CN107526017A - 用于鼠标电路的功能测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于鼠标电路的功能测试系统及方法，其中系统包括主控电路，所述的主控电路包括功能测试模块，所述的功能测试模块用以对鼠标电路在测试模式下进行功能测试，并区分测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路，所述的功能测试包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种。采用该种结构的用于鼠标电路的功能测试系统及方法，对成品电路进行测试，使得封装等后续环节中导致失效的电路能够分离出来，从而减少产品电路的客户失效反馈；本发明对分离出来的各功能模块失效电路再次进行分离，并结合上位机实时观察通信数据，便于设计人员对电路的分析调试，大大节省了研发时间和研发成本。

Description

用于鼠标电路的功能测试系统及方法

技术领域

本发明涉及鼠标测试技术领域，尤其涉及鼠标电路功能测试技术领域，具体是指一种用于鼠标电路的功能测试系统及方法。

背景技术

现有技术多为以下解决方案：

(1)在测试工厂对产品进行中测；

(2)对成品电路进行单功能模块测试，推理分析失效原因。

以上方式主要存在如下缺陷：

(1)产品中测后还需进行封装等过程，在此过程中有一定的概率导致产品失效；

(2)对成品电路由设计人员进行单功能推理验证，不仅耗时巨大，加大了生产成本，而且测试不全面，效率较低。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术的至少一个缺点，提供了一种能够实现应用于鼠标电路成品的各功能模块测试、并将合格成品与残次品自动分离、对残次品各功能失效进行区分、并结合上位机分析产品失效原因的用于鼠标电路的功能测试系统及方法。

为了实现上述目的，本发明用于鼠标电路的功能测试系统及方法如下：

该用于鼠标电路的功能测试系统，其主要特点是，所述的系统包括主控电路，所述的主控电路包括功能测试模块，所述的功能测试模块用以对鼠标电路在测试模式下进行功能测试，并区分测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路。

较佳地，所述的系统还包括测试机台和指示装置，所述的指示装置用以显示测试结果；所述的测试机台用以根据指示装置的显示，对测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路进行区分，并且对测试失败的鼠标电路根据测试失败的功能项进行区分。

较佳地，所述的主控电路还包括开短路测试模块，所述的开短路测试模块用以对鼠标电路进行开短路测试。

较佳地，所述的功能测试包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种。

较佳地，所述的功能测试为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。

较佳地，所述的主控芯片为PFGA芯片XC3S250E VQ100。

较佳地，所述的功能测试包括PD测试时，所述的系统还包括测试灯，所述的测试灯用以在PD测试中根据设定条件打开和关闭以使鼠标电路工作在有光照和无光照条件下。

本发明还涉及一种用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：

(1)选取一待测试的鼠标电路；

(2)主控电路从测试任务列表中选择一未处理的测试任务；

(3)主控电路对该鼠标电路进行相应的功能测试，并采集鼠标电路输出的采样信号；

(4)主控电路判断采样信号是否符合系统预设要求，如果是，则继续步骤(5)，否则继续步骤(6)；

(5)主控电路判断测试任务列表中是否还存在未处理的测试任务，如果是，则继续步骤(2)，否则继续步骤(7)；

(6)主控电路判定该鼠标电路测试失败；

(7)主控电路判定该鼠标电路测试成功。

较佳地，所述的系统还包括测试机台和指示装置，所述的步骤(6)，包括以下步骤：

(6-1)主控电路控制指示装置显示测试失败，以及测试失败的功能项；

(6-2)测试机台根据指示装置显示的测试失败的功能项，将该鼠标电路归入该测试失败的功能项的对应类别，然后结束退出；

所述的步骤(7)，包括以下步骤：

(7-1)主控电路控制指示装置显示测试成功；

(7-2)测试机台根据指示装置的显示，将该鼠标电路归入测试成功的类别，然后结束退出。

较佳地，所述的步骤(1)和(2)之间，还包括以下步骤：

(1-1)主控电路对该鼠标电路进行开短路测试；

(1-2)主控电路判断该鼠标电路是否通过开短路测试，如果是，则继续步骤(2)，否则继续步骤(6)。

较佳地，所述的测试任务列表中的测试任务包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种。

较佳地，所述的测试任务列表中的任务执行顺序依次为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为外打指令测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-A-1)主控电路向SK1端发送时钟，在每个时钟SK1的下降沿向鼠标电路的SK0端发送测试指令；

