CN101236522A

CN101236522A - 硬件模块的测试方法与装置

Info

Publication number: CN101236522A
Application number: CNA2008100569159A
Authority: CN
Inventors: 崔文会; 田建伟
Original assignee: ZTE Corp
Current assignee: Kou Ying; Li Yanlei; Meng Qiang; Sun Lihua; Xie Zhenyu
Priority date: 2008-01-25
Filing date: 2008-01-25
Publication date: 2008-08-06
Anticipated expiration: 2028-01-25
Also published as: CN101236522B

Abstract

本发明公开了一种硬件模块的测试方法，涉及硬件模块的测试技术，为解决目前硬件模块测试不方便而提出，所采用的技术方案为：A接收到硬件模块的测试请求后，解析出所述硬件模块的标识信息，查找出该硬件模块所有的硬件版本信息，并向用户输出；接收到的选择后，进入步骤B；B根据用户所选择的硬件版本确定所述硬件模块的测试项，并进行测试模板的匹配，并将匹配的所有测试模板向用户输出；接收到测试模板的选择后，进入步骤C；根据用户所选择的测试模板，调用与所述测试模板相关的测试仪表设备，执行所述测试模板，测试完成后向用户返回测试结果。本发明同时公开了一种实现上述方法的装置。本发明实现简单，维护成本低。

Description

硬件模块的测试方法与装置

技术领域

本发明涉及硬件模块的测试技术，尤其涉及一种硬件模块的测试方法与装置。

背景技术

随着IT在全球范围的不断推广和完善，IT产品的应用越来越广泛，涵盖了通信、计算机、家电、服务等领域，遍及全球每个角落，已经成为人类生存的必用品。在技术优势日益不突出的今天，如何把握好产品的质量就成为产品在市场上是否有强劲体现最为重要的部分。硬件模块测试的目的就是对产品的功能，性能、可靠性、兼容性、稳定性等进行严格的检查，提前体验用户感受的同时提高产品的市场竞争力。硬件模块测试是产品从研发走向生产的必经阶段，也是决定产品质量的重要环节，如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多企业所追求的目标。

为保证产品大规模的生产，保证产品质量，测试执行者必然会采购或者升级测试仪表设备，以保证产品的测试效率和测试质量。其中，测试仪表设备作为实现测试项的核心设备，在硬件模块测试方法中占据着核心地位，测试仪表设备对硬件模块的测试方法影响非常大。由于待测试的硬件模块种类繁多，且所需的测试仪表设备各不相同，因此各测试仪表设备的型号、厂商、配置各不相同，直接表现出硬件模块的测试方法和控制上存在差异，会对当前的测试系统及方法带来巨大的影响。设备厂商不同，会使将要使用或者正在使用的各种测试仪表设备的测试代码需要重新编写或者进行兼容设计，以满足当前的测试方法，如果投入使用的测试仪表设备的种类不多，完全可以做到兼容设计，而目前一般的仪器测试中，所使用的测试仪表设备达到5-10种，进行兼容设计所需的工作量极大。由于不同的仪表所具备的功能存在差异，如新测试仪器设备或者升级设备比原有的测试仪器设备多了或者少了某些功能，在替换仪表设备时，从提高测试效率和降低测试成本的角度考虑，要进行适当测试项或者测试方法的调整，会对原有的工位设计造成一定的影响。

目前的测试方法对测试仪表设备的依赖性相当高，当测试设备变更时，需要重新维护生成方法，对于测试设备更新速度较快的今天，非常不适宜。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种硬件模块的测试方法与装置，在更新测试仪表设备时，所需的为维护成本较低。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种硬件模块的测试方法，设置硬件模块的测试仪表设备，建立所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，根据测试仪表设备的测试能力建立测试工位，为测试工位设置测试项，根据硬件模块所支持的版本信息确定测试项，根据测试仪表设备所支持的测试能力生成硬件模块各硬件版本测试项的测试模板，建立硬件模块的硬件版本、测试项、测试模板之间的对应关系，该方法包括：

A接收到硬件模块的测试请求后，解析出所述硬件模块的标识信息，查找出该硬件模块所有的硬件版本信息，并向用户输出；接收到的选择后，进入步骤B，否则结束当前处理；

B、根据用户所选择的硬件版本确定所述硬件模块的测试项，并进行测试模板的匹配，并将匹配的所有测试模板向用户输出；接收到测试模板的选择后，进入步骤C，否则结束当前处理；

C、根据用户所选择的测试模板，调用与所述测试模板相关的测试仪表设备，执行所述测试模板，测试完成后向用户返回测试结果。

优选地，该方法还包括：

在增加新测试仪表设备时，建立所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，增加测试工位，确定所增加测试工位对应的测试项，由新测试仪表设备根据硬件版本的测试项生成测试模板；测试仪表设备的测试能力更新时，更新所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，更新测试工位对应的测试项及测试模板。

优选地，所述工位与测试项的关联原则包括：具有测试继承性的测试项优先选择在同一个工位；使用相同测试资源的测试项在同一个工位；硬件模块属性相同的测试项在同一个工位；测试互斥性的测试项不放在同一个工位；需要测试者干预的测试项放在同一个工位。

优选地，所述硬件模块的标识信息包括：硬件模块的型号、硬件模块名称、硬件版本、逻辑电路版本，CPU型号、硬件模块的电路板ID。

一种硬件模块的测试装置，包括：

硬件模块库，用于确定所有可测试的硬件模块，并存储各硬件模块的版本名称、版本编号、类型、名称信息；

测试项库，用于存储各硬件模块的测试项；

工位库，用于存储各硬件模块的工位的名称、工位的编号、工位涵盖的测试项；

仪表设备库，用于存储各测试仪表设备的测试能力、所属的工位信息；

测试执行库，用于确定测试项的测试模板及所需的工位信息，启动相应仪表设备执行所述测试模板，获得测试结果；

模板匹配管理库，用于存储所述硬件模块库、测试项库、工位库、测试执行库、仪表设备库之间的关联映射信息，接收到用户的硬件模块测试请求后，解析出所述硬件模块的标识信息，确定出待测试硬件模块的版本信息，根据硬件版本信息查询所述测试项库，确定出所述待测试硬件模块的测试项，进行测试模板的匹配，将匹配结果向用户输出；接收到用户的测试项选择后，确定所述测试项的工位、仪表设备以及测试测试模板。

优选地，所述工位库按以下原则建立与测试项的关联关系：

具有测试继承性的测试项优先选择在同一个工位；使用相同测试资源的测试项在同一个工位；硬件模块属性相同的测试项在同一个工位；测试互斥性的测试项不放在同一个工位；需要测试者干预的测试项放在同一个工位。

本发明通过设置测试工位并设置测试工位与硬件模板之间的关联关系，对应的，测试仪表设备与测试工位对应，这样，在增加测试仪表设备或更新其测试能力时，只需更新其与工位的对应关系以更新其所在工位的测试项信息即可。本发明实现简单，维护难度小。

附图说明

图1为本发明硬件模块的测试方法的流程图；

图2为本发明硬件模块的测试装置的组成结构示意图；

图3为本发明硬件模块的测试装置的细化结构示意图；

图4为本发明硬件模块的测试模板的实现结构示意图；

图5为本发明硬件模块的测试装置的第一测试应用示意图；

图6为本发明硬件模块的测试装置的第二测试应用示意图；

图7为本发明硬件模块的测试装置的第三测试应用示意图.

具体实施方式

本发明的核心思想是：目前的硬件模块测试方法中，测试仪器设备更新速度非常快，用户不得不根据测试仪器设备的改变调整整个测试方法。本发明通过设置测试工位并设置测试工位与硬件模板之间的关联关系，对应的，测试仪表设备与测试工位对应，这样，在增加测试仪表设备或更新其测试能力时，只需更新其与工位的对应关系以更新其所在工位的测试项信息即可。本发明实现简单，维护难度小。以下结合附图对本发明进行详细描述。

