CN108180934B - 一种光纤传感装置的检测装置及检测方法 - Google Patents

一种光纤传感装置的检测装置及检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种光纤传感装置的检测装置,包括水平测量板和垂直设置在水平测量板上的竖直测量板,通过将光纤传感器安装在竖直测量板上,根据透光法原理测量光纤传感器探头至测量块组的间隙是否相同,确定光纤传感器探头是否位于同一平面,同时根据光纤传感器探头的光路交点是否位于纵向校正线上,确定两个光纤传感器探头的夹角是否符合要求,该测量装置结构简单,制作成本低,操作简单,能够快速对光纤传装置进行检测,提高了检测效率。

Description

一种光纤传感装置的检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及TFT玻璃制造检测设备领域,具体为一种光纤传感装置的检测装置及检测方法。
背景技术
TFT用玻璃在自动化生产设备在制造过程中,需要对玻璃板的质量进行检测,通常采用的有接触和非接触检测两类传感器,对接触传感器存在会出现划伤、污染等隐患已经被非接触式传感器取代。非接触传感器的代表就是光电开关,光纤传感器作为检测精度高,效率高,故障少被大量使用在控制系统中。
TFT用玻璃具有光学透过率高的特点,因垂直反射的光电开关,光线照射玻璃表面后会出现穿透,反射的光线被减少,影响了玻璃检测效果。为了提高反射光的稳定性,采用将投射光和反射光成一定夹角方式,降低了穿透损失。
如图1和2所示,光纤传感装置包括支架2,支架上设置有安装孔,支架的端面上对称设置两个用于固定光纤传感器探头1的连接板,两个传感器探头分别通过锁紧卡3固定在连接板上,两个传感器探头之间的角度为60°~80°。
该式光纤传感器具有结构尺寸精度高、安装难度大的特点,如果安装固定不正确,或光纤传感器支架出现变形、光纤探头固定不可靠、光纤探头自身变形松动、环境或机械振动等原因造成光纤传感器结构改变,均会严重影响检测效果。因此在使用该光纤传感器前有必要对其进行检测,目前还没有针对光纤传感器的检测装置。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种光纤传感装置的检测装置及检测方法,将光纤传感装置设置在测量台上,采用透光法结合光路的交点位置,能够对光纤传感装置进行准确的检测。
本发明是通过以下技术方案来实现:
一种光纤传感装置的检测装置,包括水平测量板和垂直设置在水平测量板上的竖直测量板;
所述竖直测量板上设置有两个安装孔,所述安装孔与光纤传感装置支架上的固定孔相匹配,两个安装孔之间形成的直线为垂直线,竖直测量板上还设置有用于测量两个光纤传感器探头是否处于同一平面的测量块组;
水平测量板上设置有纵向校正线,纵向校正线与两个安装孔之间形成直线位于同一平面;
光纤传感装置安装在竖直测量板上,光纤传感装置的光路交点位于纵向校正线上。
进一步,还包括校正器;校正器水平放置在水平测量板上,所述安装孔设置在校正器中心,测量块组设置在校正器的端面上。
进一步,所述测量块组包括两个结构相同且对称设置在安装孔两侧的测量块,测量块上设置有两个测量面,两个测量面分别与光纤传感器探头的外表面和锁紧卡的外表面完全接触。
进一步,所述测量块包括第一高度块和第二高度块;所述第一高度块与锁紧卡的外表面接触,第二高度块与光纤传感器探头的外表面接触。
进一步,所述竖直测量板上设置有垂直刻度尺,所述刻度尺与两个安装孔之间形成直线重合,所述纵向校正线为纵向刻度尺。
进一步,所述水平测量板上还设置有横向刻度尺。
一种光纤传感装置的检测装置的检测方法,包括以下步骤:
S1、将光纤传感装置安装在竖直测量板的上;
S2、分别测量两个光纤传感器探头的外表面与测量块组的间隙,间隙相同则两个光纤传感器探头位于同一水平面;
S3、采用激光器分别从两个光纤传感器探头的进光点投射激光,光路的交点位于水平测量板的纵向校正线上,则两个光纤传感器探头的角度符合要求;
S4、测量光路交点到竖直测量板的距离,当所述距离等于光纤传感器探头与支架的设计距离,则光纤传感器探头与支架的位置符合要求。
