CN103514902B - 光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置，在检测出校验错误时的重试处理中，即使缓存容量受限也能够有效率地进行替换处理。本发明的在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，在按规定的记录量单位进行校验处理的情况下，当检测出已记录的数据的校验错误时，对主机请求发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位中，在光信息记录介质中记录。

Description

光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置
技术领域
本发明涉及使用全息术来记录信息的光信息记录再现装置、光信息记录再现方法和数据库装置。
背景技术
在下一代存储技术的研究开发中，利用全息术来记录数字信息的全息记录技术受到了关注。
全息记录技术指的是，使通过空间光调制器二维调制而得的具有页数据的信息的信号光在记录介质的内部与参考光叠加，利用此时生成的干涉条纹图样在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。另外，在信息再现时，将记录时使用的参考光以相同配置照射到记录介质上，记录在记录介质中的全息图起到衍射光栅那样的作用，产生衍射光。该衍射光含有与所记录的信号光相同的相位信息，作为相同的光被再现。
再现的信号光使用CMOS或CCD等光检测器二维地、高速地检测。像这样的全息记录技术，因为能够使用一个全息图同时地记录/再现二维的信息，而且能够在相同位置重复写入多个页数据，所以能够实现大容量、高速的信息的记录再现。
另一方面，因为在同一位置可复用记录的容量较大，所以在记录的数据较小的情况下存在浪费严重的问题。
作为解决该问题的技术，例如有日本特开2009-301627号公报（专利文献1）。该公报中记载了这样的内容，“以在同一体积（volume，体全息的记录载体体积）中复用记录的方式进行全息记录时，当要记录的数据在记录结束时产生了不能填满一个册（book，页数据的集合）的零头数据的情况下，能够将零头数据记录到记录装置的辅助记录装置中，而不是记录到全息记录介质上，在进行追加记录时，从辅助记录装置读取零头数据，将其与追加记录的输入数据连起来记录到全息记录介质上，因此能够不产生浪费地在全息记录介质中进行数据的追加记录。”
专利文献1：日本特开2009-301627号公报
发明内容
上述专利文献1中记载了在全息记录介质中不产生浪费地进行数据的追加记录的技术，但是没有提及发生校验错误即不能正确读取已记录的数据的情况下的处理，没有记载重试（retry）即重新记录时高效进行数据记录的技术。
因此，本发明的目的在于提供一种光信息记录再现装置和光信息记录再现方法，在检测到校验错误而进行重试时能够高效地记录数据。
为了解决上述问题，例如采用以下技术方案。
本发明第一技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，包括：暂时保存从主机发送的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质进行预固化（pre-cure），作为记录的后处理进行后固化（post-cure）的固化部；将保存在上述存储部中的数据依次记录到进行了上述预固化后的区域中的记录部；对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；当检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部；和根据再次传输的数据生成重试数据的控制部，其中，由上述固化部进行预固化，并利用上述记录部在该进行了预固化的部位记录数据，然后由上述固化部进行后固化，当上述校验部检测出校验错误时，通过上述数据请求部对主机请求再次传输数据，由上述控制部将再次传输的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在上述存储部中，并由上述记录部记录到上述光信息记录介质上。
本发明第二技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现方法，包括：作为记录的前处理对上述光信息记录介质实施预固化的步骤；在进行了上述预固化后的区域中依次记录数据的步骤；作为记录的后处理进行后固化的步骤；对已记录的数据的校验错误进行检测的步骤；和当检测到校验错误时，对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的步骤，其中，将发生了校验错误的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，记录到上述光信息记录介质上。
