CN205580318U - 测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供测量装置，包括底座、基准块、表座、支撑架和千分表，基准块与表座对齐设置在底座上，支撑架包括互相连接的横杆和竖杆，竖杆的一端固定在表座的侧壁上，横杆的一端设置有千分表，测量时只需将试件垂直放置在第二基准面上，就能通过千分表准确的测出试件尺寸，水平移动试件就可以方便的选取多个点连续测量，减少了测量过程中的人为误差，提高了测量的效率和准确率，且该测量装置结构简单，使用方便。

Description

测量装置

技术领域

本实用新型涉及测量领域，尤其涉及一种新型测量装置。

背景技术

与本发明最接近的现有方法是用千分尺逐件逐点手工测量，现有技术主要缺点是测试效率低，测试误差受人为因素干扰较大。用千分尺手动测量试件，需要先把试件摆放到合适位置，注意尽量保证千分尺的测量角度与试件垂直，在测量操作时容易引起试件滑动，干扰测量读数，千分尺的读数也较慢，需要手眼较好的配合才能完成，由于测量慢，选取的测量点也会较少，影响实验精度。

实用新型内容

本实用新型提供测量装置，包括底座、基准块、表座、支撑架和千分表，所述基准块与所述表座对齐设置在所述底座上，所述支撑架包括互相连接的横杆和竖杆，所述竖杆的一端固定在所述表座的侧壁上，所述横杆的一端设置有所述千分表。

优选地，所述表座与所述基准块都是磁性部件，所述底座为铁磁性材料，所述表座通过磁性力吸附在所述底座上，所述基准块通过磁性力吸附在所述底座上，所述表座与所述基准块通过磁性力连接。

优选地，所述表座与所述基准块之间设有垫片，所述表座与所述基准块通过磁性力连接。

优选地，所述横杆与所述竖杆之间设有连接件，所述连接件具有第一孔和第二孔，所诉横杆穿过所述第一孔，所述竖杆穿过所述第二孔，所述横杆与所述竖杆通过所述套接件交叉连接。

优选地，所述千分表竖直设置在所述基准块的上方，且所述千分表的表壳固定在所述横杆的端部。

优选地，所述基准块的上端具有水平方向上平行设置的第一基准面和第二基准面，所述第一基准面和第二基准面之间具有垂直设置的断面。

优选地，所述第一基准面和所述第二基准面之间的高度差为h。

优选地，所述第二基准面与所述断面的连接处具有空刀槽。

优选地，所述千分表的测量杆上设置有保护锁止垫片。

优选地，所述表座远离所述基准块的侧面上设有备用垫片。

优选地，所述千分表为电子式数显千分表。

根据本实用新型的测量装置，测量时只需将试件垂直放置在第二基准面上，就能通过千分表准确的测出试件尺寸，水平移动试件就可以方便的选取多个点连续测量，减少了测量过程中的人为误差，提高了测量的效率和准确率，且该测量装置结构简单，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例的测量装置结构示意图。

图2为本实用新型实施例的测量装置正向结构示意图。

图3为本实用新型实施例的测量装置测量原理示意图。

图4为本实用新型实施例的保护锁止垫片结构示意图。

附图标记：

底座10、垫片11、备用垫片12、

基准块20、第一基准面21、第二基准面22、断面23、空刀槽24、

表座30、

支撑架40、横杆41、竖杆42、连接件43、第一孔43-1、第二孔43-2、

千分表50、测量杆51、保护锁止垫片52、探针53、

试件60。

具体实施方式

为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“横向”、“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图及实施例对本实用新型做进一步描述。

如图1至图4所示，本实用新型提供了测量装置，包括底座10、基准块20、表座30、支撑架40和千分表50，基准块20与表座30对齐设置在底座10上，支撑架40包括互相连接的横杆41和竖杆42，竖杆42的一端固定在表座30的侧壁上，横杆41的一端设置有千分表50。优选地，千分表50为电子式数显千分表，测量时方便直接读数，提高了测量效率及测量精度。

表座30和基准块20都是磁性部件，底座10为铁磁性材料，表座30通过磁性力吸附在底座10上，基准块20通过磁性力吸附在底座10上，表座30与基准块20通过磁性力连接。表座30和基准块20都是通过磁性力固定在底座10上，方便基准块20的移动和表座30的拆卸。