与现有技术相比,本发明具有以下有益的技术效果:
本发明提供了一种光纤传感装置的检测装置,通过将光纤传感器安装在检测平台上,根据透光法原理测量光纤传感器探头至测量块组的间隙是否相同,确定光纤传感器探头是否位于同一平面,同时根据光纤传感器探头的光路交点是否位于纵向校正线上,确定两个光纤传感器探头的夹角是否符合要求,该测量装置结构简单,制作成本低,操作简单,能够快速对光纤传装置进行检测,提高了检测效率。
在水平测量板设置横向刻度尺和纵向刻度尺,在竖直测量板上设置高度刻度尺,实现对光纤传感装置的测量参数进行量化,同时也提高了测量效率。
附图说明
图1为光纤传感装置的结构示意图;
图2为光纤传感装置的侧视图;
图3为光纤传感装置于校正器的装配示意图;
图4为校正器的侧视图;
图5为校正器的主视图;
图6为安装校正器的测量装置的左视图;
图7为安装校正器的测量装置的主视图;
图8为测量装置的主视图;
图9为测量装置的右视图;
图10为测量装置的俯视图;
图11为安装块的左视图;
图12为安装块的主视图;
图13为校正器的检测流程图;
图14为测量装置的检测流程图;
图15为安装块的操作流程图。
图中:1、光纤传感器探头;2、支架;3锁紧卡、;4、校正器;5、竖直测量板;6、水平测量板;7、安装孔;8-1、第一高度块;8-、第二高度块;9、安装块。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的详细说明,所述是对本发明的解释而不是限定。
本发明提供种光纤传感装置的检测装置,包括校正器和L型的检测平台,检测平台包括水平测量板6和垂直设置在水平测量板上的竖直测量板5。
如图3-5所示,校正器4为矩形结构,校正器4的端面中心上设置有两个安装孔,两个安装孔7位于同一垂直的轴线上,校正器4还设置有两组结构相同的测量块,两组测量块以校正器中心对称设置在校正器4的端面上,每组测量块包括第一高度块8-1和第二高度块8-2,第一高度块和第二高度块的端面为相互平行的垂直面,第一高度块8-1与锁紧卡3的外表接接触,第二高度块8-2与光纤传感器探头1的外表面接触。
如图8-10所示,竖直测量板5的中心设置有用于测量高度的刻度尺,水平测量板6的中心设置纵向刻度尺,在水平测量板6一端还设置有横向刻度尺,横向刻度尺的0刻度位置位于水平测量板6的中心,纵向刻度尺和横向刻度尺呈T型设置,高度刻度尺与纵向刻度尺位于同一平面。
如图6和7所示,校正器4放置在水平测量板6上,校正器4的中心与竖直测量板的中心重合,即两个安装孔之间形成的直线与竖直测量板的中心重合,校正器4的背面与竖直测量板5的端面贴合。
如图11、12和15所示,本发明还提供一种快速安装光纤传感装置的安装块9,该安装块9为矩形结构,安装块9的中心设置有两个定位孔,该定位孔与光纤传感装置支架上固定孔相匹配,安装块9上开设有凹槽,该凹槽的形状与光纤传感器探头1的外形相匹配,光纤传感装置设置在安装块9上,同时保证光纤传感器探头1的光路交点落在基板玻璃表面上,安装光纤传感装置的螺栓,可以穿过安装块的定位孔将安装光纤传感装置固定到设备上。
调校器4和检测平台材料由普通碳钢材料制造,安装块与玻璃表面接触,避免对产品划伤采用非金属材料,优选采用特氟隆。
下面对本发明提供的一种光纤传感装置的检测装置的检测方法进行详细的描述。
如图13和14所示,将光纤传感装置通过支架安装在校正器4的安装孔7上,然后根据透光法原理,分别测量两个光纤传感器探头1外表面与其对应的第二高度块8-2的间隙尺寸,以及分别测量两个锁紧卡3外表面与其对应的第一高度块8-1的间隙尺寸。
当所测量的四个间隙尺寸相同时,则两个光纤传感器探头1处于同一平面,两个光纤传感器探头的位置符合要求。
当其中一个或多个间隙尺寸不相同时,则两个光纤传感器探头不处于同一平面,两个光纤传感器探头的位置不符合要求,则重新安装光纤传感器探头。
将安装有光纤传感装置的校正器4放置在检测平台上,使校正器4的中心与竖直测量板5的中心重合,即校正器的中心与高度刻度尺重合,且校正器的背面与竖直测量板的端面贴合。
采用激光器分别从两个光纤传感器探头的进光点a和b投射激光,当两条光路的交点位于水平测量板6的纵向刻度尺上,则两个光纤传感器探头1的角度符合要求,当光路的交点位于纵向刻度尺的左侧或右侧,则两个光纤传感器探头的角度不符合要求,需进行调整。
测量光路交点到竖直测量板的距离;若该距离等于光纤传感器探头中心到支架的设计距离,则符合要求设计要求。
为了进一步验证两个光纤传感器探头是否位于同一平面,还可通过测量每个光纤传感器探头到竖直测量板的距离,若该距离与测量光路交点到竖直测量板的距离相等,则两个光纤传感器探头位于同一平面,且与支架的距离符合设计要求。
本发明提供的一种光纤传感装置的检测装置,适用于有夹角光纤传感装置的检测,首先使用校正器对光纤传感探头的位置进行校正,然后通过测量台对光纤传感探头光路的检测和纠正,保证光纤传感探头的光信号对被测玻璃基板检测可靠性。排除了传统人工目视感觉,经过反复调试安装位置、检查和调整的不可靠方法,简化了安装过程,节省了调整步骤,降低了设备故障停机等待时间。本发明适用范围G5~G8.5代玻璃基板整板。
以上内容仅为说明本发明的技术思想,不能以此限定本发明的保护范围,凡是按照本发明提出的技术思想,在技术方案基础上所做的任何改动,均落入本发明权利要求书的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,包括水平测量板(6)和垂直设置在水平测量板上的竖直测量板(5);
所述光纤传感装置包括支架(2),支架上设置有固定孔,支架的端面上对称设置两个用于固定光纤传感器探头(1)的连接板,两个传感器探头分别固定在连接板上,两个传感器探头之间的角度为60°~80°;
所述竖直测量板上设置有两个安装孔(7),所述安装孔(7)与光纤传感装置支架(2)上的固定孔相匹配,两个固定孔之间形成的直线为垂直线,竖直测量板(5)上还设置有用于测量两个光纤传感器探头(1)是否处于同一平面的测量块组;
水平测量板(6)上设置有纵向校正线,纵向校正线与两个安装孔之间形成直线位于同一平面;
光纤传感装置安装在竖直测量板(5)上,光纤传感装置的光路交点位于纵向校正线上。
2.根据权利要求1所述一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,还包括校正器(4);校正器(4)水平放置在水平测量板(6)上,所述安装孔(7)设置在校正器(4)中心,测量块组设置在校正器(4)的端面上。
3.根据权利要求1所述一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,所述测量块组包括两个结构相同且对称设置在安装孔(7)两侧的测量块,测量块上设置有两个测量面,两个测量面分别与光纤传感器探头(1)的外表面和锁紧卡的外表面完全接触。
4.根据权利要求3所述一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,所述测量块包括第一高度块(8-1)和第二高度块(8-2);所述第一高度块(8-1)与锁紧卡(3)的外表面接触,第二高度块(8-2)与光纤传感器探头(1)的外表面接触。
5.根据权利要求1所述一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,所述竖直测量板(5)上设置有垂直刻度尺,所述刻度尺与两个安装孔之间形成直线重合,所述纵向校正线为纵向刻度尺。
6.根据权利要求5所述一种光纤传感装置的检测装置,其特征在于,所述水平测量板(6)上还设置有横向刻度尺。
7.一种基于权利要求1所述检测装置的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、将光纤传感装置安装在竖直测量板(5)上;
S2、分别测量两个光纤传感器探头的外表面与测量块组的间隙,间隙相同则两个光纤传感器探头位于同一水平面;
S3、采用激光器分别从两个光纤传感器探头的进光点投射激光,光路的交点位于水平测量板(6)的纵向校正线上,则两个光纤传感器探头的角度符合要求;
S4、测量光路交点到竖直测量板(5)的距离,当所述距离等于光纤传感器探头与支架的设计距离,则光纤传感器探头与支架的位置符合要求。
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