本发明第三技术方案，提供一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，包括：暂时保存要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；将保存在上述存储部中的数据依次记录到进行了上述预固化后的区域中的记录部；对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；和在检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部，其中，上述记录部与上述校验部独立而能够同时执行处理，由上述固化部进行预固化，并利用上述记录部在该进行了预固化的部位记录数据，然后由上述固化部进行后固化，当上述校验部检测出校验错误时，由上述数据请求部对主机请求再次传输发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在上述存储部中，并由上述记录部记录到上述光信息记录介质上。
本发明第四技术方案提供一种包括多个光信息记录再现装置及其控制部的数据库装置，其中上述光信息记录再现装置包括：存储要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；作为记录的前处理对上述光信息记录介质实施预固化，作为记录的后处理对上述光信息记录介质进行后固化的固化部；在进行了上述预固化后的区域中记录从上述控制部发送的数据的记录部；和读取已记录的数据发送给上述控制部的再现部，其中，上述控制部包括：存储要在上述光信息记录介质上记录的数据的存储部；和进行纠错和纠错码的附加的信号处理部，利用上述控制部的信号处理部，确认上述光信息记录介质上记录的数据是否正确。
根据本发明，在校验错误的重试中能够高效地记录数据。
上述以外的技术问题、技术特征和技术效果，使用以下实施方式说明。
附图说明
图1是表示第一实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。
图2是表示第一实施例的光信息记录再现装置的信号处理电路的结构的框图。
图3是说明第一实施例的光信息记录再现装置的动作的流程图。
图4是说明第一实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理的动作的流程图。
图5是表示第一实施例的光信息记录介质上的固化（cure）和册（book）的说明图。
图6是表示第一实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。
图7是第一实施例的光信息记录再现装置的数据与册的对应图。
图8是第一实施例的光信息记录再现装置的数据与册的对应图。
图9是表示第二实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。
图10是表示第二实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。
图11是表示第三实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。
图12是表示第四实施例的数据库装置的结构的框图。
图13是表示第四实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。
图14是表示第四实施例的库装置控制电路的结构的框图。
附图标记说明
S401……重试数据有无判定处理
S402……数据接收和存储器配置处理
S403……除重试数据外的数据接收和存储器配置处理
S404……加扰和ECC附加处理
S405……位置控制处理
S406……预固化处理
S407……固化容量份数据记录处理
S408……规定次数记录实施判定处理
S409……位置控制处理
S410……后固化处理
S411……规定次数预固化实施判定处理
S412……位置控制处理
S413……固化容量份校验处理
S414……校验错误判定处理
S415……数据请求处理
S416……重试数据的存储器配置处理
S417……规定次数校验实施判定处理
S418……记录和校验的实施次数清除处理
具体实施方式
以下用附图说明实施例。
［实施例1］
本发明第一实施例的光信息记录再现装置，使信号光与参考光彼此叠加地入射到光信息记录介质中，形成干涉条纹图样，记录信息。此时，通过改变入射到光信息记录介质中的参考光的入射角度，能够进行角度复用记录。
下文中，将在同一区域改变参考光角度记录的全息图中与每一个参考光角度对应的全息图称为页（page），将同一区域中角度复用的页的集合称为册（book）。
此外，在光信息记录介质内的期望位置上记录信息时，需要进行被称为预固化（pre-cure）的前处理——在对期望位置照射参考光和信号光之前预先照射规定的光束。在期望位置上记录了信息之后，需要进行被称为后固化（post-cure）的后处理——为了使该期望位置不能被追加记录而照射规定的光束。
此外，因为预固化和后固化需要花费规定的处理时间，所以为了实现高速化，需要对多个册一并进行处理。
此处，将对多个册区域进行的1次预固化和后固化的区域称为固化单位，其数据容量称为固化容量。1次预固化、后固化所能够记录的数据容量，例如是由100个册构成的2GByte的容量，这就是固化容量。1册例如由300页构成，容量为20kByte。
图1是表示第一实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。
光信息记录再现装置100与主机108连接，将从主机108输入的数据记录在光信息记录介质101中。此外，将从光信息记录介质101再现的数据输出到主机108。
光信息记录介质101能够被旋转电机111旋转。拾取器102、参考光光学系统103、固化光学系统104能够在半径方向上移动，所以能够在光信息记录介质101的整个面上使用全息术进行信息的记录再现。
为了记录信息，需要对光信息记录介质101照射信号光和参考光，拾取器102对光信息记录介质101照射信号光，参考光光学系统103照射参考光。
此时，记录数据经由信号处理电路105被发送到拾取器102内的空间光调制器，信号光被空间光调制器调制。
此外，为了从全息图再现信息，需要对光信息记录介质101照射参考光、并检测再现光，参考光光学系统103对光信息记录介质101照射参考光，拾取器102通过该拾取器102内的光检测器检测此时再现的再现光，将检测信号发送到信号处理电路105。
进而，拾取器102利用检测参考光角度偏差量的机构来检测偏差量，将其发送到伺服控制电路115。
固化光学系统104生成光信息记录介质101的预固化和后固化中使用的光束。
信号处理电路105将经由接口电路107从主机108发送来的数据发送到存储器106，分割为多个数据串并附加地址，并且为了在再现时能进行错误检测而对各数据串附加CRC（CyclicRedundancyCheck，循环冗余校验），为了使ON像素（开像素）数和OFF像素（关像素）数大致相等、防止出现同一图案的反复而实施对数据串附加伪随机数数据串的加扰，然后，为了在再现时能进行纠错而附加里德-所罗门编码等纠错码。
然后，将该数据串变换为M×N（M、N是自然数）的二维数据，对相当于1个页的数据反复该处理而构成1个页的二维数据。在这样构成的二维数据中附加标记（marker）作为再现时的图像位置检测和图像畸变校正中的基准，然后对拾取器102发送。
或者，信号处理电路105接收从拾取器102检测出的图像数据，以该图像数据中包含的标记为基准检测图像位置，对图像的倾斜、倍率、扭曲等畸变进行校正后，进行二进制化（二值化）处理，并除去标记，从而获得1个页的二维数据，将其保存在存储器106中。将这样得到的二维数据变换为多个数据串，之后进行纠错处理、解除加扰，并基于CRC进行检错处理，通过接口电路107发送给主机108。
存储器106是暂时存储数据的存储部，由信号处理电路105控制，作为缓存、纠错码附加用存储器、纠错用存储器等使用。存储器106例如是DRAM（动态随机存储器）、SRAM（静态随机存储器）或者SSD（固态驱动器）等，能够保持数据即可，也可以是HDD（硬盘驱动器）。
接口电路107将来自主机108的记录再现指示传达给控制器112。此外，将从信号处理电路105发送来的数据对主机108发送。并且，将从主机108发送来的数据对信号处理电路105发送。接口电路107例如按照SATA（串行高级技术附件）、SAS（串行SCSI）或其他传输方式进行数据传输。
主机108对光信息记录再现装置100发送数据，指示数据的记录。此外，对光信息记录再现装置100指示再现，接收数据。
盘旋转角度检测用光学系统109检测光信息记录介质101的旋转角度，将其发送给电机控制电路110。
电机控制电路110调整光信息记录介质101的旋转角度。在要将光信息记录介质101调整至规定的旋转角度的情况下，通过盘旋转角度检测用光学系统109检测与旋转角度对应的信号，使用检测出的信号通过电机控制电路110控制旋转电机111，由此按照控制器112的指示调整光信息记录介质101的旋转角度。
旋转电机111由电机控制电路110控制，使光信息记录介质101旋转。
控制器112控制光信息记录再现装置100的各个部分，进行光信息记录介质101的数据记录处理、数据再现处理等。控制器112例如由CPU（中央处理单元）构成，此外，也可以使用任意的控制电路或ASIC等专用电路。
光源驱动电路113对拾取器102、参考光光学系统103、固化光学系统104内的光源供给规定的光源驱动电流，从各光源以规定的光量发射光束。
在拾取器102、参考光光学系统103和固化光学系统104中，设置有使各自的位置在光信息记录介质101的半径方向上滑动的机构，访问控制电路114根据控制器112的指示进行它们的位置控制。
利用全息术的角度复用原理的记录技术中，存在对参考光角度的偏差的容许误差极小的趋势，所以伺服控制电路115需要从拾取器102输入参考光角度的偏差量，对拾取器102的偏差量进行校正。
其中，拾取器102、参考光光学系统103、固化光学系统104、盘旋转角度检测用光学系统109中，也可以使某些光学系统结构或者所有光学系统合并为一个而实现简化。
接着，说明对光信息记录介质101记录数据的情况下的光信息记录再现装置100的动作。在光信息记录再现装置100中装载了光信息记录介质101后，控制器112进行各部分的调整处理，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到规定位置，通过拾取器102、信号处理电路105从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器106中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103、固化光学系统104移动到期望的位置。
