CN104750310A - 触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置，该触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在被分割成多个导电区域的导电膜上是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定不存在接触，则测量在检测到不存在接触后的时间，并且确定所测量的时间是否小于预定时间；以及(c)如果所测量的时间小于所述预定时间，则确定为接触继续。

Description

触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置
本申请是基于申请号为201010169396.4，申请日为2010年4月22日，发明名称为“触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置”的中国专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置。
背景技术
触摸屏面板是能够向显示器进行直接输入的输入设备。触摸屏面板设置于并用于显示器的前表面。能够根据在显示器上视觉获取的信息进行直接输入的触摸屏面板已经广泛用于各种用途。
在触摸屏面板当中，利用电阻膜的触摸屏面板是众所周知的。在电阻膜类型的触摸屏面板中，设置上部电极基板和下部电极基板，使得它们各自的透明导电膜彼此相对，从而响应于对上部电极基板上的点施加力而使透明导电膜彼此接触。结果，可以检测到施加了力的点的位置。
电阻膜类型的触摸屏面板可以大致分为4线型和5线型。4线型触摸屏面板具有设置在上部电极基板和下部电极基板中的一个上的X轴电极和设置在上部电极基板和下部电极基板中的另一个上的Y轴电极。
而5线型触摸屏面板将X轴和Y轴电极都设置在下部电极基板上，并且将上部电极基板用作检测电压的探测器(例如请参见日本公开专利申请No.2004－272722和日本公开专利申请No.2008－293129)。
作为例子，参照图1和图2说明5线型触摸屏面板。图1是5线型触摸屏面板的透视图。图2是5线型触摸屏面板的简要截面图。
参照图1和图2，5线型触摸屏面板200(以下称为“触摸屏面板200”)包括膜210和玻璃220。膜210在其一侧形成透明导电膜230，并且用作上部电极基板。玻璃220在其一侧形成透明导电膜240，并且用作下部电极基板。膜210和玻璃220设置成使得透明导电膜230和透明导电膜240经由隔板250彼此面对。触摸屏面板200通过电缆260电连接至主计算机(未图示)。
图3A和3B是示出检测触摸屏面板200中的坐标的方法的图。根据具有上述结构的触摸屏面板200，如图3A所示，利用设置在透明导电膜240的4个边的端部的电极241、242、243和244，在X轴和Y轴方向上交替地施加电压。响应于透明导电膜230和透明导电膜240在接触点(位置)A相互接触，如图3B所示，通过透明导电膜230检测出电位Va，从而检测出X轴坐标位置和Y轴坐标位置。
根据上述参照图1～图3B说明的(5线型)触摸屏面板200，可以检测一个点处的接触位置。但是，如果同时在多个点进行接触，则不能检测出位置。
即，如图4A所示，通过设置在透明导电膜240的4个对应的边上的电极241、242、243和244在X轴和Y轴方向上交替地施加了电压的情况下，如果透明导电膜230和透明导电膜240在两个接触点(位置)A和B处相互接触，则会检测出点A和B之间的、位置没有被按压的中点处的坐标位置。这是因为，通过透明导电膜230仅检测出一个电位Vc，从而尽管透明导电膜230和透明导电膜240在两个接触点(位置)A和B处接触，由于该位置检测方法是基于电位检测，因此确定接触位置是一个点。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供一种触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置，即使同时在多个接触位置进行了接触时，也能够检测各个接触位置，并且即使在接触位置移动时，也能够执行位置检测。
根据本发明的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在被分割成多个导电区域的导电膜上是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定不存在接触，则测量在检测到不存在接触后的时间，并且确定所测量的时间是否小于预定时间；以及(c)如果所测量的时间小于所述预定时间，则确定为接触继续。
根据本发明的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在将触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域中的相邻的两个导电区域中是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定存在接触，则计算在所述相邻的两个导电区域中接触的两个位置的坐标；(c)根据接触的两个位置的坐标计算这两个位置之间的间隔，并且将所计算的间隔与预定距离进行比较；以及(d)如果所计算的间隔小于所述预定距离，则计算所述两个位置的坐标的平均值，并将该平均值确定为接触位置的坐标。
根据本发明的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)逐个地按顺序扫描将所述触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第一位置；(b)在所述步骤(a)之后，逐个地按顺序扫描所述导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第二位置；以及(c)如果在所述步骤(a)和所述步骤(b)中分别检测到所述第一位置和所述第二位置，则根据在以所述第一位置为中心的预定区域内是否存在所述第二位置，确定所述第一位置与所述第二位置之间的关系。
根据本发明的一个方面，一种触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布；和驱动电路，驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，该处理部分响应于导电区域中的接触从存在切换到不存在，将表示在导电区域中存在与所述触摸屏面板的接触的信号的输出延迟预定时间。
根据本发明的一个方面，一种触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布；和驱动电路，驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，如果在相邻的两个导电区域中接触了所述触摸屏面板，则该处理部分计算在所述相邻的两个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的两个位置的坐标的平均值，并且将该平均值确定为接触位置的坐标。
根据本发明的一个方面，一种电子装置包括触摸屏面板和驱动电路，其中，所述触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；以及电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布，所述驱动电路驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，该处理部分响应于导电区域中的接触从存在切换到不存在，将表示在导电区域中存在与所述触摸屏面板的接触的信号的输出延迟预定时间。
