CN103900451A - 位置检测器 - Google Patents

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河野尚明
山中哲尔
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Abstract

本发明公开了一种位置检测器(10),其具有用于提供检测范围(θfs)的间隙(30)。间隙具有在间隙的端部处大于中心处的间隙宽度。因此,当与沿相对运动的方向具有恒定的间隙宽度的间隙(30)相比,分别流动通过间隙(30)的端部处或间隙(30)的端部周围的位置的溢磁通的量和直路磁通的量减少。即,穿过位于间隙(30)的每个纵向端部的霍尔元件(54)的磁通的密度减小。因此,在间隙(30)的端部处或在间隙(30)的端部周围,霍尔元件(54)检测的磁通密度的变化率减小并改善了来自霍尔元件(54)的输出信号的线性。

Description

位置检测器
技术领域
本公开总体涉及一种用于对检测对象的位置进行检测的位置检测器。
背景技术
通常,磁性式位置检测器对检测对象的位置相对于参照部分的变化进行检测。例如,专利文献1(即,第JP-A-H08-292004号日本专利公开)中所公开的位置检测器被构造成(i)使用两个磁体和两个磁轭形成闭合磁路。位置检测器还具有设置在两个磁轭之间的间隙内的闭合磁路内部的磁通密度检测器。两个磁轭均具有平板形状,并且两个磁轭之间的间隙的宽度沿磁轭的纵向方向并且在两个磁轭的整个纵向长度上的所有位置处是恒定的。两个平板形状的磁轭通常束缚或者把两个磁体夹在中间。即,两个磁体中的一个磁体位于每个磁轭的第一端之间,并且两个磁体中的另一磁体位于每个磁轭的第二端之间。
从一个磁体的N极流出的磁通被划分成三种类型,即:返回磁通,流动通过两个磁轭中的一个并从一个磁体流向另一磁体;溢磁通(spill magneticflux),从一个磁轭流入两个磁轭之间的间隙,然后流向另一磁轭;直接磁通,没有穿过任何磁轭地直接流入两个磁轭之间的间隙,然后流向S极。磁通密度检测器检测在此流动的两种磁通,即,溢磁通和直接磁通中的任何一个或者两者。穿过磁通密度检测器的磁通的密度根据磁通密度检测器相对于磁轭的位置而变化。位置检测器基于由磁通密度检测器检测的磁通的密度对检测对象的位置进行检测。
在专利文件1公开的位置检测器中,穿过磁通密度检测器的磁通的密度由于受到流入两个磁轭之间的间隙的端部的直接磁通的影响而急剧变化。因此,当磁通密度检测器在间隙的中心部分或在间隙的中心部分周围相对于两个磁轭运动时,观察到检测对象的位置和来自磁通密度检测器的输出信号之间的关系(即,位置-输出的相互关系)为具有线性关系,但是当磁通密度检测器在间隙的端部或在间隙端部周围相对于两个磁轭运动时,该位置-输出的相互关系偏离这种线性关系。换言之,来自磁通密度检测器的输出信号不足以为线性。
发明内容
本公开的一目标是提供一种具有输出线性改进的信号的磁通密度检测器的位置检测器。
在本公开的一方面中,位置检测器检测检测对象相对于参照部件的位置。位置检测器包括设置在参照部件或检测对象中的一个上的第一磁通传输部件。第一磁通传输部件具有第一端和第二端,并且第二磁通传输部件设置成限定第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的间隙。第二磁通传输部件具有第一端和第二端。第一磁通产生器位于第一磁通传输部件的第一端和第二磁通传输部件的第一端之间。第二磁通产生器位于第一磁通传输部件的第二端和第二磁通传输部件的第二端之间。磁通密度检测器位于间隙内,设置在参照部件或检测对象中的另一个上,并根据穿过磁通密度检测器的磁通的密度输出信号。
具体地讲,在本公开中,当假设:间隙的间隙宽度由沿着第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的垂直方向对间隙的横向测量限定,相对运动的方向被限定为磁通密度检测器相对于第一磁通传输部件的运动的方向,和运动的范围被限定为磁通密度检测器在间隙内的运动的范围,则沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的每个端部位置处的间隙宽度大于沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的中心处的间隙宽度。
