CN107991549A - 无源uhf rfid标签抗干扰能力测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置，其中，包射频信号分析装置，RFID标签读写器，干扰源，合路器，天线及环形器，射频信号分析装置的输入接口连接环形器的第一端口，RFID标签读写器的射频接口连接合路器的第一输入接口，干扰源的射频接口连接合路器的第二输入接口，合路器的输出接口连接环形器的第二端口，环形器的第三端口连接天线，还包括一电波暗室，天线设置于电波暗室内，一待测试标签置于电波暗室内，并与天线具有预定距离。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID标签抗干扰能力进行测试。

Description

无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置及方法
技术领域
本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置及方法。
背景技术
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。
现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置及方法。
为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：
一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置，其中，包射频信号分析装置，RFID标签读写器，干扰源，合路器，天线及环形器，所述射频信号分析装置的输入接口连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器的射频接口连接所述合路器的第一输入接口，所述干扰源的射频接口连接所述合路器的第二输入接口，所述合路器的输出接口连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述天线，还包括一电波暗室，所述天线设置于所述电波暗室内，一待测试标签置于所述电波暗室内，并与所述天线具有预定距离。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。
本发明的另一方面，所述干扰源为矢量信号发生器。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。
本发明的另一方面，所述电波暗室内径2.5米。
本发明的另一方面，所述预定距离为1米。
本发明还包括一种无源UHF RFID标签灵敏度测试方法，其中，应用上述的无源UHFRFID标签灵敏度测试装置，还包括如下步骤：
步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送指令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；
步骤6，根据采集到的所述射频信号，调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答的一第一临界值；
步骤7，使所述干扰源发射干扰信号，并以一定步长逐渐增加发射功率，直至所述待测试标签无法正确应答的一第二临界值；
步骤8，判断当前RFID标签读写器的发射功率是否大于所述第一临界值一预定值，如否增加所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答，并返回所述步骤7；
步骤9，记录当前所述干扰源的发射功率。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述RFID标签读写器发射功率设置为20dBm。
本发明的另一方面，所述预定步长为0.25dBm。
本发明的另一方面，所述预定值为2dBm。
本发明获得了以下有益效果：
可对无源UHF RFID标签抗干扰能力进行测试。
附图说明
图1为本发明无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置的结构示意图；
图2为本发明无源UHF RFID标签抗干扰能力测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
本发明提供一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置，如图1所示，其中，包射频信号分析装置1，RFID标签读写器2，干扰源7，合路器8，天线4及环形器3，所述射频信号分析装置1的输入接口连接所述环形器3的第一端口，所述RFID标签读写器2的射频接口连接所述合路器8的第一输入接口，所述干扰源7的射频接口连接所述合路器8的第二输入接口，所述合路器8的输出接口连接所述环形器3的第二端口，所述环形器3的第三端口连接所述天线4，还包括一电波暗室6，所述天线4设置于所述电波暗室6内，一待测试标签5置于所述电波暗室6内，并与所述天线4具有预定距离。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置1为矢量信号分析仪。
本发明的另一方面，所述干扰源7为矢量信号发生器。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器2的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。
本发明的另一方面，所述电波暗室6内径2.5米。
本发明的另一方面，所述预定距离为1米。
本发明还包括一种无源UHF RFID标签灵敏度测试方法，如图2所示，其中，应用上述的无源UHF RFID标签灵敏度测试装置，还包括如下步骤：
步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送指令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；
步骤6，根据采集到的所述射频信号，调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答的一第一临界值；
步骤7，使所述干扰源发射干扰信号，并以一定步长逐渐增加发射功率，直至所述待测试标签无法正确应答的一第二临界值；
步骤8，判断当前RFID标签读写器的发射功率是否大于所述第一临界值一预定值，如否增加所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答，并返回所述步骤7；
步骤9，记录当前所述干扰源的发射功率。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述RFID标签读写器的初始发射功率设置为20dBm。
本发明的另一方面，所述干扰源的初始发射功率为0dBm，并且，干扰源发射的信号为CW(连续波)调制信号。
本发明的另一方面，所述预定步长为0.25dBm。
本发明的另一方面，所述预定值为2dBm。
以下以具体实施例说明本发明的可行性。
作为优选的实施方式，天线可采用线极化天线，增益为8.5dBi。待测试标签的抗干扰能力以EIRP(Effective Isotropic Radiated Power，有效全向辐射功率)表达；待测试标签的抗干扰能力EIRP＝干扰源的发射功率+天线增益-线路损耗-空气损耗。其中，线路损耗和空气损耗可根据测试装置的实际情况作为常数进行设置。
测试用例为工作频率840-845MHz，920-925MHz，步进为1MHz。RFID标签读写器的参数设置为，启动查询命令前向链路基准时间为：6.25μs，反向链路频率为：320Khz，编码方式为：FM0，带前导码。
此实施例中，步骤4中的指令为启动查询命令。步骤6中，第一预定值为RFID标签读写器刚好可激活待测试标签正确响应的功率值，第二临界值即为最终的干扰源发射功率。步骤8中，可以一第二预定步长增加RFID标签读写器的发射功率，如可将第二预定步长设置为0.1dBm。
优选的实施例中，判断待测试标签是否符合要求的方法为，测试用例中的任一频点待测试标签抗干扰能力大于25dBm则测试通过，否则测试失败。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种无源UHF RFID标签抗干扰能力测试装置，其特征在于，包射频信号分析装置，RFID标签读写器，干扰源，合路器，天线及环形器，所述射频信号分析装置的输入接口连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器的射频接口连接所述合路器的第一输入接口，所述干扰源的射频接口连接所述合路器的第二输入接口，所述合路器的输出接口连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述天线，还包括一电波暗室，所述天线设置于所述电波暗室内，一待测试标签置于所述电波暗室内，并与所述天线具有预定距离。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述干扰源为矢量信号发生器。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电波暗室内径2.5米。
6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述预定距离为1米。
7.一种无源UHF RFID标签灵敏度测试方法，其特征在于，应用如权利要求1-6中任一所述的无源UHF RFID标签灵敏度测试装置，还包括如下步骤：
步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器向所述待测试标签发送指令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；
步骤6，根据采集到的所述射频信号，调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答的一第一临界值；
步骤7，使所述干扰源发射干扰信号，并以一定步长逐渐增加发射功率，直至所述待测试标签无法正确应答的一第二临界值；
步骤8，判断当前RFID标签读写器的发射功率是否大于所述第一临界值一预定值，如否增加所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试标签可正确应答，并返回所述步骤7；
步骤9，记录当前所述干扰源的发射功率。
8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述RFID标签读写器发射功率设置为20dBm。
9.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述预定步长为0.25dBm。
10.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述预定值为2dBm。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110333406A (zh) * 2019-07-04 2019-10-15 重庆唯申科技有限公司 电子标签抗干扰性能测试方法、测试仪器及存储介质
CN113437943A (zh) * 2021-08-11 2021-09-24 电子科技大学 一种具有双向放大的无源uhf rfid标签电路

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101750553A (zh) * 2008-12-10 2010-06-23 中国科学院自动化研究所 一种rfid标签工作电平的基准测试系统及方法
CN101782608A (zh) * 2009-11-11 2010-07-21 中国科学院自动化研究所 Rfid标签响应频率基准测试系统及方法
CN101931472A (zh) * 2009-06-10 2010-12-29 中国科学院自动化研究所 Rfid读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法
CN203069749U (zh) * 2012-12-27 2013-07-17 广州中大微电子有限公司 一种rfid读写器芯片中测系统

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101750553A (zh) * 2008-12-10 2010-06-23 中国科学院自动化研究所 一种rfid标签工作电平的基准测试系统及方法
CN101931472A (zh) * 2009-06-10 2010-12-29 中国科学院自动化研究所 Rfid读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法
CN101782608A (zh) * 2009-11-11 2010-07-21 中国科学院自动化研究所 Rfid标签响应频率基准测试系统及方法
CN203069749U (zh) * 2012-12-27 2013-07-17 广州中大微电子有限公司 一种rfid读写器芯片中测系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张乒乒: "基于自主标准的RFID设备测试研究", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110333406A (zh) * 2019-07-04 2019-10-15 重庆唯申科技有限公司 电子标签抗干扰性能测试方法、测试仪器及存储介质
CN110333406B (zh) * 2019-07-04 2021-07-09 重庆唯申科技有限公司 电子标签抗干扰性能测试方法、测试仪器及存储介质
CN113437943A (zh) * 2021-08-11 2021-09-24 电子科技大学 一种具有双向放大的无源uhf rfid标签电路

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