CN104613844B - 靶材厚度测量装置 - Google Patents

靶材厚度测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104613844B
CN104613844B CN201510061271.2A CN201510061271A CN104613844B CN 104613844 B CN104613844 B CN 104613844B CN 201510061271 A CN201510061271 A CN 201510061271A CN 104613844 B CN104613844 B CN 104613844B
Authority
CN
China
Prior art keywords
thickness
measuring device
target
test probe
scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201510061271.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104613844A (zh
Inventor
王德永
李业发
彭亮
郑琮錡
崔大永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201510061271.2A priority Critical patent/CN104613844B/zh
Publication of CN104613844A publication Critical patent/CN104613844A/zh
Priority to PCT/CN2015/085296 priority patent/WO2016123934A1/zh
Priority to US14/913,163 priority patent/US9778024B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN104613844B publication Critical patent/CN104613844B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B5/06Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B5/061Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B5/207Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/40Caliper-like sensors
    • G01B2210/42Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a backing surface of support or reference on the other side

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

本发明的实施例公开了一种靶材厚度测量装置,该靶材厚度测量装置包括:支架;以及安装于支架并沿第一方向排列的多个测距单元,所述多个测距单元分别用于测量靶材在第一方向上的多个点的厚度。例如利用多个测距单元一次测量靶材的多个点的厚度,由此一次可以获得靶材沿一条直线的多个厚度值,提高了测量效率。

