CN105518456B - 色谱数据处理装置 - Google Patents

色谱数据处理装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105518456B
CN105518456B CN201480047162.9A CN201480047162A CN105518456B CN 105518456 B CN105518456 B CN 105518456B CN 201480047162 A CN201480047162 A CN 201480047162A CN 105518456 B CN105518456 B CN 105518456B
Authority
CN
China
Prior art keywords
chromatography
wavelength
peak
differential
degree
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201480047162.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105518456A (zh
Inventor
三嶋贤一
鎌田悦辅
三浦宏
水戸康敬
柳沢年伸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hachitsu Corp
Original Assignee
Hachitsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hachitsu Corp filed Critical Hachitsu Corp
Priority to CN201810490733.6A priority Critical patent/CN108918744A/zh
Publication of CN105518456A publication Critical patent/CN105518456A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105518456B publication Critical patent/CN105518456B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/86—Signal analysis
    • G01N30/8624—Detection of slopes or peaks; baseline correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/74—Optical detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/86—Signal analysis
    • G01N30/8603—Signal analysis with integration or differentiation
    • G01N30/861—Differentiation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/86—Signal analysis
    • G01N30/8675—Evaluation, i.e. decoding of the signal into analytical information
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/86—Signal analysis
    • G01N30/8675—Evaluation, i.e. decoding of the signal into analytical information
    • G01N30/8689—Peak purity of co-eluting compounds
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/86—Signal analysis
    • G01N30/8651—Recording, data aquisition, archiving and storage

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Library & Information Science (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明目的在于提供一种能更可靠地判定在来源于目标成分的目标峰中是否含有杂质的色谱数据处理装置。作为本发明一实施例的色谱数据处理装置(2)包括含有微分色谱制作部(25a)、纯净度曲线制作部(25b)及判定部(26)的杂质检测部(24)。微分色谱制作部(25a)针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸收波长下的波长方向上的微分系数，制作表示所述微分系数时间变化的微分色谱。纯净度曲线制作部(25b)制作纯净度曲线，所述纯净度曲线表示所述目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和考虑噪声成分的相似度的阈值的差的时间变化。将微分色谱及纯净度曲线与由波长色谱制作部(22)制作的波长色谱重合地显示在显示部(3)中。

Description

色谱数据处理装置
技术领域
本发明涉及一种显示判定在色谱的峰中是否含有杂质的结果的数据处理装置，所述色谱是对包含经色谱仪，特别是经液相色谱仪(LC)的管柱分离的成分的试料或通过流动注射(flow injection)法而导入的试料进行分光分析而获得。
背景技术
在使用光电二极管阵列(Photo Diode Array，PDA)检测器等多通道型检测器作为检测器的液相色谱仪中，通过以试料向移动相的注入时点为基点，对来自管柱的溶出液反复获取吸光度光谱，可获得具有时间、波长及吸光度的三个维度的三维色谱数据。图9(a)及图9(b)是这种三维色谱数据的示意图。通过从所述三维色谱数据之中提取特定波长下的时间-吸光度数据，可以制作所述特定波长下的色谱(波长色谱)。并且，通过从所述三维色谱数据之中提取在特定时点的波长-吸光度数据，也可以制作在所述时点的吸光度光谱。
在这样的液相色谱仪中，进行已知的目标成分的定量分析时，通常是求出与所述目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱，对所述色谱中出现的来源于目标成分的峰的面积(或高度)对照校准曲线而算出定量值。
在如上所述对目标成分进行定量时，如果波长色谱中出现的峰只来源于所述目标成分，则不存在问题。但是，峰不一定来源于单一成分(目标成分)，而经常存在含有分析者不想要的杂质(即，目标成分以外的成分)的情况。因此，从先前以来，进行调查色谱中所出现的某个峰是否只来源于目标成分或者是否含有杂质的峰纯度判定处理。
例如在专利文献1及2中，揭示了从具有时间、波长及吸光度的三个维度的三维色谱数据获得的色谱中的峰纯度判定处理的方法。
在专利文献1所揭示的方法中，将与目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱中目标峰的峰顶点所对应的时间T0下的吸光度光谱设为S0(λ)，将其前后的任意的时间T下的吸光度光谱设为S(λ)，通过以下的(1)式，算出S0(λ)与S(λ)的一致度P。
然后，如图10(a)及图10(b)所示，以一致度P如果为1.0～0.8则称为绿色，如果为0.8～0.6则称为黄色，如果为0.6以下则称为橙色的方式，利用与其峰顶点的一致度P所对应的颜色(图中以影线来表现)沿时间轴方向将目标峰加以分割显示。当目标峰只来源于目标成分时，如图10(a)所示，一致度P在峰顶点附近高，越远离峰顶点越低，所述经分割显示的形状夹着峰的中心轴而大致成左右对称。与此相对，当在目标峰的峰顶点之前或之后存在其它峰时(即，当目标峰含有杂质时)，包含其它峰的时间范围的一致度P下降，因此在目标峰的峰顶点之前或之后一致度P不同。例如在图10(b)所示的示例中，夹着峰顶点，与左侧相比右侧(时间上为后侧)的一致度P较低，经分割显示的形状呈左右非对称。由此，可判断为在其附近的时间范围内含有杂质的可能性高(以下，将所述方法称为“一致度判定法”)。
在专利文献2所揭示的方法中，利用三维色谱数据制作与目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱，在所述波长色谱中的来源于目标成分的目标峰的起点至终点的时间范围内，针对各时点的吸光度光谱求出目标成分的吸光度光谱的极大或极小吸收波长下的微分系数。当在目标峰中只含有目标成分时所述微分系数为零，而当在目标峰中含有杂质时所述微分系数则成为零以外的值。因此，揭示了如下方法：制作表示所述微分系数的时间变化的色谱(以下，将所述色谱称为“微分色谱”)，当在所述波形中出现峰时(图11的虚线)判定为含有杂质(以下，将所述方法称为“微分光谱法”)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利第2936700号公报
专利文献2：国际公开WO2013/035639号
非专利文献
非专利文献1：水户康敬、北冈光夫著《岛津HPLC用光电二极管阵列UV-VIS检测器SPD-M6A》岛津评论第46卷第1期，21-28页，1989
发明内容
发明所要解决的问题
在专利文献1所述的一致度判定法中，以在与目标峰的峰顶点相对应的时间T0下的吸光度光谱为基准，计算出与峰顶点的前后的吸光度光谱的一致度P。因此，当在紧邻峰顶点的附近存在杂质峰时，无法正确地判定杂质的存在。
另一方面，在专利文献2所述的微分光谱法中，当在目标成分的吸光度光谱的微分值为零的波长下杂质的吸光度光谱的微分值也为零时，在微分色谱中不会出现杂质的峰，因此无法检测杂质。
如上所述，已提出有若干个判定在目标峰中是否含有杂质的方法，但是根据目标成分的吸收波长与杂质的吸收波长的关系，有时无法正确地检测杂质的存在。
再者，在这里，是列举将其中一者设为目标成分，将另一者设为杂质的情况为例进行说明，但是也可以替换成在包含两个以上的目标成分的试料的色谱中，判定目标峰中所含的成分为单一成分还是多个成分的情况。
本发明是为了解决所述问题而完成的，其目的在于提供一种可容易地判定在来源于目标成分的目标峰中是否含有杂质的色谱数据处理装置。
解决问题的技术手段
为了解决所述问题而完成的本发明的色谱数据处理装置的特征在于包括：
a)三维数据存储部，存储将时间、波长及吸光度作为维度的三维色谱数据；
b)波长色谱制作部，从所述三维色谱数据之中，提取目标成分的吸收波长即特定波长下的数据，制作表示所述特定波长下的时间与吸光度的关系的波长色谱；