根据本发明的一个方面，一种电子装置包括触摸屏面板和驱动电路，其中，所述触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；以及电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布，所述驱动电路驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，如果在相邻的两个导电区域中接触了所述触摸屏面板，则该处理部分计算在所述相邻的两个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的两个位置的坐标的平均值，并且将该平均值确定为接触位置的坐标。
上述实施方式的目的和优点可以通过在权利要求书中特别指出的要素以及组合来实现和获得。
应当理解，上述一般性说明和下述具体说明是示例性和解释性的，不限制所要求保护的发明。
附图说明
本发明的其它目的、特征和优点将通过结合附图的下述具体说明而变得更加明确。
图1是5线型触摸屏面板的透视图。
图2是5线型触摸屏面板的简要截面图。
图3A和3B是示出检测5线型触摸屏面板中的坐标的方法的图。
图4A和4B是示出检测5线型触摸屏面板中的坐标的方法的图。
图5是本发明的第一实施方式的触摸屏面板的截面图。
图6是本发明的第一实施方式的触摸屏面板的部分分解透视图。
图7是示出本发明的第一实施方式的触摸屏面板的上部电极基板的结构的平面图。
图8是示出本发明的第一实施方式的触摸屏面板的下部电极基板的结构的平面图。
图9是示出本发明的第一实施方式的触摸屏面板的框图。
图10是示出本发明的第一实施方式的非触摸检测处理的图。
图11是本发明的第一实施方式的非触摸检测处理的流程图。
图12是示出本发明的第一实施方式的非触摸检测处理的定时图。
图13是示出本发明的第一实施方式的相邻导电区域处理的图。
图14是本发明的第一实施方式的相邻导电区域处理的流程图。
图15是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的框图。
图16是本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的流程图。
图17是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的结构的图。
图18A和18B是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图19是本发明的第二实施方式的ID分配处理的流程图。
图20是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图21是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图22是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图23是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图24是本发明的第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的流程图。
图25A和25B是示出本发明的第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图26是本发明的第三实施方式的ID分配处理的流程图。
图27是示出本发明的第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图28是示出本发明的第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图29是示出本发明的第四实施方式的电子装置的图。
具体实施方式
以下参照附图说明本发明的实施方式。
[第一实施方式]
以下说明本发明的第一实施方式的触摸屏面板。
图5是本发明的第一实施方式的触摸屏面板100的截面图。
图6是触摸屏面板100的部分分解透视图。
参照图5和图6，本实施方式的触摸屏面板100包括基本为长方形的上部电极基板10和形状与上部电极基板10大致相同的下部电极基板20。
图7是示出上部电极基板10的结构的平面图。
图8是示出下部电极基板20的结构的平面图。
参照图7和图8，上部电极基板10包括膜11和形成在膜11的一侧(面)上的透明导电膜(层)12。下部电极基板20包括玻璃基板21和形成在玻璃基板21的一侧(面)上的透明导电膜(层)22。
上部电极基板10和下部电极基板20利用粘接剂或双面胶带并通过隔板31彼此接合，从而上部电极基板10中的透明导电膜12和下部电极基板20中的透明导电膜22彼此面对。
透明导电膜12可以沿着其较短的边(或图7中的垂直方向)被分割成m个导电区域，并且可以沿着其较长的边(或图7中的水平方向)被分割成n个导电区域，其中，m和n是大于或等于2的自然数，m可以等于n，也可以不同于n。例如，在图7中，透明导电膜12沿宽度方向和长度方向(在图7中为纵向和横向)分别被分割成4个和8个单元，从而总共分割成32个导电区域。通过除去分割区域之间的导电膜12而将透明导电膜12分割成32个导电区域。结果，分割区域彼此电气绝缘。
透明导电膜12的各个分割区域与设置在上部电极基板10的宽度方向上的两端的延伸电极部分13(图7)的延伸电极连接，从而在上部电极基板10的周边部分延伸，在上部电极基板的长度方向上的一端与柔性基板14连接。
参照图6，沿着下部电极基板20的4个边，在透明导电膜22上设置有4个电极部分23、24、25、26，这4个电极部分23、24、25、26形成作为Ag或Ag-C电阻膜的矩形框架(或环)形状的电极(图8)。由这4个电极部分23、24、25、26形成的矩形框架形状的电极具有分别设置在该矩形框架形状的右上角、左上角、右下角和左下角的电极部件UR、UL、LR和LL。这4个电极部件UR、UL、LR和LL通过延伸线从下部电极基板20的周边部分引出，从而如图8所示，在下部电极基板20的长度方向上的一端与柔性基板27连接。
柔性基板14和柔性基板27与控制电路(未图示)连接，并且与主计算机(未图示)连接。透明导电膜12和透明导电膜22的材料的例子包括ITO(氧化铟锡)、Al掺杂ZnO(氧化锌)、Ga掺杂ZnO和Sb掺杂SnO2。
膜11的材料的例子包括PET(Polyethylene terephthalate，聚对苯二甲酸乙二酯)、PC(polycarbonate，聚碳酸酯)和在可见光范围内透明的树脂材料。而且，玻璃基板21可以用树脂基板代替。
根据本实施方式的触摸屏面板100，响应于用手指等按下上部电极基板10，上部电极基板10中的透明导电膜12和下部电极基板20中的透明导电膜22彼此接触。然后，检测出接触位置处的电压，从而上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置、即用手指按下上部电极基板10的点被定位。具体地说，在上部电极基板10中，以时分方式扫描(按顺序扫描)透明导电膜12的各个分割区域，从而可以根据接触的定时来定位或识别包括接触位置的导电区域。在触摸屏面板100中，电压被施加到由设置在下部电极基板20中的透明导电膜22的4个边上的电极部分23、24、25、26形成的矩形框架形状的电极的4个电极部件UR、UL、LR和LL上，从而在下部电极基板20中在X轴(纵向)和Y轴(横向)方向上交替地引起电位差(分布)。
