CN103884850A - 样本分析装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种样本分析装置,具有:放置液体容器的容器放置部件、向所述液体容器供应液体的液体供应部件、吸移样本或试剂的吸管、移动所述吸管的移动构件、检测出所述吸管触及液面的液面检出部件、以及进行包括以下步骤在内的吸管调整作业的控制部件:通过所述液体供应部件向所述液体容器供应液体,通过所述移动构件向放置在所述容器放置部件的所述液体容器处下移所述吸管,获取所述吸管触及液面时所述吸管的高度方向的位置的相关信息。
Description
技术领域
本发明涉及一种用吸管吸移样本或试剂等液体的样本分析装置。
背景技术
人们已知有一种混合样本和试剂并分析样本成份或特性的样本分析装置。在这种样本分析装置中使用了从收纳有样本或试剂等液体的容器内吸移液体的吸管。在此,随着样本分析装置进行样本分析,会发生吸管因磨损或碰撞而变形、吸管安装位置偏移等情况。在吸管因磨损或碰撞而变形并更换了新吸管时或吸管安装位置发生偏移时,需要调整位置以使得吸管能正确地进行吸移。
日本专利申请公开(Japanese Laid-Open Patent Application)第2001-91522号公报公开了一种技术,即,更换探针时,使更换后的探针向着自动调整用突起物处下降并与突起物碰撞,以此来检测出更换后的探针的高度和调整更换后的探针的位置。
然而,日本专利申请公开(Japanese Laid-Open Patent Application)第2001-91522号公报所描述的装置通过让探针碰撞突起物来进行定位,而与突起物的碰撞有可能造成探针变形、破损。
发明内容
本发明的范围只由后附权利要求所规定,在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。
因此,本发明提供:
(1)一种样本分析装置,包括:放置液体容器的容器放置部件、向所述液体容器供应液体的液体供应部件、吸移样本或试剂的吸管、移动所述吸管的移动构件、检测出所述吸管触及液面的液面检出部件、以及进行包括以下步骤在内的吸管调整作业的控制部件:通过所述液体供应部件向所述液体容器供应液体,通过所述移动构件向着放置在所述容器放置部件的所述液体容器下降所述吸管,获取所述吸管触及液面时所述吸管的高度方向的位置的相关信息。
(2)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:进行样本分析处理时,所述控制部件根据所获取的所述吸管的高度方向的位置的相关信息通过所述移动构件移动所述吸管。
(3)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:还具有用于测定包括样本和试剂在内的测定试样的检测部件。
(4)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述液体容器为在样本分析中收纳样本或试剂的反应杯。
(5)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述液体为清洗所述吸管的清洗液。
(6)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述控制部件收到用于进行吸管调整的输入后进行所述吸管调整作业。
(7)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述控制部件在进行所述吸管调整作业时根据获取的所述吸管的高度方向的位置的相关信息进行用于设定吸管的高度方向的位置的相关设定值的吸管设定处理;在进行样本分析处理时,根据所述吸管设定处理中设定的设定值让所述移动构件移动所述吸管。
(8)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:还具有向所述容器放置部件供应液体容器的容器供应部件;所述控制部件在所述吸管调整作业中通过所述容器供应部件向所述容器放置部件供应液体容器。
(9)根据(8)所述的样本分析装置,其特征在于:在所述吸管调整作业中,所述控制部件在通过所述液体供应部件向放置在所述容器放置部件的所述液体容器供应液体之前,通过所述容器供应部件向所述容器放置部件供应液体容器。
(10)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述移动构件能够向水平方向移动所述吸管;
所述控制部件在所述吸管调整作业中通过所述移动构件向所述液体容器处下移吸管之前,先进行用于设定所述吸管的水平方向的位置的相关设定值的水平方向设定值设定处理。
(11)根据(10)所述的样本分析装置,其特征在于:还具有有能够插入所述吸管的孔的插入部件;在所述水平方向设定值设定处理中,所述控制部件在所述吸管插入所述插入部件的孔内的状态下通过所述移动构件向上下方向移动所述吸管,以此来进行所述吸管的水平方向的定位。
(12)根据(11)所述的样本分析装置,其特征在于:在所述水平方向设定值设定处理中,所述控制部件在所述吸管插入所述插入部件的孔内的状态下通过所述移动构件向上下方向移动所述吸管之前,先判断所述吸管是否插入所述插入部件的孔内。
(13)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:还具有用于运送液体容器的运送部件、以及用于废弃液体容器的废弃部件;所述控制部件在所述吸管调整作业中获取了所述吸管的高度方向的位置的相关信息后,通过所述运送部件将液体容器从所述容器放置部件运送到所述废弃部件。
(14)根据(13)所述的样本分析装置,其特征在于:所述运送部件在样本分析过程中运送收纳样本或试剂的反应杯。
(15)根据(1)所述的样本分析装置,其特征在于:所述控制部件收到吸管的更换指示后,实施通过所述移动构件将所述吸管移到用于更换吸管的吸管更换位置的更换准备处理。
(16)一种样本分析装置,其具有:能够收纳液体的液体收纳部件、向所述液体收纳部件供应液体的液体供应部件、吸移样本或试剂的吸管、移动所述吸管的移动构件、检测出所述吸管触及液面的液面检出部件、以及进行包括以下步骤在内的吸管调整作业的控制部件:通过所述液体供应部件向所述液体收纳部件供应液体,通过所述移动构件向放置在所述容器放置部件的所述液体容器处下降所述吸管,获取所述吸管触及液面时所述吸管的高度方向的位置的相关信息。
(17)一种对由样本和试剂制备的测定试样进行分析的样本分析装置,其具有:吸移所述样本或所述试剂的吸管、移动所述吸管的移动构件、以及进行包括以下步骤在内的作业的控制部件:收到用于进行吸管调整作业的输入后,将所述吸管移到用于更换所述吸管的吸管更换位置;在关闭装置电源并更换所述吸管后,再接通所述装置的电源则控制所述移动构件进行所述吸管调整作业。
(18)根据(17)所述的样本分析装置,其特征在于:还具有显示部件;在所述控制部件的控制下,在更换所述吸管后,如果所述装置接通电源,则使所述显示部件显示用于指示进行所述吸管调整作业的界面,如果收到进行所述吸管调整作业的指示,则进行所述吸管调整作业。
(19)根据(18)所述的样本分析装置,其特征在于:指示进行所述吸管调整作业的界面显示敦促用户确认表示所述吸管的更换步骤的步骤说明书的确认清单内容的消息。
(20)根据(17)所述的样本分析装置,其特征在于:在所述控制部件的控制下,在更换所述吸管后,如果接通所述装置的电源,则自动进行所述吸管调整作业。
(21)根据(17)所述的样本分析装置,其特征在于:所述移动构件能够在高度方向移动所述吸管;所述控制部件根据所设定的吸管高度方向的位置的相关设定值控制所述吸管在高度方向上的移动;在所述吸管的吸管调整作业中,根据更换后的吸管的高度方向的位置设定所述吸管的高度方向的位置的相关设定值。
(22)根据(17)所述的样本分析装置,其特征在于:所述移动构件能够在水平方向移动所述吸管;所述控制部件根据所设定的吸管的水平方向的位置的相关设定值控制所述吸管在水平方向的移动;在所述吸管的吸管调整作业中,根据更换后的吸管的水平方向的位置设定所述吸管的水平方向的位置的相关设定值。
(23)根据(17)所述的样本分析装置,其特征在于:以用户模式登录时,接受用于进行所述吸管的调整的输入。
在上述(1)所述结构中,调整吸管时,控制部件自动获取吸管的高度方向的位置的相关信息,因此在吸管的更换作业中能够减轻用户调整吸管位置的负担。此外,检测出吸管与液体容器中装有的液体的接触,由此就能够获取吸管的高度方向的位置的相关信息,能够防止更换后的吸管破损。另外,通过与吸管分开设置的液体供应部件向液体容器供应液体,因此不必用未进行位置调整的吸管向液体容器供应液体,能够切实供应液体,且不会出现因吸管接触液体容器等而造成破损。
在上述(2)所述结构中,根据所获取的吸管的高度方向的位置的相关信息就能恰当地移动吸管。
根据上述(3)所述结构就能测定包括样本和试剂在内的测定试样。
