CN107589366B - 一种无线收发芯片批量测试装置及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种无线收发芯片批量测试装置及其方法，参考芯片U6通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，被测芯片U5通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，且被测芯片U5的LDO端口与MCU微处理器U1的ADC1端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7分别与继电器U2、U3连接，AD运放芯片U4可通过继电器U2或继电器U3与被测芯片U5的VDD端连接，且AD运放芯片U4的输入端与电阻R的两端连接，同时电阻R的一端接入高电平VCC另一端与继电器U3连接，AD运放芯片U4的输出端与MCU微处理器U1的ADC2端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U8与测试项输出端连接；本发明测试方法简单快捷，稳定性好，测试效率高、准确性好，同时可实现参数显示，满足无线发射芯片的批量测试的要求。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置及其方法，尤其是一种无线收发芯片批量测试装置及其方法，属于芯片测试技术领域。
背景技术
随着科技的发展，无线收发芯片广泛应用在无线鼠标、键盘、遥控玩具、游戏摇杆、RFID、安防报警、智能家居、工业控制等领域。在无线发射芯片生产和封装完成后，需要进行必要的测试，以确保其性能和可靠性。现有的测试装置往往过于复杂，购置成本很高，或者功能过于简单，无法批量测试，使得测试效率低，测试准确性也不够好。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术存在的问题，提出了一种无线收发芯片批量测试装置及其方法，该装置采用MCU微处理器U1控制无线被测芯片U5和板载参考芯片U6，通过被测芯片U5和板载参考芯片U6之间的无线通讯，建立数据包的无线传递，该测试方法简单快捷，稳定性好，测试效率高、准确性好，同时可实现参数显示，满足无线发射芯片的批量测试的要求。
为实现以上技术目的，本发明的技术方案是：一种无线收发芯片批量测试装置，包括MCU微处理器U1、继电器U2和U3、AD运放芯片U4、被测芯片U5及参考芯片U6，其特征在于，所述参考芯片U6通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，所述被测芯片U5通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，且被测芯片U5的LDO端口与MCU微处理器U1的ADC1端口连接，所述MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7分别与继电器U2、U3连接，所述AD运放芯片U4可通过继电器U2或继电器U3与被测芯片U5的VDD端连接，且AD运放芯片U4的输入端与电阻R的两端连接，同时电阻R的一端接入高电平VCC另一端与继电器U3连接，AD运放芯片U4的输出端与MCU微处理器U1的ADC2端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U8与测试项输出端连接。
进一步地，还包括显示屏，用于显示测试项输出参数值的显示屏通过接口与MCU微处理器U1连接。
进一步地，所述电路保护芯片U7和U8均采用ULN2003。
进一步地，所述被测芯片U5和参考芯片U6均为无线收发芯片。
为了进一步实现以上技术目的，本发明还提出一种无线收发芯片批量测试方法，其特征是，包括如下步骤：
步骤一. 测试夹具搭建：搭建由MCU微处理器U1控制被测芯片U5和参考芯片U6的测试夹具；
步骤二. 系统初始化：给整个测试系统上电，初始化被测芯片U5和参考芯片U6，检测被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态；
步骤三. 电压测试：MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7控制继电器U2和U3间切换，同时高电平VCC通过继电器U2或U3给被测芯片U5供电，MCU微处理器U1的ADC1端口通过LDO端口读取被测芯片U5的电压值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，通过供电电压值判断被测芯片U5是否处于工作状态；
步骤四. 电流测试：当被测芯片U5处于工作状态时，AD运放芯片U4通过采集精准电阻R两端的电压值，并计算通过电阻R的电流值，MCU微处理器U1通过ADC2端口读取电流值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，该电流即为被测芯片U5工作状态所产生的电流大小；
当被测芯片U5进入睡眠状态时，采用与测试工作状态电流相同方法测试睡眠状态电流值；
步骤五. 无线通讯测试：设置被测芯片U5作为发射芯片，参考芯片U6作为接收芯片，当进行无线通讯时，需设置被测芯片U5和参考芯片U6的载波频率、数据速率和同步字节保持一致，使被测芯片U5处于发射状态，参考芯片U6处于接收状态；
数据传输过程：发射芯片发射数据包时，向被测芯片U5的寄存器FIFO中写入所要传输的数据，并读取PKT_Flag寄存器中值变化，判断数据包发送是否成功；接收芯片接收数据包，并读取接收芯片相应PKT_Flag寄存器值变化，MCU微处理器U1通过PKT_Flag寄存器值的变化判断数据包是否接收成功，若接收成功，则读取相应寄存器FIFO中的数值，并对比接收到的数据包与发射芯片发射的数据包是否相同，若相同，则表明无线传输成功。
进一步地，所述步骤二中检测芯片与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态的过程为：首先，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口分别向被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入指定值；其次，MCU微处理器U1分别读取被测芯片U5和参考芯片U6所写入值的寄存器，分别比对被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入值与读取值，若写入值与读取值相同，则判断被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1连接及SPI通讯状态良好。
进一步地，所述步骤四中被测芯片U5处于工作状态时，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口，向被测芯片U5的TX寄存器中TX_EN位写1；被测芯片U5处于睡眠状态时，向被测芯片U5的SLEEP寄存器中slee_mode位写1。
进一步地，所述步骤五中被测芯片U5也可作为接收芯片，参考芯片U6也可作为发射芯片。
进一步地，步骤五中无线数据传输前，接收芯片中寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置参考芯片U6的RX寄存器，使参考芯片U6处于接收状态；
b、设置参考芯片U6 的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节处于固定状态；
c、设置参考芯片U6的FIFO寄存器，清空RX FIFO指针为0；
d、设置参考芯片U6的PLL寄存器，使芯片载波频率处于测试频率状态；此时，接收芯片U6处于接收状态，等待发射芯片发送数据包；
无线数据传输前，发射芯片寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置被测芯片U5的TX寄存器，使被测芯片U5处于发射状态；
b、设置被测芯片U5的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节分别与接收芯片一致；
c、设置被测芯片U5的功率寄存器，使芯片处于固定发射功率；
d、设置被测芯片U5的FIFO寄存器，清空TX FIFO指针为0；
e、设置被测芯片U5的PLL寄存器，使芯片载波频率与接收芯片一致。
与现有技术相比，本发明具有以下优点：
1）本发明的测试装置，搭建外围测试平台简单快捷；
2）本发明的测试方法，可以克服现有无线传输技术中抗干扰能力弱、测试效率低和准确性差等缺陷，同时测试简单快捷，稳定性好；
3）本发明测试项的测试结果可通过显示屏直观的观察到。
附图说明
图1为本发明的电路原理图。
图2为本发明的测试方法流程图。
图3为本发明无线通讯测试方法流程图。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
如附图1所示，一种无线收发芯片批量测试装置，包括MCU微处理器U1、继电器U2和U3、AD运放芯片U4、被测芯片U5及参考芯片U6，其特征在于，所述参考芯片U6通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，所述被测芯片U5通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，且被测芯片U5的LDO端口与MCU微处理器U1的ADC1端口连接，所述MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7分别与继电器U2、U3连接，所述AD运放芯片U4可通过继电器U2或继电器U3与被测芯片U5的VDD端连接，且AD运放芯片U4的输入端与电阻R的两端连接，同时电阻R的一端接入高电平VCC另一端与继电器U3连接，AD运放芯片U4的输出端与MCU微处理器U1的ADC2端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U8与测试项输出端连接，还包括显示屏，用于显示测试项输出参数值的显示屏通过接口与MCU微处理器U1连接，所述电路保护芯片U7和U8均采用ULN2003，所述被测芯片U5和参考芯片U6均为无线收发芯片。
如附图2所示，一种无线收发芯片批量测试方法，以被测芯片U5作为发射芯片，参考芯片U6作为接收芯片为例，其特征是，包括如下步骤：
步骤一. 测试夹具搭建：搭建由MCU微处理器U1控制被测芯片U5和参考芯片U6的测试夹具；
步骤二. 系统初始化：给整个测试系统上电，初始化被测芯片U5和参考芯片U6，检测被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态；
检测芯片与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态的过程为：首先，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口分别向被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入指定值；其次，MCU微处理器U1分别读取被测芯片U5和参考芯片U6所写入值的寄存器，分别比对被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入值与读取值，若写入值与读取值相同，则判断被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1连接及SPI通讯状态良好；
步骤三. 电压测试：MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7控制继电器U2和U3间切换，同时高电平VCC通过继电器U2或U3给被测芯片U5供电，MCU微处理器U1的ADC1端口通过LDO端口读取被测芯片U5的电压值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，通过供电电压值判断被测芯片U5是否处于工作状态；
步骤四. 电流测试：当被测芯片U5处于工作状态时，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口，向被测芯片U5的TX寄存器中TX_EN位写1，AD运放芯片U4通过采集精准电阻R两端的电压值，并计算通过电阻R的电流值，MCU微处理器U1通过ADC2端口读取电流值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，该电流即为被测芯片U5工作状态所产生的电流大小；
当被测芯片U5进入睡眠状态时，向被测芯片U5的SLEEP寄存器中slee_mode位写1，采用与测试工作状态电流相同方法测试睡眠状态电流值；
步骤五. 无线通讯测试：设置被测芯片U5作为发射芯片，参考芯片U6作为接收芯片，当进行无线通讯时，需设置被测芯片U5和参考芯片U6的载波频率、数据速率和同步字节保持一致，使被测芯片U5处于发射状态，参考芯片U6处于接收状态；
如图3所示，无线数据传输前，接收芯片中寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置参考芯片U6的RX寄存器，使参考芯片U6处于接收状态；
b、设置参考芯片U6 的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节处于固定状态；
c、设置参考芯片U6的FIFO寄存器，清空RX FIFO指针为0；
d、设置参考芯片U6的PLL寄存器，使芯片载波频率处于测试频率状态；此时，接收芯片U6处于接收状态，等待发射芯片发送数据包；
无线数据传输前，发射芯片寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置被测芯片U5的TX寄存器，使被测芯片U5处于发射状态；
b、设置被测芯片U5的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节分别与接收芯片一致；
c、设置被测芯片U5的功率寄存器，使芯片处于固定发射功率；
d、设置被测芯片U5的FIFO寄存器，清空TX FIFO指针为0；
e、设置被测芯片U5的PLL寄存器，使芯片载波频率与接收芯片一致；
数据传输过程：发射芯片发射数据包时，向被测芯片U5的寄存器FIFO中写入所要传输的数据，并读取PKT_Flag寄存器中值变化，判断数据包发送是否成功；接收芯片接收数据包，并读取接收芯片相应PKT_Flag寄存器值变化，MCU微处理器U1通过PKT_Flag寄存器值的变化判断数据包是否接收成功，若接收成功，则读取相应寄存器FIFO中的数值，并对比接收到的数据包与发射芯片发射的数据包是否相同，若相同，则表明无线传输成功。
Claims (3)
1.一种无线收发芯片批量测试方法，其特征是，包括如下步骤：
步骤一. 测试夹具搭建：搭建由MCU微处理器U1控制被测芯片U5和参考芯片U6的测试夹具；
步骤二. 系统初始化：给整个测试系统上电，初始化被测芯片U5和参考芯片U6，检测被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态；
步骤三. 电压测试：MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7控制继电器U2和U3间切换，同时高电平VCC通过继电器U2或U3给被测芯片U5供电，MCU微处理器U1的ADC1端口通过LDO端口读取被测芯片U5的电压值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，通过供电电压值判断被测芯片U5是否处于工作状态；
步骤四. 电流测试：当被测芯片U5处于工作状态时，AD运放芯片U4通过采集精准电阻R两端的电压值，并计算通过电阻R的电流值，MCU微处理器U1通过ADC2端口读取电流值，并通过电路保护芯片U8从测试项输出端输出，同时显示在显示屏上，该电流即为被测芯片U5工作状态所产生的电流大小；
当被测芯片U5进入睡眠状态时，采用与测试工作状态电流相同方法测试睡眠状态电流值；
步骤五. 无线通讯测试：设置被测芯片U5作为发射芯片，参考芯片U6作为接收芯片，当进行无线通讯时，需设置被测芯片U5和参考芯片U6的载波频率、数据速率和同步字节保持一致，使被测芯片U5处于发射状态，参考芯片U6处于接收状态；
数据传输过程：发射芯片发射数据包时，向被测芯片U5的寄存器FIFO中写入所要传输的数据，并读取PKT_Flag寄存器中值变化，判断数据包发送是否成功；接收芯片接收数据包，并读取接收芯片相应PKT_Flag寄存器值变化，MCU微处理器U1通过PKT_Flag寄存器值的变化判断数据包是否接收成功，若接收成功，则读取相应寄存器FIFO中的数值，并对比接收到的数据包与发射芯片发射的数据包是否相同，若相同，则表明无线传输成功；
所述步骤二中检测芯片与MCU微处理器U1的连接及SPI通讯状态的过程为：首先，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口分别向被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入指定值；其次，MCU微处理器U1分别读取被测芯片U5和参考芯片U6所写入值的寄存器，分别比对被测芯片U5和参考芯片U6的寄存器写入值与读取值，若写入值与读取值相同，则判断被测芯片U5和参考芯片U6分别与MCU微处理器U1连接及SPI通讯状态良好；
步骤五中无线数据传输前，接收芯片中寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置参考芯片U6的RX寄存器，使参考芯片U6处于接收状态；
b、设置参考芯片U6 的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节处于固定状态；
c、设置参考芯片U6的FIFO寄存器，清空RX FIFO指针为0；
d、设置参考芯片U6的PLL寄存器，使芯片载波频率处于测试频率状态；此时，接收芯片U6处于接收状态，等待发射芯片发送数据包；
无线数据传输前，发射芯片寄存器设置步骤如下：
a、MCU微处理器U1设置被测芯片U5的TX寄存器，使被测芯片U5处于发射状态；
b、设置被测芯片U5的DATARATE寄存器和SYNCWORD寄存器，使芯片数据速率和同步字节分别与接收芯片一致；
c、设置被测芯片U5的功率寄存器，使芯片处于固定发射功率；
d、设置被测芯片U5的FIFO寄存器，清空TX FIFO指针为0；
e、设置被测芯片U5的PLL寄存器，使芯片载波频率与接收芯片一致。
2.根据权利要求1所述的一种无线收发芯片批量测试方法，其特征在于：所述步骤四中被测芯片U5处于工作状态时，MCU微处理器U1通过SPI或IIC接口，向被测芯片U5的TX寄存器中TX_EN位写1；被测芯片U5处于睡眠状态时，向被测芯片U5的SLEEP寄存器中slee_mode位写1。
3.根据权利要求1所述的一种无线收发芯片批量测试方法，其特征在于：所述步骤五中被测芯片U5也可作为接收芯片，参考芯片U6也可作为发射芯片。
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