CN104101425A - 具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统 - Google Patents

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黄秋元
冯毓伟
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Abstract

本发明涉及一种巴条测试系统。一种具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,包括常温巴条夹具(4)和巴条电性能检测设备(9),还设有一高温巴条夹具(5)和常温巴条夹具(4)安装在同一工作台上。上料机械手(1)安装在安装底座(7)的一侧,上料机械手(1)旁边是巴条自动排列机构(2),取料机械手(3)安装在安装底座(7)的另一侧,取料机械手(3)旁边设有巴条房子台(6),常温巴条夹具(4)和高温巴条夹具(5)位于上料机械手(1)和取料机械手(3)之间的工作区域内。本发明采用常温夹具与高温夹具分开设置,当巴条完成常温测试后,上料机械手将巴条放置到高温夹具上,可立即进行高温测试,大大的节省了测试耗时。

Description

具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统
技术领域
     本发明涉及一种具有常温检测与高温检测双夹具的综合巴条全自动测试系统,属于光电机一体化技术领域,特别涉及光电子精密器件自动化测试技术。
背景技术
    光信息技术的发展推动着通信事业的进步,随着光纤通信和光纤传感技术的发展,光电子器件的制备成为了光信息技术进一步发展的关键。光电子器件的生产检测技术影响着整个光学设备的生产品质和效率,生产检测设备的自动化可以大幅度的提高生产效率,保证器件质量。
    目前巴条测试设备测试过程中,巴条在夹具上完成常温检测项目后等待夹具开始升温,夹具温升到85℃后开始巴条高温检测项目---光功率检测和光波长的采集。采集项目完成,巴条取走。夹具降温,温度到室温后开始下一个检测循环,这样既耗时又耗能。
发明内容
1、      所要解决的技术问题:
    现有的巴条测试设备测试过程中,,巴条在夹具上完成常温检测项目后等待夹具开始升温,夹具温升到85℃后开始巴条高温检测项目---光功率检测和光波长的采集。采集项目完成,巴条取走。夹具降温,温度到室温后开始下一个检测循环,既耗时又耗能。
2、      技术方案: 
为了解决以上问题,本发明提供了一种具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,包括常温巴条夹具4和巴条电性能检测设备9,其特征在于:还设有一高温巴条夹具5和常温巴条夹具4安装在同一工作台上。
还包括安装底座7、上料机械手1、巴条自动排列机构2、取料机械手3、巴条放置台6,上料机械手1安装在安装底座7的一侧,上料机械手1旁边是巴条自动排列机构2,取料机械手3安装在安装底座7的另一侧,取料机械手3旁边设有巴条房子台6,常温巴条夹具4和高温巴条夹具5位于上料机械手1和取料机械手3之间的工作区域内。
还设有巴条功率检测设备8、巴条光波长采集设备10和巴条检测设备工作台11,巴条功率检测设备8、巴条光波长采集设备10和巴条电性能检测设备9、安装在巴条检测设备工作台11上,巴条检测设备工作台11放置在高温巴条夹具5旁。
巴条光波长采集设备10上设有X轴调节旋钮1003和Z轴调节旋钮1013,推动可调整内芯1012做X/Z轴方向的平移,还设有旋动调节圈1004,通过旋动调节圈1004,调整透镜1009在Y轴方向上的位移。
设有步进电机101,用来驱动装有巴条功率检测设备8中的光功率计801的安装支架802和巴条光波长采集设备中10中的装有巴条波长采集镜头1001的镜头固定支架1002做X轴方向的平移。
上料机械手1上设有上料机械手步进电机101A驱动上料机械手1上料机械手臂102做X轴、Y轴和Z轴移动,所述上料机械手臂102上并排装有两个真空吸盘103。
取料机械手3上设有取料料机械手步进电机101B驱动取料机械手上的取料料机械手臂301做Y轴和Z轴方向的平移和绕Z轴的旋转,所述取料机械手臂301上并排装有两个真空吸盘103’。
3、      有益效果:
    本发明采用常温夹具与高温夹具分开设置,当巴条完成常温测试后,上料机械手将巴条放置到高温夹具上,可立即进行高温测试,大大的节省了测试耗时。
附图说明
图1测试平台总立体视图。
图2光波长采集设备剖视图。