表座30与基准块20之间设有垫片11，表座30与基准块20通过磁性力连接，垫片11可以精确的调整表座30与基准块20之间的间隙。在测量不同大小形状的试件60时，该测量装置可以通过垫片11精确调整表座30与基准块20间的间隙，以达到试件60最优的测量位置，且因为表座30与基准块20均为磁性部件，可以简单方便的调整表座30与基准块20间的相对位置。

进一步地，横杆41与竖杆42之间设有连接件43，连接件43具有第一孔43-1和第二孔43-2，横杆41穿过第一孔43-1，竖杆42穿过第二孔43-2，横杆41与竖杆42通过套接件43交叉连接，且横杆41与连接件43的连接可以左右调整，竖杆42与连接件43的连接可以上下调整。千分表50竖直设置在基准块20的上方，且千分表50的表壳固定在横杆41的端部。千分表50设置在基准块20的上方，保证其能测量到放置在基准块20上的试件60。

基准块20的上端具有水平方向上平行设置的第一基准面21和第二基准面22，第一基准面21和第二基准面22之间具有垂直设置的断面23。第一基准面21和第二基准面22之间的高度差为h。第一基准面21用于较准千分表50读数的零点位置，第二基准面22用于放置试件60。

第二基准面22与断面23的连接处具有空刀槽24。空刀槽24可以方便第二基准面22的加工，且有利于保证试件60的垂直放置，从而提高千分表50的测量精度。

另外，千分表50的测量杆51上设置有保护锁止垫片52。保护锁止垫片52用于保护千分表50的探针52，由于试件60的厚度往往较薄，当测量完成取走试件60时，探针53会与基准块20的边缘发生碰撞冲击，影响千分表的测量精度，因此特别设计了保护锁止垫片52，通过限制测量杆51的位置可有效防止碰撞。

表座30远离基准块20的侧面上设有备用垫片12。备用垫片12使用时可以直接取下并放置在表座30与基准块20直接，以调节表座30与基准块20间的间隙。

第一基准面21和第二基准面22的高度差为h，当使用该测量装置进行测量时，把试件60放到基准块20上，测量读数，若千分表50的测量读数是a，则该测量点的试件60的宽度值为h+a。测量精度由千分表50的测量精度、基准块20和底座30的加工精度决定，第一基准面21和第二基准面22是关键面，严格保证第一基准面21和第二基准面22的加工精度以保证测量装置的测量精度。

根据本实用新型的测量装置，测量时只需将试件60垂直放置在第二基准面22上，就能通过千分表50准确的测出试件60的尺寸，水平移动试件60就可以方便的选取多个点连续测量，减少了测量过程中的人为误差，从而提高了测量的效率和准确率，且该测量装置结构简单，使用方便。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (11)

1.测量装置，包括底座(10)、基准块(20)、表座(30)、支撑架(40)和千分表(50)，所述基准块(20)与所述表座(30)对齐设置在所述底座(10)上，所述支撑架(40)包括互相连接的横杆(41)和竖杆(42)，所述竖杆(42)的一端固定在所述表座(30)的侧壁上，所述横杆(41)的一端设置有所述千分表(50)。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述表座(30)与所述基准块(20)都是磁性部件，所述底座(10)为铁磁性材料，所述表座(30)通过磁性力吸附在所述底座(10)上，所述基准块(20)通过磁性力吸附在所述底座(10)上，所述表座(30)与所述基准块(20)通过磁性力连接。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述表座(30)与所述基准块(20)之间设有垫片(11)。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述横杆(41)与所述竖杆(42)之间设有连接件(43)，所述连接件(43)具有第一孔(43-1)和第二孔(43-2)，所诉横杆(41)穿过所述第一孔(43-1)，所述竖杆(42)穿过所述第二孔(43-2)，所述横杆(41)与所述竖杆(42)通过所述连接件(43)交叉连接。

5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述千分表(50)竖直设置在所述基准块(20)的上方，且所述千分表(50)的表壳固定在所述横杆(41)的端部。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述基准块(20)的上端具有水平方向上平行设置的第一基准面(21)和第二基准面(22)，所述第一基准面(21)和第二基准面(22)之间具有垂直设置的断面(23)。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述第一基准面(21)和所述第二基准面(22)之间的高度差为h。

8.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述第二基准面(22)与所述断面(23)的连接处具有空刀槽(24)。

9.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述千分表(50)的测量杆(51)上设置有保护锁止垫片(52)。

10.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述表座(30)远离所述基准块(20)的侧面上设有备用垫片(12)。

11.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述千分表(50)为电子式数显千分表。