因此,相对于沿相对运动的整个方向具有恒定间隙宽度的位置检测器相比,在间隙的每个端部位置处流动的溢磁通和直路磁通减少。即,当磁通密度检测器位于间隙的每个纵向端部处时,穿过磁通密度检测器的磁通的密度减小。因此,当磁通密度检测器相对于磁通传输部件在间隙的端部处或在间隙的端部周围运动时,由磁通密度检测器检测的磁通密度的变化率变得相对小。因此,改进了来自磁通密度检测器的输出信号的线性。
此外,当假设:检测范围被限定为间隙的角范围,在间隙的角范围内对检测对象的位置进行检测,实际输出线表示检测对象的位置和磁通密度检测器的输出信号之间的关系,点0被限定为实际输出线上的点,在该点处穿过磁通密度检测器的磁通的密度等于零,理想直线被限定为穿过点0并具有理想斜率的线,最大点被限定为在输出信号为最大的检测范围内的理想直线上的点,并且最小点被限定为在输出信号为最小的检测范围内的理想直线上的点,则间隙被构造成具有至少穿过最小点、点0和最大点的实际输出线。
甚至更进一步,间隙由第一磁通传输部件的第一内表面和第二磁通传输部件的第二内表面限定,并且第一内表面和第二内表面中的每个为具有恒定曲率半径的曲面。
另外,间隙由第一磁通传输部件的第一内表面和第二磁通传输部件的第二内表面限定,并且第一内表面和第二内表面中的每个是能够使实际输出线沿理想直线延伸的自由形式的面(free-form surface,自由面)。
而且,检测对象相对于参照部件旋转,第一磁通传输部件和第二磁通传输部件具有相对于参照部件沿检测对象的相对运动的方向延伸的弧形形状。
此外,检测对象相对于参照部件线性运动,并且第一磁通传输部件和第二磁通传输部件具有相对于参照部件沿检测对象的相对运动的方向线性延伸的大致线形(直线)形状。
附图说明
通过下面参照附图进行的详细描述,本公开的其它目标、特征和优点变得更清楚,在附图中:
图1是应用了本公开的第一实施例中的位置检测器的旋转驱动设备的构造略图;
图2是沿着图1中的线II-II的剖视图;
图3是图1中的箭头III表示的部分的放大剖视图;
图4是图2中的位置检测器的剖视图;
图5是图2中的霍尔元件的输出性能的示意图;
图6是本公开第二实施例中的位置检测器的剖视图;
图7是图6中的霍尔元件的输出性能的示意图;
图8是本公开第三实施例中的位置检测器的剖视图;
图9是图8中的霍尔元件的输出性能的示意图;
图10是本公开第四实施例中位置检测器的剖视图;
图11是图10中的霍尔元件的输出性能的示意图。
具体实施方式
基于附图描述了本公开的多个实施例。附图中相同的部件具有相同的标号,并且为了说明书的简洁,不再重复对它们的描述。
(第一实施例)
本公开的第一实施例中的位置检测器被应用于图1中示出的旋转驱动设备。旋转驱动设备80用于执行废气旁通阀(未示出)的开-闭驱动。在涡轮增压发动机中,废气旁通阀使围绕涡轮增压器的涡轮壳体的废气流转向。
首先,基于图1解释旋转驱动设备80的构造。旋转驱动设备80设置有壳体81、箱体(case)82、电机85、旋转体87、输出轴92和位置检测器10。
壳体81具有用于电机的空腔。壳体81可被固定在车辆主体上或者被固定到附接于车辆主体的构件上。
箱体82形成被固定到壳体81的开口的盖部件83。箱体82还具有从盖部件83朝向箱体82的外侧伸出的连接器部件84。
电机85位于壳体81中并经电源端子93电连接到电子控制单元(ECU)95。当ECU95供电时,电机85使电机轴86旋转。
旋转体87是同轴地设置在电机轴86上的盘构件。旋转体87具有弧形的通孔88,通孔88在远离盘状的轴心96的位置处沿周向方向延伸。旋转体87连接到电机轴86,这样能够将旋转体87的旋转传输到电机轴86。
输出轴92同轴地设置在电机轴86上并被箱体82可旋转地支撑。输出轴92还连接到旋转体87,这使得旋转体87的旋转能够传输到轴92。输出轴92经未示出的连杆机构连接到废气旁通阀。
