CN103884979A - 一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法 - Google Patents

一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，主要包括：给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试。本发明所述无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，可以克服现有技术中抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差等缺陷，以实现抗干扰能力强、测试效率高和准确性好的优点。

Description

一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法
技术领域
本发明涉及鼠标技术领域，具体地，涉及一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法。
背景技术
无线鼠标二合一芯片是集RF与MCU于一体的集成芯片，可灵活的搭配一颗光学Sensor就可以完成无线鼠标的发射端。然而，由于封装工艺或者内部RF的原因，会导致其RF数据传输功能不良。所以在产品批量出货前，对RF数据传输的测试非常关键。
但是，由于射频产品在批量测试时，容易出现相互之间的干扰，大大影响批量测试的效率与准确性。
在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差等缺陷。
发明内容
本发明的目的在于，针对上述问题，提出一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，以实现抗干扰能力强、测试效率高和准确性好的优点。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，主要包括：
a、给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；
b、读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试。
进一步地，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
芯片上电后，读取传器ID，当该传感器ID不是预设的自定义测试模式ID时，二合一芯片进入正常普通工作模式，反之进入测试模式。
进一步地，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
当该传感器ID是预设的自定义测试模式ID时，进入测试模式；进入测试模式后，自动启动在二合一芯片里内置的无线通信测试代码，内置的测试代码会根据读取的ID设置无线数据传输所需要数据包格式的同步字段与载波频率；
同时，测试系统也设置与二合一芯片同样的数据包格式；
根据上述获得的同步字段与载波频率，在待测二合一芯片与测试系统之间，进行收发数据测试；测试系统是一个与二合一芯片之间完成无线收发数据的装置，测试系统内部主要由控制器与RF收发器构成。
本发明各实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，由于主要包括：给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试；可以解决无线鼠标二合一集成芯片测试的问题，大大提高了产品在市场的良品率有效率；从而可以克服现有技术中抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差的缺陷，以实现抗干扰能力强、测试效率高和准确性好的优点。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中被测芯片的测试流程图；
图2为本发明无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中测试系统的配置流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
根据本发明实施例，如图1和图2所示，提供了一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法。该无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，解决无线鼠标二合一集成芯片测试的问题，大大提高了产品在市场的良品率有效率。
本实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，主要包括：
a、给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；
b、读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试；
在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
芯片上电后，读取传器ID，当该传感器ID不是预设的自定义测试模式ID时，二合一芯片进入正常普通工作模式，反之进入测试模式；
和/或，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
当该传感器ID是预设的自定义测试模式ID时，进入测试模式，进入测试模式后，自动启动在二合一芯片里内置的无线通信测试代码，内置的测试代码会根据读取的ID设置无线数据传输所需要数据包格式的同步字段与载波频率；
同时，测试系统也设置与二合一芯片同样的数据包格式；
根据上述获得的同步字段与载波频率，在待测二合一芯片与测试系统之间，进行收发数据测试；测试系统是一个与二合一芯片之间完成无线收发数据的装置，测试系统内部主要由控制器与RF收发器构成。
在上述实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中，由于RF通信的发射端与接收端的数据包格式中必需有相同的同步字段，且需在同一频率的载波上。而该无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中发射端的二合一芯片又可直接搭配一颗传感器（Sensor）。
在正常的应用中，发射端的二合一芯片上电后MCU会读取Sensor的前两个寄存器的数据，这两个数据是代表Sensor的ID号及版本号；然后根据不同的Sonsor作不同的操作。利用这个特性，本申请用一个模拟的Sensor，自定义一个Sensor ID与版本号；如果发射端的二合一芯片上电后，读取的Sensor的前两个或一个寄存器的值为用户预设的自定义值，就进入测试模式。进入测试模式后，以自定义的Sensor ID号作为特征参数设置同步字段，以自定义的Sensor ID作为特征参数来设置测试时发射数据的射频载波。测试平台（测试平台是由控制器与RF收发器构成，它是用来完成与二合一芯片之时完成数据通信用的一个测试装置）也以此Sensor ID作为同步字段与射频载波。这样，用于可以自定义不同的Sensor ID来实现在同一有限空间内多台设备的同时测试，而且可以把相互的干扰降低到最小。
在上述实施例的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法中，被测芯片（即发射端的二合一芯片）利用一个模拟的设备作为数据来源，进行RF通信数据包格式等关键参数的设置与载波频率的设置；被测芯片在同一有限测试空间内使用不同有模拟设备，来实现多片被测RF芯片的进行数据包格式等关键参数的不同设置与不同载波频率的设置；测试设备利用一个模拟的设备作为数据来源，进行RF通信数据包格式等关键参数的设置与载波频率的设置；测试设备在同一有限测试空间内使用不同有模拟设备，来实现多台测试设备对RF通信数据包格式等关键参数的不同设置与不同载波频率的设置。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，其特征在于，主要包括：
a、给发射端的待测二合一芯片直接搭配模拟传感器后，给待测二合一芯片上电；该模拟传感器具有自定义的传感器ID和版本号；
b、读取与待测二合一芯片搭配的传感器ID，根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，其特征在于，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
芯片上电后，读取传器ID，当该传感器ID不是预设的自定义测试模式ID时，二合一芯片进入正常普通工作模式，反之进入测试模式。
3.根据权利要求1或2所述的无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法，其特征在于，在步骤b中，所述根据该传感器ID，对待测二合一芯片进行测试的操作，具体包括：
当该传感器ID是预设的自定义测试模式ID时，进入测试模式，进入测试模式后，自动启动在二合一芯片里内置的无线通信测试代码，内置的测试代码会根据读取的ID设置无线数据传输所需要数据包格式的同步字段与载波频率；
同时，测试系统也设置与二合一芯片同样的数据包格式；
根据上述获得的同步字段与载波频率，在待测二合一芯片与测试系统之间，进行收发数据测试；测试系统是一个与二合一芯片之间完成无线收发数据的装置，测试系统内部主要由控制器与RF收发器构成。
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