CN105551411A - 一种短路点分析方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的实施例提供一种短路点分析方法，属于电子技术领域，用于解决现有技术中的短路点分析方法效率低的问题。该方法包括：首先使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线；然后将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。本发明的实施例用于短路点的查找。

Description

一种短路点分析方法
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种短路点分析方法。
背景技术
随着显示技术的不断发展，薄膜晶体管液晶显示屏(英文全称：ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay，英文缩写：TFT-LCD)的应用已变的十分普遍，为了满足TFT-LCD的市场需求，在TFT-LCD的制造过程中，提高TFT-LCD的制造效率非常重要。
目前在TFT-LCD制造过程中，不可避免的显示区内会产生短路的情况，现有技术中，主要采用两种方法进行短路点分析。一种方法是通过拆片后利用显微镜进行巡线检查，目视寻找短路点。但是此方法对于轻微短路的短路点检查时准确度差，效率低。另一种方法是通过拆片后使用仪器逐段测量栅线或数据线的电阻，逐段利用激光切断/修复相应的数据线，根据电阻值的变化确定短路点，但是此方法过程复杂，效率低。因此，现有技术中的两种短路点分析方法在查找短路点时效率低，尤其目前TFT-LCD向大尺寸和高分辨率方向发展，所以现有的电路点分析方法在查找短路点时显得更加的低效。
发明内容
本发明的实施例提供一种短路点分析方法，用于解决现有技术中的短路点分析方法效率低的问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
提供一种短路点分析方法，用于查找显示面板的信号线上的短路点，其中，信号线包括：栅线和数据线，显示面板包括多个矩阵排列的像素单元，方法包括：
使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；
根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线；
将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；其中，当短路点所在的信号线为栅线时，向第二信号线段输入栅极驱动信号；当短路点所在的信号线为数据线时，向第二信号线段输入源极驱动信号；
根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。
本发明实施例提供一种短路点分析方法，首先显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线；然后将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。即本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的信号线，然后将短路点所在的信号线切割为两段，并为第二信号线段输入驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图一；
图2为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图二；
图3为本发明实施例提供的短路点分析的示意图一；
图4为本发明实施例提供的短路点分析的示意图二；
图5为本发明实施例提供的短路点分析方法的步骤流程图三；
图6为本发明实施例提供的短路点分析的示意图三；
图7为本发明实施例提供的短路点分析的示意图四。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案，在本发明的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不是在对数量和执行次序进行限定。
本发明的发明原理为：本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的信号线，然后将短路点所在的信号线切割为两段，并为第二信号线段输入驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
实施例一
本发明实施例提供一种短路点分析方法，用于查找显示面板的信号线上的短路点，信号线包括：栅线和数据线，显示面板包括多个矩阵排列的像素单元，参照图1所示，该方法包括如下步骤：
S11、使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示。其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值。