c)峰检测部，对所制作的所述波长色谱的峰进行检测；
d)杂质检测部，利用基于所述三维色谱数据的两个以上的检测方法，检测在检测到的所述峰中有无杂质；以及
e)显示部，将通过所述两个以上的检测方法而获得的用于杂质检测的曲线图与所述波长色谱重合地加以显示。
再者，在这里所谓的“两个以上的检测方法”中，包括检测原理相同但所使用的参数不同的情况。具体而言，例如，当如下所述，在微分光谱法中所使用的波长(微分波长)不同时，作为不同的检测方法来处理。
根据本发明的色谱数据处理装置，目标成分的吸收波长即特定波长下的峰中的杂质的有无是通过利用两个以上的检测方法对所存储的三维色谱数据进行数据分析来进行检测，将作为其结果而制作的两个以上的用于杂质检测的曲线图与所述特定波长下的色谱重合地显示在显示部中。在这里，所述两个以上的曲线图既可以全部同时与特定波长色谱重叠显示，也可以设为通过操作员的指定来使任意的两个以上的曲线图重叠显示。
本发明的色谱数据处理装置理想的是更包括：
f)输入部，用于选择在所述杂质检测部中使用的所述两个以上的检测方法，或者输入在所述两个以上的检测方法中设定的参数(以下，称为“设定参数”)。
所述两个以上的检测方法理想的是选自于由一致度判定法、微分光谱法、纯净度判定法所组成的群组。如上所述，一致度判定法是计算在所述波长色谱中的目标峰的峰顶点所对应的时间T0下的吸光度光谱、与在其前后的任意的时间T下的吸光度光谱的一致度的方法。微分光谱法是针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸收波长下的波长方向上的微分系数，当在表示所述微分系数的时间变化的微分色谱的波形中出现峰时判定为含有杂质的方法。纯净度判定法的详细情况将在后文描述，它是通过对所述目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和考虑到噪声成分的相似度的阈值进行比较来判定杂质的有无的方法。
并且，设定参数例如是用于制作波长色谱的目标成分的一个吸收波长即特定波长、或微分光谱法中所需要的目标成分的极大或极小吸收波长等。
发明的效果
根据本发明的色谱数据处理装置，利用两个以上的检测方法来检测杂质的有无，将其结果获得的用于检测两个以上的杂质的有无的曲线图与目标成分的吸收波长即特定波长的波长色谱重合地显示在显示部中。即使在利用一个检测方法未检测到杂质的存在的情况下，有时通过其它检测方法也可以辨识出杂质的存在，因此能够更可靠地进行在目标色谱峰中是否存在杂质的判断。
附图说明
图1是包含本发明的第1实施例的色谱数据处理装置的液相色谱仪的概略构成图。
图2是表示同实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的流程图。
图3是表示同实施例的色谱数据处理装置中的制作用于杂质检测的曲线图的动作的流程图。
图4是表示纯净度判定法中的用于检测有无杂质的曲线图(纯净度曲线)的一例的图。
图5是表示第1实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例的图。
图6是表示第2实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的流程图。
图7是表示同实施例的色谱数据处理装置中的制作用于杂质检测的曲线图的动作的流程图。
图8是表示同实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例的图。
图9(a)及图9(b)是表示三维色谱数据及根据所述三维色谱数据制作的极大或极小吸收波长色谱的示意图。
图10(a)及图10(b)是通过一致度判定法而获得的结果的显示例，图10(a)是不含杂质的峰的示例，图10(b)是含有杂质的峰的示例。
图11是表示作为通过微分光谱法而获得的结果的微分色谱的一例的图。
[符号的说明]
1：LC部
11：移动相容器
12：送液泵
13：试料注入部
14：管柱
15：PDA检测器
16：A/D转换器
2：数据处理装置
21：三维数据存储部
22：波长色谱制作部
23：峰检测部
24：杂质检测部
25a：微分色谱制作部
25b：纯净度曲线制作部
26：判定部
3：显示部
4：操作部
具体实施方式
参照附图，对本发明的色谱数据处理装置的若干实施例进行说明。首先，以下对在本实施例中使用的用于判定峰纯度的方法进行说明。
[用于判定峰纯度的方法]
在本实施例中，是利用一致度判定法、微分光谱法及纯净度判定法。关于一致度判定法及微分光谱法，已在“背景技术”的栏目中予以说明，因此在这里，对利用纯净度判定法来判定杂质的有无的原理进行简单说明。再者，关于纯净度判定法，例如在非专利文献1中已予以说明。
在纯净度判定法中，计算色谱峰内的光谱(实测光谱)与参考光谱的相似度(SI)，对其值与考虑到噪声成分的相似度的阈值(t)进行比较。当实测光谱与参考光谱的相似度(SI)在所述阈值(t)以上时，判断为两者来源于大致相同成分。反之，当两者的相似度(SI)小于阈值(t)时，则判断为在所述色谱峰中存在杂质。
在这里两个光谱的相似度SI是如下所述进行计算。一个光谱可作为各波长下的强度的值的排列来考虑，因此能够以将各波长下的强度的值作为要素的向量来表示。具体而言，当将波长λi下的强度设为a(λi)时，两个光谱的向量S1、S2可表示如下。
S1＝(a1(λ1)，a1(λ2)，……，a1(λn))
S2＝(a2(λ1)，a2(λ2)，……，a2(λn))