(3-A-2)主控电路采集从鼠标电路的SK2、LED、DM、DP端输出的采样信号。

更佳地，所述的步骤(3-A-1)，具体为：

主控电路以18个时钟周期为一组，向SK1端发送时钟，在每个时钟SK1的下降沿向SK0端发送13位指令：

第0个时钟至第7个时钟，由高到低发送低8位指令数据；

第8个时钟至第11个时钟以及最后一个时钟，补零；

第12个时钟至第16个时钟，由高到低发送高5位指令数据。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为外部按键测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-B-1)主控电路向SK1端发送时钟，并模拟外部按键向鼠标电路的SK2、DM、DP端发送按键信号；

(3-B-2)主控电路采集鼠标电路的SK0端的采样信号。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为USB测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-C-1)主控电路通过自身的DM、DP端向鼠标电路中的USB模块发送数据；

(3-C-2)主控电路采集鼠标电路的USB模块的回复信号；

所述的步骤(4)，具体为：

所述的主控电路判断是否在系统预设时间内接收到ACK信号，如果是，则继续步骤(5)，否则继续步骤(6)。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为RAM测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-D-1)主控电路对鼠标电路的RAM进行写入操作；

(3-D-2)主控电路将RAM中的数据取反后读出作为采样信号。

更佳地，所述的步骤(3-D-1)，具体为：

主控电路通过鼠标电路的PT7.7～4端，对鼠标电路的RAM进行写入操作；

所述的步骤(3-D-2)，具体为：

主控电路将RAM中的数据取反后，通过鼠标电路的SK2、LED、DM、DP读出作为采样信号。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为ROM测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-E-1)主控电路向SK1端输出时钟，在时钟SK1每个下降沿时，鼠标电路输出的ROM存储器的数据；

(3-E-2)主控电路采集鼠标电路SK0端的输出数据作为采样信号。

更佳地，所述的步骤(3-E-1)，具体为：

主控电路以18个时钟为一组由SK1输出，鼠标电路在时钟SK1下降沿时将ROM存储器中的数据逐个由SK0端输出：前9个时钟由高到低输出低8位数据+1’b1，后9个时钟输出3’b000+由高到低高5位数据+1’b1。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为DSP测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-F-1)主控电路使能鼠标电路的DSP的寄存器的写功能；

(3-F-2)主控电路向DSP的寄存器R22写入数据并采样读出，使能随机位移；

(3-F-3)主控电路依次读出移动检测寄存器R2、X方向位移寄存器R3、Y方向位移寄存器R4的值，禁止随机位移；

(3-F-4)主控电路将采样读出的寄存器R22、寄存器R2、寄存器R3和寄存器R4的值作为采样信号。

较佳地，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为PD测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-G-1)主控电路向SK2端发送高频时钟电路作为鼠标电路中PD模块的工作时钟；

(3-G-2)主控电路根据SK0端时钟的计数和预设条件控制测试灯的关闭和开启，使鼠标电路分别工作在有光照和无光照条件下；

(3-G-3)主控电路分别采集在有光照和无光照条件下，鼠标电路向SK1端发送的数据，作为采样信号。

较佳地，所述的步骤(5)，包括以下步骤：

(5-1)主控电路判断测试任务列表中是否还存在未处理的测试任务，如果是，则继续步骤(5-2)，否则继续步骤(7)；

(5-2)鼠标电路断电时间达到系统预设延迟时间后，继续步骤(2)。

采用了该发明中的用于鼠标电路的功能测试系统及方法，具有如下有益效果：

(1)本发明对成品电路进行测试，使得封装等后续环节中导致失效的电路能够分离出来，从而减少产品电路的客户失效反馈；

(2)本发明对分离出来的各功能模块失效电路根据测试失败的功能项进行区分，并结合上位机实时观察通信数据，设计人员可以针对测试失败的功能项进行着重的分析调试，大大节省了研发时间和研发成本。