在上述(4)所述结构中,用供样本分析使用的反应杯更换吸管,因此无需准备更换吸管的专用液体容器,且能够通过用于样本分析的结构更换吸管,因此能够防止样本分析装置复杂化,能够降低成本。
在上述(5)所述结构中,不必准备吸管更换专用液体,能够防止成本增加。
通过上述(6)所述结构就能按照用于进行吸管调整的输入进行调整吸管作业。
通过上述(7)所述结构,由控制部件进行吸管设定处理,因此能够自动设定吸管的高度方向的位置的相关设定值,从而减轻了操作人员调整吸管位置的负担。
在上述(8)所述结构中,在吸管更换作业中用户不必准备液体容器,从而能够进一步减轻操作人员的负担。
通过上述(9)所述结构就能向容器供应部件供应到容器放置部件的液体容器供应液体、进行吸管调整作业。
在上述(10)所述结构中,在将更换后的吸管下降到液体容器内部之前就已完成了所述吸管的水平方向的位置的相关设定值的设定,因此能够在液体容器上方正确地在水平方向定位吸管,因此能够防止吸管下降时接触液体容器并造成吸管破损。
通过上述(11)所述结构就能够简便且准确地在水平方向定位吸管。
上述(12)所述结构能够防止在吸管未插入插入部件的孔内的状态下进行水平方向设定值设定处理,因此能够在正常状态下切实设定吸管的水平方向的位置的相关设定值。
根据上述(13)所述结构,在更换吸管时,用户不必废弃液体容器,能够进一步减轻用户的工作负担。
在上述(14)所述结构中,可以用同一运送部件运送吸管更换用液体容器和样本分析用反应杯,从而实现了结构的通用化和装置的小型化。
根据上述(15)所述结构,用户能够将位于吸管更换位置的吸管更换为新的吸管,从而使用户的更换作业更加简单。
在上述(16)所述结构中,只要向控制部件传送用于对吸管进行调整的输入,控制部件就会自动获取吸管的高度方向的位置的相关信息,因此减轻了用户在吸管更换作业中调整吸管位置的工作负担。另外,通过检测出吸管与装在液体收纳部件中的液体的接触来获取吸管的高度方向的位置的相关信息,因此能够防止更换后的吸管破损。另外,通过与吸管分开设置的液体供应部件向液体收纳部件供应液体,因此不必用尚未调整位置的吸管向液体收纳部件供应液体,能够切实供应液体,且不会因吸管接触液体收纳部件等而造成吸管破损。
在上述(17)所述结构中,只要向控制部件传输用于进行吸管调整的输入,控制部件就会自动使吸管移至吸管更换位置,因此能够简化用户更换吸管的工作。另外,先关闭装置的电源,在更换吸管后再接通装置电源的话,就会进行吸管调整作业,因此能够简化用户的吸管位置调整工作。
在上述(18)所述结构中,用户只需在显示用于指示进行吸管调整的界面时输入进行调整的指示就能进行吸管调整,用户在更换吸管时的工作得到简化。
根据上述(19)所述结构就能让用户切实确认步骤说明书,能够使用户正确进行更换作业。
根据上述(20)所述结构,只需接通装置的电源即可进行吸管调整,由此能够使用户在更换吸管时的工作变得简单方便。
通过上述(21)所述结构就能够在调整吸管时设定吸管的高度方向的设定值,能够减轻用户在更换吸管时调整吸管位置的负担。
通过上述(22)所述结构就能够在调整吸管时设定吸管的水平方向的设定值,能够减轻用户在吸管更换作业中调整吸管位置的负担。
在上述(23)所述结构中,除了维修人员外,一般用户也能对吸管进行调整。
附图说明
图1为实施方式的样本分析装置的外观结构斜视图;
图2为实施方式的样本分析装置的结构平面图;
图3为测定构件部件的控制部件的结构框图;
图4为第一样本分装臂的结构侧视图;
图5为第一样本分装臂的结构背视图;
图6为第一样本分装臂的结构平面图;
图7为实施方式的样本分析装置的钻孔器更换准备处理的步骤流程图;
图8为确认对话框的示图;
图9为移动完毕对话框的示图;
图10为实施方式的样本分析装置的钻孔器更换后调整处理的步骤流程图;
图11为调整处理确认对话框的示图;
图12为执行对话框的示图;
图13为钻孔器更换位置查找处理的步骤流程图;
图14是用于说明清洗高度的钻孔器清洗部件的剖面侧视放大图;
图15为θ方向调整处理的步骤流程图;
图16是就向着样本吸移位置定位钻孔器进行说明的钻孔器清洗部件的剖面侧视放大图;
图17为Z方向调整处理的步骤流程图;
图18是就Z调整值的计算进行说明的反应杯剖面侧视图;
图19为清洗位置下降确认处理的步骤流程图;
图20为样本分装处理的步骤流程图;
图21为样本吸移处理的步骤流程图。
具体实施方式
下面将参照附图说明本发明的优选实施方式。
〈样本分析装置的结构〉
图1为本实施方式的样本分析装置的外观结构斜视图,图2为样本分析装置的平面结构图。样本分析装置1是一种血液凝固分析装置,它用光照射在充当样本的血浆中添加试剂而制得的测定试样,用凝固法、合成基质法、免疫比浊法和凝集法进行样本光学测定和分析。
该样本分析装置1如图1所示,具有用于光学测定样本中所含有的成分的测定构件部件2、以及由与测定构件部件2电路连接的电脑构成的控制装置3。控制装置3由计算机构成,该计算机主要由控制部件3a、显示部件3b、以及包括键盘和鼠标在内的输入部件3c构成。控制装置3能够根据操作输入向测定构件部件2发送样本分析作业的开始、结束指示,并从测定构件部件2接受如驱动停止报告和错误报告等各种报告及分析结果等。此外,控制装置3还能够在显示部件3b显示所接收的错误报告及根据测定构件部件2的检测值获得的分析结果等。
如图2所示,测定构件部件2具有样本运送部件(取样器)4、第一样本分装臂5、第二样本分装臂6、反应杯(反应容器)放置部件7、以及试剂放置部件8、试剂分装臂9、10及11、反应部件13、检测部件14、反应杯供应部件15、捉取单元16、17及18。测定构件部件2连接着用于存放RO水的RO水槽210。
样本运送部件4具有架存放部件41、架运送部件42和架回收部件43。架存放部件41能够存放放置有已经收纳了样本的复数个样本容器100的架110(参照图1),并能够将架110送到架运送部件42。架运送部件42经过架存放部件41和架回收部件43在X方向延伸。架运送部件42能够通过驱动无图示的运送构件将架110上放置的分析对象样本容器100运至第一样本分装臂5的样本吸移位置300和第二样本分装臂6的样本吸移位置400。架回收部件43用于从架运送部件42回收安放有分装已完成的样本容器100的架110。
架运送部件42中设有钻孔器清洗部件48。如图4所示,钻孔器清洗部件48设在架运送部件42的样本吸移位置300的上方。如图4至图6所示,钻孔器清洗部件48具有上下(Z方向)贯通的吸管通道48a,第一样本分装臂5的后述钻孔器5b从样本容器100吸移样本时便会从此吸管通道48a穿过。钻孔器清洗部件48连接着RO水槽210,能够在钻孔器5b从吸管通道48a穿过时通过在内部吸移和排出清洗液,以此来清洗钻孔器5b。钻孔器清洗部件48能够上下移动。钻孔器清洗部件48在控制部件3a驱动的无图示的电机的作用下升降。钻孔器清洗部件48能够如此上下移动,并因此能够向下方按压样本容器100的盖101。
测定构件部件2的反应杯放置部件7的前方设有用于清洗钻孔器5b的钻孔器清洗部件49。此钻孔器清洗部件49中设有上下(Z方向)贯通的吸管通道49a,第一样本分装臂5的钻孔器5b下降后就能插入吸管通道49a。钻孔器清洗部件49连接着RO水槽210,在钻孔器5b插入吸管通道49a的状态下排出并吸移作为清洗液的RO水,以此就能清洗钻孔器5b。
在本实施方式中,第一样本分装臂5具有臂部件5a、充当吸管的钻孔器5b、以及主体部件5c,该第一样本分装臂5能够吸移样本运送部件4运到样本吸移位置300的样本容器100内的样本,能够向放置在反应杯放置部件7的反应杯150内排出一定量样本。第一样本分装臂5的详细结构待后详述。
第二样本分装臂6具有臂部件6a、充当吸管的移液管6b和主体部件6c,该第二样本分装臂6能够吸移样本运送部件4运到样本吸移位置400的样本容器100内的样本,并能够向放置在反应杯放置部件7的反应杯150内排出一定量样本。移液管6b与钻孔器5b不同,它是一个下端边缘呈水平的、并不尖锐的管。移液管6b与上述RO水槽210连接,能够向移液管6b供应作为清洗液使用的RO水。
试剂放置部件8用于放置装有测定用的各种试剂和稀释液等的试剂容器。
试剂分装臂9、10、11分别能够吸移放置在试剂放置部件8的无图示试剂容器内的试剂并向放置在反应杯放置部件7的反应杯150分装一定试剂。试剂分装臂9、10、11分别具有臂部件9a、10a和11a、充当吸管的移液管9b、10b和11b、以及主体部件9c、10c和11c。试剂分装臂9、10、11分别通过主体部件9c、10c和11c旋转臂部件9a、10a和11a,使移液管9b、10b和11b位于试剂容器上方和反应杯150上方,通过主体部件9c、10c和11c升降臂部件9a、10a和11a并由此对移液管9b(10b、11b)进行试剂吸移和排出作业。
反应部件13围绕在捉取单元17周围呈圆环形,且能够安放复数个反应杯150。反应部件13具有加热所放置的反应杯150的功能。即,在反应部件13中对反应杯150中的样本与试剂的混合试样进行加热,促进反应杯150中的样本与各种试剂的反应。
检测部件14能够对样本与各种试剂在反应部件13发生反应后的测定试样进行光学测定,并以此检测出反映测定试样所含有的成分的光学信息。
反应杯供应部件15能够容纳复数个反应杯150,能够依次向反应杯存放部件15a供应反应杯150。在此,反应杯供应部件15所收纳的复数个反应杯150形状彼此相同。反应杯150有底且大致呈圆筒状。反应杯150上端部位设有凸缘(flange),这样后述捉取单元16、17、18运送反应杯150时就能进行夹持。
捉取单元16、17、18分别能够夹持、运送反应杯150。捉取单元17能够从反应杯存放部件15a取出反应杯150并将其放置在反应杯放置部件7,还能将反应杯从反应杯放置部件7运送到反应部件13。捉取单元18能够从反应部件13向检测部件14运送反应杯150。捉取单元17和捉取单元18分别能够将使用完的反应杯150废弃至废弃口19a和废弃口19b。
图3为测定构件部件的控制部件的结构框图。如图3所示,测定构件部件2具有主控制部件20和副控制部件,该副控制部件对下述部分的作业进行控制:第一样本分装臂5等各种分装臂、反应部件13、试剂放置部件8、捉取单元16~18等各个构件。在此,图3中仅图示了第一样本分装臂5的副控制部件80。各种分装臂、反应部件13、反应杯放置部件7、试剂放置部件8和捉取单元16~18等各个构件根据主控制部件20发出的驱动指令受各个副控制部件控制。样本运送部件4也受主控制部件20控制。
主控制部件20如图3所示,其具有CPU21和存储器22。如图1所示,主控制部件20连接着控制装置3,并向控制装置3发送样本光学信息作为测定数据,此外还接受控制装置3的控制部件3a发出的信号。主控制部件20能够通过CPU21向样本运送部件4和测定构件部件2的各个部分发送驱动命令,并接受各个部件的驱动停止报告和错误报告。所收到的驱动停止报告和错误报告从主控制部件20传送至控制装置3。
下面就本实施方式的第一样本分装臂5的结构进行详细说明。同时一并说明第一样本分装臂5的副控制部件80。在本实施方式中,仅就第一样本分装臂5的副控制部件80进行说明,对其他副控制部件的说明在此省略。
图4为第一样本分装臂的结构侧视图,图5为其背视图,图6为其平面图。第一样本分装臂5如图2所示,通过主体部件5c旋转驱动臂部件5a,由此将钻孔器5b配置到样本吸移位置300上方,此后,如图4所示,通过主体部件5c降低臂部件5a,由此将钻孔器5b插入放置在样本吸移位置300的样本容器100内,并吸移样本。第一样本分装臂5使臂部件5a上升,并从样本容器100拔出钻孔器5b,旋转臂部件5a,使钻孔器5b位于放置在反应杯放置部件7的反应杯150上方的分装位置,并排出一定量样本。
如图4至图6所示,臂部件5a具有轴部件51、支撑部分52和导向部件53。在臂部件5a中,在主体部件5c的θ驱动电机72a和Z驱动电机73a作用下,包括轴部件51、支撑部分52和导向部件53在内的整体旋转、升降。轴部件51的上端固定有支撑部分52,轴部件51被主体部件5c支撑且能够绕主体部件5c旋转和升降。
如图5所示,支撑部分52是一个框架,其由向水平方向延伸的金属板构成且截面大致呈U字形,支撑部分52在箭头A2方向一侧的根基部分安装在轴部件51的上端。在箭头A1方向一侧的支撑部分52的顶端安装有钻孔器5b,此钻孔器5b向下延伸,并能够相对于支撑部分52向上方相对移动。另如图6所示,支撑部分52上设有具有第一样本分装臂5的副控制部件80的控制基板54。此控制基板54中设有包括发光部件和受光部件在内的光学式碰撞传感器55。碰撞传感器55如后所述地检测出与钻孔器5b一起移动的被检出部分65的检出片65a,由此,检测出钻孔器5b相对于支撑部分52上升。又如图3所示,控制基板54上设有将钻孔器5b作为电极使用的电容式液面传感器56,该电容式液面传感器56能够检测出钻孔器5b的前端触及液面。
如图4所示,导向部件53配置于支撑部分52下方,且与支撑部分52平行。导向部件53的根基部分固定地安装在轴部件51上。导向部件53的前端设置有钻孔器向导53a,该钻孔器向导53a具有朝向图中的Z方向——也就是上下方向的贯通孔,钻孔器5b以插入状态安装在导向部件53的前端。以此,钻孔器5b被向箭头Z2方向—也就是下方引导。
钻孔器5b为金属材料制成的管部分,在支撑部分52上朝下安装该钻孔器5b。钻孔器5b的下端呈尖锐状,能够刺穿样本容器100的盖101。钻孔器5b被设置在支撑部分52前端的安放部分61安放且呈下垂姿态。如图4所示,此钻孔器5b通过管连接着注射器单元74。以此就能从钻孔器5b前端吸移和排出样本。
支撑部分52上安装有被检出部分65。如图6所示,被检出部分65与设有碰撞传感器55的控制基板54相对配置。此被检出部分65上有与之一体化设置的、向相对的碰撞传感器55一侧延伸的检出片65a。当钻孔器5b与障碍物碰撞时,检出片65a向上移动,遮住碰撞传感器55的光线,据此检测出钻孔器5b发生碰撞。
如图4和图5所示,轴部件51的侧面设置有突出出来的板状的被检出部分57a。如图2所示,测定构件部件2在第一样本分装臂5的主体部件5c附近处有原点传感器57。如图2所示,原点传感器57是具有发光部件和受光部件的光学传感器。臂部件5a旋转并到达一定的原点位置500后,被检出部分57a挡住原点传感器57的光线。据此检测出钻孔器5b到达原点位置500。被检出部分57a为宽大的板状。因此,在臂部件5a的某种程度的旋转范围内,原点传感器57的光线会被被检出部分57a挡住,此旋转范围包括原点位置500和样本吸移位置300。因此,钻孔器5b位于样本吸移位置300时原点传感器57的光线也会被遮挡。即,如果原点传感器57的光线未被遮挡,则能够检测出钻孔器5b不在原点位置500和样本吸移位置300。
如图4和图5所示,主体部件5c具有:支撑轴部件51且能够允许其旋转、升降的底盘部件71、旋转轴部件51的旋转构件部件72、升降轴部件51的升降构件部件73、以及从钻孔器5b吸移和排出样本的注射器单元74。底盘部件71支撑着轴部件51且使轴部件51能够旋转和上下移动。
旋转构件部件72具有由步进式电机构成的θ驱动电机72a、用于检测θ驱动电机72a的旋转位置的θ编码器72b。如图5和图6所示,轴部件51和θ驱动电机72a的输出轴上分别安装有滑轮72c和72d,通过θ驱动电机72a使臂部件5a围绕轴部件51旋转。
如图4所示,升降构件部件73具有由步进式电机构成的Z驱动电机73a、以及用于检测Z驱动电机73a的旋转位置的Z编码器73b。Z驱动电机73a的输出轴上安装有由复数个滑轮和传动带构成的传动构件73c,在Z驱动电机73a的作用下上下升降臂部件5a。
注射器单元74具有注射器74a和活塞74b、以及推拉活塞74b的注射器电机74c。注射器74a连接着无图示的管,且穿过轴部件51内部与钻孔器5b连通。在注射器单元74中,注射器电机74c和活塞74b连接着由复数个滑轮和传动带构成的传动构件74d。以此,在注射器电机74c的驱动下,相对于注射器74a推拉活塞74b,这样就能够从钻孔器5b吸移和排出样本。注射器单元74连接着RO水槽210,且能够向钻孔器5b供应作为清洗液使用的RO水。
如图3所示,第一样本分装臂5的副控制部件80具有通信电路81、Z电机控制电路82、θ电机控制电路84、注射器单元控制电路85和编码器输入输出电路86。
通信电路81与主控制部件20进行通信,从主控制部件20的CPU21接收分析作业所伴随的第一样本分装臂5的Z方向的驱动命令、旋转(θ)方向的驱动命令、以及注射器单元74的驱动命令,并向主控制部件20发送第一样本分装臂5的驱动停止报告及错误报告。通信电路81分别向Z电机控制电路82、θ电机控制电路84、以及注射器单元控制电路85输出所收到的驱动命令。
Z电机控制电路82能够向Z驱动电机73a输出与Z方向的驱动命令相应的脉冲信号,并能够对Z驱动电机73a的臂部件5a的上下方向的升降作业进行控制。此外,Z电机控制电路82还分别从用于检测出臂部件5a的Z方向的上限位置—也就是原点位置的原点传感器87、以及碰撞传感器55和液面传感器56接收限位信号(limit signal,下同)作为检出信号。在Z驱动电机73a驱动过程中输入此限位信号,则Z电机控制电路82停止向Z驱动电机73a输出脉冲信号。因此,Z驱动电机73a停止驱动。
副控制部件80由FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)构成。Z电机控制电路82是由FPGA构成的硬件电路,限位信号被锁存(latch)后脉冲信号的输出立刻停止。因此,Z驱动电机73a不用等待主控制部件20的判断就停止驱动,只向主控制部件20发送用于报告Z驱动电机73a已停止驱动的驱动停止报告。
θ电机控制电路84能够向θ驱动电机72a输出与旋转(θ)方向的驱动命令相应的脉冲信号,且能够对θ驱动电机72a的臂部件5a的旋转作业进行控制。θ电机控制电路84从用于检测出臂部件5a的θ方向的原点位置500的原点传感器57接收限位信号。在θ驱动电机72a驱动过程中输入此限位信号,则θ电机控制电路84停止向θ驱动电机72a输出脉冲信号。因此,θ驱动电机72a停止驱动。
注射器单元控制电路85根据注射器单元74的吸移或排出作业的驱动命令控制注射器电机74c的驱动作业。
编码器输入输出电路86接收Z编码器73b输出的Z驱动电机73a的旋转位置信息的相关输出信号、以及θ编码器72b输出的θ驱动电机72a的旋转位置信息的相关输出信号,并通过通信电路81向主控制部件20输出上述信号。以此就能确认臂部件5a按照主控制部件20的驱动指令向上下方向及旋转方向移动,能够将钻孔器5b准确地置于样本吸移位置300上方。
〈样本分析装置的作业〉
下面就本实施方式中样本分析装置1的作业进行说明。在更换钻孔器5b时,本实施方式的样本分析装置1的主控制部件20进行如下所述的钻孔器更换准备处理和钻孔器更换后调整处理。图7为本实施方式的样本分析装置1的钻孔器更换准备处理的步骤流程图。钻孔器更换准备处理是旨在使测定构件部件2转入用户能进行钻孔器更换作业的状态的处理。
更换钻孔器5b时,用户操作控制装置3的输入部件3c,向样本分析装置1下达钻孔器的更换指示。控制部件3a的CPU收到钻孔器更换指示后(S101)在显示部件3b显示确认对话框(S102)。
图8为确认对话框的示图。确认对话框D1包括用于通知用户将钻孔器移到更换位置这一事项、以及钻孔器移到更换位置后需断开样本分析装置1电源这一事项的消息信息。此确认对话框D1中设有能够通过输入部件3c进行选择的执行按钮B11和取消按钮B12。
控制部件3a的CPU判断用户是否下达了执行指示(S103)。如果未从用户收到执行指示(S103为否),则控制部件3a的CPU判断是否收到了钻孔器更换准备处理的取消指示(S104)。若未收到取消指示,则控制部件3a的CPU将处理返回步骤S103。若用户选择了取消按钮B12,向控制部件3a下达了取消指示,则CPU关闭确认对话框D1(S105),结束处理。
用户选择执行按钮B11,执行指示传达到控制部件3a(S103为是)后,控制部件3a的CPU关闭确认对话框D1(S106),并向测定构件部件2的主控制部件20发送用于将钻孔器移到更换位置的指示数据。据此,主控制部件20的CPU21控制第一样本分装臂5向更换位置移动钻孔器5b(S107)。
钻孔器5b的更换位置是指钻孔器5b的顶端插入钻孔器清洗部件48的吸管通道48a的位置。钻孔器5b移到更换位置后,用于通知这一情况的数据由主控制部件20发送至控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b显示移动完毕对话框(S108),结束处理。
图9为移动完毕对话框的示图。移动完毕对话框D2中包括指示用户关闭样本分析装置1的电源并在此后更换钻孔器5b的消息。用户确认此移动完毕对话框D2后,关闭样本分析装置1的电源。
样本分析装置1的电源关闭后,用户从第一样本分装臂5取下使用完毕的钻孔器5b,通过使用一定更换工具等方式安装上新的钻孔器5b。此时,用户使新钻孔器5b的顶端插入钻孔器清洗部件48的吸管通道48a。要正常分析样本就必须保证更换后的钻孔器5b与更换前同样地正确移到样本吸移位置300、反应杯放置部件7上的一定位置—即样本分装位置、以及钻孔器清洗部件49的清洗位置等。为此,需要在更换后将原点位置500到上述各位置的距离——具体而言也就是θ驱动电机的脉冲数作为全新的设定值进行设定。如上所述,用户使新钻孔器5b位于更换位置,并将其安装到第一样本分装臂5,由此就能在更换后通过简单的处理设定上述调整值。
新钻孔器5b安装完毕后,用户接通样本分析装置1的电源。样本分析装置1启动后就自动进行钻孔器更换后调整处理。图10为钻孔器更换后调整处理的步骤流程图。首先,控制部件3a的CPU在显示部件3b显示调整处理确认对话框(S201)。图11为调整处理确认对话框的示图。调整处理确认对话框D3包括一种消息,该消息用于指示用户确认预先分配给用户的钻孔器更换步骤说明书的确认清单的所有内容,还用于指示用户在确认确认清单后关闭测定构件部件2的无图示的盖并按下执行按钮。在“已确认钻孔器更换步骤说明书的确认清单内容?”这一消息的旁边设有能够通过操作输入部件3c进行选择的复选框C3。调整处理确认对话框D3设有能够通过操作输入部件3c进行选择的执行按钮B3。此执行按钮B3在复选框C3中未显示选择标记的状态下不可操作,选择复选框C3,在显示有选择标记的状态下则是可操作状态。
用户确认钻孔器更换步骤说明书后,通过操作输入部件3c点击复选框C3,选择执行按钮B3。控制部件3a的CPU在收到用户的实施指示前待机(S202为否),在如上所述地收到用户的执行指示(S202为是)后,关闭调整处理确认对话框D3(S203),在显示部件3b显示执行对话框(S204)。
图12为执行对话框的示图。执行对话框D4中包括“正在实施钻孔器更换后调整处理。”这一消息。控制部件3a的CPU在显示执行对话框D4的同时,指示控制部件20实施位置信息调整处理,此处位置信息调整处理是指钻孔器5b的θ方向调整处理及Z方向调整处理。在本实施例中,用户在图11的调整处理确认对话框中按下执行按钮,以此下达位置信息调整处理的执行指示,但在位置信息调整处理中用于执行调整的输入不限于此。比如,也可以在新钻孔器5b安装完毕后且用户接通电源时自动发出执行指示,还可以用传感器检测出更换了新的钻孔器5b,并在收到该检测结果后自动发出执行指示。
控制部件20的CPU21从控制部件3a收到上述指示数据后,首先判断钻孔器5b是否在调整区域内(S205)。在此处理中,CPU21从θ电机控制电路84获取原点传感器57的状态信息,并据此判断原点传感器57的光线是否被遮挡。当原点传感器57的光线被遮挡时,CPU21判断钻孔器5b位于包括充当更换位置的样本吸移位置300在内的调整区域内,当原点传感器57的光线未被遮挡时,判断钻孔器5b处于大大偏离样本吸移位置300的位置,即不在调整区域内。当判断钻孔器5b不在调整区域内时(S205为否),CPU21执行钻孔器更换位置查找处理(S206)。
图13为钻孔器更换位置查找处理的步骤流程图。如上所述,要将钻孔器5b准确移至样本吸移位置300等、在反应杯放置部件7上的一定位置的样本分装位置、以及钻孔器清洗部件49的清洗位置等,就要调整从原点位置到各个位置的θ驱动电机72a的脉冲数。主控制部件20的存储器22中存储有表示这些脉冲数的θ调整值。在钻孔器更换位置查找处理中,首先,CPU21用当下的θ调整值将钻孔器5b移到样本吸移位置300上方(S301)。即,从原点位置驱动θ驱动电机72a的量等于当下的θ调整值,使臂部件5a旋转至钻孔器5b位于样本吸移位置300上方。
然而,在步骤S301使用的θ调整值是用于更换前的钻孔器5b的数据,更换钻孔器5b后使用此θ调整值不一定能将钻孔器5b准确移到样本吸移位置300上方。因此,在钻孔器更换位置查找处理中,CPU21如下判断钻孔器5b是否位于样本吸移位置300上方,当钻孔器5b并非位于样本吸移位置300上方时,修正其位置,使钻孔器5b位于样本吸移位置300上方。
首先,CPU21驱动Z驱动电机73a,开始使钻孔器5b下降(S302)。此时,由CPU21发出从上限位置下降一定距离的驱动命令,以便使钻孔器5b顶端进入钻孔器清洗部件48的吸管通道48a。此时,如果钻孔器5b与样本吸移位置300的相对位置不正确,则钻孔器5b无法进入清洗部件48的吸管通道48a,此时会碰撞到通道的边缘,钻孔器5b停止下降。
Z电机控制电路82判断是否已将钻孔器5b从上限位置下降到位于一定距离下方的第一清洗高度(S303)。当钻孔器5b下降到第一清洗高度时(S303为是),Z电机控制电路82停止臂部件5a的下降(S304),由副控制部件80向主控制部件20发送驱动停止报告。然后,CPU21使处理返回。
图14为用于说明第一清洗高度的钻孔器清洗部件48的剖面侧视放大图。如图所示,吸管通道48a中途的高度为第一清洗高度。钻孔器5b按照驱动命令下降一定距离后,钻孔器5b的下端便到达第一清洗高度。
另外,如果钻孔器5b的顶端在到达第一清洗高度之前与物体接触,则碰撞传感器55向Z电机控制电路82输出限位信号。在钻孔器5b未到达第一清洗高度时(S303为否),Z电机控制电路82根据碰撞传感器55发出的限位信号判断是否检测到钻孔器5b的碰撞(S305)。如果收到碰撞传感器55发出的限位信号,则Z电机控制电路82判断检测到钻孔器5b的碰撞(S305为是),停止Z驱动电机73a(S306)。此时,从副控制部件80向主控制部件20发出错误报告。另一方面,如果在步骤S305未检测到钻孔器5b的碰撞,则Z电机控制电路82使处理返回步骤S303,继续使钻孔器5b下降。
当检测到钻孔器5b的碰撞并停止钻孔器5b的下降时,CPU21向副控制部件80输出驱动命令,以此驱动Z驱动电机73a,使钻孔器5b上升到一定位置(S307)。然后,CPU21判断对钻孔器更换位置的查找是否已经进行了一定次数,即,判断钻孔器5b是否下降了一定次数(S308)。当查找次数不到一定次数时(S308为否),CPU21输出驱动命令,向一定方向对θ驱动电机72a进行一定脉冲数的驱动,使臂部件5a向一定方向旋转一定距离(S309)。以此,钻孔器5b水平移动一定距离。
步骤S309之后,CPU21使处理返回步骤S302。以此,钻孔器5b从水平移动后的位置下降。如此对钻孔器更换位置进行查找。如果钻孔器5b碰撞到钻孔器清洗部件48的吸管通道48a的周边部分,则再次提升钻孔器5b,并使钻孔器5b水平移动一定距离后再次下降。当这种查找次数达到一定次数时(S308为是),CPU21输出错误信息(S310),此错误信息传送到控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b显示表示钻孔器更换后的θ调整值或Z调整值设定失败的错误信息。输出错误信息后,CPU21使处理返回。
当上述钻孔器更换位置查找处理结束后,CPU21判断在钻孔器更换位置查找处理中是否发生了查找次数达到一定次数的错误(S207)。如果发生了这种错误(S207为是),则CPU21结束处理。
如果在钻孔器更换位置查找处理中未发生错误(S207为否)、或者在步骤S205中钻孔器5b位于调整区域内(S205为是),则CPU21进行θ方向调整处理(S208)。
图15为θ方向调整处理的步骤流程图。首先,CPU21输出驱动命令,在不使θ驱动电机72a励磁的情况下驱动Z驱动电机,使臂部件5a上下往返移动复数次(S401)。然后,CPU21输出驱动命令,在不使θ驱动电机72a励磁的情况下驱动无图示的电机,由此使钻孔器清洗部件48向上下方向移动一定距离(S402)。步骤S401和S402的处理是为了将钻孔器5b准确定位于能够插入钻孔器清洗部件48的吸管通道48a的位置,即样本吸移位置300。图16是关于将钻孔器5b定位于样本吸移位置300这一内容进行说明的钻孔器清洗部件48的剖面侧视放大图。在此说明钻孔器5b如图16上侧所示地位于偏向吸管通道48a的一侧的位置时的情况。由于θ驱动电机72a未励磁,因此,水平方向的力作用于臂部件5a时,臂部件5a能够轻易地旋转。在此状态下,钻孔器5b与钻孔器清洗部件48相对地上下往返移动,则如图16下侧图所示,由于钻孔器5b的倾斜或弯曲等,钻孔器5b的侧面会接触吸管通道48a的侧壁,使钻孔器5b向水平方向移动以便与吸管通道48a的侧壁分离,钻孔器5b移向吸管通道48a的中心。如此,钻孔器5b准确地定位于样本吸移位置300。
然后,CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,使钻孔器5b上升到上限位置—即原点高度(S403)。然后,CPU21输出驱动命令,开始降低钻孔器5b,将钻孔器5b从上限位置下降到第一清洗高度(S404)。此时,Z驱动电机73a被励磁。以此确认是否能够准确地将钻孔器5b插入吸管通道48a。此时,如果钻孔器5b相对于样本吸移位置300的位置不正确,则钻孔器5b会碰撞通道周边边缘,无法进入清洗部件48的吸管通道48a。
Z电机控制电路82判断是否已经将钻孔器5b降至第一清洗高度(S405)。如果钻孔器5b的顶端在降至第一清洗高度之前接触物体,碰撞传感器55会向Z电机控制电路82输出限位信号。当钻孔器5b未到达第一清洗高度时(S405为否),Z电机控制电路82会根据碰撞传感器55的限位信号判断是否检测到钻孔器5b的碰撞(S406)。Z电机控制电路82收到碰撞传感器55的限位信号后,判断检测到钻孔器5b的碰撞(S406为是),使Z驱动电机73a停止作业(S407)。此时,错误报告从副控制部件80输出到主控制部件20,收到此错误报告的CPU21输出错误信息(S408)。该错误信息发送至控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b上显示表示钻孔器更换后的θ调整值或Z调整值设定失败的错误信息。输出错误信息后,CPU21使处理返回。
另一方面,如果在步骤S406未检测到钻孔器5b的碰撞,则Z电机控制电路82将处理返回到步骤S405,继续下降钻孔器5b。
在步骤S405,当钻孔器5b下降到第一清洗高度时(S405为是),Z电机控制电路82停止臂部件5a的下降(S409),由副控制部件80向主控制部件20发送驱动停止报告。此时,钻孔器5b准确地位于样本吸移位置300。收到驱动停止报告后的CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,使钻孔器5b上升到作为上限位置f的原点高度(S410),再驱动θ驱动电机72a,开始旋转臂部件5a(S411),使钻孔器5b向原点位置500水平移动。原点传感器57的光线被遮挡后,限位信号输出到θ电机控制电路84。此限位信号输入至θ电机控制电路84,以此使臂部件5a停止旋转,副控制部件80向主控制部件20输出驱动停止报告。CPU21在收到驱动停止信号前一直待机(S412为否),收到驱动停止信号后则判断为钻孔器5b已到达原点位置500(S412为是)。
接着,CPU21从副控制部件80获取直至臂部件5a到达原点位置500前的θ编码器72b的输出脉冲数,将此脉冲数设定为样本吸移位置300的新的θ调整值(S413)。CPU21还计算出新的θ调整值与上次的θ调整值的差,在从原点位置500到样本分装位置的θ调整值、从原点位置500到钻孔器清洗部件49的清洗位置的θ调整值、以及从原点位置500到试剂吸移位置的θ调整值上分别加上上述差,以此进行修正(S414)。其后,CPU21使处理返回。
上述θ方向调整处理结束后,CPU21判断在θ方向调整处理中是否发生过检测出钻孔器5b的碰撞这一错误(S209)。如果发生过错误(S209为是),则CPU21结束处理。若在θ方向调整处理中未发生过错误(S209为否),则CPU21进行Z方向调整处理(S210)。
图17为Z方向调整处理的步骤流程图。首先,CPU21输出驱动命令,驱动反应杯放置部件7、反应杯供应部件15和捉取单元17,向反应杯放置部件7的一定位置供应一个反应杯150(参照图2)(S501)。然后,旋转供应了反应杯150的反应杯放置部件7,并驱动第二样本分装臂6,向所述反应杯分装150μL清洗液(RO水)(S502)。
然后,CPU21输出驱动命令,驱动θ驱动电机72a,使臂部件5a旋转,将钻孔器5b水平移动到反应杯150的上方位置——即样本分装位置(S503)。CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,开始降低钻孔器5b(S504)。当钻孔器5b的顶端接触反应杯150内的清洗液液面时,液面传感器56检测出这一情况,并输出限位信号。如果钻孔器5b的顶端接触反应杯150的上端边缘等物体,则碰撞传感器55会输出限位信号。
Z电机控制电路82判断液面传感器56是否检测到液面(S505)。若未检测到液面(S505为否),则Z电机控制电路82判断碰撞传感器55是否检测到钻孔器5b的碰撞(S506)。Z电机控制电路82收到碰撞传感器55的限位信号后,判断检测到钻孔器5b的碰撞(S506为是),停止Z驱动电机73a的作业(S507)。此时,副控制部件80向主控制部件20输出错误报告,收到此错误报告的CPU21输出错误信息(S508)。该错误信息发送至控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b显示表示钻孔器更换后的θ调整值或Z调整值设定失败的错误信息。输出错误信息后,CPU21输出驱动命令,驱动反应杯放置部件7和捉取单元17,将放置在反应杯放置部件7的反应杯150移送到废弃口19a(S512),废弃反应杯150后使处理返回。
另一方面,如果在步骤S506未检测到钻孔器5b的碰撞,则Z电机控制电路82将处理返回到步骤S505,继续下降钻孔器5b。
在步骤S505,当检测到液面时(S505为是),Z电机控制电路82停止臂部件5a的下降(S509),由副控制部件80向主控制部件20发送驱动停止报告。收到驱动停止报告的CPU21从副控制部件80获取直至钻孔器5b接触液面为止的Z编码器73b的输出脉冲数,根据此脉冲数计算出表示向反应杯150注入50μL液体后的液面高度的Z调整值(S510)。图18是就Z调整值的计算进行说明的反应杯150的剖面侧视图。在反应杯150中,50μL是死体积(dead volume),如果反应杯150装有50μL以下的液体的话,不能保证钻孔器5b或移液管6b能吸移一定量液体。即,钻孔器5b或移液管6b进行吸移及分装作业时不会下降至反应杯150的50μL液面高度以下,50μL液面高度是下降的下限高度。主控制部件20将此下限高度设定为Z调整值。反应杯150的形状是已知的,因此,根据反应杯150装有150μL液体时的液面高度就能计算出反应杯150装有50μL液体时的液面高度。CPU21利用如上获得的Z编码器73b的输出脉冲数,计算出钻孔器5b从原点高度下降到接触装有50μL液体的反应杯150的液面时的脉冲数,并将其作为Z调整值。
此外,也可以采用下述结构:将反映反应杯150装有150μL液体时的液面高度与反应杯150装有50μL液体时的液面高度之间的关系的查询表预先存入存储器22等的内部,参照此查询表,根据反应杯150装有150μL液体时的液面高度导出反应杯150装有50μL液体时的液面高度。
CPU21设定如上算出的新的Z调整值(S511)。此后,CPU21输出驱动命令,驱动反应杯放置部件7和捉取单元17,将放置在反应杯放置部件7的反应杯150移送到废弃口19a(S512),废弃反应杯150后使处理返回。
上述Z方向调整处理结束后,CPU21判断在Z方向调整处理中是否发生过检测出钻孔器5b的碰撞这一错误(S211)。如果发生过错误(S211为是),则CPU21结束处理。若在Z方向调整处理中未发生过错误(S211为否),则CPU21进行清洗位置下降确认处理(S212)。
图19为清洗位置下降确认处理的步骤流程图。首先,CPU21输出驱动命令,驱动θ驱动电机72a,旋转臂部件5a,使钻孔器5b水平移动到钻孔器清洗部件49上方的清洗位置(S601)。CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,开始降低钻孔器5b(S602),使钻孔器5b下降至钻孔器5b的前端插入钻孔器清洗部件49的吸管通道49a内的高度——即第二清洗高度。据此确认是否能够将钻孔器5b准确插入吸管通道49a。此时,若钻孔器5b相对于清洗位置来说的位置是不正确的,则钻孔器5b无法进入钻孔器清洗部件49的吸管通道49a,而是会触碰通道周围边缘。
Z电机控制电路82判断是否已将钻孔器5b下降到第二清洗高度(S603)。若钻孔器5b已下降到第二清洗高度(S603为是),则Z电机控制电路82停止下降臂部件5a(S604),由副控制部件80向主控制部件20发送驱动停止报告。然后,CPU21使处理返回。
如果钻孔器5b的前端在到达第二清洗高度之前接触物体,则碰撞传感器55向Z电机控制电路82输出限位信号。在钻孔器5b未到达第二清洗高度时(S603为否),Z电机控制电路82根据碰撞传感器55输出的限位信号判断是否检测到钻孔器5b的碰撞(S605)。如果未检测出钻孔器5b的碰撞(S605为否),Z电机控制电路82使处理返回步骤S603,继续下降钻孔器5b。另一方面,如果在步骤S605检测到钻孔器5b的碰撞时(S605为是),Z电机控制电路82停止Z驱动电机73a的作业(步骤S606)。此时,由副控制部件80向主控制部件20输出错误报告。收到错误报告的CPU21输出错误信息(S607),此错误信息传送至控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b上显示表示钻孔器更换后的θ调整值或Z调整值设定失败的错误信息。输出错误信息后,CPU21使处理返回。
上述清洗位置下降确认处理结束后,CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,使钻孔器5b上升到原点高度(上限位置),再输出驱动命令,驱动θ驱动电机72a,将钻孔器5b水平移动到原点位置500(S213),结束处理。
在上述钻孔器更换后调整处理中设定的θ调整值和Z调整值用于样本分装处理中。图20为样本分装处理的步骤流程图。首先,CPU21输出用于指定样本吸移位置300的θ调整值的驱动命令,驱动θ驱动电机72a,旋转臂部件5a,将钻孔器5b水平移动到样本吸移位置300(S701)。然后,CPU21进行样本吸移处理(S702)。
图21为样本吸移处理的步骤流程图。首先,CPU21输出驱动命令,驱动无图示的电机,使钻孔器清洗部件48下降一定量(S801)。以此,样本容器100的盖101被朝下方按压。
然后,CPU21输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,开始下移钻孔器5b(S802)。钻孔器5b通过钻孔器清洗部件48的吸管通道48a,然后进一步下降,穿透样本容器100的盖101。钻孔器5b的顶端接触到样本容器100内的样本液面后,液面传感器56便检测出这一情况,并输出限位信号。Z电机控制电路82判断液面传感器56是否检测到液面(S803)。若尚未检测出液面(S803为否),则Z电机控制电路82再次使处理返回步骤S803,继续下移钻孔器5b直至检测出液面。检测出液面后(S803为是),Z电机控制电路82停止下移臂部件5a(S804)。
如上检测出液面并停止下移钻孔器5b后,CPU21输出驱动命令,该驱动命令指示在不超过通过Z调整值定下的下限位置的范围内使钻孔器5b的下降量等于根据样本的吸移量所定下的下降量,然后开始下移钻孔器5b(S805)。上述样本的吸移量根据样本的测定指令中指定的测定项目而定。
Z电机控制电路82判断钻孔器5b的下降量是否到达了驱动命令所指定的脉冲数——即指定的下降量(S806)。当钻孔器5b下降了所指定的下降量时(S806为是),Z电机控制电路82停止臂部件5a的下降(S807),从副控制部件80向主控制部件20发送驱动停止报告。收到驱动停止报告的CPU21输出驱动命令,驱动注射器电机74c,让钻孔器5b从样本容器100吸移上述吸移量的样本(S808)。样本吸移完成后,CPU21使处理返回。当指定脉冲数超过Z调整值并因此导致未能驱动Z驱动电机73a所述脉冲数时,即,当钻孔器5b的下降量不等于指定的下降量时,Z电机控制电路82在Z驱动电机73a的驱动脉冲数与Z调整值一致时停止Z驱动电机的驱动73a,输出错误报告。
另一方面,当在步骤S806中钻孔器5b的下降量小于指定的下降量时(S806为否),Z电机控制电路82判断钻孔器5b是否到达下限位置(S809)。即,Z电机控制电路82比较当时Z驱动电机73a的驱动脉冲数和Z调整值,如果驱动脉冲数在Z调整值以上,则判断钻孔器5b到达下限位置。当钻孔器5b未到达下限位置时(S809为否),Z电机控制电路82使处理返回步骤S806,继续下移钻孔器5b。另一方面,当在步骤S809判断钻孔器5b已到达下限位置时(S809为是),Z电机控制电路82使Z驱动电机73a停止作业(S810)。此时,从副控制部件80向主控制部件20输出错误报告。收到错误报告的CPU21输出错误信息(S811),此错误信息发送至控制部件3a,控制部件3a的CPU在显示部件3b上显示表示样本吸移失败的错误信息。输出错误信息后,CPU21使处理返回。
上述样本吸移处理结束后,CPU21判断在样本吸移处理中是否发生过错误(样本吸移失败)。如果发生过错误,CPU21结束处理。如果在样本吸移处理中未发生过错误,则CPU21输出用于指定样本分装位置的θ调整值的驱动命令,驱动θ驱动电机72a,旋转臂部件5a,将钻孔器5b水平移动到样本吸移位置300,然后,再输出驱动命令,驱动Z驱动电机73a,下移臂部件5a,使钻孔器5b下降并进入放置在反应杯放置部件7的反应杯150内部(S703)。然后,CPU21输出驱动命令,驱动注射器电机74c,从钻孔器5b将样本分装至反应杯150(S704)。样本分装完成后CPU21结束处理。
另外,样本分析装置1由操作权限不同的操作者根据其各种权限进行登录、使用,上述各种权限如有:样本分析装置的制造销售商派遣的专门维修人员在装置修理或维护时所使用的维修人员权限、或者是在设置有样本分析装置的医疗机构中实际使用该装置的临床检查技师等普通用户在使用装置时的用户权限。上述钻孔器更换准备处理和钻孔器更换后调整处理能够在以用户权限登录的情况下实施。如此,临床检查技师等普通的装置用户在进行并非频繁进行的、不熟练的钻孔器更换作业时能够简便切实地进行钻孔器位置调整作业。当然,也可以采用以维修人员权限登录时能够实施上述作业的结构。
在如上所述结构中,通过进行钻孔器更换后调整处理来自动设定更换后的钻孔器5b的θ调整值和Z调整值,因此,减轻了用户在钻孔器更换作业中的工作负担。另外,用液面传感器56检测出钻孔器5b触及液面,并由此来设定Z调整值,因此能够防止更换后的钻孔器5b破损。此外,通过与钻孔器5b分开设置的移液管6b向反应杯150供应清洗液,因此不必用未设定Z调整值的钻孔器5b向反应杯150供应清洗液,不仅能够切实供应清洗液,还不会因钻孔器5b碰撞反应杯150等而造成损坏。
在Z方向调整处理之前进行θ方向调整处理,由此在Z方向调整处理中将钻孔器5b移到样本分装位置时能够使用在θ方向调整处理中设定的θ调整值,能够准确地使钻孔器5b位于样本分装位置。
(其他实施方式)
在上述实施方式的示例中,以钻孔器为更换对象进行了说明,但不限于此,也可以以下端平坦的移液管为更换对象。另外,以上就凝血分析装置这种样本分析装置1的结构进行了阐述,但不限于此,更换生化学分析装置、免疫分析装置、血细胞计数装置和尿分析装置等临床检查用分析装置中的移液管和钻孔器时也可以采取同样结构。
在上述实施方式中,向反应杯150供应150μL清洗液,根据其液面高度求出反应杯150中装有50μL清洗液时的液面高度,并以此作为Z调整值,但不限于此,比如,也可以向反应杯150供应50μL清洗液,将此液面高度直接作为Z调整值。还可以采用下述结构:向装配在测定构件部件2的液体收纳部件而不是反应杯供应清洗液等液体,根据该液面高度求出Z调整值。
在上述实施方式中,将液面传感器56检测出的液面高度设定为Z调整值,在其后的样本分装处理中改变Z电机控制电路82下移钻孔器5b的下降作业,但不限于此,比如也可以由装置根据液面传感器56检测出的液面高度自动调整钻孔器5b的安装高度。还可以以液面传感器56检测出的液面高度为基础,调整设置有钻孔器5b的第一样本分装臂5的作业起点位置。
Claims (23)
1. 一种样本分析装置,包括:
放置液体容器的容器放置部件;
向所述液体容器供应液体的液体供应部件;
吸移样本或试剂的吸管;
移动所述吸管的移动构件;
检测出所述吸管触及液面的液面检出部件;以及
控制部件能够进行吸管调整作业,所述吸管调整作业包括通过所述液体供应部件向所述液体容器供应液体、通过所述移动构件向着放置在所述容器放置部件的所述液体容器下降所述吸管、以及获取所述吸管触及液面时所述吸管的高度方向的位置的相关信息。
2. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
进行样本的分析处理时,所述控制部件根据所获取的所述吸管的高度方向的位置的相关信息通过所述移动构件移动所述吸管。
3. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
还具有用于测定包括样本和试剂在内的测定试样的检测部件。
4. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述液体容器为在样本分析中收纳样本或试剂的反应杯。
5. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述液体为清洗所述吸管的清洗液。
6. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件收到用于进行吸管调整的输入后进行所述吸管调整作业。
7. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件在进行所述吸管调整作业时根据获取的所述吸管的高度方向的位置的相关信息进行用于设定吸管的高度方向的位置的相关设定值的吸管设定处理;
在进行样本的分析处理时,根据所述吸管设定处理中设定的设定值让所述移动构件移动所述吸管。
8. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
还具有向所述容器放置部件供应液体容器的容器供应部件;
所述控制部件在所述吸管调整作业中通过所述容器供应部件向所述容器放置部件供应液体容器。
9. 根据权利要求8所述的样本分析装置,其特征在于:
在所述吸管调整作业中,所述控制部件在通过所述液体供应部件向放置在所述容器放置部件的所述液体容器供应液体之前,通过所述容器供应部件向所述容器放置部件供应液体容器。
10. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述移动构件能够向水平方向移动所述吸管;
所述控制部件在所述吸管调整作业中通过所述移动构件向所述液体容器处下移吸管之前,先进行用于设定所述吸管的水平方向的位置的相关设定值的水平方向设定值设定处理。
11. 根据权利要求10所述的样本分析装置,其特征在于:
还包括具有能够插入所述吸管的孔的插入部件;
在所述水平方向设定值设定处理中,所述控制部件在所述吸管插入所述插入部件的孔内的状态下通过所述移动构件向上下方向移动所述吸管,以此来进行所述吸管的水平方向的定位。
12. 根据权利要求11所述的样本分析装置,其特征在于:
在所述水平方向设定值设定处理中,所述控制部件在所述吸管插入所述插入部件的孔内的状态下通过所述移动构件向上下方向移动所述吸管之前,先判断所述吸管是否插入所述插入部件的孔内。
13. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
还具有用于运送液体容器的运送部件、以及用于废弃液体容器的废弃部件;
所述控制部件在所述吸管调整作业中获取了所述吸管的高度方向的位置的相关信息后,通过所述运送部件将液体容器从所述容器放置部件运送到所述废弃部件。
14. 根据权利要求13所述的样本分析装置,其特征在于:
所述运送部件在样本分析过程中运送收纳样本或试剂的反应杯。
15. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件收到吸管的更换指示后,实施通过所述移动构件将所述吸管移到用于更换吸管的吸管更换位置的更换准备处理。
16. 一种样本分析装置,包括:
能够收纳液体的液体收纳部件;
向所述液体收纳部件供应液体的液体供应部件;
吸移样本或试剂的吸管;
移动所述吸管的移动构件;
检测出所述吸管触及液面的液面检出部件;以及
控制部件,能够进行吸管调整作业,所述吸管调整作业包括通过所述液体供应部件向所述液体收纳部件供应液体、通过所述移动构件向放置在所述容器放置部件的所述液体收纳部件处下降所述吸管、以及获取所述吸管触及液面时所述吸管的高度方向的位置的相关信息。
17. 一种对由样本和试剂制备的测定试样进行分析的样本分析装置,包括:
吸移所述样本或所述试剂的吸管;
移动所述吸管的移动构件;以及
控制部件,能够在收到用于进行吸管调整作业的输入后,将所述吸管移到用于更换所述吸管的吸管更换位置,在关闭装置电源并更换所述吸管后,再接通所述装置的电源则控制所述移动构件进行所述吸管调整作业。
18. 根据权利要求17所述的样本分析装置,其特征在于:
还具有显示部件;
在所述控制部件的控制下,在更换所述吸管后,如果所述装置接通电源,则使所述显示部件显示用于指示进行所述吸管调整作业的界面,如果收到进行所述吸管调整作业的指示,则进行所述吸管调整作业。
19. 根据权利要求18所述的样本分析装置,其特征在于:
指示进行所述吸管调整作业的界面显示敦促用户确认表示所述吸管的更换步骤的步骤说明书的确认清单内容的消息。
20. 根据权利要求17所述的样本分析装置,其特征在于:
在所述控制部件的控制下,在更换所述吸管后,如果接通所述装置的电源,则自动进行所述吸管调整作业。
21. 根据权利要求17所述的样本分析装置,其特征在于:
所述移动构件能够在高度方向移动所述吸管;
所述控制部件根据所设定的吸管高度方向的位置的相关设定值控制所述吸管在高度方向上的移动;
在所述吸管的吸管调整作业中,根据更换后的吸管的高度方向的位置设定所述吸管的高度方向的位置的相关设定值。
22. 根据权利要求17所述的样本分析装置,其特征在于:
所述移动构件能够在水平方向移动所述吸管;
所述控制部件根据所设定的吸管的水平方向的位置的相关设定值控制所述吸管在水平方向的移动;
在所述吸管的吸管调整作业中,根据更换后的吸管的水平方向的位置设定所述吸管的水平方向的位置的相关设定值。
23. 根据权利要求17所述的样本分析装置,其特征在于:
以用户模式登录时,接受用于进行所述吸管的调整的输入。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108700496A (zh) * | 2016-02-18 | 2018-10-23 | 生物辐射实验室股份有限公司 | 用于流式细胞分析仪的冲撞保护式取样器 |
WO2019000392A1 (zh) * | 2017-06-30 | 2019-01-03 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 反应组件、样本分析仪及混合方法 |
CN110376392A (zh) * | 2019-07-09 | 2019-10-25 | 迈克医疗电子有限公司 | 废弃反应杯调度方法和装置、分析仪器及存储介质 |
CN113287021A (zh) * | 2018-12-25 | 2021-08-20 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置和维护辅助方法 |
CN113711050A (zh) * | 2019-05-20 | 2021-11-26 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 样本分析装置及吸液控制方法 |
CN114152477A (zh) * | 2021-11-26 | 2022-03-08 | 上海品峰医疗科技有限公司 | 一种用于真空采血管穿刺取样针的防撞保护方法 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5850625B2 (ja) * | 2011-03-02 | 2016-02-03 | シスメックス株式会社 | 分析装置及び位置確認方法 |
JP5714410B2 (ja) * | 2011-05-16 | 2015-05-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び方法 |
WO2017197021A1 (en) | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Quick connection for liquid level sense-enabled metering probe |
JP1574851S (zh) * | 2016-08-29 | 2017-04-24 | ||
JP7456719B2 (ja) * | 2017-12-28 | 2024-03-27 | シスメックス株式会社 | 検体測定装置および検体測定方法 |
CN108982367B (zh) * | 2018-09-28 | 2024-03-19 | 威海威高生物科技有限公司 | 一种用于化学发光仪器的试剂臂 |
WO2020174664A1 (ja) | 2019-02-28 | 2020-09-03 | 株式会社島津製作所 | 分析装置の部品管理システムおよび部品管理プログラム |
CN109781209B (zh) * | 2019-03-01 | 2023-12-08 | 杭州依美洛克医学科技有限公司 | 移液及液位检测电路 |
JP7243607B2 (ja) * | 2019-12-12 | 2023-03-22 | 株式会社島津製作所 | 生化学分析装置および生化学分析方法 |
CN114371048A (zh) * | 2021-02-05 | 2022-04-19 | 爱威科技股份有限公司 | 样本制备控制方法、控制装置、电子设备和样本制备系统 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009300152A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2010236967A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
CN102384982A (zh) * | 2010-08-18 | 2012-03-21 | 希森美康株式会社 | 检测体吸引装置以及检测体分析装置 |
CN102654507A (zh) * | 2011-03-02 | 2012-09-05 | 希森美康株式会社 | 分析装置及位置确认方法 |
CN103229059A (zh) * | 2010-12-01 | 2013-07-31 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0555739B1 (de) * | 1992-02-13 | 1998-05-20 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Automatische Pipettiervorrichtung |
JP3584799B2 (ja) | 1999-09-20 | 2004-11-04 | 株式会社日立製作所 | 液体分注装置 |
US6474181B2 (en) * | 2001-01-24 | 2002-11-05 | Gilson, Inc. | Probe tip alignment for precision liquid handler |
JP3688600B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2005-08-31 | アロカ株式会社 | 分注装置 |
EP1767950B1 (en) * | 2005-09-21 | 2008-08-20 | F.Hoffmann-La Roche Ag | Method and apparatus for accurate positioning of a pipetting device |
JP5377866B2 (ja) * | 2008-03-04 | 2013-12-25 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置 |
JP5898410B2 (ja) * | 2011-03-30 | 2016-04-06 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置 |
-
2012
- 2012-12-21 JP JP2012279971A patent/JP6029971B2/ja active Active
-
2013
- 2013-12-06 CN CN201310651469.7A patent/CN103884850B/zh active Active
- 2013-12-18 EP EP13198033.6A patent/EP2746776B1/en active Active
- 2013-12-19 US US14/134,735 patent/US9625482B2/en active Active
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- 2017-03-09 US US15/454,841 patent/US20170176485A1/en not_active Abandoned
-
2019
- 2019-05-13 US US16/410,816 patent/US11333675B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009300152A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2010236967A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
CN102384982A (zh) * | 2010-08-18 | 2012-03-21 | 希森美康株式会社 | 检测体吸引装置以及检测体分析装置 |
CN103229059A (zh) * | 2010-12-01 | 2013-07-31 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
CN102654507A (zh) * | 2011-03-02 | 2012-09-05 | 希森美康株式会社 | 分析装置及位置确认方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108700496A (zh) * | 2016-02-18 | 2018-10-23 | 生物辐射实验室股份有限公司 | 用于流式细胞分析仪的冲撞保护式取样器 |
CN108700496B (zh) * | 2016-02-18 | 2021-08-03 | 生物辐射实验室股份有限公司 | 用于流式细胞分析仪的冲撞保护式取样器 |
WO2019000392A1 (zh) * | 2017-06-30 | 2019-01-03 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 反应组件、样本分析仪及混合方法 |
CN113287021A (zh) * | 2018-12-25 | 2021-08-20 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置和维护辅助方法 |
CN113711050A (zh) * | 2019-05-20 | 2021-11-26 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 样本分析装置及吸液控制方法 |
CN110376392A (zh) * | 2019-07-09 | 2019-10-25 | 迈克医疗电子有限公司 | 废弃反应杯调度方法和装置、分析仪器及存储介质 |
CN114152477A (zh) * | 2021-11-26 | 2022-03-08 | 上海品峰医疗科技有限公司 | 一种用于真空采血管穿刺取样针的防撞保护方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190265265A1 (en) | 2019-08-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |