CN104037244A - 一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 - Google Patents
一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104037244A CN104037244A CN201410267305.9A CN201410267305A CN104037244A CN 104037244 A CN104037244 A CN 104037244A CN 201410267305 A CN201410267305 A CN 201410267305A CN 104037244 A CN104037244 A CN 104037244A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- deposition
- zno
- concentration gradient
- thin film
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 37
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000002161 passivation Methods 0.000 title claims abstract description 16
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 title abstract 10
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 title abstract 10
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 title abstract 10
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 title abstract 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims abstract description 136
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 57
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 57
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 57
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 148
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 65
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 33
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 27
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 24
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 10
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000006388 chemical passivation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 101001073212 Arabidopsis thaliana Peroxidase 33 Proteins 0.000 description 1
- 101001123325 Homo sapiens Peroxisome proliferator-activated receptor gamma coactivator 1-beta Proteins 0.000 description 1
- 102100028961 Peroxisome proliferator-activated receptor gamma coactivator 1-beta Human genes 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000415 inactivating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0216—Coatings
- H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/02168—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/186—Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
- H01L31/1868—Passivation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法,通过原子沉积在硅片表面进行Al2O3沉积以形成厚度为1nm~10nm的Al2O3层;然后继续在Al2O3层上进行n1次的ZnO沉积,然后进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;按照上述Al2O3掺杂ZnO沉积的方式重复沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,以形成厚度为30nm~100nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;沉积结束后,取出硅片,进行退火,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。优点是:薄膜设计合理,制备过程容易操作,对晶硅太阳能电池具有优良的钝化效果,电池光电转化效率高。
Description
技术领域
本发明属于太阳能电池制备技术领域,特别涉及一种太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及其制备方法。
背景技术
