CN204286429U - 一种检测地坪平整度的测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种检测地坪平整度的测试仪，包括测试支架，置于该测试支架上的双轴倾角传感器、平板计算机，双轴倾角传感器通过数据线与所述平板计算机连接；测试支架包括底座，支撑该底座的第一万向探脚和第二万向探脚，靠脚及固定在底座上的可伸缩杆。本实用新型测试方法简便，数据精度高，能够现场检测和分析地坪施工质量或评价现用地坪状况。

Description

一种检测地坪平整度的测试仪

技术领域

本实用新型涉及一种检测地坪平整度的测试仪。

背景技术

地坪平整度包括地面的平整度和水平度，直接影响行驶其表面的叉车、货车以及其他货物装卸工具，平整度差的地面会使行驶车辆的抖动更大，操作人员更易产生疲劳，也会降低车辆的工作速度，影响工作效率。

目前，国内地坪平整度检测主要有靠尺法和泼水观测法。第一种方法是采用2米或者3米靠尺和楔形塞尺在地坪表面进行检测，具体做法是把靠尺放置在地坪表面然后找到靠尺和地面的最大间隙并用楔形塞尺进行测试间隙的大小。这种方法既不科学也无法重复，同时测试效率低，费时费力；另外，这种方法由于采用了2m或者3m的靠尺，因此只能检测2m或者3m以内的地面平整度，基本不能检测更大范围的水平度。第二种方法是利用水在重力作用下流平的原理进行定性检测，只能给出被检地面的大致的平整度。

综上所述，现有地坪平整度检测方法存在局限性，无法做到科学的对新建地坪的施工质量的验收与评价或现有服役地坪的现状评估，对于业主、设计以及施工等各方面而言都需要有一种能简单精确地检测地坪平整度的测试设备及方法，以便能对地坪提出合适的可检验的平整度要求，同时也能指导检验施工单位的施工作业。

发明内容

由于现有技术存在的问题，本实用新型的目的是提出一种检测地坪平整度的测试仪，其是一种可以通过测量多个点的高程差测出较小间隔(如30cm)的 地坪平整度和较大间隔(如3米)的地坪水平度，同时也可以获得地坪指定路径下剖面曲线图的测试仪。

为实现上述目的，本实用新型可通过以下技术方案予以解决：

一种检测地坪平整度的测试仪，包括测试支架，置于该测试支架上的双轴倾角传感器、平板计算机，所述双轴倾角传感器通过数据线与所述平板计算机连接；所述测试支架包括底座，支撑该底座的第一万向探脚和第二万向探脚，靠脚及固定在底座上的可伸缩杆。

作为优选的技术方案：

本实用新型的测试仪，所述第一万向探脚和第二万向探脚分别设置在所述底座的两侧，且之间的距离为10～100cm。

本实用新型的测试仪，所述双轴倾角传感器设置于所述底座上。

本实用新型的测试仪，所述平板计算机通过双轴可调节固定架固定在所述可伸缩杆上。

本实用新型的测试仪，所述可伸缩杆的长度在50～100cm可调。

本实用新型的测试仪，所述靠脚设置在所述底座的一侧，其长度为5～20cm，高度比第一和第二万向探脚低0.5～4cm。

本实用新型的测试仪，所述可伸缩杆的最上端设置有手柄。

由于采用以上技术方案，本实用新型的一种测试地坪平整度的测试仪具有以下有益效果：

(1)本实用新型的一种测试地坪平整度的测试仪测试方法简单，精度高，对地坪平整度可以进行定量测试，也提供相应的地坪剖面高程图；

(2)本实用新型的一种测试地坪平整度的测试仪测试可现场得出被测地坪的相应平整度数据。

(3)本实用新型的一种测试地坪平整度的测试仪可以通过测量多个点的高程差测出较小间隔(如30cm)的地坪平整度和较大间隔(如3米)的地坪水平度。

附图说明

图1是本实用新型测试仪的结构示意图；

图2是本实用新型测试仪移动轨迹图。

图中：

1，双轴倾角传感器；2，平板计算机；3，双轴可调节固定架；4，手柄；5，可伸缩杆；6，第一万向探脚；7，第二万向万向探脚；8，靠脚。

具体实施方式

下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型：

如图1所示，一种检测地坪平整度的测试仪，包括测试支架，置于该测试支架上的双轴倾角传感器1、平板计算机2，双轴倾角传感器1通过数据线与所述平板计算机2连接；测试支架包括底座，支撑该底座的第一万向探脚6和第二万向探脚7，及固定在底座上的可伸缩杆5；第一万向探脚6和第二万向探脚7分别设置在底座的两侧，且之间的距离为10～100cm，靠脚8设置在底座的一侧，双轴倾角传感器1设置于底座上。