需要说明的是，当显示面板中存在短路点时，短路点所在信号线对应的像素单元无显示信号输入，所以短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值进行显示。为了查找显示面板的信号线上的短路点，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示，其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值，此时，由于短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值进行显示，而其他像素单元按照预设灰阶值进行显示，所以通过观察显示面板，可以直观的由显示面板中像素单元的亮暗对比判断出显示异常的像素单元，从而根据显示异常的像素单元确定出与显示异常的像素单元对应的短路点所在的信号线。
进一步的，当显示面板为高级超维场转换技术(英文全称：AdvancedSuperDimensionSwitch，英文缩写：ADS)显示面板时，预设灰阶值为255；当显示面板为扭曲向列型(英文全称：TwistedNematic，英文缩写：TN)显示面板时，预设灰阶值为0。
需要说明的是，当显示面板为ADS显示面板时，像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值为0，为了查找显示面板的信号线上的短路点，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值255进行显示，这样显示面板上按照预设灰阶值255显示的像素单元最亮，由于短路点所在的信号线对应的像素单元无显示信号输入，因此短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值255进行显示，而是按照灰阶值0进行显示，即短路点所在的信号线对应的像素单元最暗。所以显示面板中短路点所在的信号线对应的像素单元形成暗条纹，从而可以直观的由显示面板中的亮暗条纹判断出显示异常的像素单元，从而根据显示异常的像素单元确定出与显示异常的像素单元对应的短路点所在的信号线。进一步的，当显示面板为TN显示面板时，像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值为255，为了查找显示面板的信号线上的短路点，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值0进行显示，这样显示面板上按照预设灰阶值0显示的像素单元最暗，由于短路点所在的信号线对应的像素单元无显示信号输入，因此短路点所在的信号线对应的像素单元无法按照预设灰阶值0进行显示，而是按照灰阶值255进行显示，即短路点所在的信号线对应的像素单元最亮。所以显示面板中短路点所在的信号线对应的像素单元形成亮条纹，从而可以直观的由显示面板中的亮条纹判断出显示异常的像素单元，进而根据显示异常的像素单元确定出与显示异常的像素单元对应的短路点所在的信号线。
本发明实施例提供的短路点分析方法，需要通过观察显示面板中像素单元的亮暗对比判断出显示异常的像素单元，因此，当显示面板为ADS显示面板时，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值255进行显示，以及当显示面板为TN显示面板时，使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值0进行显示，会使得显示面板中像素单元的亮暗对比最为明显，从而可以更加准确、快速的判断出显示异常的像素单元。
S12、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线。
需要说明的是，显示异常的像素单元为没有按照预设灰阶值进行显示的像素单元。由于显示面板中存在短路点，且该短路点使得与该短路点所在的信号线对应的像素单元无显示信号输入，因此无法按照预设灰阶值进行正常显示，出现显示异常的像素单元。
S13、将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号。
其中，当短路点所在的信号线为栅线时，向第二信号线段输入栅极驱动信号；当短路点所在的信号线为数据线时，向第二信号线段输入源极驱动信号，即，步骤S13可以包括两种情况：
第一种情况：将短路点所在的栅线切割为第一信号线段和第二信号线段，并向第二信号线段输入栅极驱动信号。
第二种情况：将短路点所在的数据线切割为第一信号线段和第二信号线段，并向第二信号线段输入源极驱动信号。
示例性的，可以采用激光切割的方式将短路点所在的信号线切割为第一信号线段和第二信号线段。进一步的，也可以采用其他方式将短路点所在的信号线切割为第一信号线段和第二信号线段，本发明对此不做限定，以能够将短路点所在的信号线切割为第一信号线段和第二信号线段为准。
S14、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。
需要说明的是，若根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段，则将短路点的查找范围缩小到了第一信号线段；若根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第二信号线段，则将短路点的查找范围缩小到了第二信号线段。所以本发明实施例提供的短路点分析方法，可以有效的缩小短路点的查找范围。
进一步的，当根据显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线段后，可以对该短路点所在的信号线段重复执行上述步骤S13、S14的方法。以此类推，通过重复执行上述步骤，从而不断缩小短路点的查找范围。