晶硅太阳能电池以其成熟的工艺较高的光电转化效率而成为目前应用最为广泛的太阳能电池。然而在晶硅电池的制备过程中,硅片切割、陷光结构制备等过程会在硅片表面造成损伤,表面损伤与制备表面陷光结构的过程使电池表面缺陷态大幅度提高,增加了电子-空穴对的复合率,从而降低了电极对电荷的收集,降低了晶硅太阳电池效率。Al2O3薄膜具有化学钝化与场钝化的双重钝化效果,是目前最为优良的晶硅太阳能电池钝化材料,其已应用于PERC与PERL电池使其光电转化效率达到20%以上。但是,具有一定厚度的 Al2O3薄膜(>10nm)必须引入激光开槽工艺使Al背场与-p-Si相接触以制造良好的欧姆接触;而厚度较小的薄膜(<10nm)又不能达到很好的钝化效果,这使Al2O3钝化薄膜迟迟不能大规模的投入实用。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法,该薄膜设计合理,制备过程容易操作,对晶硅太阳能电池具有优良的钝化效果,电池光电转化效率高。
本发明的技术解决方案是:
一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜,其特殊之处在于:
在硅片上有一层厚度为1 nm~10 nm的Al2O3薄膜层,在Al2O3薄膜层有浓度梯度掺杂ZnO薄膜层,所述Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层由Al元素、Zn元素、O元素组成,其中Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层中Al2O3所占比例由下至上依次减小,其电阻率依次降低,Al元素的含量为0.1%~10%,厚度为30nm~100nm,电阻率为10Ω·cm~1 ∙10-5Ω·cm。
一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其具体步骤如下:
(1)、将硅片放置在原子沉积设备的沉积腔室内,将沉积腔室抽真空,向沉积腔室中通入Al(CH3)3前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在硅片表面形成一次Al2O3沉积层,继续按上述Al2O3沉积方式循环进行10次~100次的Al2O3沉积以形成厚度为1nm~10nm的Al2O3层;
(2)、向沉积腔室中通入Zn(C2H5)2前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在Al2O3层表面形成一次ZnO沉积层,继续按上述ZnO沉积方式重复进行n1次的ZnO沉积,然后按照步骤(1)中Al2O3沉积方式进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;
(3)按照步骤(2)中Al2O3掺杂ZnO沉积的方式循环进行Al2O3掺杂ZnO沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,以形成厚度为30nm~100
nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;
(4)沉积结束后,取出硅片,进行退火,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。
步骤(2)所述的继续进行n1次ZnO沉积的重复沉积次数n1=1~10。
Al2O3层、Al2O3浓度梯度掺杂ZnO层沉积时,温度为室温~400℃,压强为10-3torr~10torr,气体流量为0sccm~1000sccm。
步骤(1)和步骤(2)中所述Al(CH3)3前驱体、Zn(C2H5)2前驱体和水蒸气单次沉积吹扫时间为8ms~104ms,所述高纯氮气的吹扫时间为2s~100s。
退火处理时,退火温度300℃~500℃,退火时间10min~60min,退火气氛为空气、氮气、氨气、真空中的一种。
Al2O3层、Al2O3浓度梯度掺杂ZnO层沉积时,沉积温度为150℃~200℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm~400sccm。
步骤(1)中Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为20ms~40ms,H2O前驱体的通入时间为15ms,两次高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间均为25s。
步骤(2)中完成单次Al2O3掺杂ZnO沉积,包括先进行9次ZnO沉积,再进行1次Al2O3沉积;Zn(C2H5)2前驱体的吹扫时间为20ms,H2O前驱体的通入时间为15ms, Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为20ms~40ms,高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间为25s。
退火处理时,退火温度400℃~450℃,退火时间10min。
采用Al(CH3)3、Zn(C2H5)2与H2O作为前驱体进行ZnO、Al2O3沉积,发生如下反应:
ZnO沉积:
Al2O3沉积:
本发明的有益效果:
1、该薄膜在硅片上沉积厚度为1nm~10nm的Al2O3层后,Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜在Al2O3层之上,这种复合钝化结构具有很强的化学钝化与场钝化效应,可以大幅度的提高少子寿命进而提升电池效率。
2、在晶硅表面沉积的Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜具有较低的电阻率,可以有效收集并传导通过隧穿效应通过厚度较小的Al2O3层的载流子,不会增加电池内阻,并可以与Al背场形成良好的欧姆接触减少电池内耗。
3、制备工艺简单,操作容易,对晶硅太阳能电池具有优良的钝化效果,电池光电转化效率高,与现有的晶硅太阳能电池工艺兼容性好,避免了昂贵的激光开槽工序。
具体实施方式
实施例1
在硅片上有一层厚度为1 nm的Al2O3薄膜层,在Al2O3薄膜层有浓度梯度掺杂ZnO薄膜层,所述Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层由Al元素、Zn元素、O元素组成,其中Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层中Al2O3所占比例由下至上依次减小,其电阻率依次降低,Al元素的含量为0.1%~10%,厚度为100nm,电阻率为10Ω·cm~1 ∙10-5Ω·cm。
具体步骤如下:
(1)、将硅片放置在原子沉积设备的沉积腔室内,将沉积腔室抽真空,沉积温度为150℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,向沉积腔室中通入Al(CH3)3前驱体吹扫20ms,用高纯氮气吹均25s清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入15ms水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气吹均25s清洗沉积腔室,形成一次Al2O3沉积,继续按上述Al2O3沉积方式循环进行10次的Al2O3沉积以形成厚度为1nm的Al2O3层;
(2)、向沉积腔室中通入Zn(C2H5)2前驱体吹扫20ms,用高纯氮气吹均25s清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入15ms水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气吹均25s清洗沉积腔室,在Al2O3层表面形成一次ZnO沉积层,沉积时,沉积温度为150℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,继续按上述ZnO沉积方式循环进行9次的ZnO沉积,然后按照步骤(1)中Al2O3沉积方式进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;
(3)按照步骤(2)中Al2O3掺杂ZnO沉积的方式循环进行n次的Al2O3掺杂ZnO沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,即第二次Al2O3掺杂ZnO中ZnO沉积的次数为2、第三次Al2O3掺杂ZnO中ZnO沉积的次数为3、第四次Al2O3掺杂ZnO中ZnO沉积的次数为4、…第N次Al2O3掺杂ZnO中ZnO沉积的次数为n,以形成厚度为100 nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;
(4)沉积结束后,取出硅片,进行退火,退火温度400℃,退火时间10min,退火气氛为空气,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。经检测,裸硅(步骤(1)中的硅片)的少子寿命为6.6525μs,沉积态(步骤(3)处理后得到的硅片)的少子寿命为7.6568μs,步骤(4)退火处理后的硅片为的少子寿命19.272μs。
实施例2
在硅片上有一层厚度为10 nm的Al2O3薄膜层,在Al2O3薄膜层有浓度梯度掺杂ZnO薄膜层,所述Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层由Al元素、Zn元素、O元素组成,其中Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层中Al2O3所占比例由下至上依次减小,其电阻率依次降低,Al元素的含量为0.1%~10%,厚度为30nm,电阻率为10Ω·cm~1 ∙10-5Ω·cm。
其具体步骤如下:
(1)、将硅片放置在原子沉积设备的沉积腔室内,将沉积腔室抽真空,向沉积腔室中通入Al(CH3)3前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在硅片表面形成一次Al2O3沉积层,沉积时,沉积温度为150℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为30ms,H2O前驱体的通入时间为15ms,两次高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间均为25s,继续按上述Al2O3沉积方式循环进行100次的Al2O3沉积以形成厚度为10nm的Al2O3层;
(2)、向沉积腔室中通入Zn(C2H5)2前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在Al2O3层表面形成一次ZnO沉积层,沉积时,沉积温度为150℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,Zn(C2H5)2前驱体的吹扫时间为20ms,H2O前驱体的通入时间为15ms,两次高纯氮气吹扫时间均为25s,继续按上述ZnO沉积方式循环进行9次的ZnO沉积,然后按照步骤(1)中Al2O3沉积方式进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;
(3)按照步骤(2)中Al2O3掺杂ZnO沉积的方式循环进行n次的Al2O3掺杂ZnO沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,即第二次、第三次、第四次、…第N次Al2O3掺杂ZnO中ZnO沉积的次数依次为2、3、4、…n,以形成厚度为30nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;
(4)沉积结束后,取出硅片,进行退火,退火温度400℃,退火时间10min,退火气氛为空气,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。经检测,裸硅的少子寿命为6.6525μs,沉积态的少子寿命为7.4836μs,退火处理后的少子寿命为40.7767μs。
实施例3
在硅片上有一层厚度为5 nm的Al2O3薄膜层,在Al2O3薄膜层有浓度梯度掺杂ZnO薄膜层,所述Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层由Al元素、Zn元素、O元素组成,其中Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层中Al2O3所占比例由下至上依次减小,其电阻率依次降低,Al元素的含量为0.1%~10%,厚度为50nm,电阻率为10Ω·cm~1 ∙10-5Ω·cm。
其具体步骤如下:
(1)、将硅片放置在原子沉积设备的沉积腔室内,将沉积腔室抽真空,向沉积腔室中通入Al(CH3)3前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在硅片表面形成一次Al2O3沉积层,沉积时,沉积温度为200℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为40ms,H2O前驱体的通入时间为15ms,两次高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间为25s,继续按上述Al2O3沉积方式循环进行50次的Al2O3沉积以形成厚度为5nm的Al2O3层;
(2)、向沉积腔室中通入Zn(C2H5)2前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在Al2O3层表面形成一次ZnO沉积层,沉积时,沉积温度为150℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm,Zn(C2H5)2前驱体的吹扫时间为20ms,H2O前驱体的通入时间为15ms两次高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间均为25s,继续按上述ZnO沉积方式循环进行9次的ZnO沉积,然后按照步骤(1)中Al2O3沉积方式进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;
(3)按照步骤(2)中Al2O3掺杂ZnO沉积的方式循环进行n次的Al2O3掺杂ZnO沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,即第二次、第三次、第四次、…第N次Al2O3掺杂ZnO沉积中ZnO沉积的次数依次为2、3、4、…n,以形成厚度为50nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;
(4)沉积结束后,取出硅片,进行退火,退火温度450℃,退火时间10min,退火气氛为氮气,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。经检测,裸硅的少子寿命为6.6525μs,沉积态为8.434μs,退火处理后为45.3785μs。
Claims (10)
1.一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜,其特征是:
在硅片上有一层厚度为1 nm~10 nm的Al2O3薄膜层,在Al2O3薄膜层有浓度梯度掺杂ZnO薄膜层,所述Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层由Al元素、Zn元素、O元素组成,其中Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜层中Al2O3所占比例由下至上依次减小,其电阻率依次降低,Al元素的含量为0.1%~10%,厚度为30nm~100nm,电阻率为10Ω·cm~1 ∙10-5Ω·cm。
2.一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:具体步骤如下:
(1)、将硅片放置在原子沉积设备的沉积腔室内,将沉积腔室抽真空,向沉积腔室中通入Al(CH3)3前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在硅片表面形成一次Al2O3沉积层,继续按上述Al2O3沉积方式循环进行10次~100次的Al2O3沉积以形成厚度为1nm~10nm的Al2O3层;
(2)、向沉积腔室中通入Zn(C2H5)2前驱体,用高纯氮气清洗沉积腔室并向沉积腔室内通入水蒸气作为氧源,然后用高纯氮气清洗沉积腔室,在Al2O3层表面形成一次ZnO沉积层,继续按上述ZnO沉积方式重复进行n1次的ZnO沉积,然后按照步骤(1)中Al2O3沉积方式进行1次Al2O3沉积,完成一次Al2O3掺杂ZnO沉积;
(3)按照步骤(2)中Al2O3掺杂ZnO沉积的方式循环进行Al2O3掺杂ZnO沉积,其中当次ZnO沉积的次数比前一次ZnO沉积多沉积一次,以形成厚度为30nm~100 nmAl2O3浓度梯度掺杂ZnO层;
(4)沉积结束后,取出硅片,进行退火,得到晶硅太阳能电池钝化薄膜。
3.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:步骤(2)所述的继续进行n1次ZnO沉积的重复沉积次数n1=1~10。
4.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:Al2O3层、Al2O3浓度梯度掺杂ZnO层沉积时,温度为室温~400℃,压强为10-3torr~10torr,气体流量为0sccm~1000sccm。
5.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:步骤(1)和步骤(2)中所述Al(CH3)3前驱体、Zn(C2H5)2前驱体和水蒸气单次沉积吹扫时间为8ms~104ms,所述高纯氮气的吹扫时间为2s~100s。
6.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:退火处理时,退火温度300℃~500℃,退火时间10min~60min,退火气氛为空气、氮气、氨气、真空中的一种。
7.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:Al2O3层、Al2O3浓度梯度掺杂ZnO层沉积时,沉积温度为150℃~200℃,压强为0.15torr,气体流量为40sccm~400sccm。
8.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:步骤(1)中Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为20ms~40ms,H2O前驱体的通入时间为15ms,两次高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间均为25s。
9.根据权利要求2所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:步骤(2)中完成单次Al2O3掺杂ZnO沉积,包括先进行9次ZnO沉积,再进行1次Al2O3沉积;Zn(C2H5)2前驱体的吹扫时间为20ms,H2O前驱体的通入时间为15ms, Al(CH3)3前驱体的吹扫时间为20ms~40ms,高纯氮气清洗沉积腔室的吹扫时间为25s。
10.根据权利要求2或5所述的晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征是:退火处理时,退火温度400℃~450℃,退火时间10min。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410267305.9A CN104037244B (zh) | 2014-06-17 | 2014-06-17 | 一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410267305.9A CN104037244B (zh) | 2014-06-17 | 2014-06-17 | 一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104037244A true CN104037244A (zh) | 2014-09-10 |
CN104037244B CN104037244B (zh) | 2016-01-13 |
Family
ID=51467944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410267305.9A Expired - Fee Related CN104037244B (zh) | 2014-06-17 | 2014-06-17 | 一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104037244B (zh) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105132875A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-09 | 辽宁工业大学 | 一种扩散法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN105132874A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-09 | 辽宁工业大学 | 一种直流/射频共溅射法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN106981539A (zh) * | 2016-02-05 | 2017-07-25 | 江苏微导纳米装备科技有限公司 | 一种纳米叠层导电薄膜的制备方法及应用 |
JP2019195084A (ja) * | 2014-11-21 | 2019-11-07 | エイチイーイーソーラー,エルエルシー | ペルブスカイト材料の二層及び三層の界面層 |
CN112663023A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-16 | 中国科学院高能物理研究所 | 一种azo材料纳米电阻薄膜及其制备方法 |
CN115332364A (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-11 | 西南交通大学 | 太阳能电池钝化涂覆料、制备方法及钝化方法 |
WO2023077763A1 (zh) * | 2021-11-05 | 2023-05-11 | 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 | 金属氧化物掺杂层、太阳能电池及其制备方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006080450A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Sharp Corp | 太陽電池の製造方法 |
CN101170139A (zh) * | 2006-10-26 | 2008-04-30 | 中美矽晶制品股份有限公司 | 太阳能电池及其制造方法 |
CN102021535A (zh) * | 2010-12-21 | 2011-04-20 | 上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司 | 铝掺杂氧化锌透明导电薄膜的低温制备方法 |
CN102168256A (zh) * | 2011-03-21 | 2011-08-31 | 南开大学 | 利用MOCVD梯度掺杂技术生长ZnO:B薄膜及应用 |
WO2012101876A1 (ja) * | 2011-01-26 | 2012-08-02 | 三菱電機株式会社 | 透明電極基板およびその製造方法、光電変換装置およびその製造方法、光電変換モジュール |
CN102953048A (zh) * | 2012-11-13 | 2013-03-06 | 西安交通大学 | 一种纳米掺杂结构及其制备方法 |
-
2014
- 2014-06-17 CN CN201410267305.9A patent/CN104037244B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006080450A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Sharp Corp | 太陽電池の製造方法 |
CN101170139A (zh) * | 2006-10-26 | 2008-04-30 | 中美矽晶制品股份有限公司 | 太阳能电池及其制造方法 |
CN102021535A (zh) * | 2010-12-21 | 2011-04-20 | 上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司 | 铝掺杂氧化锌透明导电薄膜的低温制备方法 |
WO2012101876A1 (ja) * | 2011-01-26 | 2012-08-02 | 三菱電機株式会社 | 透明電極基板およびその製造方法、光電変換装置およびその製造方法、光電変換モジュール |
CN102168256A (zh) * | 2011-03-21 | 2011-08-31 | 南开大学 | 利用MOCVD梯度掺杂技术生长ZnO:B薄膜及应用 |
CN102953048A (zh) * | 2012-11-13 | 2013-03-06 | 西安交通大学 | 一种纳米掺杂结构及其制备方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
W J MAENG等: ""Studies on optical, structural and electrical properties of atomic layer deposited Al-doped ZnO thin films with various Al concentrations and deposition temperatures"", 《JOURNAL OF PHYSICS D:APPLIED PHYSICS》, vol. 44, 21 October 2011 (2011-10-21), pages 445305, XP020212748, DOI: doi:10.1088/0022-3727/44/44/445305 * |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019195084A (ja) * | 2014-11-21 | 2019-11-07 | エイチイーイーソーラー,エルエルシー | ペルブスカイト材料の二層及び三層の界面層 |
JP7034124B2 (ja) | 2014-11-21 | 2022-03-11 | ハント ペロヴスカイト テクノロジーズ,エル.エル.シー. | ペルブスカイト材料の二層及び三層の界面層 |
CN105132875A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-09 | 辽宁工业大学 | 一种扩散法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN105132874A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-09 | 辽宁工业大学 | 一种直流/射频共溅射法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN105132875B (zh) * | 2015-08-31 | 2017-07-28 | 辽宁工业大学 | 一种扩散法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN105132874B (zh) * | 2015-08-31 | 2017-09-26 | 辽宁工业大学 | 一种直流/射频共溅射法制备高浓度梯度azo单晶导电薄膜的方法 |
CN106981539A (zh) * | 2016-02-05 | 2017-07-25 | 江苏微导纳米装备科技有限公司 | 一种纳米叠层导电薄膜的制备方法及应用 |
WO2018141249A1 (zh) * | 2016-02-05 | 2018-08-09 | 江苏微导纳米装备科技有限公司 | 一种纳米叠层导电薄膜的制备方法及应用 |
CN112663023A (zh) * | 2020-12-17 | 2021-04-16 | 中国科学院高能物理研究所 | 一种azo材料纳米电阻薄膜及其制备方法 |
WO2023077763A1 (zh) * | 2021-11-05 | 2023-05-11 | 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 | 金属氧化物掺杂层、太阳能电池及其制备方法 |
CN115332364A (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-11 | 西南交通大学 | 太阳能电池钝化涂覆料、制备方法及钝化方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104037244B (zh) | 2016-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104037244B (zh) | 一种晶硅太阳能电池钝化材料Al2O3浓度梯度掺杂ZnO薄膜及制备方法 | |
AU2022331906B2 (en) | TOPCon cell, method for manufacturing the same, and electrical device | |
CN107369763B (zh) | 基于Ga2O3/钙钛矿异质结的光电探测器及其制备方法 | |
Gall et al. | Polycrystalline silicon thin-film solar cells on glass | |
JP2013502745A5 (zh) | ||
WO2018141249A1 (zh) | 一种纳米叠层导电薄膜的制备方法及应用 | |
US20130104972A1 (en) | Se OR S BASED THIN FILM SOLAR CELL AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME | |
CN104617165B (zh) | 一种二硫化钼/缓冲层/硅n-i-p太阳能电池器件及其制备方法 | |
CN102522434A (zh) | 铜铟镓硒薄膜光伏电池装置及其制备方法 | |
Li et al. | Influence of room temperature sputtered Al-doped zinc oxide on passivation quality in silicon heterojunction solar cells | |
Nam et al. | ALD NiO thin films as a hole transport-electron blocking layer material for photo-detector and solar cell devices | |
Boccard et al. | Silicon oxide treatment to promote crystallinity of p-type microcrystalline layers for silicon heterojunction solar cells | |
CN102903616A (zh) | 基于ZnO衬底的石墨烯CVD直接外延生长方法及制造的器件 | |
Li et al. | Hydrogen annealed ZnO: B film grown by LPCVD technique as TCO for enhancing conversion efficiency of a-Si: H/μc-Si: H tandem solar cells | |
Jeong et al. | Preparation of born-doped a-SiC: H thin films by ICP-CVD method and to the application of large-area heterojunction solar cells | |
CN104332512B (zh) | 一种微晶硅薄膜太阳能电池及其制备方法 | |
CN103137770A (zh) | 一种石墨烯/Si p-n 双结太阳能电池及其制备方法 | |
KR101542342B1 (ko) | Czts계 태양전지의 박막 제조방법 및 이로부터 제조된 태양전지 | |
Bruhat et al. | TCO contacts on poly-Si layers: High and low temperature approaches to maintain passivation and contact properties | |
CN104465799A (zh) | 一种晶体硅太阳能电池及其制备方法 | |
Yoon et al. | Transparent conducting oxide-based, passivated contacts for high efficiency crystalline Si solar cells | |
CN102593282A (zh) | 一种ZnO纳米线阵列的掺杂方法 | |
EP3111486A1 (en) | Photovoltaic cell structure and method of manufacturing a photovoltaic cell | |
CN107994097B (zh) | 一种太阳能电池的制备方法 | |
CN103594536A (zh) | 多结多叠层硅基薄膜太阳能电池及其制造工艺 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20160113 Termination date: 20160617 |