CN105466319A - 隔振器变形测量工装及其测量方法 - Google Patents

Abstract

一种隔振器变形测量工装及其测量方法，包括第一过渡件，第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，第一过渡件垂直连接第二过渡件，第二过渡件上安装有移动数显装置，移动数显装置上连接第三过渡件，第三过渡件上滑动安装定位针；测量时选取相应组合孔，将第一、二过渡件连接，之后第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，调整磁性底座使定位针能接触隔振器顶、底部；调整定位针同时移动第三过渡件，使定位针能接触到隔振器顶、底部中心位置，并读取数据得到隔振器变形后高度值，其与隔振器正常高度值的差为隔振器安装前后变形量。本发明能精确测量隔振器安装变形量，达到控制隔振器变形量目的，其结构简单，易操作，具有通用性，成本低。

Description

隔振器变形测量工装及其测量方法

技术领域

本发明涉及测量工装技术领域，具体涉及一种隔振器变形测量工装及其测量方法。

背景技术

橡胶隔振器为硫化元器件，其隔振效果与不同受载条件下的变形量密切相关。以往工程上对隔振器安装变形主要采用目视检查、直尺测量的方法进行检测。隔振器在工程安装状态下的测量环境复杂、空间狭小，在无辅助工装测量的情况下，目视检查无法定量描述隔振器的变形，直尺测量无法有效定位且测量精度难以得到保证，隔振器的变形量无法准确获取，影响施工单位对隔振器隔振性能的掌握和控制。

发明内容

本发明的目的在于提供一种隔振器变形测量工装及其测量方法，其能够精确测量不同型号隔振器的安装变形，达到控制隔振器变形量的目的，同时其结构简单，易于操作，具有通用性，测量精度高，加工制造成本低。

为了达到上述目的，本发明提供一种隔振器变形测量工装，其中包括第一过渡件，所述第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，所述第一过渡件的一端垂直连接第二过渡件，所述第二过渡件上安装有与设备基座表面垂直的移动数显装置，所述移动数显装置上连接有第三过渡件，所述第三过渡件上滑动安装有与设备基座表面平行的定位针。

进一步地，所述磁性底座上设有吸力控制开关。

进一步地，所述第一过渡件为倒置的L形板，所述磁性底座设于第一过渡件的水平向板下面。

进一步地，所述第二过渡件为匚形板，所述第二过渡件的竖直向板与第一过渡件的一端垂直连接，所述移动数显装置垂直安装于第二过渡件的两个悬置端之间。

进一步地，所述第二过渡件的竖直向板上由上向下设有多组连接孔，所述第一过渡件与第二过渡件之间通过固定插销连接在一起，并通过固定螺钉连接固定，所述固定插销插置在其中一个连接孔上。

进一步地，所述第三过渡件为一连接块，所述第三过渡件的侧面设有一豁口，所述定位针可沿豁口前后滑动的插置在豁口内。

进一步地，所述移动数显装置为数显标尺。

进一步地，所述移动数显装置包括安装于第二过渡件两个悬置端之间的测量尺和安装于测量尺上可沿测量尺表面移动的数值显示结构，所述测量尺垂直于设备基座表面，所述第三过渡件通过螺栓与数值显示结构螺接固定。

进一步地，所述定位针由位于前端的尖端片体和位于尖端片体后端的杆体一体构成，所述尖端片体下表面和杆体下表面位于同一水平面。

一种使用所述的隔振器变形测量工装的测量方法，其包括如下步骤：

(1)选取第二过渡件上相应组合孔，将第一过渡件与第二过渡件连接装配起来；

(2)将第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，然后调整磁性底座，使定位针能接触到隔振器的顶部和底部；

(3)根据隔振器距离设备边缘的距离调整定位针的位置，同时移动第三过渡件，使定位针的尖端片体下表面能垂直接触到隔振器的顶部中心位置和底部中心位置，并从移动数显装置上读取该两个位置的数据，两个位置的数据差为隔振器变形后的高度值，该高度值与隔振器正常高度值的差为隔振器安装前后的变形量。