本发明实施例提供一种短路点分析方法，首先显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线；然后将短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。即本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的信号线，然后将短路点所在的信号线切割为两段，并为第二信号线段输入驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线包括：
当显示面板上显示异常的像素单元形成与栅线平行的条纹时，确定短路点位于与显示异常的像素单元对应的栅线上。
当显示面板上显示异常的像素单元形成与数据线平行的条纹时，确定短路点位于与显示异常的像素单元对应的数据线上。
实施例二
以下，以短路点位于与显示异常的像素单元对应的栅线上为例，对本发明实施例进行说明，参照图2所示，本发明实施例提供的短路点分析方法包括：
S21、使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示。其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值。
S22、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的栅线。
S23、将短路点所在的栅线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入栅极驱动信号。
示例性的，参照图3所示，图3以短路点a位于显示面板10中的第n条栅线11为例进行说明。将栅线11从A点切割为与信号源连接的第一信号线段①和不与信号源连接的第二信号线段②，并通过栅线12连接的栅极驱动电路向第二信号线段②输入栅极驱动信号，图3中箭头所指方向为栅极驱动信号的输入方向。其中，若显示面板10为ADS显示面板，则与短路点a所在的栅线对应的像素单元会形成与栅线平行的暗条纹，若显示面板10为TN显示面板，则与短路点a所在的栅线对应的像素单元会形成与栅线平行的亮条纹。
进一步的，可以从短路点所在的栅线的1/2处将短路点所在的栅线切割为第一信号线段和第二信号线段。本发明实施例提供的短路点分析方法中，从短路点所在的栅线的1/2处将短路点所在的栅线切割为第一信号线段和第二信号线段，不论短路点位于第一信号线段还是第二信号线段，都可以将短路点的查找范围缩小一半，从而可以最大程度的缩小短路点的查找范围，更加高效的查找到短路点。
具体的，可以使用显示面板中的栅极驱动电路向所述第二信号线段输入栅极驱动信号。使用显示面板中的栅极驱动电路向第二信号线段输入栅极驱动信号，无需增加新的栅极驱动电路，从而节省成本。
示例性的，参照3所示，栅线12可以为显示面板中原有的栅线，使用显示面板中栅线12连接的栅极驱动电路向第二信号线段②输入栅极驱动信号。
优选的，使用第一栅线连接的栅极驱动电路向第二信号线段输入栅极驱动信号。其中，第一栅线为与短路点所在的栅线相邻的栅线。
示例性的，如图3所示，栅线12可以为第一栅线，使用栅线栅线12连接的栅极驱动电路向第二信号线段②输入栅极驱动信号，具体的，图3中的栅线12可以为显示面板10中的第n+1条栅线，也可以为显示面板10中的第n-1条栅线。
使用第一栅线连接的栅极驱动电路向第二信号线段输入栅极驱动信号，采用了显示面板中短路点所在的栅线相邻的栅线连接的栅极驱动电路，无需增加新的栅极驱动电路，不仅可以节省成本，而且容易操作。
进一步的，使用第一栅线连接的栅极驱动电路向第二信号线段输入栅极驱动信号可以包括：通过第一数据线连接第二信号线段和第一栅线，第一数据线为与第二信号线段相交的数据线中距离切割点最近的数据线；通过第一栅线和第一数据线向第二信号线段输入栅极驱动信号。
示例性的，如图3所示，图3中的信号连接线13可以为第一数据线，第一数据线通过B点连接第二信号线段②，通过C点连接第一栅线12，并使用第一栅线12连接的栅极驱动电路通过第一栅线12和第一数据线13向第二信号线段②输入栅极驱动信号，具体的，图3中的第一栅线12可以为显示面板10中的第n+1条栅线，也可以为显示面板10中的第n-1条栅线。
在通过第一数据线连接第二信号线段和第一栅线之后，第一栅线连接的栅极驱动电路可以通过第一栅线和第一数据线向第二信号线段输入栅极驱动信号，所以不仅无需增加新的栅极驱动电路，还借助了显示面板中原有的第一数据线连接第二信号线段和第一栅线，从而可以更好的节省成本，简化操作。
示例性的，可以采用激光焊接的方式通过第一数据线连接第二信号线段和第一栅线，具体的，可以在第一数据线与第二信号线段相交的交点处进行激光焊接，同时在第一数据线与第一栅线相交的交点处进行激光焊接。进一步的，也可以通过其他方式通过第一数据线连接第二信号线段和第一栅线，本发明对此不做限定，以能够实现通过第一数据线连接第二信号线段和第一栅线为准。
S24、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。
进一步的，当根据显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线段后，可以对该短路点所在的信号线段重复执行上述步骤S13、S14的方法。以此类推，通过重复执行上述步骤，从而不断缩小短路点的查找范围。
示例性的，参照图3所示，当根据显示异常的像素单元确定短路点a位于第二信号线段②之后，如图4所示，可以将第二信号线段②从A点切割为与信号源连接的第三信号线段③和不与信号源连接的第四信号线段④，并向第四信号线段输入栅极驱动信号，然后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点a位于第三信号线段③上。以此类推，通过重复执行上述步骤，从而不断缩小短路点的查找范围。
本发明实施例提供一种短路点分析方法，首先显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的栅线；然后将短路点所在的栅线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入栅极驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。即本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的栅线，然后将短路点所在的栅线切割为两段，并为第二信号线段输入栅极驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
实施例三
以下，以短路点位于与显示异常的像素单元对应的数据线上为例，对本发明实施例进行说明，参照图5所示，本发明实施例提供的短路点分析方法包括：
S31、使显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示。其中，预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值。
S32、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的数据线。
S33、将所述短路点所在的数据线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向所述第二信号线段输入源极驱动信号。
示例性的，参照图6所示，图6以短路点a位于显示面板20中的第n条数据线21为例进行说明。将数据线21从A点切割为与信号源连接的第一信号线段①和不与信号源连接的第二信号线段②，并通过数据线22连接的源极驱动电路向第二信号线段②输入源极驱动信号，图6中箭头所指方向为源极驱动信号的输入方向。其中，若显示面板20为ADS显示面板，则与短路点a所在的数据线对应的像素单元会形成与数据线平行的暗条纹，若显示面板20为TN显示面板，则与短路点a所在的数据线对应的像素单元会形成与数据线平行的亮条纹。
进一步的，可以从短路点所在的数据线的1/2处将短路点所在的数据线切割为第一信号线段和第二信号线段。本发明实施例提供的短路点分析方法中，从短路点所在的数据线的1/2处将短路点所在的数据线切割为第一信号线段和第二信号线段，不论短路点位于第一信号线段还是第二信号线段，都可以将短路点的查找范围缩小一半，从而可以最大程度的缩小短路点的查找范围，更加高效的查找到短路点。
具体的，可以使用显示面板中的源极驱动电路向所述第二信号线段输入源极驱动信号。使用显示面板中的源极驱动电路向第二信号线段输入源极驱动信号，无需增加新的源极驱动电路，从而节省成本。
示例性的，参照6所示，数据线22可以为显示面板中原有的数据线，使用显示面板中数据线22连接的源极驱动电路向第二信号线段②输入源极驱动信号。
优选的，使用第二数据线连接的源极驱动电路向第二信号线段输入源极驱动信号。其中，第二数据线为与短路点所在的数据线相邻的数据线。
示例性的，如图6所示，栅线22可以为第二数据线，使用数据线22连接的源极驱动电路向第二信号线段②输入源极驱动信号，具体的，数据线22可以为显示面板20中的第n+1条数据线，也可以为显示面板20中的第n-1条数据线。
使用第二数据线连接的源极驱动电路向第二信号线段输入源极驱动信号，采用了显示面板中短路点所在的数据线相邻的数据线连接的源极驱动电路，无需增加新的源极驱动电路，不仅可以节省成本，而且容易操作。
进一步的，使用第二数据线连接的源极驱动电路向第二信号线段输入源极驱动信号可以包括：通过第二栅线连接第二信号线段和第二数据线，第二栅线为与第二信号线段相交的栅线中距离切割点最近的栅线；通过第二数据线和第二栅线向第二信号线段输入源极驱动信号。
示例性的，如图6所示，图6中的信号连接线23可以为第二栅线，第二栅线通过B点连接第二信号线段②，通过C点连接第二数据线22，并使用第二数据线22连接的源极驱动电路通过第二数据线22和第二栅线23向第二信号线段②输入源极驱动信号，具体的，图6中的第二数据线22可以为显示面板20中的第n+1条数据线，也可以为显示面板20中的第n-1条数据线。
在通过第二栅线连接第二信号线段和第二数据线之后，第二数据线连接的源极驱动电路可以通过第二数据线和第二栅线向第二信号线段输入源极驱动信号，所以不仅无需增加新的源极驱动电路，还借助了显示面板中原有的第二栅线连接第二信号线段和第二数据线，从而更好的节省了成本，简化了操作。
示例性的，可以采用激光焊接的方式通过第二栅线连接第二信号线段和第二数据线，具体的，可以在第二栅线与第二信号线段相交的交点处进行激光焊接，同时在第二栅线与第二数据线相交的交点处进行激光焊接。进一步的，也可以通过其他方式通过第二栅线连接第二信号线段和第二数据线，本发明对此不做限定，以能够实现通过第二栅线连接第二信号线段和第二数据线为准。
S34、根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。
进一步的，当根据显示异常的像素单元确定短路点所在的信号线段后，可以对该短路点所在的信号线段重复执行上述步骤S33、S34的方法。以此类推，通过重复执行上述步骤，从而不断缩小短路点的查找范围。
示例性的，参照图6所示，当根据显示异常的像素单元确定短路点a位于第二信号线段②之后，如图7所示，可以将第二信号线段②从A点切割为与信号源连接的第三信号线段③和不与信号源连接的第四信号线段④，并向第四信号线段④输入源极驱动信号，然后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点a位于第三信号线段③上。以此类推，通过重复执行上述步骤，从而不断缩小短路点的查找范围。
本发明实施例提供一种短路点分析方法，首先显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；预设灰阶值不等于像素单元无显示信号输入时像素单元显示的灰阶值；并根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点所在的数据线；然后将短路点所在的数据线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向第二信号线段输入源极驱动信号；进一步的，根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段。即本发明实施例中可以通过显示面板上显示异常的像素单元直观的确定短路点所在的数据线，然后将短路点所在的数据线切割为两段，并为第二信号线段输入源极驱动信号，最后根据显示面板上显示异常的像素单元确定短路点位于第一信号线段或第二信号线段，因此本发明实施例提供的短路点分析方法可以有效的缩小短路点的查找范围，从而可以高效的查找到短路点。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种短路点分析方法，用于查找显示面板的信号线上的短路点，其中，所述信号线包括：栅线和数据线，所述显示面板包括多个矩阵排列的像素单元，其特征在于，所述方法包括：
使所述显示面板的所有像素单元均使用预设灰阶值进行显示；所述预设灰阶值不等于所述像素单元无显示信号输入时所述像素单元显示的灰阶值；
根据所述显示面板上显示异常的像素单元确定所述短路点所在的信号线；
将所述短路点所在的信号线切割为与信号源连接的第一信号线段和不与信号源连接的第二信号线段，并向所述第二信号线段输入驱动信号；其中，当所述短路点所在的信号线为栅线时，向所述第二信号线段输入栅极驱动信号；当所述短路点所在的信号线为数据线时，向所述第二信号线段输入源极驱动信号；
根据所述显示面板上显示异常的像素单元确定所述短路点位于所述第一信号线段或所述第二信号线段。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述显示面板上显示异常的像素单元确定所述短路点所在的信号线包括：
当所述显示面板上显示异常的像素单元形成与栅线平行的条纹时，确定所述短路点位于与显示异常的像素单元对应的栅线上；
当所述显示面板上显示异常的像素单元形成与数据线平行的条纹时，确定所述短路点位于与显示异常的像素单元对应的数据线上。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第二信号线段输入栅极驱动信号包括：
使用显示面板中的栅极驱动电路向所述第二信号线段输入栅极驱动信号。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第二信号线段输入栅极驱动信号包括：
使用第一栅线连接的栅极驱动电路向所述第二信号线段输入栅极驱动信号，所述第一栅线为与所述短路点所在的栅线相邻的栅线。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述使用第一栅线连接的栅极驱动电路向所述第二信号线段输入栅极驱动信号包括：
通过第一数据线连接所述第二信号线段和第一栅线，所述第一数据线为与所述第二信号线段相交的数据线中距离切割点最近的数据线；
通过所述第一栅线和所述第一数据线向所述第二信号线段输入栅极驱动信号。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第二信号线段输入源极驱动信号包括：
使用显示面板中的源极驱动电路向所述第二信号线段输入源极驱动信号。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第二信号线段输入源极驱动信号包括：
使用第二数据线连接的源极驱动电路向所述第二信号线段输入源极驱动信号，所述第二数据线为与所述短路点所在的数据线相邻的数据线。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述使用第二数据线连接的源极驱动电路向所述第二信号线段输入源极驱动信号包括：
通过第二栅线连接所述第二信号线段和第二数据线，所述第二栅线为与所述第二信号线段相交的栅线中距离所述切割点最近的栅线；
通过所述第二数据线和所述第二栅线向所述第二信号线段输入源极驱动信号。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
当所述显示面板为ADS显示面板时，所述预设灰阶值为255；
当所述显示面板为TN显示面板时，所述预设灰阶值为0。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述短路点所在的信号线切割为第一信号线段和第二信号线段包括：
从所述短路点所在的信号线的1/2处将所述短路点所在的信号线切割为第一信号线段和第二信号线段。
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