CN208921061U - 一种基板变形量的检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及玻璃基板生产技术领域，公开了一种基板变形量的检测治具。基板变形量的检测治具包括治具板，治具板上间隔设有多个支撑组件，支撑组件在治具板上的位置能调节，且支撑组件上设有能将支撑组件固定在治具板上的锁紧件。本实用新型提供的基板变形量的检测治具，能根据检测基板变形量检测的要求调整支撑组件之间的间距，降低了检测治具的制造成本，提高了基板变形量的检测精度。

Description

一种基板变形量的检测治具

技术领域

本实用新型涉及基板生产技术领域，尤其涉及一种基板变形量的检测治具。

背景技术

近年来，在手机、平板电脑等移动显示器及大型液晶电视等平板显示器中，都使用具有高强度、耐刮伤、抗冲击的玻璃基板以保护显示器。对于玻璃基板，其在自身重力作用下的变形量是一项重要指标。在现有技术中，玻璃基板在搬运或检测等过程中，需要由多个支撑件支撑，支撑件之间的间距不同，玻璃基板的自重变形也不同。在检测玻璃基板时，不能准确地确定支撑件之间的距离是否满足玻璃基板检测时的要求。因此，需要设计一种玻璃基板变形量的检测治具，以提前确定支撑件之间的距离，从而设计出符合基板传输或检测所需的支撑平台。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种基板变形量的检测治具，以解决现有技术中支撑件间距设计不能满足基板支撑需求的技术问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种基板变形量的检测治具，包括治具板，所述治具板上间隔设有多个支撑组件，所述支撑组件在所述治具板上的位置能调节，且所述支撑组件上设有能将所述支撑组件固定在所述治具板上的锁紧件。

作为优选技术方案，所述治具板上设有多个长槽，每个所述长槽内能安装所述支撑组件，且所述支撑组件能沿所述长槽滑动。

作为优选技术方案，所述治具板的形状设置为方形，在所述治具板的对角线上分别对称设置两组所述长槽。

作为优选技术方案，每组所述长槽分别包括至少两个间隔设置的所述长槽。

作为优选技术方案，所述支撑组件包括支撑杆，所述支撑杆的一端穿过所述长槽，且其端部连接有限位件，所述支撑杆的另一端设有所述锁紧件。

作为优选技术方案，所述限位件包括与所述支撑杆螺纹连接的螺母。

作为优选技术方案，所述锁紧件包括与所述支撑杆螺纹连接的螺母。

作为优选技术方案，还包括用于采集基板变形量的3D成像组件，所述3D成像组件设置在所述治具板的上方。

本实用新型的有益效果：本实用新型提供的基板变形量的检测治具的治具板上设置多个支撑组件，支撑组件的位置能根据基板的变形量的检测需求进行调整，以便准确检测基板的变形量，此外，不仅减少了支撑组件设置的个数，降低了支撑组件设置的密度和检测治具的制造成本，还增大了检测时背光透过的面积，提高了基板变形量的检测精度；此检测治具还能检测不同尺寸的基板，使检测治具具有通用性。

附图说明

图1是本实用新型实施例所述的基板变形量的检测治具的治具板的结构示意图；

图2是本实用新型实施例所述的基板变形量的检测治具的治具板的主视图；

图3是本实用新型实施例所述的基板变形量的检测方法的流程图。

图中：

1、治具板；11、长槽；2、支撑组件；21、支撑杆；22、限位件；23、锁紧件。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部。

如图1和图2所示，本实施例提供了一种基板变形量的检测治具，用于检测基板的变形量。基板变形量的检测治具包括治具板1，治具板1上间隔设有多个支撑组件2，支撑组件2在治具板1上的位置能调节，且支撑组件2上设有能将支撑组件2固定在治具板1上的锁紧件23。

具体地，治具板1上开有多个长槽11，长槽11内能安装支撑组件2，支撑组件2在长槽11内滑动，以调整支撑组件2的位置，锁紧件23将支撑组件2固定在治具板1上。由于支撑位置的不同，基板产生的变形量不同，检测治具检测的目的是针对此种基板在特定地支撑条件下的变形量是否符合要求。设置的支撑组件2的位置能根据基板的变形量的检测需求进行调整，因此无需设置很多个支撑组件2，不仅降低了支撑组件2设置的密度，进而降低了检测治具的制造成本，还增大了检测时背光透过的面积，提高了基板变形量的检测精度；此检测治具还能检测不同尺寸的基板，使检测治具具有通用性。

在本实施例中，治具板1的形状为方形，优选为正方形，也可以是圆形、多边形等其它形状，在此不作限定。治具板1上设置四组长槽11，在治具板1的每条对角线上分别设置两组长槽11，且两组长槽11以治具板1的中心为中心对称设置。此外，长槽11不局限于设置四组，还可以多于四组或者少于四组，满足支撑基板的需求即可。长槽11也不局限设置于对角线上，还可以设置在治具板1相对的两侧边的中线上，在此不再详细叙述。

每组长槽11至少包括两个间隔设置的长槽11，且长槽11延伸的方向相同。在本实施例中，每组长槽11优选包括两个长槽11，且其中一个长槽11内安装一个支撑组件2。间隔设置两个长槽11不仅增大了支撑组件2调节的范围，还提高了检测治具的结构强度。

支撑组件2包括支撑杆21，支撑杆21的一端穿过长槽11，且其端部连接有限位件22，支撑杆21的另一端设置锁紧件23。在本实施例中，限位件22包括与支撑杆21螺纹连接的螺母，锁紧件23包括与支撑杆21螺纹连接的螺母。限位件22置于治具板1的下方，锁紧件23置于治具板1的上方，且限位件22的螺母和锁紧件23的螺母的直径均大于长槽11的宽度，限位件22和锁紧件23的共同作用将支撑杆21固定在长槽11上。在其它实施例中，支撑组件2还可以是其它结构，例如限位件22与支撑杆21的一端固定连接或为一体成型，支撑杆21的另一端穿过治具板1上的长槽11，且支撑杆21上连接有锁紧件23，锁紧件23可以是螺母。

该检测治具还包括3D成像组件，用于采集基板的变形量，3D成像组件设置在治具板1的上方。

如图3所示，本实施例还提供了一种基板变形量的检测方法，应用于上述的基板变形量的检测治具上。检测方法包括以下步骤：

步骤一、提供基板变形量的检测治具。

步骤二、根据基板变形量的检测需求，调整相邻两个支撑组件2的间距。

具体地，每种基板需要检测的变形量不同，不同的支撑位置，导致基板的变形量不同，因此，根据基板的实际检测需求调整相邻两个支撑组件2的间距，使基板产生特定的变形。

步骤三、将基板放置在多个支撑组件2形成的支撑面上。

具体地，多个支撑组件2形成支撑面，基板放置在此支撑面上，支撑组件2与基板的局部位置接触，基板会因重力作用产生变形，然后检测基板的变形量，并判断变形量是否符合要求。

步骤四、通过成像单元检测基板的变形量。

在本实施例中，通过3D成像组件检测基板的变形量。3D成像组件建立一个基准面，基准面与支撑组件2形成的支撑面重合，将基板与基准面进行比较，基板由于自身重力作用，其局部会产生变形，3D成像组件采集基板相对基准面的变形量，并通过控制系统判断变形量是否在规定范围内。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种基板变形量的检测治具，其特征在于，包括治具板(1)，所述治具板(1)上间隔设有多个支撑组件(2)，所述支撑组件(2)在所述治具板(1)上的位置能调节，且所述支撑组件(2)上设有能将所述支撑组件(2)固定在所述治具板(1)上的锁紧件(23)。

2.根据权利要求1所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，所述治具板(1)上设有多个长槽(11)，每个所述长槽(11)内能安装所述支撑组件(2)，且所述支撑组件(2)能沿所述长槽(11)滑动。

3.根据权利要求2所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，所述治具板(1)的形状设置为方形，在所述治具板(1)的对角线上分别对称设置两组所述长槽(11)。

4.根据权利要求3所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，每组所述长槽(11)分别包括至少两个间隔设置的所述长槽(11)。

5.根据权利要求2所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，所述支撑组件(2)包括支撑杆(21)，所述支撑杆(21)的一端穿过所述长槽(11)，且其端部连接有限位件(22)，所述支撑杆(21)的另一端设有所述锁紧件(23)。

6.根据权利要求5所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，所述限位件(22)包括与所述支撑杆(21)螺纹连接的螺母。

7.根据权利要求5所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，所述锁紧件(23)包括与所述支撑杆(21)螺纹连接的螺母。

8.根据权利要求1所述的基板变形量的检测治具，其特征在于，还包括用于采集基板变形量的3D成像组件，所述3D成像组件设置在所述治具板(1)的上方。