可认为所述两个向量S1、S2越接近(即，两者之间的角度越小)，两光谱越相似，因此可将两向量S1、S2所成的角度θ的余弦的值(cosθ)用作两光谱的相似度的指标。
如果两个光谱的形状完全相同，那么两向量S1、S2之间的角度θ为零，cosθ为1。但是，实际上，例如在吸光度光谱的情况下，由于检测器主体的背景噪声(background noise)或伴随着移动相的吸收的噪声等不确定部分，两向量所成的角度θ会大于零。因此，当将由噪声的不确定部分所引起的两向量所成的角度的最大值设为θth，两向量S1、S2所成的角θ小于θth时，判断为其差异因噪声等而产生，并且判定为两向量由相同的吸光度光谱(即，相同成分)所产生，当两向量S1、S2所成的角θ大于θth时，即，当cosθ小于cosθth时可判定为含有杂质。即，cosθth成为阈值(t)。将从相似度SI减去所述阈值t所得的值称为纯净度指数。
图4表示将横轴设为峰的保持时间，在纵轴上绘制有纯净度指数(＝SI-t)的纯净度曲线。在这里，图4中的所谓“通常色谱”，是指目标成分的吸收波长即特定波长下的波长色谱。在所述图4中，在时间T2，纯净度曲线出现有低于纯净度指数为零的零辅助线的部分。在所述部分，纯净度指数(＝SI-t)低于零，相似度低于阈值，因而判断为在所述部分含有杂质。
如上所述，在纯净度判定法中，可根据纯净度曲线判定在目标峰中是否含有杂质。
[第1实施例]
参照图1，对本发明的色谱数据处理装置的第1实施例进行说明。图1是包含本实施例中的色谱数据处理装置(以下，仅称为“数据处理装置”)的液相色谱仪系统的概略构成图。
在用于收集三维色谱数据的LC部1中，送液泵12从移动相容器11抽吸移动相，并以固定的流量供给至试料注入部13。试料注入部13以规定的时序将试料注入至移动相中。将试料通过移动相而送入至管柱14，在穿过管柱14期间，使试料中的各成分沿时间方向分离，并从管柱14溶出。
在管柱14的出口，设置有一种多通道型检测器即PDA检测器15，作为用于对来自管柱14的溶出液中的试料成分进行检测的检测器。PDA检测器15对溶出液照射来自未图示的光源的光，使透过溶出液的光波长分散而通过PDA线性传感器(linear sensor)对各波长的光的强度大致同时进行检测。由所述PDA检测器15反复获得的检测信号经A/D转换器16转换成数字信号之后，作为三维色谱数据而输出至数据处理装置2。
数据处理装置2包括：三维数据存储部21，用于存储从A/D转换器16输出的三维色谱数据；波长色谱制作部22，利用三维色谱数据制作表示规定波长下的吸光度的时间变化的波长色谱；峰检测部23，对所述波长色谱中的峰进行检测；以及杂质检测部24，对检测到的峰之中由操作员指定的目标峰中的杂质进行检测。再者，在本实施例中，波长色谱制作部22制作极大或极小吸收波长色谱，所述极大或极小吸收波长色谱表示目标成分的极大或极小的吸收波长λS0下的吸光度的时间变化。
杂质检测部24包括对三维色谱数据进行数据处理而制作用于杂质检测的曲线图的微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b。微分色谱制作部25a根据三维色谱数据及目标成分的极大或极小吸收波长λS0，制作微分色谱。纯净度曲线制作部25b根据三维色谱数据及目标成分的极大或极小吸收波长λS0，利用目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和只考虑到噪声成分时的相似度制作纯净度曲线。此外，杂质检测部24包括根据微分色谱的形状或纯净度曲线的形状判定在目标峰中有无杂质的判定部26。关于所述各部的动作将在后文描述。
显示部3是用于显示目标成分的极大或极小吸收波长λS0的波长色谱、吸光度光谱、微分色谱、纯净度曲线及判定结果等各种信息的构件。操作部4是为了操作员输入设定杂质的有无的判定方法的选择、或目标成分的极大或极小吸收波长λS0、微分光谱法中所需要的最大或最小吸收波长等数据分析所需要的信息等而被操作。
再者，数据处理装置2的一部分或全部功能可通过执行安装在个人计算机或工作站(work station)内的专用的控制及处理软件来实现。并且，显示部3为一般的液晶监视器等，操作部4可设为个人计算机或工作站的标准装备即键盘或鼠标等指向构件(pointing)等。
其次，参照图2及图3的流程图，对所述第1实施例的液相色谱仪系统中的特征性数据处理动作进行说明。
首先，在LC部1中执行对目标试料的色谱仪分析，将表示规定的波长范围内的吸光度光谱的时间变化的三维色谱数据(参照图9(a))从PDA检测器15输出至三维数据存储部21，并存储至所述三维数据存储部21(步骤S1)。
其次，操作员通过操作部4输入试料中所含的目标成分的极大或极小吸收波长λS0的波长值(步骤S2)。接收到所述波长值，波长色谱制作部22根据所输入的极大或极小吸收波长λS0及三维数据存储部21中所存储的三维色谱数据，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴上绘制有极大或极小吸收波长λS0下的吸光度的极大或极小吸收波长色谱，并显示在显示部3中(步骤S3)。图9(b)表示根据图9(a)所示的三维色谱数据而制作的极大吸收波长色谱的一例。
峰检测部23沿时间方向依次调查由波长色谱制作部22制作的极大或极小吸收波长色谱的曲线的倾斜量，当所述倾斜量为规定值以上时判断为是峰的起点Ts，当倾斜量从正变为零然后转为负时判断为是峰顶点T0，当倾斜量的绝对值为规定值以下时判断为是峰的终点TE，从而检测出峰(步骤S4)。峰在试料中含有多个成分时，通常检测到多个。检测到的峰的信息被显示在显示部3的画面上，操作员通过操作部4从所述多个峰之中选择来源于目标成分的目标峰(步骤S5)。
当选择目标峰后，微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b依次制作表示在目标峰中是否含有杂质的曲线图(步骤S6)。各功能块25a、25b内的数据处理动作如以下所述。
微分色谱制作部25a从三维数据存储部21获取目标峰的起点Ts至终点TE的时间范围内的吸光度光谱，并针对各吸光度光谱，分别对极大或极小吸收波长λS0下的吸光度沿波长方向进行微分，由此求出波长微分系数(步骤S6a-1)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴上绘制有所算出的波长微分系数的微分色谱(步骤S6a-2)。图11中表示微分色谱的一例。
纯净度曲线制作部25b从三维数据存储部21获取在目标峰的起点Ts至终点TE的时间范围内的吸光度光谱，并针对各吸光度光谱，分别求出相似度与阈值的差即纯净度指数(步骤S6b-1)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴上绘制有所算出的纯净度指数的纯净度曲线(步骤S6b-2)。
将如以上所述而获得的各判定方法中的用于判定杂质的有无的曲线图(微分色谱及纯净度曲线)与步骤S3中所显示的波长色谱重合地显示在显示部3中(步骤S7)。
图5是本实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例。在这里，所谓“通常色谱”，是指目标成分的极大或极小吸收波长λS0下的波长色谱。在所述第1实施例的数据处理装置2中，将基于微分光谱法而制作的微分色谱与基于纯净度判定法而制作的纯净度曲线与通常色谱重合地加以显示。在所述通常色谱中，在时间T0上存在试料的目标成分的峰，在时间T1、T2上存在杂质的峰，但是在波长色谱中未看见杂质的峰。根据图5，在时间T1存在杂质是在微分色谱中示出，而未在纯净度曲线中示出。而且，在时间T2存在杂质是未在微分色谱中示出，而在纯净度曲线中示出。假设当只利用微分光谱法或纯净度判定法中的任一者来进行杂质判定时，利用微分光谱法，只示出在时间T1存在杂质，而无法辨识出在时间T2存在杂质，另一方面，利用纯净度判定法，则只示出在时间T2存在杂质，而无法辨识出在时间T1存在杂质。但是，在本实施例的数据处理装置2中，利用微分光谱法示出在时间T1存在杂质，利用纯净度判定法示出在时间T2存在杂质，从而可全部检测出只利用其中一个杂质判定法所无法检测到的杂质。即，能够更可靠地判断是否存在杂质。
[第2实施例]
在第1实施例中，微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b分别制作微分色谱及纯净度曲线(步骤S6)。当得知在目标成分的吸光度光谱中存在多个极大、极小时，作为变形例，可设为微分色谱制作部25a除了目标成分的一个极大或极小吸收波长λS0以外，进而还制作并显示其它极大或极小吸收波长(例如，λ2、λ3)的微分色谱。
图6及图7是表示所述第2实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的流程图。以下，一边参照图6及图7，一边对第2实施例中的数据处理动作之中与第1实施例的不同点进行说明。
在本实施例中，在所述步骤S2中，操作员利用操作部4输入试料中所含的目标成分的多个极大或极小吸收波长的波长值(步骤S2')。这时，操作员指定用于制作波长色谱的目标成分的吸收波长λS0。
在所述步骤S5中，针对所选择的所有峰吸收波长λS0、λ2、λ3分别进行来源于目标成分的目标峰的选择(步骤S5')。
在所述步骤S6中，微分色谱制作部25a制作表示在峰吸收波长λS0、λ2、λ3的各自的目标峰中是否含有杂质的曲线图(微分色谱)(步骤S6')。即，关于这些波长λS0、λ2、λ3下的波长色谱，依次从三维数据存储部21获取在各自的峰的起点Ts至终点TE的时间范围内的吸光度光谱，并针对各吸光度光谱，分别对极大或极小吸收波长λS0、λ2、λ3下的吸光度沿波长方向进行微分，由此求出波长微分系数(步骤S6'a-1)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴上绘制有所算出的波长微分系数的微分色谱1、2、3(步骤S6'a-2)。
然后，在本实施例中，判定部26根据所制作的用于杂质检测的曲线图来判定杂质的有无，并将其结果显示在显示部3中。具体而言，判定本实施例中所制作的微分色谱在目标峰的起点Ts至终点TE的时间范围内是否平坦，如果微分色谱平坦，则判定部26判定为目标峰不含杂质。另一方面，如果微分色谱不平坦，则判定部26判定为目标峰含有杂质。微分色谱是否平坦的判定例如只要通过判定是否存在基线的噪声强度的平均的N倍或规定的峰面积以上的峰来进行即可。并且，也可以利用除此以外的判定方法。
再者，当为了杂质检测而制作的曲线图是纯净度曲线时，判定纯净度曲线在目标峰的起点Ts至终点TE的时间范围内是否低于零辅助线，如果不低于零辅助线，则判定部26判定为目标峰不含杂质，如果低于零辅助线，则判定为含有杂质。
判定部26当在任一检测方法中判定为含有杂质时，最终判定含有杂质，并在显示部3中显示为“杂质：有”。当在所有检测方法中均判定为不含杂质时，最终判定为不含杂质，并在显示部3中显示为“杂质：无”。
其它步骤与第1实施例相同。
图8是同实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例。图8中，在目标峰的波长λS0的波长色谱(图8中，称为“通常色谱”)中，设为在时间T0存在试料的目标成分的峰，在时间T1、T2存在杂质A、B的峰，然而在所述波长色谱上未看见杂质的峰。杂质A、B设为在λS0下杂质的微分值也为零。而且，杂质A、B设为分别在λ3、λ2下，杂质的光谱的微分值也为零。
在目标成分的峰波长λS0的微分色谱1中，杂质的光谱的微分值为零，因此杂质的峰被噪声所覆盖，从而未检测到在时间T1存在杂质以及在时间T2存在杂质。在波长λ2的微分色谱2中，检测到在时间T1存在杂质A，但未检测到在时间T2存在杂质B。在目标成分的极小吸收波长λ3的微分色谱3中，检测到在时间T2存在杂质B，但未检测到在时间T1存在杂质A。
如上所述，在目标成分的峰波长λS0下，试料中所含的杂质的光谱的微分值为零时，目标峰即λS0的微分色谱保持为零而不变，因此未被检测到。但是，基本上不认为在目标成分的其它极大或极小吸收波长λ2、λ3下，杂质的光谱的微分值也为零。因此，通过显示目标成分的多个极大或极小吸收波长下的多个微分色谱，能够更可靠地进行是否存在杂质的判断。
本发明并不限于所述第1实施例、第2实施例，可在本发明的主旨的范围内适当加以变形、追加、修正。
例如，当使用微分光谱法时，也可以将目标成分的光谱显示在画面中，操作员可据此适当选择用作微分波长的极大或极小吸收波长。通过设为这样的构成，可使操作员的经验反映到用于杂质检测的判断中。此外，也可以设为将纯净度判定法等其它杂质判定法也添加至画面显示，操作员可从这些方法之中任意选择。
并且，最终显示在显示部中的波长色谱(图5、图8中的“通常色谱”)的获取波长在所述实施例中是设为目标成分的极大或极小吸收波长λS0，但是不需要严格地为极大或极小吸收波长，只要是目标成分的目标峰内的波长即可。

Claims (3)

1.一种色谱数据处理装置，其特征在于包括：
a)三维数据存储部，存储将时间、波长及吸光度作为维度的三维色谱数据；
b)波长色谱制作部，从所述三维色谱数据之中，提取目标成分的吸收波长即特定波长下的数据，制作表示所述特定波长下的时间与吸光度的关系的波长色谱；
c)峰检测部，对所制作的所述波长色谱的峰进行检测；
d)杂质检测部，利用基于所述三维色谱数据的两个以上的检测方法，检测在检测到的所述峰中有无杂质；以及
e)显示部，将通过所述两个以上的检测方法而获得的用于杂质检测的曲线图与所述波长色谱重合地加以显示。
2.根据权利要求1所述的色谱数据处理装置，其特征在于更包括：
f)输入部，用于选择在所述杂质检测部中使用的所述两个以上的检测方法，或者输入在所述两个以上的检测方法中设定的参数。
3.根据权利要求1或2所述的色谱数据处理装置，其特征在于：
所述两个以上的检测方法是选自于由如下方法所组成的群组：一致度判定法，计算与所述波长色谱中的目标峰的峰顶点相对应的时间T0下的吸光度光谱、与在其前后的任意时间T下的吸光度光谱的一致度；微分光谱法，针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸收波长下的波长方向上的微分系数，当在表示所述微分系数的时间变化的微分色谱的波形中出现峰时判定为含有杂质；以及纯净度判定法，通过对所述目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和考虑到噪声成分的两光谱的相似度进行比较来判定杂质的有无。
CN201480047162.9A 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理装置 Active CN105518456B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810490733.6A CN108918744A (zh) 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013-181306 2013-09-02
JP2013181306 2013-09-02
PCT/JP2014/063364 WO2015029508A1 (ja) 2013-09-02 2014-05-20 クロマトグラムデータ処理装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810490733.6A Division CN108918744A (zh) 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105518456A CN105518456A (zh) 2016-04-20
CN105518456B true CN105518456B (zh) 2019-11-05

Family

ID=52586090

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201480047162.9A Active CN105518456B (zh) 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理装置
CN201810490733.6A Pending CN108918744A (zh) 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810490733.6A Pending CN108918744A (zh) 2013-09-02 2014-05-20 色谱数据处理方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10802005B2 (zh)
JP (1) JP6156501B2 (zh)
CN (2) CN105518456B (zh)
WO (1) WO2015029508A1 (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105026926A (zh) * 2013-03-04 2015-11-04 株式会社岛津制作所 色谱数据处理装置以及处理方法
JP6037040B2 (ja) * 2013-10-16 2016-11-30 株式会社島津製作所 クロマトグラムデータ処理装置
US10261058B2 (en) * 2014-01-14 2019-04-16 Bio-Rad Laboratories, Inc. Method and system for liquid chromatography data analysis
CN109073615B (zh) * 2016-05-02 2021-11-23 株式会社岛津制作所 数据处理装置
EP3465144A4 (en) * 2016-05-27 2020-01-15 The Government of the United States of America, as represented by the Secretary of the Navy ANALYSIS OF REFLECTION-BASED COLOR CHANGES IN SENSOR APPLICATIONS
TW201908726A (zh) * 2017-07-21 2019-03-01 日商日立高新技術科學股份有限公司 頻譜資料處理裝置以及頻譜資料處理方法
TWI770189B (zh) * 2017-07-21 2022-07-11 日商日立高新技術科學股份有限公司 質量分析裝置以及質量分析方法
JP7312675B2 (ja) * 2019-11-11 2023-07-21 日本電子株式会社 マススペクトル処理装置及び方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5596135A (en) * 1994-01-31 1997-01-21 Shimadzu Corporation Apparatus for and method of determining purity of a peak of a peak of a chromatogram
CN101256175A (zh) * 2007-11-21 2008-09-03 皖南医学院 一种色谱指纹图谱峰纯度的检验方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0486030B1 (en) 1990-11-16 1997-01-15 Shimadzu Corporation Fraction purity measuring apparatus for chromatogram peak
JP2936700B2 (ja) * 1990-11-16 1999-08-23 株式会社島津製作所 クロマトグラムピークの成分純度測定装置
JP2000266738A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Hitachi Ltd 液体クロマトグラフ質量分析装置
US6629039B1 (en) * 2000-04-27 2003-09-30 Perkinelmer Instruments Llc Method and apparatus for impurity detection
JP2005106537A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Shimadzu Corp 分取液体クロマトグラフ装置
US8175817B2 (en) * 2007-01-03 2012-05-08 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Reciprocal symmetry plots as a new representation of countercurrent chromatograms
JP5146344B2 (ja) * 2009-02-09 2013-02-20 株式会社島津製作所 クロマトグラフ用データ処理装置
JP5333295B2 (ja) * 2010-03-09 2013-11-06 株式会社島津製作所 クロマトグラムピーク純度判定装置
WO2011155984A1 (en) * 2010-06-11 2011-12-15 Waters Technologies Corporation Techniques for mass spectrometry peak list computation using parallel processing
