述壳体的至少第一部分感应到外力使所述壳体上承载所述电容单元的第一区域发生变形时，或者使所述壳体内部承载所述电容单元的部件发生变形时，使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形触发压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

5.如权利要求4所述的电子设备，其特征在于，

所述电容单元，设置于所述壳体的所述第一区域，还用于因所感应到所述壳体的所述第一区域的变形传导的外力而使所述电容单元中电介质发生变形，并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

6.如权利要求4所述的电子设备，其特征在于，

所述电子设备还包括支撑件，设置于所述壳体的所述容置空间中，用于作为承载所述电容单元的所述部件，并因感应到所述壳体的至少第一部分发生的变形所传导的外力而发生变形；

所述电容单元，还用于因所述支撑件的变形所传导的外力使所述电容单元中电介质发生变形，并因所述电介质变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

7.如权利要求4所述的电子设备，其特征在于，

所述电子设备还包括刚性支撑件，设置于所述壳体的容置空间中，用于设置所述电容单元，以使所述电容单元相对于所述壳体的位置固定；

所述壳体还用于在所述壳体的至少第一部分感应到所述外力时，因所述外力而发生导致惯性变更的运动，使所述电容单元与所述壳体同步发生所述惯性变更的运动；

所述电容单元，还用于所发生的惯性变更的运动使所述电容单元内部的电介质发生变形，并因所述电介质的变形发生压电效应而输出与所述壳体的至少第一部分未感应到所述外力时不同的信号。

8.如权利要求1至7任一项所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

处理单元，与所述传输单元连接，用于基于所述至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化量，和/或，基于所述第一组信号、所述第二组信号相对于参考信号的变化量，判断所述电容单元的形态发生的变化；

所述处理单元，还用于基于所述至少一个电容单元的形态的变化量与参考变化量的比较结果，确定所述电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征。

9.一种信息处理方法，其特征在于，所述方法包括：

电子设备中的至少一个电容单元产生至少两组信号，其中，所述电容单元产生的信号因所述电容单元的形态而改变；

传输所获取的所述至少两组信号，以基于所述至少两组信号确定所述电容单元是否发生变形。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少两组信号用于确定所述电容单元是否发生变形，包括：

基于所述至少两组信号中的第一组信号相对于第二组信号的变化，和/或，基于所述第一组信号、所述第二组信号相对于参考信号的变化量，判断所述至电容单元的形态发生的变化；

所述方法还包括：基于所述至少一个电容单元的形态的变化量与参考变化量的比较结果，确定所述电子设备是否接收到操作、以及接收到操作的特征。