这样，透明导电膜12被分割而形成上部电极基板10中的导电区域。结果，即使当上部电极基板10与下部电极基板20在多个位置处相互接触，也可以针对每个分割导电区域定位或确定接触位置。因此，可以彼此独立地检测各个接触位置。
即，即使上部电极基板10中的透明导电膜12和下部电极基板20中的透明导电膜22如图6所示在由箭头A、B、C、D和E指示的5个位置(点)处接触，接触位置也位于透明导电膜12的不同分割区域中。因此可以彼此独立地检测接触位置。
具体地说，当上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置是箭头A所指示的位置时，上部电极基板10与下部电极基板20在透明导电膜12的导电区域12a中彼此接触。
当上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置是箭头B所指示的位置时，上部电极基板10与下部电极基板20在透明导电膜12的导电区域12b中彼此接触。
当上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置是箭头C所指示的位置时，上部电极基板10与下部电极基板20在透明导电膜12的导电区域12c中彼此接触。
当上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置是箭头D所指示的位置时，上部电极基板10与下部电极基板20在透明导电膜12的导电区域12d中彼此接触。
当上部电极基板10与下部电极基板20的接触位置是箭头E所指示的位置时，上部电极基板10与下部电极基板20在透明导电膜12的导电区域12e中彼此接触。
透明导电膜12的导电区域12a～12e是彼此绝缘的不同区域。因此，可以彼此独立地检测接触位置。因此，即使当上部电极基板10与下部电极基板20在5个位置处彼此接触时，也可以定位或识别各个接触位置。
这样，即使当透明导电膜12与透明导电膜22在多个位置(点)处彼此接触时，也可以确定所接触的导电区域。而且，通过检测透明导电膜22中的电位分布，可以更准确地检测坐标位置。而且，当透明导电膜12与透明导电膜22的接触位置移动时，可以识别接触位置的移动，并且通过检测透明导电膜22中的电位分布，可以检测接触位置移动到的位置的坐标。
在透明导电膜12中，通过沿着各个导电区域的周边除去透明导电膜12(的部分)而形成各个导电区域。这可以使相邻的导电区域彼此绝缘。
作为例子，可以如下(沿着各个导电区域的周边)除去透明导电膜12：(a)将透明导电膜12的要除去的区域暴露在激光中，通过热或剥蚀除去暴露在激光中的区域；(b)在透明导电膜12上涂布光致抗蚀剂，通过利用曝光装置进行曝光和显影而在要形成导电区域的区域上形成抗蚀剂图案，通过执行干法蚀刻或湿法蚀刻，除去透明导电膜12的没有形成抗蚀剂图案的区域；或(c)在透明导电膜12的要除去的区域上印刷蚀刻膏来除去这些区域。优选地，通过暴露到激光中而除去透明导电膜12。
优选地，透明导电膜12的被除去以形成导电区域的部分小于或等于1mm宽。在触摸屏面板中，透明导电膜的被除去区域的宽度增大会导致不能执行检测的区域增大，从而妨碍了触摸屏面板充分发挥作用。假定用手指或笔来接触触摸屏面板，则笔的点大约为半径0.8mm。因此，如果透明导电膜12的要除去的区域(部分)小于或等于1mm宽，则相信不会妨碍触摸屏面板100实现其功能。根据该实施方式，透明导电膜12的要除去的区域可以大约为100μm宽，以便提高触摸屏面板100的可见性和功能。
以下说明本实施方式的触摸屏面板的位置检测方法和触摸屏面板。
图9是示出本发明的第一实施方式的触摸屏面板的框图。
参照图9，本实施方式的图5所示的触摸屏面板100通过柔性基板14和27与驱动电路130连接。在图9所示的情况下，触摸屏面板100和驱动电路130可以实现为作为电子装置的一个例子的触摸屏面板单元。驱动电路130可以包括在触摸屏面板100中，也可以设置在触摸屏面板100的外部。触摸屏面板100可以通过驱动电路130连接到主计算机(未图示)。该驱动电路130向触摸屏面板100施加电压并且根据所检测的电压值计算触摸屏面板100中的接触位置的位置坐标。驱动电路130包括检测电压值的检测电路140和微控制器单元(MCU)150。MCU 150包括非触摸检测处理部分151和相邻导电区域处理部分152。
矩形框架形状的电极的4个电极部件UR、UL、LR和LL(图6)与检测电路140连接，从而检测电路140控制施加到4个电极部件UR、UL、LR和LL上的电压。检测电路140根据从MCU 150输入的驱动信号，在X轴和Y轴方向上交替地产生电位分布。检测电路140连接到透明导电膜12的每个分割区域。检测电路140逐行地进行扫描，检测表示各个区域的电位分布的信号。该扫描是根据从MCU150输入的区域选择信号而进行的。区域选择信号用于逐列地按顺序在每一行选择分割区域。可以根据这些区域选择信号同时对这些行进行该区域选择。检测电路140向MCU 150输出表示对应的行的电位分布的信号。
以下说明非触摸检测处理。
如上所述，本实施方式的触摸屏面板100沿宽度方向和长度方向(纵向和横向)分别被分割成4个和8个单元，从而能够检测多个接触位置。
因此，如图10所示，如果指尖在触摸屏面板100的表面上的多个导电区域112a、112b和112c上移动，则如果导电区域112a～112c连续那么也应当连续的指尖的移动轨迹被检测为在导电区域112a～112c中的每两个相邻的导电区域之间断开的轨迹S，因为导电区域112a～112c是不连续的(被分开)。
具体地说，轨迹S在导电区域112a与导电区域112b之间和导电区域112b与导电区域112c之间断开。因此，如果原样输出信息，则轨迹将在导电区域之间断开，从而与指尖的实际移动轨迹不同。
根据本实施方式，可以通过在MCU 150的非触摸检测处理部分151中执行非触摸(状态)检测，输出在导电区域之间连续(未断开)的轨迹。
以下根据图11说明该非触摸检测处理。
图11是第一实施方式的非触摸检测处理的流程图。
首先，在图11的步骤S102中，确定状态是否是非触摸。具体地说，确定表示指尖或笔点等物体与触摸屏面板100接触的信息是否被传送到驱动电路130的MCU 150。
如果指尖等与触摸屏面板100的透明导电膜12的导电区域、例如导电区域112a、112b或112c接触(图10)，则表示指尖等与触摸屏面板100接触的信息、即表示触摸屏面板100处于被触摸状态(被指尖等接触)的信息被传送到驱动电路130的MCU 150。
另一方面，如果指尖等在导电区域之间与触摸屏面板100接触，例如在导电区域112a与导电区域112b之间或导电区域112b与导电区域112c之间接触，则表示指尖等没有与触摸屏面板100接触的信息、即表示触摸屏面板100处于非触摸状态(没有与指尖等接触)的信息被传送到驱动电路130的MCU 150。而且，在指尖等实际上没有与触摸屏面板100接触的情况下，表示触摸屏面板100处于非触摸状态的信息也被传送到驱动电路130的MCU 150。
这样，如果指尖等的接触位置位于导电区域之间，则驱动电路130的MCU 150也被通知触摸屏面板100处于非触摸状态。如果确定状态为非触摸(步骤S102为“是”)，则处理前进到步骤S104。另一方面，如果确定状态不是非触摸(步骤S102为“否”)，即，例如如果确定指尖等在导电区域中与触摸屏面板100接触，则处理前进到步骤S108。
接着，在步骤S104中，确定非触摸时间是否长于或等于预定的时间段(即，确定非接触状态是否持续了预定的时间段或更长时间)。例如，利用设置在非触摸检测处理部分151中的计时器(未图示)测量从进入非触摸状态后经过的时间作为非触摸时间，并且确定该时间是否长于或等于预定时间段。即，如果非触摸时间短于预定时间段，则很可能是指尖等在导电区域之间与触摸屏面板100接触，如果非触摸时间长于或等于预定时间段，则不可能是指尖等在导电区域之间与触摸屏面板100接触，而很可能是指尖等实际上从触摸屏面板100离开。因此，从这一观点出发进行确定。