附图说明

图1为本发明的用于鼠标电路的功能测试方法的流程图。

图2为本发明的开短路测试的流程图。

图3为本发明的进入测试模式的时序图。

图4为本发明的外打指令模式的时序图。

图5为本发明的外打指令测试的流程图。

图6为本发明的外部按键模式的时序图。

图7为本发明的外部按键测试的流程图。

图8为本发明的USB测试的流程图。

图9为本发明的RAM测试的流程图。

图10为本发明的ROM模式时序图。

图11为本发明的ROM模式流程图。

图12为本发明的DSP模式下串行通信写模式时序图。

图13为本发明的DSP模式下串行通信读模式时序图。

图14为本发明的DSP测试的流程图。

图15为本发明的PD模式的时序图。

图16为本发明的PD测试的流程图。

具体实施方式

为了能够更清楚地描述本发明的技术内容，下面结合具体实施例来进行进一步的描述。

本发明提供了一种用于鼠标电路的功能测试系统，其主要特点是，所述的系统包括主控电路，所述的主控电路包括功能测试模块，所述的功能测试模块用以对鼠标电路在测试模式下进行功能测试，并区分测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路。

在一种较佳的实施方式中，所述的主控电路还包括开短路测试模块，所述的开短路测试模块用以对鼠标电路进行开短路测试。

在一种较佳的实施方式中，所述的功能测试包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种。

在一种较佳的实施方式中，所述的功能测试为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。

在一种较佳的实施方式中，所述的主控芯片为PFGA芯片XC3S250E VQ100。

在一种较佳的实施方式中，所述的功能测试包括PD测试时，所述的系统还包括测试灯，所述的测试灯用以在PD测试中根据设定条件打开和关闭以使鼠标电路工作在有光照和无光照条件下。

下面以一个具体实施例来进一步介绍本发明：

本实施例主要是由PFGA芯片XC3S250E VQ100作为主控电路对鼠标电路在测试模式下各模块进行验证，涵盖O/S接触测试、光电阵列测试、DSP功能测试、USB功能测试、MCU功能测试等，整个测试过程为顺序执行，总体流程图如图1所示，对应管脚如表1所示。

表1 主控电路芯片对应管脚

在测试过程中，若其中一项测试没有通过，则整个测试结束，判定该测试项失效，不再进行其他测试模式的验证，只有所有测试项全部通过，才判定该鼠标电路通过，每一项测试通过后，都要对鼠标电路重新上电复位。主控电路对鼠标电路测试结束后，向READY管脚发送25ms的高脉冲信号作为测试结束信号，同时向对应管脚(失效或者通过)也发送25ms高脉冲信号，测试机台通过接收到的不同管脚的高脉冲信号将各模块失效和通过的鼠标电路进行区分，同时主控电路点亮对应的LED灯方便调试，LED灯亮灭与对应测试项如表2所示。

表2 LED灯与测试项对应表

主控电路上电复位，首先进行开短路测试，此时RELAY_SW信号为低电位，RELAY_SW信号为模拟开关控制信号，RELAY_SW为高电平时，鼠标电路管脚与主控电路相连，RELAY_SW为低电平时，鼠标电路管脚与开短路测试模块相连。O/S接触测试，采用一颗STM32的MCU作为控制电路实现，其余项则由主控电路FPGA实现，板级的主机为FPGA，STM32为从机。主控电路向开短路测试模块发送1ms低脉冲信号OS_START启动开短路测试，OS_BUSY为开短路测试模块测试完成的信号，OS_PASS和OS_FAIL分别为开短路测试模块测试结果，初始状态均为低电平。主控电路开短路测试完成后，开短路测试模块向主控电路发送高脉冲信号OS_BUSY(脉冲宽度小于8ms)，若在30ms内主控电路未接收到OS_BUSY高脉冲信号，则再次向开短路测试模块发送1ms低脉冲信号OS_START，若主控电路两次都未接收到OS_BUSY高脉冲信号，则判定为WDT失效；主控电路接收到OS_BUSY信号后，再对开短路测试结果进行判断，若OS_PASS为高电平，OS_FAIL保持为低电平，则判断开短路测试通过，主控电路将RELAY_SW信号拉高；否则，则判断开短路测试未通过，测试结束，RELAY_SW信号保持为低电位，流程图如图2所示。

开短路测试通过后，主控电路输入不同的测试码使鼠标电路进入不同的测试模式，在鼠标电路上电10μs后，在12ms前完成以下输入：(1)SK1开始串行输入9个时钟脉冲，同时在时钟的上升沿时从SK0端依次串行输入‘1010_0100_0’；(2)SK1串行输入9个时钟脉冲，同时在时钟的上升沿时从SK0端依次串行输入‘1000+STATE_0’(STATE为4-bit的测试模式选择码)，完成以上操作后，电路进入常规测试模式，进入模式时序如图3所示，测试模式说明如表3所示。

表3 测试模式说明表

主控电路发送测试码0100，鼠标电路进入外打指令测试模式。在该测试模式下，主控电路18个时钟周期为一组，向SK1端发送时钟，在每个时钟SK1的下降沿向SK0端发送13位指令：第0个时钟至第7个时钟，由高到低发送低8位指令数据；第8个时钟至第11个时钟以及最后一个时钟，补零；第12个时钟至第16个时钟，由高到低发送高5位指令数据，时序如图4所示。外打指令的运算结果从鼠标电路的SK2、LED、DM、DP端口输出，主控电路对其进行采样判断，若所有的外打指令的输出结果符合理论值，则判断外打指令测试项通过，反之，则判断外打指令测试项失效。流程图如图5所示。

外打指令测试模式通过后，主控电路发送测试码1011，鼠标电路进入外部按键测试模式。在该测试模式下，主控电路以9个时钟周期为一组，向SK1端发送时钟，同时主控电路模拟外部按键，向SK2、DM、DP端发送按键信号，外部按键的扫描结果从鼠标电路的SK0端口输出，SK0作为输入时输入高电平5V，输入低电平0V；SK0作为输出时为NMOS开漏输出，需外接上拉电阻以提供高电平，在外部按键测试模式下，主控电路将PULL_SK0信号拉高，使SK0端上拉的高电平在1.6V左右，时序如图6所示。主控电路对SKO端口进行采样判断，若采样值符合理论值，则判断外部按键测试项通过，反之，则判断外部按键测试项失效。外部按键测试项结束后，PULL_SK0信号重新拉低。流程图如图7所示。

外部按键测试模式通过后，主控电路发送测试码1000，鼠标电路进入USB测试模式。在该测试模式下，主控电路通过DM、DP端与鼠标电路中的USB模块进行通信，测试USB模块解码、编码功能、IRC的频率恢复功能是否正常。主控电路向DM、DP发送第一帧枚举数据，鼠标电路若能在30us内回复ACK，则判断USB测试项通过，反之，则判断USB测试项失效，流程图如图8所示。

USB测试模式通过后，主控电路发送测试码0100，鼠标电路进入RAM测试。在该测试模式下，主控电路以外打指令模式对鼠标电路进行设置，时序如图4所示，将鼠标电路的PT7.7～4端口设置为输出，数据由SK2、LED、DM、DP输出，输出初始数据为0xA，对RAM的每个字节写入0xAA，取反后读出，判断是否为0x55，若出错则SK2、LED、DM、DP输出翻转为0x5，正确则在向量最终输出0xF，最后进行判断，若SK2、LED、DM、DP输出为0xF，则RAM测试项通过，反之，则判断RAM测试项失效，流程图如图9所示。

RAM测试项通过后，主控电路发送测试码0110，鼠标电路进入ROM测试模式。在该测试模式下，主控电路以18个时钟为一组由SK1输出，鼠标电路在时钟SK1下降沿时将ROM存储器中的数据逐个由SK0端输出,前9个时钟由高到低输出低8位数据+1’b1，后9个时钟输出3’b000+由高到低高5位数据+1’b1，时序如图10所示。SK0作为输入时输入高电平5V，输入低电平0V；SK0作为输出时为NMOS开漏输出，需外接上拉电阻以提供高电平，在ROM测试模式下，主控电路将PULL_SK0信号拉高，使SK0端上拉的高电平在1.6V左右。主控电路对SK0端的数据采样后进行串转并运算，并对所得数据进行判断，在本发明中将接收到的数据进行累加后将累加值判断是否为理论值，若累加结果等于理论值，则判断ROM测试项通过，反之，则判断ROM测试项失效。由于ROM存储器中存储了大量程序，为了避免误测，本发明对其进行二次测试，若第一次测试通过，则ROM测试项通过，若第一次测试失效，则进行第二次测试，若此时第二次测试通过，则判断ROM测试项通过，反之，则判断ROM测试项失效。ROM测试项结束后，PULL_SK0信号重新拉低。流程图如图11所示。

ROM测试项通过后，主控电路发送测试码1001，鼠标电路进入DSP测试模式。进入该模式后，主控电路从SK2打入2MHz时钟，作为鼠标电路中DSP模块的工作时钟，从DM、DP端设置DSP测试控制寄存器，产生伪随机数据送入DSP进行数据处理，并在最后把位移转换结果从DM、DP端口输出。主控电路和鼠标电路之间采用双线制的半双工串行通信，DM作为串行时钟端口，SCK、DP作为串行数据端口SDA，主控电路负责发起通信，SDA总在SCK的下降沿发生变化。通信模式分为写模式和读模式两种，一帧完整的通信数据包均包含两个字节。第一个字节包含读写模式位(1为写，0为读)以及7bits的地址信息，第二字节则为数据信息，如表4所示。

表4 DSP模式下通信字节表

1)写模式

写模式表示主控电路对鼠标电路中DSP模块的寄存器进行写操作，时钟SCK和数据SDA均由主控电路产生。第一字节中MSB＝1，代表写操作，其余7位表示需要被写入的寄存器地址；第二字节则为需要被写入的数据。主控电路控制数据总线SDA在时钟SCK的下降沿变化，并在SCK的上升沿被读入，时序如图12所示。

2)读模式

读模式表示主控电路读出鼠标电路DSP模块中的寄存器数据，时钟总线SCK由主控电路产生。第一字节中SDA总线由主控电路驱动，其中MSB＝0，代表读操作，其余7位表示需要被读出的寄存器地址；第二字节时，主控电路释放SDA总线为高阻态，改由鼠标电路中DSP模块驱动输出SDA。第二字节数据输出完成后，DSP释放SDA总线为高阻态。数据总线SDA总在时钟SCK的下降沿变化，并在SCK的上升沿被读入，时序如图13所示。

在该通信模式下，主控电路依次向DSP中R7F寄存器写入0xA5，使能DSP中10～3F寄存器的写功能，向R22寄存器写入0x40并采样读出后存入mem中，向R1E寄存器写入0x80，使能随机位移，然后依次读取移动检测寄存器R2，X方向位移寄存器R3，Y方向位移寄存器R4的值，并且存入mem中，最后向DSP中R1E寄存器写入0x00，禁止随机位移。将采样读出的R22、R2、R3、R4寄存器的值进行判断，如采样结果等于理论值，则DSP测试项通过，反之，则该鼠标电路被判定为DSP测试项失效。存入在mem中的数据可上传至上位机中，实时观察DSP寄存器中的值，流程图如图14所示。

DSP测试项通过后，主控电路发送测试码1100，鼠标电路进入PD测试模式。主控电路向SK2发送12.8MHz高频时钟电路作为鼠标电路中PD模块的工作时钟，鼠标电路中ADC模块转换的7位数据从SK1端口输出，读数据时钟由SK0端口输出，一个SK0周期包含由12个SK2时钟周期，SK0占空比为1/3。每帧数据由24×24个ADC转换的7位数据构成，主控电路对SK0端口接收到的上升沿计数，计至24×24时，帧计数加1'b1，当帧计数器计至第55帧时，主控电路将COMMAND信号拉高，COMMAND信号控制LED灯的亮灭，COMMAND信号为低电位时，LED灯灭，反之，LED灯点亮，使鼠标电路工作在无光照和有光照两种条件下。SK0上升沿时，鼠标电路在SK2时钟控制下由低到高向SK1发送ADC转换的7位数据，时序如图15所示，主控电路在SK2时钟控制下对其进行采样后串转并，并将数据存储至mem中，在无光照和有光照条件下，对第50帧数据和第60帧数据的采样结果判断，若采样结果不符合理论值的个数超过16个，则PD测试项不通过，反之，则PD测试项通过，同时可将mem中存储的光电数据上传至上位机中，实时观察光电转换数据，流程图如图16所示。

采用了该发明中的用于鼠标电路的功能测试系统及方法，具有如下有益效果：

(1)本发明对成品电路进行测试，使得封装等后续环节中导致失效的电路能够分离出来，从而减少产品电路的客户失效反馈；

(2)本发明对分离出来的各功能模块失效电路再次根据测试失败的功能项进行区分，并结合上位机实时观察通信数据，设计人员可以针对测试失败的功能项进行着重的分析调试，便于设计人员对电路的分析调试，大大节省了研发时间和研发成本。

在此说明书中，本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。

Claims (20)

1.一种用于鼠标电路的功能测试系统，其特征在于，所述的系统包括主控电路，所述的主控电路包括功能测试模块，所述的功能测试模块用以对鼠标电路在测试模式下进行功能测试，并输出各项功能测试的测试结果。

2.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统，其特征在于，所述的系统还包括测试机台和指示装置，所述的指示装置用以显示测试结果；所述的测试机台用以根据指示装置的显示，对测试成功的鼠标电路和测试失败的鼠标电路进行区分，并且对测试失败的鼠标电路根据测试失败的功能项进行区分。

3.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统，其特征在于，所述的主控电路还包括开短路测试模块，所述的开短路测试模块用以对鼠标电路进行开短路测试。

4.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统，其特征在于，所述的功能测试包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种；或者

所述的功能测试为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。

5.根据权利要求1所述的用于鼠标电路的功能测试系统，其特征在于，所述的功能测试包括PD测试时，所述的系统还包括测试灯，所述的测试灯用以在PD测试中根据设定条件打开和关闭以使鼠标电路工作在有光照和无光照条件下。

6.一种基于权利要求1至5中任一项所述的系统用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的方法包括如下步骤：

(1)选取一待测试的鼠标电路；

(2)主控电路从测试任务列表中选择一未处理的测试任务；

(3)主控电路对该鼠标电路进行相应的功能测试，并采集鼠标电路输出的采样信号；

(4)主控电路判断采样信号是否符合系统预设要求，如果是，则继续步骤(5)，否则继续步骤(6)；

(5)主控电路判断测试任务列表中是否还存在未处理的测试任务，如果是，则继续步骤(2)，否则继续步骤(7)；

(6)主控电路判定该鼠标电路测试失败；

(7)主控电路判定该鼠标电路测试成功。

7.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的系统还包括测试机台和指示装置，所述的步骤(6)，包括以下步骤：

(6-1)主控电路控制指示装置显示测试失败，以及测试失败的功能项；

(6-2)测试机台根据指示装置显示的测试失败的功能项，将该鼠标电路归入该测试失败的功能项的对应类别，然后结束退出；

所述的步骤(7)，包括以下步骤：

(7-1)主控电路控制指示装置显示测试成功；

(7-2)测试机台根据指示装置的显示，将该鼠标电路归入测试成功的类别，然后结束退出。

8.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的步骤(1)和(2)之间，还包括以下步骤：

(1-1)主控电路对该鼠标电路进行开短路测试；

(1-2)主控电路判断该鼠标电路是否通过开短路测试，如果是，则继续步骤(2)，否则继续步骤(6)。

9.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的测试任务列表中的测试任务包括外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试中的至少一种；或者。

所述的测试任务列表中的任务执行顺序依次为依次进行外打指令测试、外部按键测试、USB功能测试、RAM测试、ROM测试、DSP测试和PD测试。

10.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为外打指令测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-A-1)主控电路向SK1端发送时钟，在每个时钟SK1的下降沿向鼠标电路的SK0端发送测试指令；

(3-A-2)主控电路采集从鼠标电路的SK2、LED、DM、DP端输出的采样信号。

11.根据权利要求10所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的步骤(3-A-1)，具体为：

主控电路以18个时钟周期为一组，向SK1端发送时钟，在每个时钟SK1的下降沿向SK0端发送13位指令：

第0个时钟至第7个时钟，由高到低发送低8位指令数据；

第8个时钟至第11个时钟以及最后一个时钟，补零；

第12个时钟至第16个时钟，由高到低发送高5位指令数据。

12.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为外部按键测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-B-1)主控电路向SK1端发送时钟，并模拟外部按键向鼠标电路的SK2、DM、DP端发送按键信号；

(3-B-2)主控电路采集鼠标电路的SK0端的采样信号。

13.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为USB测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-C-1)主控电路通过自身的DM、DP端向鼠标电路中的USB模块发送数据；

(3-C-2)主控电路采集鼠标电路的USB模块的回复信号；

所述的步骤(4)，具体为：

所述的主控电路判断是否在系统预设时间内接收到ACK信号，如果是，则继续步骤(5)，否则继续步骤(6)。

14.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为RAM测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-D-1)主控电路对鼠标电路的RAM进行写入操作；

(3-D-2)主控电路将RAM中的数据取反后读出作为采样信号。

15.根据权利要求14所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的步骤(3-D-1)，具体为：

主控电路通过鼠标电路的PT7.7～4端，对鼠标电路的RAM进行写入操作；

所述的步骤(3-D-2)，具体为：

主控电路将RAM中的数据取反后，通过鼠标电路的SK2、LED、DM、DP读出作为采样信号。

16.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为ROM测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-E-1)主控电路向SK1端输出时钟，在时钟SK1每个下降沿时，鼠标电路输出的ROM存储器的数据；

(3-E-2)主控电路采集鼠标电路SK0端的输出数据作为采样信号。

17.根据权利要求16所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的步骤(3-E-1)，具体为：

主控电路以18个时钟为一组由SK1输出，鼠标电路在时钟SK1下降沿时将ROM存储器中的数据逐个由SK0端输出：前9个时钟由高到低输出低8位数据+1’b1，后9个时钟输出3’b000+由高到低高5位数据+1’b1。

18.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为DSP测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-F-1)主控电路使能鼠标电路的DSP的寄存器的写功能；

(3-F-2)主控电路向DSP的寄存器R22写入数据并采样读出，使能随机位移；

(3-F-3)主控电路依次读出移动检测寄存器R2、X方向位移寄存器R3、Y方向位移寄存器R4的值，禁止随机位移；

(3-F-4)主控电路将采样读出的寄存器R22、寄存器R2、寄存器R3和寄存器R4的值作为采样信号。

19.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的主控电路选择的未处理的测试任务为PD测试时，所述的步骤(3)，包括以下步骤：

(3-G-1)主控电路向SK2端发送高频时钟电路作为鼠标电路中PD模块的工作时钟；

(3-G-2)主控电路根据SK0端时钟的计数和预设条件控制测试灯的关闭和开启，使鼠标电路分别工作在有光照和无光照条件下；

(3-G-3)主控电路分别采集在有光照和无光照条件下，鼠标电路向SK1端发送的数据，作为采样信号。

20.根据权利要求6所述的用于鼠标电路的功能测试方法，其特征在于，所述的步骤(5)，包括以下步骤：

(5-1)主控电路判断测试任务列表中是否还存在未处理的测试任务，如果是，则继续步骤(5-2)，否则继续步骤(7)；

(5-2)鼠标电路断电时间达到系统预设延迟时间后，继续步骤(2)。