Description

靶材厚度测量装置
技术领域
本发明的实施例涉及一种靶材厚度测量装置。
背景技术
传统的靶材厚度测量仪用于测量溅射用靶材使用量或余量。
发明内容
本发明的实施例的目的是提供一种靶材厚度测量装置,由此例如可以更快速准确地确定靶材的使用量。
根据本发明的实施例,提供了一种靶材厚度测量装置,该靶材厚度测量装置包括:支架;以及安装于支架并沿第一方向排列的多个测距单元,所述多个测距单元分别用于测量靶材在第一方向上的多个点的厚度。
采用上述技术方案,例如利用多个测距单元一次测量靶材的多个点的厚度,由此一次可以获得靶材沿一条直线的多个厚度值,提高了测量效率。
根据本发明的实施例,每一个测距单元包括能够沿与第一方向垂直的第二方向移动的测试探针,所述测试探针具有相对的第一端和第二端,并且构造成通过所述第一端接触靶材的表面而测量靶材的厚度。
采用上述技术方案,例如通过采用多个测试探针,由简单的结构一次可以获得靶材沿一条直线的多个厚度值,靶材厚度测量装置的可靠性高,测量方便快捷。
根据本发明的实施例,所述的靶材厚度测量装置还包括:安装于支架并与测试探针相邻设置的刻度板,所述刻度板的朝向测试探针的表面具有刻度,根据所述刻度板的刻度能够确定所述测试探针的第二端在第二方向的位置。
采用上述技术方案,例如通过设置刻度板,可以直观地获得靶材沿一条直线的多个厚度值。
根据本发明的实施例,所述刻度板的朝向测试探针的表面大致与第一方向和第二方向平行。
采用上述技术方案,例如可以更准确地获得靶材沿一条直线的多个厚度值。
根据本发明的实施例,所述的靶材厚度测量装置还包括:测量值采集单元,所述测量值采集单元用于采集多个测距单元测量的多个点的测量值。
采用上述技术方案,例如利用多个测距单元一次测量靶材的多个点的厚度,由测量值采集单元一次采集多个测距单元的测量值,由此进一步提高了测量效率。
根据本发明的实施例,所述测量值采集单元是图像采集装置,所述图像采集装置用于采集多个测试探针的第二端的图像;并且所述靶材厚度测量装置还包括处理单元,所述处理单元用于对所述图像采集装置采集的图像进行处理以获得多个测试探针的第二端的位置,由此获得靶材的厚度。
采用上述技术方案,例如由图像采集装置采集多个测试探针的第二端的图像,通过处理单元对图像处理,可以获得多个测试探针的第二端的位置,由此可以获得靶材的厚度分布,从而靶材厚度测量装置的可靠性高、测量方便快捷、靶材厚度测量装置的抗噪性强。
根据本发明的实施例,每一个测距单元还包括套在测试探针上用于沿第二方向朝向靶材的表面对所述测试探针施加作用力的螺旋弹簧,并且设置在相邻的所述测试探针上的螺旋弹簧在第二方向上交错设置。
采用上述技术方案,测试探针能够密集地排列,由此测量点更加密集。
根据本发明的实施例,所述的靶材厚度测量装置还包括:导向装置,用于引导支架沿与第一方向和第二方向垂直的第三方向移动。
采用上述技术方案,例如通过导向装置使支架能够移动,由此可以方便地获得整个靶材的表面的曲面形状或整个靶材的厚度分布。
根据本发明的实施例,在所述图像采集装置获取了刻度板的刻度的图像后拆掉所述刻度板,并且由图像处理单元对刻度板的刻度的图像进行处理而得出刻度板的刻度的位置数据作为测量的基准。
采用上述技术方案,例如在所述图像采集装置获取了刻度板的刻度的图像后拆掉所述刻度板,由此使靶材厚度测量装置结构更简单,并且可以降低靶材厚度测量装置的成本。
附图说明
图1为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的测量靶材厚度时的示意侧视图;
图2为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的示意侧视图;
图3为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的部分组件的示意立体图;
图4为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的主视图,其中为了清楚起见省去了部分组件;
图5为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的测距单元的示意图;以及
图6为根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的两个相邻的测距单元的结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图来说明本发明的具体实施方式。
下面结合附图,对本发明实施例的具体实施方式进行详细地说明。另外,在下面的详细描述中,为便于解释,阐述了许多具体的细节以提供对本披露实施例的全面理解。然而明显地,一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。在其他情况下,公知的结构和装置以图示的方式体现以简化附图。
图1和2示出了根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置,而图3和4示出了根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置的部分组件。
如图1至4所示,根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置100包括:支架6;以及安装于支架6并沿第一方向D1排列的多个测距单元13,所述多个测距单元13分别用于测量靶材2在第一方向D1上的多个点的厚度。例如利用多个测距单元13一次测量靶材2的多个点的厚度,由此一次可以获得靶材2的沿一条直线的多个厚度值,提高了测量效率。靶材厚度测量装置100还可以包括:测量值采集单元8,所述测量值采集单元8用于采集多个测距单元13测量的多个点的测量值。靶材2安装在靶材背板1上。支架6可以是框架。例如利用多个测距单元13一次测量靶材2的多个点的厚度,由测量值采集单元8一次采集多个测距单元13的测量值,由此一次可以获得靶材2的沿一条直线的多个厚度值,进一步提高了测量效率。在不设置测量值采集单元8的情况下,可以用肉眼估计靶材2的厚度或利用后面提到的刻度板12,用肉眼读取对应的数据。
如图3至6所示,每一个测距单元13可以包括能够沿与第一方向D1垂直的第二方向D2移动的测试探针15,所述测试探针15具有相对的第一端和第二端,并且构造成通过所述第一端接触靶材2的表面而测量靶材2的厚度。每一个测距单元13还可以包括探针滚珠17,探针滚珠17使测试探针15能够在靶材2的表面的平滑移动。可通过弹力、重力、磁力等外力使测试探针15与靶材2的表面紧密接触。例如通过采用多个测试探针15,由简单的结构一次可以获得靶材2沿一条直线的多个厚度值,靶材厚度测量装置的可靠性高,测量方便快捷。
如图3至6所示,每一个测距单元13还可以包括套在测试探针15上用于沿第二方向D2朝向靶材2的表面对所述测试探针15施加作用力的螺旋弹簧16,并且设置在相邻的所述测试探针15上的螺旋弹簧16在第二方向D2上交错设置。由此,例如测试探针15能够密集地排列,从而测量点更加密集。如图5所示,螺旋弹簧16的上端与阻挡件18连接,阻挡件18与支架6连接,并且螺旋弹簧16的下端与测试探针15连接,由此向测试探针15施加作用力。阻挡件18可以设有多个通孔,测试探针15穿过阻挡件18的通孔,阻挡件18的通孔对测试探针15进行导向和定位。
例如,如图4所示,如果将在第二方向D2上的、测试探针15与靶材背板1的上表面接触的位置设为基准位置,则在第二方向D2上的、测试探针15的下端与靶材背板1的上表面的距离(即在第二方向D2上的、测试探针15的上端或下端的位置与测试探针15在基准位置时的上端或下端的位置的距离)是靶材厚度;而如果将测试探针15的下端与未使用的靶材2的上表面接触的位置设为基准位置,则在第二方向D2上的、测试探针15的上端或下端的位置与测试探针15在基准位置时的上端或下端的位置的距离是靶材消耗的厚度,利用靶材的原厚度和靶材消耗的厚度可求出靶材的实际厚度。
作为选择,也可以采用其它任何合适的部件来代替测试探针来测量距离,例如,电子游标卡尺、电子感应测距单元、测量距离的传感器等。
如图3和4所示,所述的靶材厚度测量装置100还包括:安装于支架6并与测试探针15相邻设置的刻度板12,所述刻度板12的朝向测试探针15的表面具有刻度,根据所述刻度板12的刻度能够确定所述测试探针15的第二端在第二方向D2的位置。通过设置刻度板12,可以直观地获得靶材2沿一条直线的多个厚度值,并且可以用肉眼读取对应的数据。所述刻度板12的朝向测试探针15的表面可以大致与第一方向D1和第二方向D2平行。由此,例如可以更准确地获得靶材2沿一条直线的多个厚度值。
如图1至3所示,所述测量值采集单元8可以是诸如照相机的图像采集装置,所述图像采集装置用于采集多个测试探针15的第二端的图像;并且所述靶材厚度测量装置100还包括处理单元7,所述处理单元7用于对所述图像采集装置采集的图像进行处理以获得多个测试探针15的第二端的位置,由此获得靶材2的厚度。例如,由图像采集装置采集多个测试探针15的第二端的图像,通过处理单元7对图像处理,可以获得多个测试探针15的第二端的位置,由此可以获得靶材2的厚度分布,从而靶材厚度测量装置的可靠性高、测量方便快捷、靶材厚度测量装置的抗噪性强。
如图1至4所示,根据本发明的实施例,所述的靶材厚度测量装置100还可以包括:导向装置20,用于引导支架6沿与第一方向D1和第二方向D2垂直的第三方向D3移动。由此,例如通过导向装置20使支架6能够移动,从而可以方便地获得整个靶材2的表面的曲面形状或整个靶材2的厚度分布。导向装置20可以包括导轨4;以及与支架6连接并在导轨4上滑动的滑块组件5。滑块组件5可以包括:第一滚柱10,第一滚柱10沿着导轨4的第一方向D1上的两个外侧面滚动。此外滑块组件5还可以包括:第二滚珠14,第二滚珠14沿着导轨4的顶面滚动。
根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置可以快速、有效、准确、批量测量靶材2的使用量,并能够得出整个靶材2的使用曲面图。
根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置通过采用多个测试探针15,在测量靶材2某一处使用量时可直观的显示出该处靶材2的使用曲线,测试探针15后面安装有刻度板12,可以用肉眼直接读出数据。此外,测试探针15前方的诸如相机的图像采集装置可获得多个测试探针15的第二端的位置曲线(或图像)和对应的刻度板12的刻度线的图像,由该图像通过处理单元7得出相应的数据。支架6滑动至下一测试位置,再次重复以上过程即可快速得出下一点的测试数据。靶材厚度测量装置可以设置测量支架6在第三方向D3上的位置的装置以及驱动支架6在第三方向D3上滑动的诸如马达的驱动单元。
根据本发明的一些实施例,图像采集装置可以获取刻度板12的刻度的图像,由图像处理单元7对刻度板的刻度的图像进行处理而得出刻度板12的刻度的位置数据,该刻度板12的刻度的位置数据可以存储在存储器中作为测量基准,然后可以拆掉刻度板12。在测量过程中,图像采集装置可获得多个测试探针15的第二端的位置曲线或图像。基于存储的刻度板12的刻度的位置数据,通过图像处理单元7由多个测试探针15的第二端的位置曲线或图像得出相应的多个测试探针15的第二端的位置数据。在图像采集装置获取了刻度板的刻度的图像后拆掉刻度板,由此使靶材厚度测量装置结构更简单,并且可以降低靶材厚度测量装置的成本。
根据本发明的实施例的靶材厚度测量装置快捷直观地展示靶材2的曲面,可实现初步厚度估计和精确测量厚度。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (8)