采用上述方案后，本发明具有以下有益效果：

1、通过磁性底座、第一、二、三过渡件、定位针及移动数显装置连接组成的本发明测量工装，通过调整磁性底座的位置，保证定位针能够接触到隔振器，再通过调整定位针及第三过渡件的位置，使定位针能垂直接触到隔振器的顶部、底部的中心位置，从而准确测量得到隔振器变形前后的高度差，该测量工装能精确测量隔振器的安装变形，达到控制隔振器变形量的目的，其结构简单，易于操作，具有通用性，测量精度高，加工制造成本低；

2、通过设置磁性底座，使第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，使得该测量工装操作更加方便，而通过在磁性底座上设置吸力控制开关，方便用户将磁性底座固定或脱离设备基座表面；

3、通过采用移动数显装置可方便用户准确测量到隔振器上、下表面的高度数据，而该移动数显装置结构简单，易操作。

附图说明

图1为本发明隔振器变形测量工装的实施例一立体结构示意图；

图2为安装测量工装前的设备、设备基座及隔振器的位置关系示意图；

图3为本发明隔振器变形测量工装的实施例二立体结构示意图；

图4为本发明隔振器变形测量工装的实施例三立体结构示意图；

图5为本发明隔振器变形测量工装的实施例四立体结构示意图；

图6为本发明隔振器变形测量工装的实施例五立体结构示意图；

图7为本发明隔振器变形测量工装的实施例五主视结构示意图；

图8为本发明隔振器变形测量工装的实施例六主视结构示意图；

图9为本发明隔振器变形测量工装的测量方法流程图。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本发明做进一步的描述。

如图1所示本发明隔振器变形测量工装的实施例一立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3上安装有与设备基座垂直的移动数显装置，该实施例中移动数显装置为数显标尺4，其为现有产品，该数显标尺4包括尺杆5，尺杆5的上、下端分别连接有支架6，位于下端的支架6通过螺栓与第二过渡件3连接。尺杆5上安装有尺框7，尺框7上设有能显示测量数据的显示屏8，数显标尺4的尺框7上通过螺栓连接有第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，其上安装有与设备基座表面平行的杆状定位针10。

测量时，结合图2所示，设备基座11的上表面安装有多个隔振器12，此实施例中隔振器12均为橡胶隔振器，设备13放置在多个隔振器12的上面，各隔振器12的变形各不相同，设备13其实处于倾斜状态，测量时，先根据设备基座11的表面大小，将第一过渡件1与第二过渡件3的合适位置连接装配，之后将第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座11的上表面，然后调整磁性底座2，使定位针10能接触到隔振器12的顶部和底部；最后根据隔振器12距离设备13边缘的距离调整定位针10的位置，同时移动第三过渡件9，使定位针10的前端下表面能垂直接触到隔振器12的顶部中心位置和底部中心位置，并从数显标尺4上读取该两个位置的数据，两个位置的数据差为隔振器12变形后的高度值，该高度值与隔振器12正常高度值的差为隔振器12安装前后的变形量。

如图3所示本发明隔振器变形测量工装的实施例二立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3为匚形板，第二过渡件3的竖直向板与第一过渡件1的前端垂直连接，第二过渡件3的两个悬置端之间垂直安装有移动数显装置，该实施例中移动数显装置为数显标尺4，其为现有产品，该数显标尺4包括尺杆5，尺杆5的上、下端分别连接有支架6，两个支架6通过螺栓与第二过渡件3的两个悬置端连接。尺杆5上安装有尺框7，尺框7上设有能显示测量数据的显示屏8，数显标尺4的尺框7上通过螺栓连接有第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，其上安装有与设备基座表面平行的杆状定位针10。

该实施例的测量过程与图1所述实施例的测量过程相同，此处不再赘述。

如图4所示本发明隔振器变形测量工装的实施例三立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。磁性底座2上设有吸力控制开关14，用于控制该磁性底座2的磁性力，方便磁性底座2吸附于设备基座上及脱离设备基座。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3为匚形板，第二过渡件3的竖直向板与第一过渡件1的前端垂直连接，第二过渡件3的两个悬置端之间垂直安装有移动数显装置，该实施例中移动数显装置为数显标尺4，其为现有产品，该数显标尺4包括尺杆5，尺杆5的上、下端分别连接有支架6，两个支架6通过螺栓与第二过渡件3的两个悬置端连接。尺杆5上安装有尺框7，尺框7上设有能显示测量数据的显示屏8，数显标尺4的尺框7上通过螺栓连接有第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，其上安装有与设备基座表面平行的杆状定位针10。

该实施例的测量过程与图1所述实施例的测量过程相同，此处不再赘述。

如图5所示本发明隔振器变形测量工装的实施例四立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。磁性底座2上设有吸力控制开关14，用于控制该磁性底座2的磁性力，方便磁性底座2吸附于设备基座上及脱离设备基座。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端(即竖直向板)通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3为匚形板，第二过渡件3的竖直向板上由上向下设有多组连接孔15，此实施例设置有三组连接孔15。第一过渡件1的前端与第二过渡件3之间通过固定插销16连接在一起，并通过固定螺钉连接固定，固定插销16插置在其中一组连接孔15的其中一个孔上，该组连接孔15的其它孔用于安装固定螺钉，安装时，先安装固定插销16，可以调整第一过渡件1与第二过渡件3二者的角度，当角度调整好后，通过其它固定螺钉将第一过渡件1和第二过渡件3固定在一起。第二过渡件3的两个悬置端之间垂直安装有移动数显装置，该实施例中移动数显装置为数显标尺4，其为现有产品，该数显标尺4包括尺杆5，尺杆5的上、下端分别连接有支架6，两个支架6通过螺栓与第二过渡件3的两个悬置端连接。尺杆5上安装有尺框7，尺框7上设有能显示测量数据的显示屏8，结合图6所示，数显标尺4的尺框7上通过螺栓连接有第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，第三过渡件9的侧面设有一豁口17，该豁口17上滑动安装有与设备基座表面平行的杆状定位针10，该定位针10可沿豁口17前后滑动。

测量时，可参考图9所示本发明隔振器变形测量工装的测量方法流程图，包括如下步骤：

S1、选取第二过渡件3上相应组的连接孔15，将第一过渡件1与第二过渡件3通过螺栓连接装配；

S2、将第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座11的上表面，然后调整磁性底座2，使定位针10能接触到隔振器12的顶部和底部；

S3、根据隔振器12距离设备13边缘的距离调整定位针10的位置，同时移动第三过渡件9，使定位针10的前端下表面能垂直接触到隔振器12的顶部中心位置和底部中心位置，并从数显标尺4上读取该两个位置的数据，该两个位置的数据差即为隔振器12变形后的高度值，该高度值与隔振器12正常高度值的差为隔振器12安装前后的变形量。

如图7所示本发明隔振器变形测量工装的实施例五立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。磁性底座2上设有吸力控制开关14，用于控制该磁性底座2的磁性力，方便磁性底座2吸附于设备基座上及脱离设备基座。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端(即竖直向板)通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3为匚形板，第二过渡件3的竖直向板上由上向下设有多组连接孔15，此实施例设置有三组连接孔15。第一过渡件1的前端与第二过渡件3之间通过固定插销16连接在一起，并通过固定螺钉连接固定，固定插销16插置在其中一组连接孔15的其中一个孔上，该组连接孔15的其它孔用于安装固定螺钉，安装时，先安装固定插销16，可以调整第一过渡件1与第二过渡件3二者的角度，当角度调整好后，通过其它固定螺钉将第一过渡件1和第二过渡件3固定在一起。第二过渡件3的两个悬置端之间垂直安装有移动数显装置，该实施例中移动数显装置包括安装于第二过渡件3的两个悬置端之间的测量尺18和安装于测量尺18上可沿测量尺18表面移动的数值显示结构，测量尺18垂直于设备基座表面，测量尺18上设有尺寸刻度，数值显示结构包括安装于测量尺18上的尺套19，该尺套19上正对着测量尺18刻度的位置设有开口20，测量尺18上的测量刻度通过开口20显示给用户。该尺套19通过螺栓连接第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，第三过渡件9的侧面设有一豁口17，该豁口17上滑动安装有与设备基座表面平行的杆状定位针10，该定位针10可沿豁口17前后滑动，该第三过渡件9上沿与定位针10下表面同一水平方向上连接有透明定位圈21，该定位圈21套置于尺套19内腔的测量尺18表面，随时保持精确测量定位针10下表面所在水平方向的刻度。

该实施例的测量过程与图5所述实施例的测量过程基本相同，此处不再赘述。

如图8所示本发明所示本发明隔振器变形测量工装的实施例六立体结构示意图，包括第一过渡件1，第一过渡件1通过磁性底座2固定于设备基座上表面。磁性底座2上设有吸力控制开关14，用于控制该磁性底座2的磁性力，方便磁性底座2吸附于设备基座上及脱离设备基座。本实施例中第一过渡件1为倒置的L形板，磁性底座2设于第一过渡件1的水平向板下面，磁性吸附于设备基座上表面。第一过渡件1的前端(即竖直向板)通过螺栓垂直连接第二过渡件3，第二过渡件3为匚形板，第二过渡件3的竖直向板上由上向下设有多组连接孔15，此实施例设置有三组连接孔15。第一过渡件1的前端与第二过渡件3之间通过固定插销16连接在一起，并通过固定螺钉连接固定，固定插销16插置在其中一组连接孔15的其中一个孔上，该组连接孔15的其它孔用于安装固定螺钉，安装时，先安装固定插销16，可以调整第一过渡件1与第二过渡件3二者的角度，当角度调整好后，通过其它固定螺钉将第一过渡件1和第二过渡件3固定在一起。第二过渡件3的两个悬置端之间垂直安装有移动数显装置，该实施例中移动数显装置为数显标尺4，其为现有产品，该数显标尺4包括尺杆5，尺杆5的上、下端分别连接有支架6，两个支架6通过螺栓与第二过渡件3的两个悬置端连接。尺杆5上安装有尺框7，尺框7上设有能显示测量数据的显示屏8，数显标尺4的尺框7上通过螺栓连接有第三过渡件9，第三过渡件9为一连接块，第三过渡件9的侧面设有一豁口17，该豁口17上滑动安装有与设备基座表面平行的定位针10，定位针10由位于前端的尖端片体22和位于尖端片体22后端的杆体23一体构成，尖端片体22的下表面和杆体23的下表面位于同一水平面。该定位针10可沿豁口17前后滑动。

该实施例的测量过程与图5所述实施例的测量过程基本相同，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种隔振器变形测量工装，其特征在于，包括第一过渡件，所述第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，所述第一过渡件的一端垂直连接第二过渡件，所述第二过渡件上安装有与设备基座表面垂直的移动数显装置，所述移动数显装置上连接有第三过渡件，所述第三过渡件上滑动安装有与设备基座表面平行的定位针。

2.如权利要求1所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述磁性底座上设有吸力控制开关。

3.如权利要求2所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述第一过渡件为倒置的L形板，所述磁性底座设于第一过渡件的水平向板下面。

4.如权利要求3所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述第二过渡件为匚形板，所述第二过渡件的竖直向板与第一过渡件的一端垂直连接，所述移动数显装置垂直安装于第二过渡件的两个悬置端之间。

5.如权利要求4所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述第二过渡件的竖直向板上由上向下设有多组连接孔，所述第一过渡件与第二过渡件之间通过固定插销连接在一起，并通过固定螺钉连接固定，所述固定插销插置在其中一个连接孔上。

6.如权利要求5所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述第三过渡件为一连接块，所述第三过渡件的侧面设有一豁口，所述定位针可沿豁口前后滑动的插置在豁口内。

7.如权利要求6所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述移动数显装置为数显标尺。

8.如权利要求6所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述移动数显装置包括安装于第二过渡件两个悬置端之间的测量尺和安装于测量尺上可沿测量尺表面移动的数值显示结构，所述测量尺垂直于设备基座表面，所述第三过渡件通过螺栓与数值显示结构螺接固定。

9.如权利要求1-8之一所述的隔振器变形测量工装，其特征在于，所述定位针由位于前端的尖端片体和位于尖端片体后端的杆体一体构成，所述尖端片体下表面和杆体下表面位于同一水平面。

10.一种使用权利要求1-9之一所述的隔振器变形测量工装的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)选取第二过渡件上相应组合孔，将第一过渡件与第二过渡件连接装配起来；

(2)将第一过渡件通过磁性底座固定于设备基座表面，然后调整磁性底座，使定位针能接触到隔振器的顶部和底部；

(3)根据隔振器距离设备边缘的距离调整定位针的位置，同时移动第三过渡件，使定位针的尖端片体下表面能垂直接触到隔振器的顶部中心位置和底部中心位置，并从移动数显装置上读取该两个位置的数据，两个位置的数据差为隔振器变形后的高度值，该高度值与隔振器正常高度值的差为隔振器安装前后的变形量。