图3高低温测试平台立体视图。
图4上料机械手立体视图。
图5取料机械手立体视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例来对本发明进行详细说明。
      本发明提供了一种具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,包括常温巴条夹具4和巴条电性能检测设备9,其特征在于:还设有一高温巴条夹具5和常温巴条夹具4安装在同一工作台上。由于设有了高温巴条夹具5,检测巴条高温项目时,不需要等待夹具升到85度,而下一个检测循环时,等夹具降温。
     实施例1:
     一种具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统还包括安装底座7、上料机械手1、巴条自动排列机构2、取料机械手3、巴条放置台6,上料机械手1安装在安装底座7的一侧,上料机械手1旁边是巴条自动排列机构2,取料机械手3安装在安装底座7的另一侧,取料机械手3旁边设有巴条房子台6,常温巴条夹具4和高温巴条夹具5位于上料机械手1和取料机械手3之间的工作区域内。上料和取料都通过机械手操作,通过可编程逻辑控制器来控制机械手,可使整个过程自动化。
实施例2;
如图1所示,在实施例1的基础上,加入了巴条功率检测设备8和巴条光波长采集设备10,巴条光波长采集设备10和巴条电性能检测设备9、一起安装在巴条检测设备工作台11上,巴条检测设备工作台11放置在高温巴条夹具5旁。这样使本发明提供的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统还具有光功率检测与光波长采集功能。
如图2所示,巴条光波长采集设备10上设有X轴调节旋钮1003和Z轴调节旋钮1013,推动可调整内芯1012做X/Z轴方向的平移,还设有旋动调节圈1004,通过旋动调节圈1004,调整透镜1009在Y轴方向上的位移,由此可见巴条光波长采集设备(10)具备X、Y、Z三轴的可调节功能。弹巴条光波采集设备10中安弹簧1006和子弹压头1008确保可调整内芯1012与固定外圈1011之间不会有松动,从而可以提高调整精度。通过旋动调节圈1004,可调整透镜1009在Y轴方向上的位移,从而达到调整透镜1009与光谱探头1010距离的目的。
如图3所示,设有步进电机101,用来驱动装有巴条功率检测设备8中的光功率计801的安装支架802和巴条光波长采集设备中10中的装有巴条波长采集镜头1001的镜头固定支架1002做X轴方向的平移。实现了光功率计801和光波长探头1001自动进行交换工位的功能。
如图4所示,上料机械手臂102由步进电机101A驱动可做X/Y/Z方向的移动,上料机械手臂102上装有两个并排真空吸盘103,真空吸盘103移至巴条位置时,其产生的负压将巴条吸起,当其移动至巴条下一工序放置位置时,关闭负压,巴条被放下。
如图5所示,取料机械手臂30)由步进电机101B驱动可做Y/Z方向的平移和绕Z轴的旋转,取料机械手臂301上装有两个并排真空吸盘103’,真空吸盘103’移至巴条位置时,其产生的负压将巴条吸起,当其移动至巴条下一工序放置位置时,关闭负压,巴条被放下。
工作流程为:
1. 如图1所示,巴条由人工摆置在巴条自动排列机构2的工作台面上,工作台面由二维平台组成,巴条在工作台面上经由x、y方向的移动达到综合检测台到轴坐标定位标准。
   2.上料机械手1从巴条自动排列机构2将巴条吸起,然后移动至常温巴条夹具4工作台面将巴条放下。
   3.巴条经由常温巴条夹具4上完成电学参数检测后,上料机械手1将巴条吸起,然后转移至高温巴条夹具5工作台面放置,高温巴条夹具5做X轴向平移,至波长采集工位时,开始波长采集工作。
   4.波长采集工作完成后,高温巴条夹具5不动,巴条检测设备集成工作台11进行X轴向平移,将巴条光功率检测设备8移至巴条处进行光功率检测工作。
   5. 高温检测项目完成后,夹具做X轴方向平移脱离检测工作区域,取料机械手3将高温巴条夹具5上放置的巴条吸起,将巴条放置到巴条放置台6。
   6.系统转入下一个工作循环。
    本发明提供的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,本发明采用常温夹具与高温夹具分开设置,当巴条完成常温测试后,上料机械手将巴条放置到高温夹具上,可立即进行高温测试,大大的节省了测试耗时。本发明还具有光功率检测与光波长采集时自动转换的功能,并且光波长采集中的集光镜头设计成可调节状态,从而保证最大光功率的采集。