位置检测器10设置在沿着电机轴86与旋转体87具有相同的轴位置的位置处。位置检测器10还设置在偏离轴心96的径向位置(即,沿装置80的半径的位置)处,用于检测旋转体87相对于箱体82的相对旋转角。箱体82可等价于权利要求书中的参照部件,旋转体87可等价于权利要求书中的检测对象。位置检测器10经信号端子94电连接到ECU95。
当从ECU95供电时,旋转驱动设备80通过电机85使输出轴92旋转,并根据旋转体87的旋转角将电压从位置检测器10输出到ECU95。ECU95基于位置检测器10的输出电压驱动电机85,并执行反馈控制,从而旋转体87的旋转角匹配目标值。
下面基于图1至图3解释位置检测器10的构造。
位置检测器10设置有第一磁轭20、第二磁轭25、第一磁体40、第二磁体45和短路磁路部件50。
第一磁轭20由软磁材料制成,并形成外弧部分21,外弧部分21沿旋转体87的通孔88的面向内的壁89延伸。此外,第一磁轭20从第一磁轭20的第一端22延伸到第一磁轭20的第二端23。第一磁轭20被固定在旋转体87上,并可等价于权利要求书中的第一磁通传输部件。
第二磁轭25由软磁材料制成,并形成沿旋转体87的通孔88的面向外的壁91延伸的内弧部分26。此外,第二磁轭25从第二磁轭25的第一端27延伸到第二磁轭25的第二端28。第一磁轭20的外弧部分21和第二磁轭25的内弧部分26限定间隙30。间隙30具有沿箱体82的周向方向延伸的弧形形状。第二磁轭25被固定到旋转体87上,并可等价于权利要求书中的第二磁通传输部件。
第一磁体40设置在第一磁轭20的第一端22和第二磁轭25的第一端27之间的位置处,并可等价于权利要求书中的第一磁通产生器。在本实施例中,第一磁体40的磁化方向与旋转体87的径向方向匹配。这样,N极41朝向磁体40的径向外侧定位,S极42朝向磁体40的径向内侧定位。
第二磁体45设置在第一磁轭20的第二端23和第二磁轭25的第二端28之间的位置处,并可等价于权利要求书中的第二磁通产生器。在本实施例中,第二磁体45的磁力与第一磁体40的磁力相同。第二磁体45的磁化方向与旋转体87的径向方向匹配。这样,N极46朝向磁体45的径向内侧定位,S极47朝向磁体45的径向外侧定位。即,第二磁体45的极性与第一磁体40的极性相反。
第一磁轭20和第二磁轭25是连接第一磁体40和第二磁体45的磁路组件,并与第一磁体40和第二磁体45一起形成闭合的磁路。从第一磁体40的N极41流出的磁通包括:返回磁通,流动穿过第一磁轭20以流到第二磁体45;溢磁通,从第一磁轭20流动穿过间隙30并流到第二磁轭25;直路磁通,流动穿过间隙30至S极42而不穿过第一磁轭20和第二磁轭25。此外,从第二磁体45的N极46流出的磁通包括:返回磁通,流动穿过第二磁轭25以流到第一磁体40;溢磁通,从第二磁轭25流动穿过间隙30以流到第一磁轭20;直路磁通,流动穿过间隙30至S极47而不穿过第一磁轭20和第二磁轭25。
短路磁路部件50具有霍尔IC53和磁通收集磁轭51、52,磁通收集磁轭51、52用于收集并集中漏磁通以使其流到霍尔IC53。磁通收集磁轭51、52和霍尔IC53位于由树脂制成的模制构件55上。模制构件55被固定在箱体82上。磁通收集磁轭51、52被设置成使得磁通收集磁轭51、52在间隙30内径向对齐。霍尔IC53被设置在磁通收集磁轭51、52之间的位置处并具有霍尔元件54。霍尔元件54是利用霍尔效应的磁电式传感器,并可等价于权利要求书中的磁通密度检测器。霍尔元件54根据穿过其磁敏表面的磁通的密度输出电压。通过当霍尔元件54相对于闭合磁路的位置根据旋转体87的相对旋转改变时的增大或减小,穿过霍尔元件54的磁通的密度变化。在本实施例中,设置了一个霍尔元件54。
接下来,基于图4和图5描述位置检测器10的每个组件的特征。下面的描述假设:(i)第一磁轭20和第二磁轭25之间的间隙30的尺寸或间隙宽度是沿径向方向(即,沿装置80的圆柱形形状的半径)获取的,和(ii)第一磁轭20和第二磁轭25在相对于短路磁路部件50的相对运动的方向上运动。此外,使用位置检测器10可检测的角范围被指定为检测范围θfs,并且允许霍尔元件54在间隙30中相对于第一磁轭20相对运动所在的霍尔元件54的运动范围被指定为运动范围θm。
如图4所示,第一内表面24,作为第一磁轭20的外弧部分21的限定间隙30的一部分,为具有穿过三个点的(即,由三个点定义的)恒定曲率半径的曲面。即,该曲面由第一位置P1、第二位置P2和第三位置P3限定,第一位置P1、第二位置P2和第三位置P3分别为(i)检测范围θfs沿相对运动的方向的一端、(ii)检测范围θfs沿相对运动的方向的中心以及(iii)检测范围θfs沿相对运动的方向的另一端。根据本发明,第一内表面24的曲率31的中心轴位于轴中心96的更靠近外弧部分21的一侧。
此外,第二内表面29,作为第二磁轭25的内弧部分26的限定间隙30的一部分,为具有穿过其它三个点的恒定曲率半径的曲面。即,该曲面由第四位置P4、第五位置P5和第六位置P6限定,第四位置P4、第五位置P5和第六位置P6分别为(i)检测范围θfs沿相对运动的方向的一端、(ii)检测范围θfs沿相对运动的方向的中心以及(iii)检测范围θfs沿相对运动的方向的另一端。根据本实施例,第二内表面29的曲率32的中心轴位于外弧部分21相对于轴中心96的相对侧。
根据上述构造,间隙30的间隙宽度在检测范围θfs内从相对运动的方向的中心向两端连续增大,且在检测范围θfs的两端位置处的间隙宽度gmax大于在检测范围θfs的中心处的间隙宽度g0。在下文中,关于第一位置P1至第六位置P6,参照图5中的曲线图描述了位置检测器10的输出性能。
图5描述了旋转体87相对于箱体82的相对旋转角θ和霍尔元件54的输出电压之间的关系,实际输出线L1在附图中示出为实线。旋转角θ可等价于权利要求书中的检测对象的位置,并且输出电压V可等价于权利要求书中的输出信号。此外,在图5中,由作为理想直线L2的双点划线表示的另一条线被绘制为(i)具有点p0,其中,点p0是输出线L1上的点并且在该点处检测的穿过霍尔元件54的磁通的密度等于0;(ii)具有理想斜率“a”。此外,在图5中,作为输出线L3的点划线示出了旋转角θ与间隙宽度沿相对运动的方向是恒定的输出电压V之间的关系。
在图5中,理想直线L2上的在检测范围θfs内的点在输出电压V为最小时,该点被指定为最小点pmin。作为第一位置P1和第四位置P4之间的距离的图4中的间隙宽度gmax被设定为与图5中的最小点pmin对应。
此外,作为第二位置P2和第五位置P5之间的距离的图4中的间隙宽度g0被设定为与图5中的点p0对应。
此外,在图5中,当理想直线L2上的在检测范围θfs内的点在输出电压V为最大时,该点被指定为最大点pmax。作为第三位置P3和第六位置P6之间的距离的图4中的间隙宽度gmax被设定为与图5中的最大点pmax对应。
如上所述,在第一实施例的位置检测器10中,间隙30被构造成在检测范围θfs内在相对运动的方向的两个端部位置处具有较大的间隙宽度gmax,该间隙宽度gmax比检测范围θfs的中心处的间隙宽度g0大。因此,在间隙的每个端部位置处流动的溢磁通和直路磁通减小,这样使整个间隙沿相对运动的方向具有恒定的间隙宽度。即,当霍尔元件54位于间隙30的每个纵向端部处时,穿过霍尔元件54的磁通的密度减小。因为,当霍尔元件54在间隙30的端部处或在间隙30的端部周围运动时,由霍尔元件54检测的磁通密度的变化率变得相对小。因此,改善了来自霍尔元件54的输出信号的线性。
此外,在第一实施例中,间隙30被限定成实际输出线L1穿过最小点pmin、点p0和最大点pmax。因此,改善了检测范围θfs的两个端部处的检测准确性。
此外,在第一实施例中,第一内表面24和第二内表面29为曲面,并具有恒定的曲率半径。因此,第一磁轭20和第二磁轭25可具有提供有效设计和制造的简单形状。
(第二实施例)
基于图6和图7解释本公开第二实施例中的位置检测器。