1.一种靶材厚度测量装置,包括:
支架;以及
安装于支架并沿第一方向排列的多个测距单元,所述多个测距单元分别用于测量靶材在第一方向上的多个点的厚度;
其中:
每一个测距单元包括能够沿与第一方向垂直的第二方向移动的测试探针,所述测试探针具有相对的第一端和第二端,并且构造成通过所述第一端接触靶材的表面而测量靶材的厚度,
每一个测距单元还包括套在测试探针上用于沿第二方向朝向靶材的表面对所述测试探针施加作用力的螺旋弹簧,并且设置在相邻的所述测试探针上的螺旋弹簧在第二方向上交错设置。
2.根据权利要求1所述的靶材厚度测量装置,还包括:
安装于支架并与测试探针相邻设置的刻度板,所述刻度板的朝向测试探针的表面具有刻度,根据所述刻度板的刻度能够确定所述测试探针的第二端在第二方向的位置。
3.根据权利要求2所述的靶材厚度测量装置,其中:
所述刻度板的朝向测试探针的表面与第一方向和第二方向平行。
4.根据权利要求1所述的靶材厚度测量装置,还包括:
测量值采集单元,所述测量值采集单元用于采集所述多个测距单元测量的多个点的测量值。
5.根据权利要求1至3中的任一项所述的靶材厚度测量装置,还包括:
测量值采集单元,所述测量值采集单元用于采集所述多个测距单元测量的多个点的测量值。
6.根据权利要求5所述的靶材厚度测量装置,其中:
所述测量值采集单元是图像采集装置,所述图像采集装置用于采集多个测试探针的第二端的图像;并且
所述靶材厚度测量装置还包括处理单元,所述处理单元用于对所述图像采集装置采集的图像进行处理以获得多个测试探针的第二端的位置,由此获得靶材的厚度。
7.根据权利要求1至3中的任一项所述的靶材厚度测量装置,还包括:
导向装置,用于引导支架沿与第一方向和第二方向垂直的第三方向移动。
8.根据权利要求6所述的靶材厚度测量装置,其中:
在所述图像采集装置获取了刻度板的刻度的图像后拆掉所述刻度板,并且由图像处理单元对刻度板的刻度的图像进行处理而得出刻度板的刻度的位置数据作为测量的基准。
CN201510061271.2A 2015-02-05 2015-02-05 靶材厚度测量装置 Expired - Fee Related CN104613844B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510061271.2A CN104613844B (zh) 2015-02-05 2015-02-05 靶材厚度测量装置
PCT/CN2015/085296 WO2016123934A1 (zh) 2015-02-05 2015-07-28 靶材厚度测量装置
US14/913,163 US9778024B2 (en) 2015-02-05 2015-07-28 Target material thickness measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510061271.2A CN104613844B (zh) 2015-02-05 2015-02-05 靶材厚度测量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104613844A CN104613844A (zh) 2015-05-13
CN104613844B true CN104613844B (zh) 2019-03-12

Family

ID=53148406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510061271.2A Expired - Fee Related CN104613844B (zh) 2015-02-05 2015-02-05 靶材厚度测量装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9778024B2 (zh)
CN (1) CN104613844B (zh)
WO (1) WO2016123934A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108180814A (zh) * 2018-01-03 2018-06-19 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材刻蚀量测量装置

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104613844B (zh) * 2015-02-05 2019-03-12 合肥鑫晟光电科技有限公司 靶材厚度测量装置
CN106155118B (zh) * 2016-06-22 2021-02-05 新昌县铖升机械科技有限公司 一种具有清洁功能的厚度管控装置
CN106568416A (zh) * 2016-11-24 2017-04-19 贵州大学 一种耕作坡面相对测量高程装置及相应的dem建立方法
CN107063138A (zh) * 2017-02-15 2017-08-18 东莞市圣荣自动化科技有限公司 一种应用于平板平面度检测的视觉装置
CN107101552B (zh) * 2017-06-13 2019-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材余量测量装置
CN207248142U (zh) * 2017-10-24 2018-04-17 米亚索乐装备集成(福建)有限公司 一种柔性光伏组件平整度测量装置
CN107883908A (zh) * 2017-12-28 2018-04-06 武汉日晗精密机械有限公司 衬套厚度检测装置及铆压件厚度检测装置
US11754691B2 (en) 2019-09-27 2023-09-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Target measurement device and method for measuring a target
CN112575300A (zh) * 2019-09-27 2021-03-30 台湾积体电路制造股份有限公司 靶材测量装置以及测量靶材的方法
EP4222445B1 (en) * 2020-09-29 2024-07-10 Vestas Wind Systems A/S Method of inspecting a wind turbine blade
CN112964212B (zh) * 2021-03-29 2023-09-26 广船国际有限公司 一种利用涂层厚度检测仪进行的涂层厚度的检验方法
CN113154993B (zh) * 2021-04-27 2023-01-10 北京中铁诚业工程建设监理有限公司 一种钻孔桩桩底沉渣厚度检测装置及方法
CN114353718B (zh) * 2021-12-28 2023-03-28 同济大学 一种机场道面水膜厚度的高精度监测装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8907850D0 (en) * 1988-04-08 1989-05-24 Kineron Gauging Systems Ltd Thickness measurement device
JPH0569121A (ja) * 1991-08-23 1993-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 噴流半田波形面の管理方法と管理治具および半田付け装置
CN101158566A (zh) * 2007-07-31 2008-04-09 福建师范大学 地表微形态测量装置及其使用方法
CN201059933Y (zh) * 2007-07-31 2008-05-14 福建师范大学 坡面细沟测量装置
CN101776448A (zh) * 2009-01-09 2010-07-14 北京大学 一种针式粗糙度仪
CN103644836A (zh) * 2013-12-04 2014-03-19 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材厚度测量仪
CN204142145U (zh) * 2014-09-28 2015-02-04 山东淄博汉能光伏有限公司 平面靶材厚度测量工具

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6014886A (en) * 1998-06-30 2000-01-18 Seh America, Inc. Gauge block holder apparatus
US6378221B1 (en) * 2000-02-29 2002-04-30 Edwards Lifesciences Corporation Systems and methods for mapping and marking the thickness of bioprosthetic sheet
JP2005265792A (ja) * 2004-03-22 2005-09-29 Konica Minolta Holdings Inc 膜厚測定装置
CN103398664A (zh) * 2013-08-09 2013-11-20 昆山允可精密工业技术有限公司 一种表面高反薄板材厚度测量装置
CN104613844B (zh) * 2015-02-05 2019-03-12 合肥鑫晟光电科技有限公司 靶材厚度测量装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8907850D0 (en) * 1988-04-08 1989-05-24 Kineron Gauging Systems Ltd Thickness measurement device
JPH0569121A (ja) * 1991-08-23 1993-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 噴流半田波形面の管理方法と管理治具および半田付け装置
CN101158566A (zh) * 2007-07-31 2008-04-09 福建师范大学 地表微形态测量装置及其使用方法
CN201059933Y (zh) * 2007-07-31 2008-05-14 福建师范大学 坡面细沟测量装置
CN101776448A (zh) * 2009-01-09 2010-07-14 北京大学 一种针式粗糙度仪
CN103644836A (zh) * 2013-12-04 2014-03-19 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材厚度测量仪
CN204142145U (zh) * 2014-09-28 2015-02-04 山东淄博汉能光伏有限公司 平面靶材厚度测量工具

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108180814A (zh) * 2018-01-03 2018-06-19 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材刻蚀量测量装置
CN108180814B (zh) * 2018-01-03 2020-01-03 京东方科技集团股份有限公司 一种靶材刻蚀量测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20160349037A1 (en) 2016-12-01
CN104613844A (zh) 2015-05-13
WO2016123934A1 (zh) 2016-08-11
US9778024B2 (en) 2017-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104613844B (zh) 靶材厚度测量装置
CN104359391B (zh) 钢筋混凝土保护层测量仪和楼板厚度测量仪检测装置
CN106052599A (zh) 一种测量直线导轨精度的装置及非接触式测量方法
CN102735133B (zh) 安装孔检测装置
KR101373222B1 (ko) 곡면부 두께 측정 장치
CN205580318U (zh) 测量装置
CN203719599U (zh) 用于测量间隙宽度的测量装置
CN105547120A (zh) 一种基于电容触摸屏的平面机器人位置检测方法及系统
CN204405008U (zh) 一种称重测长仪
CN104407313B (zh) 便携式三维磁场测量系统及其测量方法
CN109855571A (zh) 一种平板显示溅射靶材平整度的检测方法及其装置
CN210862467U (zh) 一种横梁挠度检测装置
CN202661024U (zh) 平行度测量装置
CN208636418U (zh) 铁路车辆与计轴器电磁兼容测试用传感器的辅助安装量规
CN202853534U (zh) 一种偏光片贴附精度测量装置
CN207488341U (zh) 一种tft-lcd阵列电路检测用探针框架
CN101349535A (zh) 一种角度检测台
CN204535594U (zh) 一种液压支架柱窝的检测装置
CN201306988Y (zh) 错拐量检测量具
CN105783803A (zh) 量具
CN203940835U (zh) 多点位移精确测量实验设备
CN204286429U (zh) 一种检测地坪平整度的测试仪
CN208536741U (zh) 磁座式位移变化测量装置
CN101452009B (zh) 实现hall芯片硅片级测试的探针卡及测试方法
CN202947711U (zh) 两端球形连杆的端距检测检具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20190312

Termination date: 20220205