Claims (7)

1.一种具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,包括常温巴条夹具(4)和巴条电性能检测设备(9),其特征在于:还设有一高温巴条夹具(5)和常温巴条夹具(4)安装在同一工作台上。
2.如权利要求1所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:还包括安装底座(7)、上料机械手(1)、巴条自动排列机构(2)、取料机械手(3)、巴条放置台(6),上料机械手(1)安装在安装底座(7)的一侧,上料机械手(1)旁边是巴条自动排列机构(2),取料机械手(3)安装在安装底座(7)的另一侧,取料机械手(3)旁边设有巴条房子台(6),常温巴条夹具(4)和高温巴条夹具(5)位于上料机械手(1)和取料机械手(3)之间的工作区域内。
3.如权利要求1或2所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:还设有巴条功率检测设备(8)、巴条光波长采集设备(10)和巴条检测设备工作台(11),巴条功率检测设备(8)、巴条光波长采集设备(10)和巴条电性能检测设备(9)、安装在巴条检测设备工作台(11)上,巴条检测设备工作台(11)放置在高温巴条夹具(5)旁。
4.如权利要求3所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:巴条光波长采集设备(10)上设有X轴调节旋钮(1003)和Z轴调节旋钮(1013),推动可调整内芯(1012)做X/Z轴方向的平移,还设有旋动调节圈(1004),通过旋动调节圈(1004),可调整透镜(1009)在Y轴方向上的位移。
5.如权利要求3所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:设有步进电机(101),用来驱动装有巴条功率检测设备(8)中的光功率计(801)的安装支架(802)和巴条光波长采集设备(10)中的装有巴条波长采集镜头(1001)的镜头固定支架(1002)做X轴方向的平移。
6.如权利要求2所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:上料机械手(1)上设有上料机械手步进电机(101A)驱动上料机械手(1)上料机械手臂(102)做X轴、Y轴、Z轴移动,所述上料机械手臂(102)上并排装有两个真空吸盘(103)。
7.如权利要求2所述的具有常温检测与高温检测双夹具的巴条测试系统,其特征在于:取料机械手(3)上设有取料料机械手步进电机(101B)驱动取料机械手上的取料料机械手臂(301)做Y轴、Z轴方向的平移和绕Z轴的旋转,所述取料机械手臂(301)上并排装有两个真空吸盘(103’)。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107664557A (zh) * 2017-11-15 2018-02-06 无锡阿尔法精密机械制造有限公司 陶瓷压力传感器等级分拣装置
CN110487513A (zh) * 2019-08-22 2019-11-22 福州中科光芯科技有限公司 Bar条检测用机构及其工作方法
CN111573206A (zh) * 2020-05-12 2020-08-25 湖南中南鸿思自动化科技有限公司 激光器bar条测试系统的运输装置
CN112903699A (zh) * 2021-01-20 2021-06-04 苏州长光华芯光电技术股份有限公司 一种巴条自动镜检设备
CN116329110A (zh) * 2023-05-30 2023-06-27 武汉普赛斯电子股份有限公司 芯片测试排列设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101231324A (zh) * 2007-01-23 2008-07-30 未来产业株式会社 测试盘以及使用该测试盘的处理装置
JP2008211121A (ja) * 2007-02-28 2008-09-11 Shinka Jitsugyo Kk 半導体素子の特性検査用治具、特性検査装置、特性検査方法
CN101354428A (zh) * 2007-07-25 2009-01-28 东京毅力科创株式会社 探针卡用台车和使用该台车的探针卡的操作方法
CN101813745A (zh) * 2009-02-20 2010-08-25 日月光半导体制造股份有限公司 电学性能测试方法及其测试设备
CN203231814U (zh) * 2013-04-15 2013-10-09 镇江逸致仪器有限公司 巴条检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101231324A (zh) * 2007-01-23 2008-07-30 未来产业株式会社 测试盘以及使用该测试盘的处理装置
JP2008211121A (ja) * 2007-02-28 2008-09-11 Shinka Jitsugyo Kk 半導体素子の特性検査用治具、特性検査装置、特性検査方法
CN101354428A (zh) * 2007-07-25 2009-01-28 东京毅力科创株式会社 探针卡用台车和使用该台车的探针卡的操作方法
CN101813745A (zh) * 2009-02-20 2010-08-25 日月光半导体制造股份有限公司 电学性能测试方法及其测试设备
CN203231814U (zh) * 2013-04-15 2013-10-09 镇江逸致仪器有限公司 巴条检测装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107664557A (zh) * 2017-11-15 2018-02-06 无锡阿尔法精密机械制造有限公司 陶瓷压力传感器等级分拣装置
CN107664557B (zh) * 2017-11-15 2020-02-07 无锡阿尔法精密机械制造有限公司 陶瓷压力传感器等级分拣装置
CN110487513A (zh) * 2019-08-22 2019-11-22 福州中科光芯科技有限公司 Bar条检测用机构及其工作方法
CN110487513B (zh) * 2019-08-22 2023-11-03 福州中科光芯科技有限公司 Bar条检测用机构及其工作方法
CN111573206A (zh) * 2020-05-12 2020-08-25 湖南中南鸿思自动化科技有限公司 激光器bar条测试系统的运输装置
CN111573206B (zh) * 2020-05-12 2022-04-08 湖南中南鸿思自动化科技有限公司 激光器bar条测试系统的运输装置
CN112903699A (zh) * 2021-01-20 2021-06-04 苏州长光华芯光电技术股份有限公司 一种巴条自动镜检设备
CN116329110A (zh) * 2023-05-30 2023-06-27 武汉普赛斯电子股份有限公司 芯片测试排列设备

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