如图6中所示,位置检测器60设置有第一磁轭61和第二磁轭64。第一磁轭61的外弧部分62和第二磁轭64的内弧部分65之间的间隙67被构造成在检测范围θfs内在相对运动的方向的两个端部位置处具有更大的间隙宽度gmax,该间隙宽度gmax比检测范围θfs的中心处的宽度g0大。因此,根据第二实施例,以与第一实施例的方式相同的方式改善了霍尔元件54的输出电压V的线性。
此外,第一磁轭61的外弧部分62的第一内表面63和第二磁轭64的内弧部分65的第二内表面66是被构造成定位实际输出线L1的自由曲面(free-form surface),从而实际输出线L1沿理想直线L2延伸,如图7中所示。因此,进一步改善了霍尔元件54的输出电压V的线性。
(第三实施例)
基于图8和图9解释本公开的第三实施例的位置检测器。
如图8中所示,位置检测器70被应用于变速致动器(shift actuator)68。例如,变速致动器68是设置在机械式自动变速器(automated manualtransmission)或双离合器变速器的齿轮箱中的致动器,并执行变速操作和选择操作。变速致动器68的输出构件69相对于壳体(未示出)运动,其为相对线性运动。位置检测器70可检测相对于壳体的运动。换言之,位置检测器70可检测输出构件相对于壳体的行程S。输出构件69可等价于权利要求书中的检测对象,并且上述壳体可等价于权利要求书中的参照部件。
位置检测器70具有包括第一磁轭71、第二磁轭74、第一磁体40和第二磁体45的闭合磁路。第一磁轭71大致以沿相对运动的方向延伸的直的形状形成,其包括从第一磁轭71的中心延伸到运动范围的一端的第一直部件72和从第一磁轭71的中心延伸至运动范围的另一端的第二直部件73。此外,第二磁轭74大致以沿相对运动的方向延伸的直的形状形成,其包括从第二磁轭74的中心延伸到运动范围的一端的第三直部件75和从第二磁轭74的中心延伸至运动范围的另一端的第四直部件76。
第一磁轭71限定了在本身和第二磁轭74之间的位置处的间隙77。间隙77的宽度从第一磁轭71的中心沿相对运动的方向朝向第一磁轭71的两端连续增大,这样使得在检测范围Sfs内在运动范围的两端处的间隙宽度gmax大于在该范围Sfs内在运动范围的中心处的间隙宽度g0。因此,根据第三实施例,以与第一实施例的方式相同的方式改善了相对于变速致动器68的输出构件69的行程S的霍尔元件54的输出电压V的线性。
此外,间隙77被构造成使实际输出线L1穿过理想直线L2上的最小点pmin、点p0和最大点pmax中的全部点,如图9中所示。因此,改善了检测范围Sfs的端部处或在检测范围Sfs的端部周围的检测准确性。
此外,第一磁轭71的第一内表面78和第二磁轭74的第二内表面79分别由两个平面形成。因此,第一磁轭71和第二磁轭74分别能够具有简单的形状,使得它们易于设计和制造。
(第四实施例)
基于图10和图11解释本公开第四实施例的位置检测器。
如图10所示,位置检测器100设置有第一磁轭101和第二磁轭103。第一磁轭101的弧状部件102和第二磁轭103的弧状部件104之间的间隙105被构造成沿相对运动的方向在检测范围Sfs内的间隙105的两端处具有更大的间隙宽度gmax,该间隙宽度gmax大于检测范围Sfs的中心处的间隙宽度g0。因此,根据第四实施例,以与第一实施例的方式相同的方式改善了霍尔元件54的输出电压V的线性。
第一磁轭101的弧状部件102的第一内表面106和第二磁轭103的弧状部件104的第二内表面107为被构造成使实际输出线L1沿理想直线L2延伸的自由曲面,如图11中所示。因此,进一步改善了霍尔元件54的输出电压V的线性。
(其它实施例)
根据本公开的其它实施例,闭合电路形式的构件可设置在箱体中,并且霍尔IC可提供在旋转体上。
根据本公开的其它实施例,可用例如其它类型(诸如电磁体等)的磁通产生器来代替第一磁体和第二磁体。
根据本公开的其它实施例,位置检测器可设置在其它旋转部件或组件上,诸如设置在作为电机和输出轴之间的组件的减速器的最终减速构件上。
根据本公开的其它实施例,旋转驱动设备不仅可应用于废气旁通阀装置,还可应用于诸如具有可变涡轮容量的可变叶片控制器、用于废气节流阀(exhaust gas throttle)或废气开关阀(exhaust gas switch throttle)的阀操作装置、用于可变进气机构的阀操作装置等的其它装置。
尽管已经参照附图结合本公开的上述实施例充分地描述了本公开,但是需要注意的是,各种改变和变型对本领域技术人员来说将变得清楚,并且这种改变和变型将被理解为在权利要求限定的本公开的范围内。

Claims (6)

1.一种检测相对于参照部件(82)运动的检测对象(69、87)的位置的位置检测器(10、60、70、100),所述位置检测器包括:
第一磁通传输部件(20、61、71、101),设置在参照部件或检测对象中的一个上,第一磁通传输部件具有第一端(22)和第二端(23);
第二磁通传输部件(25、64、74、103),设置成限定第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的间隙(30、67、77、105),第二磁通传输部件具有第一端(27)和第二端(28);
第一磁通产生器(40),位于第一磁通传输部件的第一端(22)和第二磁通传输部件的第一端(27)之间;
第二磁通产生器(45),位于第一磁通传输部件的第二端(23)和第二磁通传输部件的第二端(28)之间;和
磁通密度检测器(54),位于间隙内,设置在参照部件或检测对象中的另一个上,并根据穿过磁通密度检测器的磁通的密度输出信号,其中
间隙的间隙宽度由沿着第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的垂直方向对间隙的横向测量限定,
相对运动的方向被限定为磁通密度检测器相对于第一磁通传输部件的运动的方向,和
运动的范围被限定为磁通密度检测器在间隙内的运动的范围,时
沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的每个端部位置处的间隙宽度(gmax)大于沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的中心处的间隙宽度(g0)。
2.根据权利要求1所述的位置检测器,其特征在于,
检测范围(θfs)被限定为间隙的角范围,其中在间隙的角范围内对检测对象的位置进行检测,
实际输出线(L1)表示检测对象的位置(θ)与磁通密度检测器的输出信号(V)之间的关系,
点0被限定为实际输出线上的点,在该点处穿过磁通密度检测器的磁通的密度等于零,
理想直线(L2)被限定为穿过点0并具有理想斜率的线,
最大点(pmax)被限定为检测范围(θfs)内的理想直线上的点,在该点处输出信号为最大,和
最小点(pmin)被限定为检测范围(θfs)内的理想直线上的点,在该点处输出信号为最小,
间隙被构造成具有穿过至少最小点、点0和最大点的实际输出线。
3.根据权利要求2所述的位置检测器(10),其特征在于,
间隙(30、77)由第一磁通传输部件(20、71)的第一内表面(24、78)和第二磁通传输部件(25、74)的第二内表面(29、79)限定,和
第一内表面和第二内表面中的每个为具有恒定曲率半径的曲面。
4.根据权利要求2所述的位置检测器(60),其特征在于,
间隙(67、105)由第一磁通传输部件(61、101)的第一内表面(63、106)和第二磁通传输部件(64、103)的第二内表面(66、107)限定,和
第一内表面和第二内表面中的每个是能够使实际输出线沿理想直线延伸的自由面。
5.根据权利要求1至4中的任意一项的位置检测器(10、60),其特征在于,
检测对象(87)相对于参照部件(82)旋转,和
第一磁通传输部件(20、61)和第二磁通传输部件(25、64)具有相对于参照部件沿检测对象的相对运动的方向延伸的弧形形状。
6.根据权利要求1至4中的任意一项的位置检测器(70、100),其特征在于,
检测对象(69)相对于参照部件线性运动,和
第一磁通传输部件(71、101)和第二磁通传输部件(74、103)具有相对于参照部件沿检测对象的相对运动的方向线性延伸的大致线形形状。
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