可以根据导电区域之间的间隔或触摸屏面板100的使用状况来设定(确定)该预定时间段。根据本实施方式，该预定时间段可以是20ms～100ms。
如果确定非触摸时间长于或等于预定时间段(步骤S104为“是”)，则处理前进到步骤S106。另一方面，如果确定非触摸时间短于预定时间段(步骤S104为“否”)，则处理前进到步骤S102，再次确定状态是否为非触摸。
接着，在步骤S106中，确认触摸屏面板100的非触摸状态。在步骤S104中已经确定非触摸时间长于或等于预定时间段。这种情况下，指尖等不可能出现在导电区域之间，而很可能脱离与触摸屏面板100的接触。因此，确定指尖等从触摸屏面板100分离，从而确认触摸屏面板100的非触摸状态。由此结束非触摸检测处理。
另一方面，在步骤S108中，确认触摸屏面板100的被触摸状态。例如，确定被触摸状态继续，结束非触摸检测处理。
根据本实施方式，为了防止在(检测到)进入非触摸状态后过早地确认非触摸状态，即，例如为了防止指尖等的移动轨迹在导电区域之间被中断，在检测到进入非触摸状态后，以预定时间段的延迟生成表示进入非触摸状态的信号。
根据图12概念性地说明该处理。
图12是示出本实施方式的非触摸检测处理的定时图。
在图12中，(a)表示指尖等的实际接触和分离。如图12的(a)所示，状态在时刻A从被触摸切换到非触摸，但是如图12的(b)所示，在进入(切换到)非触摸状态后经过延迟时间T后，在时刻B输出表示进入非触摸状态的信号。结果，在时刻A和时刻B之间，尽管指尖等脱离与触摸屏面板100的接触，但表示被触摸状态的信号、即表示指尖等与触摸屏面板100接触的信号继续输出。该延迟时间T长于或等于图11的步骤S104中的预定时间段。
如上设置延迟时间T。因此，如图12的(c)所示，即使当指尖等在时刻C从触摸屏面板100分离并且在时刻D与触摸屏面板100接触，如果时刻C与时刻D之间的间隔K短于延迟时间T，则表示被触摸状态的信号继续输出。结果，如图12的(d)所示，即使指尖等在多个导电区域上移动，也可以防止指尖等的移动轨迹断开。
以下说明本实施方式的相邻导电区域处理。
根据本实施方式的触摸屏面板100，在导电区域之间除去透明导电膜12。因此，当检测到表示在相邻导电区域中在两个点处接触的信号时，希望确定指尖等是在两个导电区域中与触摸屏面板100接触，还是在两个导电区域之间的一个点处接触。
例如，当指尖113在导电区域112d与导电区域112e之间与触摸屏面板100接触时，即，如图13所示，在导电膜除去区域114中的接触位置N处接触时，表示在导电区域112d中的接触位置M1与导电区域112e中的接触位置M2处进行了接触的信息被传送。
根据本实施方式，为了避免在这种情况下确定有两个接触位置，MCU 150包括相邻导电区域处理部分152来应对这种情形。
以下根据图14说明相邻导电区域处理。
图14是第一实施方式的相邻导电区域处理的流程图。
首先，在图14的步骤S202中，确定两个相邻导电区域是否都处于被触摸状态。例如，确定是否两个相邻导电区域都被指尖等接触而处于被触摸状态。如果两个相邻导电区域都处于被触摸状态(步骤S202为“是”)，则处理前进到步骤S204。另一方面，如果两个相邻导电区域不是都处于被触摸状态(步骤S202为“否”)，则实质上不需要进行相邻导电区域处理。因此，结束相邻导电区域处理。
接着，在步骤S204中，计算两个接触位置的位置坐标。本实施方式的触摸屏面板100的透明导电膜12被分割成多个导电区域，可以在每个导电区域中计算接触位置的位置坐标。因此计算出导电区域112d中的接触位置M1的位置坐标与导电区域112e中的接触位置M2的位置坐标。
接着，在步骤S206中，确定接触位置之间的间隔是否小于或等于预定距离。例如，相邻导电区域处理部分152根据在步骤S204中计算的接触位置M1的位置坐标和接触位置M2的位置坐标，计算接触位置M1与接触位置M2之间的接触间隔(距离)。
如果接触位置M1与接触位置M2之间的接触间隔(距离)小于或等于预定距离，则很可能在导电区域112d与导电区域112e之间的一个点处接触。另一方面，如果接触位置M1与接触位置M2之间的接触间隔(距离)大于预定距离，则很可能在两个点、即导电区域112d中的接触位置M1与导电区域112e中的接触位置M2处进行了接触。因此，如果确定接触间隔小于或等于预定距离(步骤S206为“是”)，则处理前进到步骤S208。另一方面，如果确定接触间隔不是小于或等于预定距离(步骤S206为“否”)，则确定在两个点处进行了接触，结束处理。
接着，在步骤S208中，确定两个点的平均值作为一个点的位置坐标。例如，相邻导电区域处理部分152计算接触位置M1的位置坐标和接触位置M2的位置坐标的平均值。将所计算的作为坐标位置的平均值作为接触位置N的位置坐标输出，结束处理。
这样，即使在相邻导电区域之间的一个点处接触而被检测为在相邻导电区域中各有一个的两个点处接触，也可以获得一个实际接触位置的位置坐标。
步骤S206中的预定距离是根据导电区域之间的距离确定的。例如，将预定距离设定成大于或等于导电区域之间的间隔、即除去了透明导电膜12以形成导电区域的导电膜除去区域114的宽度P(图13)的值。而且，在与触摸屏面板100接触的物体之间不同的该预定距离可以根据使用环境和/或使用状况来确定。
[第二实施方式]
以下说明本发明的第二实施方式。
该实施方式涉及接触位置在第一实施方式的触摸屏面板100上移动的情况下确定接触位置的位置坐标的方法。
在以下说明中，与上述要素相同的要素使用相同的附图标记。
图15是示出本发明的第二实施方式的触摸屏面板的框图。
参照图15，触摸屏面板100通过柔性基板14和27与驱动电路239连接。在图15所示的情况下，触摸屏面板100和驱动电路239可以实现为作为电子装置的一个例子的触摸屏面板单元。驱动电路239可以包括在触摸屏面板100中，也可以设置在触摸屏面板100的外部。触摸屏面板100可以通过驱动电路239连接到主计算机(未图示)。该驱动电路239向触摸屏面板100施加电压并且根据所检测的电压值计算触摸屏面板100中的接触位置的位置坐标。驱动电路239包括检测电压值的检测电路249和微控制器单元(MCU)259。MCU 259包括存储器251、处理部分252和输出部分253。MCU 259可以用另外具有上述功能的第一实施方式的MCU 150替换。检测电路249可以具有与图9所示的检测电路150相同的结构。
图16是第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的流程图。图17是示出第二实施方式的触摸屏面板100的结构的图。
参照图17，根据本实施方式，触摸屏面板100(透明导电膜12)沿宽度方向和长度方向(纵向和横向)分别被分割成4个和8个单元，从而总共分割成32个区域。如图17所示，这些分割区域被顺序地分配各自的编号(1～32)。
首先，在图16的步骤S302中，选择图17所示的区域1。例如，可以设置计数器并且将其设置为1(N＝1)。然后，检测出表示区域1中是否存在接触等的信息。
然后，在步骤S304中，确定是否在被选择区域中进行了接触(是否接触了被选择区域)。如果手指(指尖)等接触了被选择区域，即，在被选择区域中存在接触位置(步骤S304为“是”)，则处理前进到步骤S306。另一方面，如果被选择区域没有被手指等接触(步骤S304为“否”)，则处理前进到步骤S318。
接着，在步骤S306中，检测出手指等的接触位置的位置坐标。例如，通过检测电位来检测接触位置的位置坐标。
接着，在步骤S308中，确定在前一次(最后一次)测量中是否存在接触位置。例如，确定在前一次测量中触摸屏面板100是否被手指等接触。如果确定在前一次测量中存在接触位置(步骤S308为“是”)，则处理前进到步骤S312。另一方面，如果确定在前一次测量中不存在接触位置(步骤S308为“否”)，则处理前进到步骤S310。
接着，在步骤S310中，向接触位置分配ID“1”作为新的接触位置，将该接触位置的位置坐标存储在存储器251中并由输出部分253输出。
接着，在步骤S312中，确定在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标是否位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的预定区域内。如果确定在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的预定区域内(步骤S312为“是”)，则处理前进到步骤S316。另一方面，如果确定在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标不是位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的预定区域内(步骤S312为“否”)，则处理前进到步骤S314。
接着，在步骤S314中，在存储器251中暂时存储在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标。
接着，在步骤S316中，确定前一次的接触位置的位置坐标移动(移位)到在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标，将在步骤S306中检测的接触位置的位置坐标存储在存储器251中并由输出部分253输出。
根据图18A和18B更详细地说明步骤S312～S316。
图18A和18B是示出第二实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。该方法的操作例如在处理部分252中执行。
图18A示出在步骤S312中确定在步骤S306中检测的接触位置B1的位置坐标位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域内并且执行了步骤S316的情况。如图18A所示，在步骤S306中检测的接触位置B1的位置坐标位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域a1内。这种情况下，确定接触位置从A1移动到B1。因此，向接触位置B1分配与分配给接触位置A1的ID相同的ID并输出。
另一方面，图18B示出在步骤S312中确定在步骤S306中检测的接触位置B1的位置坐标不是位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域内并且执行了步骤S314的情况。这种情况下，如图18B所示，在步骤S306中检测的接触位置B1的位置坐标不是位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域a1内。因此，确定接触位置B1是新的。因此将接触位置B1的位置坐标暂时存储在存储器251中。
接着，在步骤S318中，确定是否在触摸屏面板100的所有区域中都进行了是否存在手指等的接触的确定。例如，根据本实施方式，如果在步骤S302中使用的计数器的值N为32，则确定在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定。另一方面，如果计数器的值N小于32，则确定没有在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定。如果确定在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定(步骤S318为“是”)，则处理前进到步骤S322。另一方面，如果确定没有在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定(步骤S318为“否”)，则处理前进到步骤S320。
接着，在步骤S320中，选择下一个区域。例如，将计数器的值N加1，选择触摸屏面板100中的区域2或区域9。然后，检测表示区域2或区域9中是否存在接触等的信息。此后，处理前进到步骤S304。
接着，在步骤S322中，确定存储器251中是否暂时存储了任意接触位置的位置坐标。例如，确定是否存在在步骤S314中暂时存储在存储器251中的接触位置的位置坐标。如果确定在存储器251中暂时存储了接触位置的位置坐标(步骤S322为“是”)，则处理前进到步骤S324。另一方面，如果确定在存储器251中没有暂时存储接触位置的位置坐标(步骤S322为“否”)，则处理前进到步骤S302，重新从区域1开始触摸屏面板100中的接触位置的坐标检测。
接着，在步骤S324中，执行ID分配处理。该ID分配处理在图19所示的子流程中执行。在完成ID分配处理后，处理前进到步骤S302。通过重复该操作，可以确定接触位置在触摸屏面板100上的移动状态。
以下说明第二实施方式的ID分配处理。
图19是第二实施方式的ID分配处理的流程图。
如果存储器251包含在步骤S314中暂时存储的接触位置坐标，则该子流程例如在处理部分252中执行。
首先，在图19的步骤S402中，确定在前一次(在前一次测量中)被分配了ID的所有接触位置是否在本次(在本次测量中)都被分配了ID。如果确定在前一次被分配了ID的所有接触位置在本次都被分配了ID(步骤S402为“是”)，则处理前进到步骤S404。另一方面，如果确定在前一次被分配了ID的所有接触位置在本次没有都被分配ID，即，在前一次被分配了ID的一个或多个接触位置在本次没有被分配ID(步骤S402为“否”)，则处理前进到步骤S406。
接着，在步骤S404中，分配新的ID。例如，如图20所示，确定在前一次被分配了各自的ID的前一次的接触位置A1、A2、A3分别移动到在本次被分配了相同ID的接触位置B1、B2、B3。这样，ID“1”、ID“2”和ID“3”都被分配。即，接触位置B1位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域a1内，接触位置B2位于以前一次的接触位置A2的位置坐标为中心的预定区域a2内，接触位置B3位于以前一次的接触位置A3的位置坐标为中心的预定区域a3内。
而且，在步骤S322中已经确定存在在步骤S314中暂时存储在存储器251中的接触位置B4。因此，向接触位置B4的位置坐标新分配ID“4”。这样，确定在触摸屏面板100中，ID“1”的接触从前一次的接触位置A1移动到接触位置B1，ID“2”的接触从前一次的接触位置A2移动到接触位置B2，ID“3”的接触从前一次的接触位置A3移动到接触位置B3，新产生ID“4”的接触位置B4。
接着，在步骤S406中，比较在前一次分配了ID但本次没有分配ID的接触位置的个数与在步骤S322中暂时确定要暂时存储在存储器251中的接触位置的个数。
如果在前一次分配了ID但本次没有分配ID的接触位置的个数小于在步骤S322中暂时确定要暂时存储在存储器251中的接触位置的个数(步骤S406为“否”)，则处理前进到步骤S408。另一方面，如果在前一次分配了ID但本次没有分配ID的接触位置的个数大于或等于在步骤S322中暂时确定要暂时存储在存储器251中的接触位置的个数(步骤S406为“是”)，则处理前进到步骤S410。
接着，在步骤S408中，分配前一次的接触位置的ID和新的ID。例如，如图21所示，确定在前一次被分配了ID的接触位置A1和A3分别移动到本次被分配了ID的接触位置B1和B3。从而分配了ID“1”和ID“2”。即，接触位置B1位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的预定区域a1内，接触位置B3位于以前一次的接触位置A3的位置坐标为中心的预定区域a3内。
而且，暂时存储在存储器251中的接触位置B2和B4位于以前一次的接触位置A2的位置坐标为中心而形成的预定区域a2外。在接触位置B2和B4中，比接触位置B4更接近前一次的接触位置A2的接触位置B2被分配了ID“2”，并且确定前一次的接触位置A2移动到接触位置B2。并且，比接触位置B2更远离前一次的接触位置A2的接触位置B4被确定为新的接触，接触位置B4的位置坐标被新分配了ID“4”。
结果确定，在触摸屏面板100中，ID“1”的接触从前一次的接触位置A1移动到接触位置B1，ID“2”的接触从前一次的接触位置A2移动到接触位置B2，ID“3”的接触从前一次的接触位置A3移动到接触位置B3，新产生ID“4”的接触位置B4。
在步骤S410中，分配前一次的接触位置的坐标的ID。
首先，参照图22说明在前一次分配了ID但本次没有分配ID的接触位置的个数等于在步骤S322中暂时确定要暂时存储在存储器251中的接触位置的个数的情况。
参照图22，确定在前一次被分配了ID的接触位置A3移动到本次被分配了ID的接触位置B3。从而分配了ID“3”。即，接触位置B3位于以前一次的接触位置A3的位置坐标为中心的预定区域a3内。
而且，暂时存储在存储器251中的接触位置B1和B2分别位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心而形成的预定区域a1和以前一次的接触位置A2的位置坐标为中心而形成的预定区域a2外。
在接触位置B1和B2中，比接触位置B2更接近前一次的接触位置A1的接触位置B1被分配了ID“1”，并且确定前一次的接触位置A1移动到接触位置B1。并且，比接触位置B1更接近前一次的接触位置A2的接触位置B2被分配了ID“2”，并且确定前一次的接触位置A2移动到接触位置B2。例如，比较前一次的接触位置A1与接触位置B1之间的距离和前一次的接触位置A1与接触位置B2之间的距离，并且对两个接触位置B1和B2当中更接近(前一次的接触位置A1)的一方分配ID“1”。而且，比较前一次的接触位置A2与接触位置B1之间的距离和前一次的接触位置A2与接触位置B2之间的距离，并且对两个接触位置B1和B2当中更接近(前一次的接触位置A2)的一方分配ID“2”。
结果确定，在触摸屏面板100中，ID“1”的接触从前一次的接触位置A1移动到接触位置B1，ID“2”的接触从前一次的接触位置A2移动到接触位置B2，ID“3”的接触从前一次的接触位置A3移动到接触位置B3。
接着，参照图23说明在前一次分配了ID但本次没有分配ID的接触位置的个数大于在步骤S322中暂时确定要暂时存储在存储器251中的接触位置的个数的情况。
参照图23，确定在前一次被分配了ID的接触位置A3移动到本次被分配了ID的接触位置B3。从而分配了ID“3”。即，接触位置B3位于以前一次的接触位置A3的位置坐标为中心的预定区域a3内。
而且，暂时存储在存储器251中的接触位置B1位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心而形成的预定区域a1和以前一次的接触位置A2的位置坐标为中心而形成的预定区域a2外。接触位置B1离前一次的接触位置A1比离前一次的接触位置A2更近。因此，接触位置B1被分配了ID“1”，并且确定前一次的接触位置A1移动到接触位置B2。例如，比较前一次的接触位置A1与接触位置B1之间的距离和前一次的接触位置A2与接触位置B1之间的距离，并且对接触位置B1分配两个前一次的接触位置A1和A2当中更接近(接触位置B1)的一方的ID。
而且，本次没有检测到与前一次的接触位置A2对应的接触位置。因此，确定被分配了ID“2”的前一次的接触位置A2不再接触。结果确定，在触摸屏面板100中，ID“1”的接触从前一次的接触位置A1移动到接触位置B1，ID“2”的接触消失，ID“3”的接触从前一次的接触位置A3移动到接触位置B3。
接着，在步骤S412中，输出被分配了ID的接触位置的位置坐标。
这样，根据本实施方式，可以根据当前的接触位置是否存在于以前一次的接触位置为中心的预定区域内，确定前一次的接触位置与当前的接触位置之间的关系。
根据本实施方式，即使在触摸屏面板上有多个接触点，也可以根据接触位置之间的位置关系准确地确定接触点。触摸屏面板中的接触位置是基于在触摸屏面板的每个分割区域中存在一个接触点的假设。
[第三实施方式]
以下说明本发明的第三实施方式。
该实施方式涉及接触位置在第一实施方式的触摸屏面板100上移动的情况下确定接触位置的位置坐标的方法。在该实施方式中，可以使用与图15所示的第二实施方式的触摸屏面板相同的触摸屏面板。
根据图24说明本实施方式。本实施方式中使用的触摸屏面板100可以具有与图17所示的第二实施方式相同的结构。
图24是第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的流程图。
首先，在图24的步骤S502中，选择图17所示的区域1。例如，可以设置计数器并且将其设置为1(N＝1)。然后，检测出表示区域1中是否存在接触等的信息。
然后，在步骤S504中，确定是否在被选择区域中进行了接触(是否接触了被选择区域)。如果手指(指尖)等接触了被选择区域，即，在被选择区域中存在接触位置(步骤S504为“是”)，则处理前进到步骤S506。另一方面，如果被选择区域没有被手指等接触(步骤S504为“否”)，则处理前进到步骤S518。
接着，在步骤S506中，检测出手指等的接触位置的位置坐标。例如，通过检测电位来检测接触位置的位置坐标。
接着，在步骤S508中，确定在前一次测量中是否存在接触位置。例如，确定在前一次测量中触摸屏面板100是否被手指等接触。如果确定在前一次测量中存在接触位置(步骤S508为“是”)，则处理前进到步骤S512。另一方面，如果确定在前一次测量中不存在接触位置(步骤S508为“否”)，则处理前进到步骤S510。
接着，在步骤S510中，向接触位置分配ID“1”作为新的接触位置，将该接触位置的位置坐标存储在存储器251中并由输出部分253输出。
接着，在步骤S512中，确定在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标是否位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第一预定区域内。如果确定在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第一预定区域内(步骤S512为“是”)，则处理前进到步骤S516。另一方面，如果确定在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标不是位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第一预定区域内(步骤S512为“否”)，则处理前进到步骤S514。
接着，在步骤S514中，在存储器251中暂时存储在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标。
接着，在步骤S516中，确定前一次的接触位置的位置坐标移动(移位)到在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标，将在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标存储在存储器251中并由输出部分253输出。
根据图25A和25B更详细地说明步骤S512～S516。
图25A和25B是示出第三实施方式的触摸屏面板的位置检测方法的图。
图25A示出在步骤S512中确定在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第一预定区域a11内并且执行了步骤S516的情况。如图25A所示，在步骤S506中检测的接触位置B1的位置坐标位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的第一预定区域a11内。这种情况下，确定接触位置从A1移动到B1。因此，向接触位置B1分配与分配给接触位置A1的ID相同的ID并输出。
另一方面，图25B示出在步骤S512中确定在步骤S506中检测的接触位置的位置坐标不是位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第一预定区域a11内并且执行了步骤S514的情况。这种情况下，如图25B所示，在步骤S506中检测的接触位置B1和B2的位置坐标不是位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心的第一预定区域a11内。因此，将接触位置B1和B2的位置坐标暂时存储在存储器251中。
接着，在步骤S518中，确定是否在触摸屏面板100的所有区域中都进行了是否存在手指等的接触的确定。例如，根据本实施方式，如果在步骤S502中使用的计数器的值N为32，则确定在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定。另一方面，如果计数器的值N小于32，则确定没有在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定。如果确定在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定(步骤S518为“是”)，则处理前进到步骤S522。另一方面，如果确定没有在触摸屏面板100的所有区域中都执行(完成)了是否存在手指等的接触的确定(步骤S518为“否”)，则处理前进到步骤S520。
接着，在步骤S520中，选择下一个区域。例如，将计数器的值N加1，选择触摸屏面板100中的区域2或区域9。然后，检测表示区域2或区域9中是否存在接触等的信息。此后，处理前进到步骤S504。
接着，在步骤S522中，确定存储器251中是否暂时存储了任意接触位置的位置坐标。例如，确定是否存在在步骤S514中暂时存储在存储器251中的接触位置的位置坐标。如果确定在存储器251中暂时存储了接触位置的位置坐标(步骤S522为“是”)，则处理前进到步骤S524。另一方面，如果确定在存储器251中没有暂时存储接触位置的位置坐标(步骤S522为“否”)，则处理前进到步骤S502，重新从区域1开始触摸屏面板100中的接触位置的坐标检测。
接着，在步骤S524中，执行ID分配处理。该ID分配处理在图26所示的子流程中执行。在完成ID分配处理后，处理前进到步骤S502。通过重复该操作，可以确定接触位置在触摸屏面板100上的移动状态。
以下说明第三实施方式的ID分配处理。
图26是第三实施方式的ID分配处理的流程图。
如果存储器251包含在步骤S514中暂时存储的接触位置坐标，则该子流程例如在处理部分252中执行。
首先，在图26的步骤S602中，确定在前一次(在前一次测量中)被分配了ID的所有接触位置是否在本次(在本次测量中)被分配了ID。如果确定在前一次被分配了ID的所有接触位置在本次都被分配了ID(步骤S602为“是”)，则处理前进到步骤S606。另一方面，如果确定在前一次被分配了ID的所有接触位置在本次没有都被分配ID，即，在前一次被分配了ID的一个或多个接触位置在本次没有被分配ID(步骤S602为“否”)，则处理前进到步骤S604。
接着，在步骤S604中，确定暂时存储在存储器251中的接触位置的位置坐标是否位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第二预定区域内。如果确定暂时存储在存储器251中的接触位置的位置坐标位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第二预定区域内(步骤S604为“是”)，则处理前进到步骤S608。另一方面，如果确定暂时存储在存储器251中的接触位置的位置坐标不是位于以前一次的接触位置的位置坐标为中心的第二预定区域内(步骤S604为“否”)，则处理前进到步骤S606。
接着，在步骤S606中，分配新的ID。例如，如图25B所示，如果暂时存储在存储器251中的接触位置B2的位置坐标位于以前一次的接触位置A1的位置坐标为中心而形成的第二预定区域a12外，则向接触位置B2的位置坐标分配新的ID“2”。而且，在确定在前一次被分配了ID的所有接触位置在本次都被分配了ID的情况下(步骤S602为“是”)，进行与图20所示的情况相同的确定。
接着，在步骤S608中，进行基于(使用)向量的ID分配处理(基于向量的ID分配处理)。例如，如图25B所示，接触位置具有按照接触位置X1、接触位置Y1、接触位置Z1、接触位置A1的顺序的轨迹。根据前一次(最后一次)的接触位置A1和倒数第二次的接触位置Z1，确定基准向量V1，并且根据(参照)该基准向量V1，针对在第一预定区域a11外、第二预定区域a12内检测的接触位置B1进行确定。由于接触位置B1是第二预定区域a12内的唯一的一个接触位置，因此对接触位置B1分配ID“1”。
以下考虑图27所示的情况。即，考虑如下情况：在以前一次的接触位置A1为中心的第一预定区域a11内没有新检测到的坐标位置，在第一预定区域a11外、以前一次的接触位置A1为中心的第二预定区域a12内有新检测到的接触位置B1，在以前一次的接触位置A2为中心的第一预定区域a21内没有新检测到的坐标位置，在第一预定区域a21外、以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内有新检测到的接触位置B1和B2，在第二预定区域a12外、第二预定区域a22外有接触位置B3。这种情况下，对接触位置B3分配ID“3”。
此后，按照第二预定区域内的新检测到的坐标位置的个数的降序对接触位置进行确定。在图27所示的情况下，在第一预定区域a21外、以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内有两个新检测到的接触位置B1和B2，在第一预定区域a11外、以前一次的接触位置A1为中心的第二预定区域a12内有一个新检测到的接触位置B1。
因此，首先针对在第一预定区域a21外、以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内的两个新检测到的接触位置B1和B2进行确定。例如，根据前一次(最后一次)的接触位置A2和倒数第二次的接触位置Z2来确定基准向量V2。
然后，确定由连接前一次的接触位置A2和接触位置B1的线与向量V2构成的角θ1。进而，确定由连接前一次的接触位置A2和接触位置B2的线与向量V2构成的角θ2。在图27所示的情况下，角θ2小于角θ1。因此，对接触位置B2分配ID“2”。
然后，对以前一次的接触位置A1为中心的第二预定区域a12内的唯一的一个接触位置、即接触位置B1分配ID“1”。
根据需要，可以根据前一次(最后一次)的接触位置A1和倒数第二次的接触位置Z1来确定基准向量V1，并且可以确定由连接前一次的接触位置A1和接触位置B1的线与向量V1构成的角θ3。
以下考虑图28所示的情况。在该情况下，直到对上述的接触位置B3分配ID“3”的处理与图27所示的情况相同。
此后，按照第二预定区域内的新检测到的坐标位置的个数的降序对接触位置进行确定。在图28所示的情况下，在第一预定区域a21外、以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内有两个新检测到的接触位置B2和B4，在第一预定区域a11外、以前一次的接触位置A1为中心的第二预定区域a12内有一个新检测到的接触位置B2。
因此，首先针对在第一预定区域a21外、以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内的两个新检测到的接触位置B2和B4进行确定。例如，根据前一次(最后一次)的接触位置A2和倒数第二次的接触位置Z2来确定基准向量V2。
然后，确定由连接前一次的接触位置A2和接触位置B2的线与向量V2构成的角θ1。进而，确定由连接前一次的接触位置A2和接触位置B4的线与向量V2构成的角θ2。在图28所示的情况下，角θ1小于角θ2。因此，对接触位置B2分配ID“2”。
然后，对以前一次的接触位置A2为中心的第二预定区域a22内的接触位置B4分配ID“4”。
而且，似乎不存在前一次的接触位置A1移动到的坐标位置。因此，确定失去接触，即，对于接触位置A1，接触位置消失。
接着，在步骤S610中，输出被分配了ID的接触位置。
由此，根据本实施方式，即使在触摸屏面板上有多个接触点，也可以利用作为接触位置的轨迹的基准向量，准确地确定接触点。触摸屏面板上的接触位置是基于在触摸屏面板的每个分割区域、即图17所示的每个分割区域中存在一个接触点的假设。第三实施方式除了上述处理外，可以与第二实施方式相同。
[第四实施方式]
本发明可以应用于5线电阻膜触摸屏面板。例如，本发明适合于显示器应用5线电阻膜触摸屏面板的信息处理装置。该情况下的信息处理装置的例子包括蜂窝电话、个人数字助理(PDA)、便携式音乐播放器、便携式视频播放器、便携式浏览器、一段(one-seg)调谐器、电子辞典、汽车导航系统、计算机、售货点(POS)终端、存货控制终端、自动售货机(ATM)和各种多媒体终端。
图29是示出本发明的第四实施方式的具有上述任意一个实施方式的触摸屏面板的电子装置的图。在该例子中，电子装置由数字相框(数字媒体框)900形成。
图29所示的数字相框900包括：触摸屏面板901；设置在外壳上的按钮(或开关)902；以及图9所示的驱动电路130或图15所示的驱动电路239等驱动电路，该驱动电路电连接到触摸屏面板901并且设置在外壳内。例如，可以推动按钮902当中的一个以打开或关闭数字相框900的电源。例如可以推动其它的按钮902以在照片和操作菜单之间切换显示屏面板901上的显示。例如可以通过在所显示的操作菜单内按下适当的部分来对数字相框900进行其它输入或指示。用户可以在所显示的操作菜单内同时按下多个部分。
这里所述的所有例子和条件性语言都用于教导目的，以帮助读者理解本发明和由发明人贡献的概念，以促进技术的发展，应当理解为不限于这些具体记载的例子和条件，并且说明书中的这些例子的组织也不涉及表现本发明的优劣。尽管详细地说明了本发明的实施方式，但本发明不限于具体说明的实施方式，应当理解，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行各种改变、替换和改进。

Claims (11)

1.一种触摸屏面板的位置检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
(a)逐个地按顺序扫描将所述触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第一位置；
(b)在所述步骤(a)中检测触摸的第一位置之后，逐个地按顺序扫描所述导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第二位置；
(c)如果在所述步骤(a)和所述步骤(b)中分别检测到所述第一位置和所述第二位置，则确定所述第二位置是否在以所述第一位置为中心的预定区域内；以及
(d)基于步骤(c)中的确定来确定所述第一位置与所述第二位置之间的关系。
2.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域内的情况下，所述步骤(d)确定接触从所述第一位置移动到所述第二位置。
3.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域外的情况下，所述步骤(d)确定所述第二位置是与所述触摸屏面板的新的接触的位置。
4.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域外的情况下，所述步骤(d)确定失去接触。
5.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
如果在所述步骤(a)中检测到多个第一位置，并且在所述步骤(c)中确定所述第二位置位于以所述第一位置为中心的预定区域外，则所述步骤(d)确定接触从离所述第二位置最近的一个第一位置移动到所述第二位置。
6.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
如果在所述步骤(b)中检测到多个第二位置，并且在所述步骤(c)中确定所述第二位置位于以所述第一位置为中心的预定区域外，则所述步骤(d)确定接触从所述第一位置移动到离所述第一位置最近的一个第二位置。
7.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，还包括步骤：(e)确定在所述步骤(b)中检测到的第二位置是否在所述预定区域外并且在以所述第一位置为中心的另一预定区域内，该另一预定区域大于所述预定区域，
其中如果所述第二位置位于所述预定区域外并且位于所述另一预定区域内，则所述步骤(d)确定接触从所述第一位置移动到所述第二位置。
8.如权利要求7所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述步骤(b)中检测到多个第二位置时，所述步骤(e)确定这些第二位置是否位于所述预定区域外并位于所述另一预定区域内，以及
如果在所述步骤(e)中确定所述第二位置位于所述预定区域外、以所述第一位置为中心的所述另一预定区域内，则所述步骤(d)确定接触从所述第一位置移动到相对于基准向量具有最小的一个角度的一个第二位置，所述基准向量是根据直到所述第一位置为止的接触的轨迹而确定的。
9.如权利要求7所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述另一预定区域内不存在所述第二位置的情况下，所述步骤(d)确定所述第二位置是与所述触摸屏面板的新的接触的位置。
10.如权利要求7所述的位置检测方法，其特征在于，
在所述另一预定区域内不存在所述第二位置的情况下，所述步骤(d)确定失去接触。
11.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，
重复进行按顺序扫描分割导电区域以检测接触位置的操作；
所述步骤(a)被确定为前一次的扫描导电区域的步骤；
所述步骤(b)被确定为当前的扫描导电区域的步骤；
所述第一位置被确定为接触的前一次的位置；
所述第二位置被确定为接触的当前的位置。
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