BR112014000876A2 (pt) * 2011-07-14 2017-02-21 Allergan Inc composições em gel de oximetazolina e métodos de uso
WO2013035639A1 (ja) * 2011-09-05 2013-03-14 株式会社島津製作所 クロマトグラムデータ処理装置及び処理方法
CN102507753B (zh) * 2011-10-21 2013-09-18 利穗科技(苏州)有限公司 一种搭配阵列检测器的制备色谱系统
DK2772289T3 (en) * 2013-03-01 2015-08-10 Chromacon Ag Chromatographic method for the enrichment and isolation

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5596135A (en) * 1994-01-31 1997-01-21 Shimadzu Corporation Apparatus for and method of determining purity of a peak of a peak of a chromatogram
CN101256175A (zh) * 2007-11-21 2008-09-03 皖南医学院 一种色谱指纹图谱峰纯度的检验方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6156501B2 (ja) 2017-07-05
CN105518456A (zh) 2016-04-20
WO2015029508A1 (ja) 2015-03-05
JPWO2015029508A1 (ja) 2017-03-02
CN108918744A (zh) 2018-11-30
US10802005B2 (en) 2020-10-13
US20160209380A1 (en) 2016-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105518456B (zh) 色谱数据处理装置
CN103765207B (zh) 色谱数据处理装置及处理方法
CN105659081B (zh) 色谱数据处理装置
US10151734B2 (en) Data processing system and method for chromatograph
JP5962775B2 (ja) クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
JP6573028B2 (ja) データ処理装置
CN110879219B (zh) 基于三维荧光光谱的水中矿物油检测方法
CN109738413A (zh) 基于稀疏非负最小二乘的混合物拉曼光谱定性分析方法
US10317378B2 (en) Data processing system and data processing method for chromatograph
JP5962845B2 (ja) クロマトグラムデータ処理装置及び処理方法
CN112345759A (zh) 一种用于荧光强度峰检测的方法
JP2013171014A (ja) クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法
CN106596765B (zh) 一种食品原料中麦芽糊精添加量的检测方法
CN103616522A (zh) 一种基于包络面积与两次补偿的免疫层析结果识别方法
US9739756B2 (en) Data processing system and method for chromatograph
JP2016017941A (ja) クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法並びにクロマトグラフ分析システム
CN106290675A (zh) 谱峰终点调整方法及具有谱峰终点调整功能的色谱工作站
Zhan et al. A real-time de-noising method applied for transient and weak biomolecular interaction analysis in surface plasmon resonance biosensing
Cai et al. An automatic peak detection algorithm for Raman spectroscopy based on wavelet transform
Klus et al. Multivariate Approach to Detection of Uranium Using LIBS
CN116223414A (zh) 一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法
Sikora et al. Automatic detection of the flame during the determination of the comparative tracking indices
CN102410984A (zh) 一种基于光谱的地表水中有机物快速识别方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant