CN107833593A - 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法 - Google Patents

一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107833593A
CN107833593A CN201711126442.0A CN201711126442A CN107833593A CN 107833593 A CN107833593 A CN 107833593A CN 201711126442 A CN201711126442 A CN 201711126442A CN 107833593 A CN107833593 A CN 107833593A
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
testing
tested
label tag
rfid label
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711126442.0A
Other languages
English (en)
Inventor
冀京秋
贺明
陈伯俊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhongjing Fudian (shanghai) Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhongjing Fudian (shanghai) Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhongjing Fudian (shanghai) Electronic Technology Co Ltd filed Critical Zhongjing Fudian (shanghai) Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN201711126442.0A priority Critical patent/CN107833593A/zh
Publication of CN107833593A publication Critical patent/CN107833593A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/36—Data generation devices, e.g. data inverters
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor

Landscapes

  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本发明公开了一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，包括使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的预定存储区的存储容量进行有效的测试。

Description

一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法
技术领域
本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法。
背景技术
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。
现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
由于UHF RFID标签的芯片是其主要工作部件，因此如何对UHF RFID芯片提供一系列有效的测试方法，成为业界的课题。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法。
为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：
一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，其中，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；
步骤7，对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。
本发明的另一方面，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。
本发明的另一方面，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述预定数据为两个不同的八位字符。
本发明的另一方面，所述两个不同的八位字符中的第一个字符为5A3Chex，第二个字符为0FF0hex。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述预定存储区对应所述测试用例。
本发明获得了以下有益效果：
可对无源UHF RFID芯片的各个存储区的存储容量进行有效的测试。
附图说明
图1为本发明无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法的测试设备连接结构示意图；
图2为本发明无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
本发明提供一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，如图1、图2所示，其中，提供一RFID标签读写器2以及一射频信号分析装置1，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器2参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置1的参数，使所述射频信号分析装置1工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器2向一待测试芯片5的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；
步骤5，使所述射频信号分析装置1采集所述RFID标签读写器2与所述待测试芯片5通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述RFID标签读写器2向所述待测试芯片5发送读取命令，读取所述预定存储区；
步骤7，对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片5的预定存储区的存储容量；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置1为频谱分析仪。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器2的工作频率为920MHz～925MHz。
本发明的另一方面，所述待测试芯片5为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。
本发明的另一方面，还包括一环形器3，所述射频信号分析装置1通过馈线连接所述第环形器3的第一端口，所述RFID标签读写器2通过馈线连接所述环形器3的第二端口，所述待测试芯片5通过馈线连接所述环形器3的第三端口。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述预定数据为两个不同的八位字符。
本发明的另一方面，所述两个不同的八位字符中的第一个字符为5A3Chex，第二个字符为0FF0hex。
本发明的另一方面，所述步骤4中，所述预定存储区对应所述测试用例。
以下以具体实施例说明本发明的可行性。
步骤2中，将RFID标签读写器的工作频点为920.125MHz，启动查询命令前向链路基准时间设置为6.25μs，反向链路频率设置为320Khz，编码方式设置为FM0，带前导码。
步骤4中，在写入命令之前，先通过满足T2要求的启动查询命令和编码获取命令使待测试芯片处于开放状态。
上述T2的说明见表1。
表1
随后，通过反复发送写入命令，交叉的向预定存储区写入2个不同的8位字符，直到该预定存储区被写满，为了便于后续读取，该两个8位字符可选择具有明显特征的字符，如第一个字符可采用5A3Chex，第二个字符可采用0FF0hex。
上述的预定存储区对应测试用例，本发明的测试用例为记录信息区、编码区、安全区、用户区。
步骤7中比较读取到的数据是否与写入的数据一致，如一致则将读取到的数据的位数作为当前测试用例对应的预定存储区的存储容量进行记录。如读取的数据与写入的数据不一致，则测试失败。
如待测试芯片中信息区：大于或等于64位；编码区大于或等于256位；安全区大于或等于64位；用户区大于或等于512位，则测试通过，否则失败。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；
步骤7，对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。
4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。
5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。
6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述预定数据为两个不同的八位字符。
7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述两个不同的八位字符中的第一个字符为5A3Chex，第二个字符为0FF0hex。
8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述预定存储区对应所述测试用例。
CN201711126442.0A 2017-11-15 2017-11-15 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法 Pending CN107833593A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711126442.0A CN107833593A (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711126442.0A CN107833593A (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107833593A true CN107833593A (zh) 2018-03-23

Family

ID=61654332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711126442.0A Pending CN107833593A (zh) 2017-11-15 2017-11-15 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107833593A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110517720A (zh) * 2019-08-07 2019-11-29 南京理工大学 基于stm32的低成本高速存储测试装置
CN111273852A (zh) * 2018-12-04 2020-06-12 智微科技股份有限公司 存储器区块大小判定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102522123A (zh) * 2011-12-06 2012-06-27 苏州国芯科技有限公司 利用数据产生器模块来提高存储设备读写测试效率的方法
CN104360199A (zh) * 2014-11-21 2015-02-18 国家电网公司 一种特高频段rfid 测试系统
CN104658613A (zh) * 2014-12-30 2015-05-27 中国电子科技集团公司第四十七研究所 Eeprom耐久性试验方法及装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102522123A (zh) * 2011-12-06 2012-06-27 苏州国芯科技有限公司 利用数据产生器模块来提高存储设备读写测试效率的方法
CN104360199A (zh) * 2014-11-21 2015-02-18 国家电网公司 一种特高频段rfid 测试系统
CN104658613A (zh) * 2014-12-30 2015-05-27 中国电子科技集团公司第四十七研究所 Eeprom耐久性试验方法及装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张兵兵: ""基于自主标准的RFID设备测试研究"", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111273852A (zh) * 2018-12-04 2020-06-12 智微科技股份有限公司 存储器区块大小判定方法
CN110517720A (zh) * 2019-08-07 2019-11-29 南京理工大学 基于stm32的低成本高速存储测试装置
CN110517720B (zh) * 2019-08-07 2021-02-23 南京理工大学 基于stm32的低成本高速存储测试装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10275618B2 (en) Finding sensor data in an RFID network
CN104091184B (zh) 电子标签检测方法及系统
CN107833593A (zh) 一种无源uhf rfid芯片存储容量的测试方法
CN107748853A (zh) 无源uhf rfid标签读写器测试方法
CN107908986A (zh) 无源uhf射频标签读写器多标签识别能力测试装置
CN207164208U (zh) 一种芯片的测试系统
CN106960229A (zh) 一种智能机具管理系统及其管理方法
CN107798262A (zh) 无源uhf rfid标签读写器灵敏度测试装置及方法
CN107977588A (zh) 一种无源uhf rfid芯片协议性能的测试方法
CN108062491A (zh) 一种无源uhf rfid芯片调制深度的测试方法
CN108010557A (zh) 无源uhf rfid芯片存储擦写次数的测试方法
CN107832642A (zh) 无源uhfrfid标签灵敏度测试装置及方法
CN107991549A (zh) 无源uhf rfid标签抗干扰能力测试装置及方法
CN110135211A (zh) 一种能够快速准确盘存rfid射频标签数量的方法及装置
CN107907748A (zh) 无源uhf rfid标签反射散射强度测试方法
CN107947835A (zh) 一种有源uhf rfid标签的测试方法
CN107944310A (zh) 一种无源uhf rfid标签状态转换测试方法
CN107843832A (zh) 无源uhf rfid标签写入时间的测试方法
CN212624109U (zh) 智能任务卡和包括该智能任务卡的检测任务管理系统
CN107947870A (zh) 有源uhf rfid标签读写器最大发射功率测试方法
CN205320071U (zh) 一种基于无线射频识别技术的通信光纤设备管理系统
CN107911146A (zh) 无源uhf rfid标签协议符合性的测试装置及方法
CN203012737U (zh) 一种电力资产巡检系统
CN107832643A (zh) 一种无源uhf rfid芯片抗静电能力的测试方法
CN107992776A (zh) 一种无源uhf rfid标签指令集测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180323