CN204595160U - 无线发射芯片简单批量测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4。本实用新型具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电子测试装置，尤其是一种测试发射芯片的装置。
背景技术
在当今信息膨胀的年代，无线发射芯片被越来越多的应用到各种无线终端中。在无线发射芯片生产和封装完成后，需要进行必要的测试，以确保其合格和可靠。
现有的测试装置往往过于复杂，购置成本很高。或者功能过于简单，无法批量测试，使得测试效率低，测试准确性也不够好。
发明内容
针对现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。本实用新型采用的技术方案是：
一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；
微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；
微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口；
继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同；
继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。
进一步地，驱动芯片U2采用ULN2003。
本实用新型的优点在于：
1）搭建外围测试平台简单快捷。
2）测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好，适合无线发射芯片的批量测试。
3）测试中抗干扰能力强。
附图说明
图1为本实用新型的电原理图。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
本实用新型提出的无线发射芯片简单批量测试装置，整体为一块线路板，其上的电路如图1所示，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座40；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座40中；
微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压（如+5v)；本例中驱动芯片U2采用ULN2003，其输入端和输出端的信号关系为反相关系。微处理器U1输出低电平时，U2的输出为高电平，则继电器K1、K2和K3线圈都不得电。
微处理器U1通过SPI/IIC通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端（图中的U4的PKT管脚）；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口（图中U1的ADC1管脚）；
继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，第二供电电压为3.3v；继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同，分别用于测试发射芯片U4的睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。
继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口（图中U1的ADC2管脚），以及发射芯片U4的供电端。
测试流程：
上电后微处理器U1会立即检测SPI/IIC通信接口连接的接收芯片U3和发射芯片U4的状态。
当微处理器U1收到上位机给的START信号时，开始测试。
通过控制继电器K1、K3切换，可测试发射芯片U4的输出电压LDO_OUT，睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。
微处理器U1控制继电器K2，通过控制被测芯片PKT引脚（信号发射控制端）高低电平，来使得被测的发射芯片U4发送信号或停止发送信号。比如，继电器K2线圈得电时，微处理器U1的用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口接通发射芯片U4的PKT引脚，可输出高低电平对U4进行控制。
发射芯片U4的输出信号通过继电器K1后，再被微处理器U1的ADC1管脚采样。
通过继电器K3的切换，可分别接通电阻R1和R2，能够测试发射芯片U4的睡眠电流和工作电流。
当一颗发射芯片测试完毕后，可以从芯片座40上取下，换上一颗待测试的发射芯片继续测试。
本测试装置可以对芯片批量测试，具有简单快捷的效果，搭建外围测试平台简单方便。测试时抗干扰能力强。
Claims (2)
1.一种无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座(40)；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座(40)中；
微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；
微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口；
继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同；
继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。
2.如权利要求1所述的无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于：
驱动芯片U2采用ULN2003。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201520292556.2U CN204595160U (zh) | 2015-05-07 | 2015-05-07 | 无线发射芯片简单批量测试装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520292556.2U CN204595160U (zh) | 2015-05-07 | 2015-05-07 | 无线发射芯片简单批量测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN204595160U true CN204595160U (zh) | 2015-08-26 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN204595160U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107589366A (zh) * | 2017-10-16 | 2018-01-16 | 江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 | 一种无线收发芯片批量测试装置及其方法 |
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2015
- 2015-05-07 CN CN201520292556.2U patent/CN204595160U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN107589366A (zh) * | 2017-10-16 | 2018-01-16 | 江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 | 一种无线收发芯片批量测试装置及其方法 |
| CN107589366B (zh) * | 2017-10-16 | 2023-09-29 | 江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 | 一种无线收发芯片批量测试装置及其方法 |
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