图1为本发明硬件模块的测试方法的流程图，如图1所示，本发明的硬件模块的测试方法包括以下步骤：

步骤10：设置硬件模块的测试仪表设备，建立所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，根据测试仪表设备的测试能力建立测试工位，为测试工位设置测试项，根据硬件模块所支持的版本信息确定测试项，根据测试仪表设备所支持的测试能力生成硬件模块各硬件版本测试项的测试模板，建立硬件模块的硬件版本、测试项、测试模板之间的对应关系。步骤10是实现本发明硬件模块的测试方法的基础步骤。对于待测试系统，根据具体的硬件模块组成及分布特点，选用相应的测试仪表设备。根据硬件模块的各硬件版本对应的测试项以及测试仪表设备的测试能力，确定测试工位的分布，建立测试项与测试工位、测试工位与测试仪表设备的关联关系。测试工位与测试项的对应遵循以下规则：具有测试继承性的测试项优先选择在同一个工位；使用同样资源(例如测试仪器、测试外在条件等)的测试项在同一个工位；具有相同硬件属性(数字硬件、模拟硬件、射频硬件)的测试项在同一个工位；具有测试互斥性的测试项不放在同一个工位；需要人工干预的测试项放在同一个工位。

这里，测试模板即是实现测试仪表设备自动完成测试的测试用例，即是具体的对测试仪表设备的测试指令，或是简单的逻辑控制程序。一般而言，测试仪表设备均支持硬件模板的自动测试，测试模板即是触发这些自动测试功能的指令或程序。根据各测试仪表设备所支持的测试能力，每个硬件模块的硬件版本的测试模板可为一个以上。

其中，测试项包括：逻辑电路测试、闪存测试、内存测试、电可擦写可编程只读存储器测试、网口测试、现场可编程门阵列测试、数字信号处理器测试、I/Q通路测试、复位电路测试、指示灯测试、温度传感器测试、前面板输出信号测试、后背板输出信号测试、电源接口测试、电压测试、单板射频硬件测试。所述硬件模块的标识信息包括：硬件模块的型号、硬件模块名称、硬件版本、逻辑电路版本，CPU型号、硬件模块的电路板ID。

步骤11：接收到硬件模块的测试请求后，解析出所述硬件模块的标识信息，查找出该硬件模块的所有硬件版本信息，并向用户输出；接收到测试项的选择后，进入步骤12，否则结束当前处理。用户直接输入含有硬件模块信息的测试请求，处理中心对请求进行解析，获取硬件模块信息，硬件模块信息即为前述的型号、硬件版本、逻辑电路版本，CPU型号等信息，有了这些信息后，即在硬件版本库中查询该硬件模块对应的所有可能的硬件版本信息，并向用户显示，由用户根据选取待测试硬件模块的硬件版本信息，接收用户选择后，进入步骤12；如果用户未选择或放弃测试，则结束当前流程。

步骤12：根据用户所选择的硬件版本进行测试模板的匹配，并将匹配的所有测试模板向用户输出；接收到测试模板的选择后，进入步骤13，否则结束当前处理。在确定了硬件版本后，该硬件版本对应的测试项也就确定了，处理中心进一步进行测试模板的匹配，即查找实现所述测试项的具体测试模板，将所查找出的测试模板向用户显示，并接受用户的测试模板选择，如果用户未选择或放弃测试，则结束当前流程。

步骤13：根据用户所选择的测试模板，调用与所述测试模板相关的测试仪表设备，执行所述测试模板，测试完成后向用户返回测试结果。用户选择测试模板后，处理中心将根据测试模板确定所需的测试仪表设备，触发测试仪表设备的所选定测试项的测试功能，自动进行测试，向用户返回测试结果。如果，测试需要接受用户的指令才能继续，则在需要用户输入指令时向用户显示指令选择项，接受了用户的指令选择后，继续执行测试。

在增加新测试仪表设备或测试仪表设备增加测试能力时，建立所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，增加测试工位，确定所增加测试工位对应的测试项，由新测试仪表设备根据硬件版本的测试项生成测试模板；测试仪表设备的测试能力更新时，更新所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，更新测试工位对应的测试项及测试模板。也就是说，当测试仪表设备有变动时，本发明的测试工位、测试工位与测试项的对应关系也对应更新即可，不需要重新调整测试方法。

以下对本发明的硬件模块的测试装置进行详细描述，以更好地理解本发明。

图2为本发明硬件模块的测试装置的组成结构示意图，如图2所示，本发明硬件模块的测试装置包括硬件模块库101、测试项库102、工位库103、测试执行库104、仪表设备库105以及模板匹配管理库106，其中，硬件模块库101用于确定所有可测试的硬件模块，并存储各硬件模块的版本名称、版本编号、类型、名称信息。测试项库102用于存储各硬件模块的测试项。工位库103用于存储各硬件模块的工位的名称、工位的编号、工位涵盖的测试项。仪表设备库105用于存储各测试仪表设备的测试能力、所属的工位信息。测试执行库104用于确定测试项的测试模板及所需的工位信息，启动相应仪表设备执行所述测试模板，获得测试结果。模板匹配管理库106用于存储硬件模块库101、测试项库102、工位库103、测试执行库104、仪表设备库105之间的关联映射信息，接收到用户的硬件模块测试请求后，解析出所述硬件模块的标识信息，确定出待测试硬件模块的版本信息，根据硬件版本信息查询所述测试项库，确定出所述待测试硬件模块的测试项，进行测试模板的匹配，将匹配结果向用户输出；接收到用户的测试项选择后，确定所述测试项的工位、仪表设备以及测试测试模板。

图3为本发明硬件模块的测试装置的细化结构示意图，如图3所示，本发明模板匹配管理库106包括硬件模块与测试项映射关系库201、模板匹配库202以及模板映射关系库203。硬件模块与测试项映射关系201确定了硬件模块的硬件版本对应的测试项，即测试项集合。模板匹配库202确定了硬件模块硬件版本对应的所有测试模板。模板映射关系库203确定了每个模板对应的测试执行单元、测试仪表设备以及测试工位。硬件模块库101中硬件模块的硬件版本名称、硬件版本编号、硬件模块的系列类型，硬件模块的名称等信息。测试项库102存储硬件模块的各种版本下的测试项，包括测试项的测试名称、测试编号、超时时间、测试理论指标等信息。工位库103存储各个硬件模块的不同工位信息，包括工位的名称、工位的编号、工位涵盖的测试项等。另外工位的划分是根据硬件模块的各个测试项的实现方法，同时结合工位划分的原则，把硬件模块的各个测试项划归到不同的工位中。关于工位划分的原则，可参见前述硬件模块的测试方法中的介绍，这里不再赘述。一旦测试工位确定下来，每个工位包括的测试项将确定下来，随之每个工位使用到的仪表设备以及工艺文件等也将确定，仪表设备控制的单元也将确定。测试工位与仪表控制单元可以是一对一的关系，也可以是多对一的关系。其中当仪表设备升级或者替换时，仪表设备表现出来的功能或者对外接口会发生变化，对测试项及测试模板进行相应更新即可。测试执行库104存储各个硬件模块的测试执行信息，包括测试执行对应的硬件模块的名称、硬件模块的硬件版本、测试执行所需的测试仪表设备、对应的测试模板、测试执行的路径等。仪表设备库105存储各硬件模块的测试所需要的仪表设备的控制单元信息，包括仪表控制模块的名称，仪表控制模块的调用路径。

硬件模块的硬件版本是采用能够区别于其它硬件模块的几种信息如硬件模块名称或者类型、可编程逻辑器件版本，CPU型号、料单ID、PCB ID等作为硬件模块的硬件版本。硬件版本的不同，所代表硬件模块完成的功能和所具有的特征不同，同时也表示其要测试的项目会有差异。

图4为本发明硬件模块的测试模板的实现结构示意图，如图4所示，假设硬件模块的硬件版本对应的模板匹配库202中记录了四个测试模板，分别是测试模板300、测试模板301、测试模板302和测试模板303。在模板映射关系库203中分别记录了每个测试模板的具体映射信息。其中测试模板300的资源条件A、测试模板301的资源条件A01、测试模板302的资源条件A02、测试模板303的资源条件A3之间必然存在差异。对于测试模板300、测试模板301、测试模板302的测试方法、测试的执行单元、工位划分以及仪表设备单元完全根据资源变化的实际条件进行相应的测试设计。例如测试模板300的测试执行单元A、测试模板301的测试执行单元A01以及测试模板302的测试执行单元A02如果在测试方法改动不大的前提下可进行兼容处理，对A、A01、A02进行合并。而对于测试模板300、测试模板301，测试模板302的工位划分以及测试仪表设备的选择则依据测试模板本身的实际情况进行设计。图中所示测试模板303与测试模板302的资源条件发生了变化，但是在测试项的测试方法、执行单元、工位划分以及仪表设备控制相同。

在实际测试环境中，用户输入了包括测试的硬件模块的产品型号、硬件模块名称及硬件模块版本的信息。本发明装置将从用户输入的信息中提取出硬件版本作为测试模板的比对信息，经过信息比对后输出所有与硬件版本对应的测试模板如测试模板300、301、302和303给用户。假设用户选择了测试模板301，并选择测试模板301的测试工位012，那么最终运行的正确测试运行模板包括测试工位012、测试执行单元A11以及仪表设备控制单元12。

其中测试工位、测试执行单元以及仪表设备控制单元构成用户需要的测试模板，它们之间的关系是：测试执行单元根据测试工位包括的测试项完成测试任务，测试执行单元通过与仪表设备单元之间进行消息交互，完成仪表控制，达到完成测试项的目的。不同的测试工位选择，测试执行单元将与该工位对应的设备执行单元进行消息交互。

测试模板的应用，使硬件模块的测试，完全可以依据当前资源条件的变化而做到同步跟进。当备替换掉的仪表设备在其它场合应用时，完全可以通过测试模板的选择而达到对替换掉测试仪表设备的重新应用。即使在同一个场合使用的资源条件变化，例如新升级或者购买的仪器和原有的仪器设备同时使用，同样可以通过测试模板的选用而完成测试。为防止由于测试模板工位的混乱而出现测试项遗漏或重复测试的问题，本发明对以测试模板按地域进行划分，即应用不同的测试模板在不同的测试地域完成测试。例如测试模板301占用测试地域A区和D区，测试模板302占用测试地域B区，测试模板300占用测试地域C区。也可以采用数据结果共享的形式，测试前对当前硬件模板已经使用的测试模板进行查询，如果已经使用的测试模板与将要使用的测试模板不一致，出现模板不匹配告警，通知侧测试人员到正确的测试模板进行测试。

以下以具体示例详细说明本发明的详细流程。

以RFxx_a00硬件版本为例，RFxx_a00的测试项包括CPU小系统的硬件测试，例如可编程逻辑器件、闪存FLASH、DDR内存、电可擦写可编程只读存储器EEPROM、网口等，现场可编程门阵列FPGA测试、数字信号处理器DSP测试、I/Q调制通路测试、复位电路测试、指示灯测试、温度传感器测试、前面板输出信号测试、后背板输出信号测试等；RFxx单板的模拟硬件部分测试项包括电源接口、对外提供的电压测试等等；RFxx单板的射频硬件部分测试项包括下行校准测试、下行验证测试、下行输出功率测试、下行辐射模板测试、下行相邻频道泄漏比ACLR测试、下行峰值码域误差PCDE测试，下行误差向量幅度EVM测试、上行灵敏度测试、上行接收信号强度指示RSSI测试、上行阻塞测试等。在硬件单板RFxx_000的生产过程中，经历了小批量、大批量等阶段，为了加块测试效率，采用增加工位的方法来满足生产测试要求。增加工位必然会伴随着资源的变化，特别是各种测试仪表的变化。由于测试仪表的变化是按照时间顺序进行，测试的开发必然会紧跟资源的变化而同步进行。

按照测试仪表设备随时间的变化，把仪表设备的变化划分为三个阶段：阶段1存在的仪表设备资源包括：频率计数器(53131A)、信号源(SMIQ)、矢量分析仪(FSU)，开关(34980)；阶段2存在的仪表设备资源包括：频率计数器(53131A)、信号源(SMIQ、SMU2000)、矢量分析仪(FSU，E4406)，开关(34980)；阶段3存在的仪表设备资源包括：频率计数器(53131A、53132A)、信号源(SMIQ、SMU2000、E4438、)、矢量分析仪(FSU、E4406、E4445)，开关(34980、3499)。

图5为本发明硬件模块的测试装置的第一测试应用示意图，如图5所示，在测试阶段1，由于测试仪表设备种类较少，不用考虑多种不同仪表的同时使用，只用一个测试模板即可。测试方法为A0，测试执行单元为A00。按前述的工位确定原则，分为三个工位：工位1、工位2和工位3。工位1对应的测试项是所有的数字硬件电路部分的测试以及模拟电路的测试，由于模拟电路测试项较少，将模拟电路测试项安排在在该工位；工位2对应的测试项是下行校准测试、下行验证测试、下行输出功率测试、下行辐射模板测试、下行ACLR测试、下行PCDE测试、下行EVM测试；工位3对应的测试项是上行灵敏度测试、上行RSSI测试、上行阻塞测试。

图6为本发明硬件模块的测试装置的第二测试应用示意图，如图6所示，在测试阶段2，由于引入了新的仪表设备信号源SMU2000和矢量分析仪E4406，因此采用两个测试模板。工位设计保持不变，第一个测试模板的测试方法为A01，测试执行单元为A11，第二个测试模板的测试方法为A02，测试执行单元仍为A11，同时在第二个测试模板中增加仪表设备单元E4438/E4406/3499/E4445。

图7为本发明硬件模块的测试装置的第二测试应用示意图，如图7所示，在测试阶段3，由于引入了新的仪表设备信号源53132A、E4438、矢量分析仪E4445以及开关3499，因此采用了四个测试模板。工位设计保持不变，第一个测试模板1的测试方法为A10，测试执行单元为A10，第二个测试模板和第三个测试模板的测试方法均为A11，测试执行单元均为A11，第四个测试模板的测试方法为A12，测试执行单元为A12。仪表设备测试单元增加了对53132A设备的支持，仪表设备测试单元增加了对E4445设备的支持。

从上述的各个阶段可以看出，随着仪表设备的变化，RFxx_a00的测试方法会有所差异，测试执行单元和仪表设备测试单元也会随着仪表设备的变化。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims

1、一种硬件模块的测试方法，其特征在于，设置硬件模块的测试仪表设备，建立所述测试仪表设备与测试硬件模块之间的连接关系，根据测试仪表设备的测试能力建立测试工位，为测试工位设置测试项，根据硬件模块所支持的版本信息确定测试项，根据测试仪表设备所支持的测试能力生成硬件模块各硬件版本测试项的测试模板，建立硬件模块的硬件版本、测试项、测试模板之间的对应关系，该方法包括：

2、根据权利要求1所述的硬件模块的测试方法，其特征在于，该方法还包括：

3、根据权利要求1所述的硬件模块的测试方法，其特征在于，所述工位与测试项的关联原则包括：具有测试继承性的测试项优先选择在同一个工位；使用相同测试资源的测试项在同一个工位；硬件模块属性相同的测试项在同一个工位；测试互斥性的测试项不放在同一个工位；需要测试者干预的测试项放在同一个工位。

4、根据权利要求1所述的硬件模块的测试方法，其特征在于，所述硬件模块的标识信息包括：硬件模块的型号、硬件模块名称、硬件版本、逻辑电路版本，CPU型号、硬件模块的电路板ID。

5、一种硬件模块的测试装置，其特征在于，该装置包括：

测试项库，用于存储各硬件模块的测试项；

6、根据权利要求5所述的硬件模块的测试装置，其特征在于，所述工位库按以下原则建立与测试项的关联关系：

7、根据权利要求5所述的硬件模块的测试装置，其特征在于，所述硬件模块的标识信息包括：硬件模块的型号、硬件模块名称、硬件版本、逻辑电路版本，CPU型号、硬件模块的电路板ID。