本实用新型中，平板计算机2通过双轴可调节固定架3固定在可伸缩杆5上，双轴可调节固定架3可以使平板计算机2在两个垂直的平面内做360°旋转，便于在测试仪测试移动和操作平板计算机2时处于合适的位置；可伸缩杆5长度在50～100cm内可调，便于不同身高的人调节支架高度方便操作；靠脚的长度为5～20cm，高度比第一和第二万向探脚低0.5～4cm，使测试仪能够立式放置；可伸缩杆5的最上端设置有手柄4。

本实用新型中的双轴倾角传感器1，用于测试X轴(平行于测试方向)和Y轴(垂直于测试方向)与基准平面的夹角，当测试平整度时，X轴和Y轴的基准面都为水平面。X轴测试精度最低要求为0.05°，X轴测出的倾角与两个点距离的sin值的乘积即为两点的高程差。Y轴测出的倾角用于确定测试支架3所处的姿态是否可以进行X轴测试读数，其精度最低要求为0.1°。

本实用新型中的平板计算机2，内置测试程序，控制测试仪在测试过程中读取采样点数据的机制，存储及分析数据并按照ASTM E1155M(Standard Test Method for Determining FF Floor Flatness and FL Floor Levelness Numbers[Metric])输出测试结果，包括FF值和FL值及地坪剖面曲线等，同时，显示当前测试状态，包括测试点编号、高程差、测试线长度等。平板计算机2中内置扬声器，提供相应的测试提示声音。

本实用新型的测试仪的测试移动方式为：在待测地坪上规划好测试线路并进行标记后，将测试仪在待测线的端点按照图2的方式进行移动，具体的讲，当测试第一万向探脚(探脚A)在测试点1上，第二万向探脚(探脚B)在测试点2上，读取测试点1和2的高程数据，然后以第二万向探脚(探脚B)为圆心转动测试仪180°，使第一万向探脚(探脚A)离开测试点1移动到测试点3进行测试点2和3的高程测试；然后同理，以第一万向探脚(探脚A)为圆心转动测试仪180°，使第二万向探脚(探脚B)离开测试点2移动动测试点4进行测试；如此方式行进移动测试仪按序号测完所有标注的测试点。在转动测试仪时需要流畅的从一个测试点移动到另一个测试点，不能中断操作，以确保测试仪读数的准确性。测试仪的转动方式既可以按顺时针也可以按逆时针，第一万向探脚(探脚A)和第二万向探脚(探脚B)的转动方式可以一致也可以反向，图2是其中一种方式的举例，并不是只能按照这种方式进行。

本实用新型的测试仪中测试程序读取数据的规则：测试过程中角度传感器以1～120Hz的频率向平板计算机传送X轴和Y轴的与水平面的倾角数据，当X轴的数据满足变化率≤α°/s且Y轴数据在±β°内时(其中，α∈[0，1]，β∈[0，1])，程序将此刻X轴的数据作为当前计算当前两个测试点之间的高程差的角度数据记录下来供后续分析用并由扬声器发出“滴”的蜂鸣声提示测试人员当前数据已经测试完成，可进行下一个测试点的测试。

本实用新型的测试仪测试计算方式是：测试点测试完成后程序按照ASTM E1155M的计算方法计算出FF值和FL值以及当前测试线下地坪剖面图。

Claims (8)

1.一种检测地坪平整度的测试仪，其特征在于：包括测试支架，置于该测试支架上的双轴倾角传感器、平板计算机，所述双轴倾角传感器通过数据线与所述平板计算机连接；所述测试支架包括底座，支撑该底座的第一万向探脚和第二万向探脚，靠脚及固定在底座上的可伸缩杆。

2.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述第一万向探脚和第二万向探脚分别设置在所述底座的两侧，且之间的距离为10～100cm。

3.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述双轴倾角传感器设置于所述底座上。

4.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述平板计算机通过双轴可调节固定架固定在所述可伸缩杆上。

5.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述可伸缩杆长度在50～100cm可调。

6.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述可伸缩杆的最上端设置有手柄。

7.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于：所述靠脚设置在所述底座的一侧，其长度为5～20cm，高度比第一和第二万向探脚低0.5～4cm。

8.根据以上权利要求1-6中任一项所述的测试仪，其特征在于：所述平板计算机中内置扬声器。