然后，当从主机108对光信息记录再现装置100发送了数据时，通过接口电路107接收数据，保存在存储器106中，由信号处理电路105进行CRC附加、加扰、纠错码附加等。
接着，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到期望的位置，通过固化光学系统104进行预固化，利用信号处理电路105从存储器106读取数据，在附加标记后对拾取器102发送，在光信息记录介质101中记录。然后，用固化光学系统104进行后固化。
在进行校验——即确认已记录的数据能否正确读取的情况下，将利用拾取器102从光信息记录介质101检测出的图像数据发送到信号处理电路105，以标记为基准检测图像位置、对畸变进行校正，之后进行二进制化处理，获得二维数据，保存在存储器106中。接着，在将该二维数据变换为多个数据串后，进行纠错处理，解除加扰，基于CRC进行检错处理。此处，在检测出错误的情况下，对控制器112通知校验错误，控制器112控制各部分进行重试。重试时将不一致的数据记录在下一个要记录（接着要记录）的固化单位的开头部位。
或者，利用信号处理电路105比较记录时的数据与校验时的数据，在不一致的情况下对控制器112通知校验错误。
然后，对重试后的数据进行校验，将缺陷源地址和替换目的地地址作为替换信息登记到管理信息中。其中，在重试数据也发生校验错误的情况下，再次进行重试处理。
接着，说明从光信息记录介质101再现数据的情况下的光信息记录再现装置100的动作。在光信息记录再现装置100中装载了光信息记录介质101后，控制器112进行各部分的调整处理，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到规定位置，通过拾取器102、信号处理电路105从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器106中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到期望的位置，将从光信息记录介质101再现的数据写入存储器106，通过信号处理电路105进行纠错处理、解除加扰，进行检错处理。
然后，从存储器106读取数据并通过接口电路107发送给主机108。
图2是表示第一实施例的光信息记录再现装置的信号处理电路的结构的框图。
信号处理电路105由控制器112控制，将从接口电路107发送来的数据保存在存储器106中，在存储器中进行各种信号处理，之后发送给拾取器102。
或者，将从拾取器102发送来的图像数据保存在存储器106中，在存储器中进行各种信号处理，提取出数据发送到接口电路107。
存储器控制电路200根据来自各电路的数据输入输出请求，对存储器106进行数据写入、数据读取。
CRC运算电路201对存储器106中的数据串的CRC进行运算并附加该CRC。或者，对数据串的CRC进行运算来检测错误。
加扰电路202对存储器106中的数据串进行加扰。或者，解除数据串的加扰。
纠错和纠错码附加电路203在存储器106中进行纠错码的附加。或者，对存储器106中保存的数据中包含的误码进行纠正。
数据请求电路204在发生校验错误时通过接口电路107对主机请求再次传输数据。
图像位置检测和畸变校正电路205进行从存储器106中保存的图像数据内检测标记而提取有效数据范围的控制，并使用检测出的标记进行图像的倾斜、倍率、扭曲等畸变的校正，将图像数据变换为要求的二维数据的尺寸。
二进制化电路206将构成尺寸变换后的二维数据的多个比特的各比特的数据二进制化为“0”、“1”，在存储器106中按再现数据的输出顺序保存数据。
空间光调制器接口电路207按二维数据的排列顺序从存储器106读取附加了纠错码的数据，在附加了作为再现时的基准的标记之后，将二维数据对拾取器102内的空间光调制器输出。
光检测器接口电路208从拾取器102内的光检测器输入图像数据，写入存储器106中。
其中，各电路由控制器112控制——图中并未示出。或者也可以在信号处理电路105内设置专用控制器来控制各电路。
接着，说明对光信息记录介质101记录数据的情况下的信号处理电路105的动作。
信号处理电路105将从接口电路107发送来的数据通过存储器控制电路200保存到存储器106中，分割为多个数据串并附加地址，并且为了在再现时能进行错误检测而利用CRC运算电路201对各数据串附加CRC，为了使ON像素数和OFF像素数大致相等、防止出现同一图案的反复而利用加扰电路202实施对数据串附加伪随机数数据串的加扰，然后，为了在再现时能进行纠错而使用纠错和纠错码附加电路203附加里德-所罗门编码等纠错码。然后，利用存储器控制电路200将该数据串变换为M×N的二维数据，对相当于1个页的数据反复该处理而构成1个页的二维数据。在这样构成的二维数据中，使用空间光调制器接口电路207附加标记作为再现时的图像位置检测和图像畸变校正中的基准，对拾取器102的空间光调制器发送。
在进行校验的情况下，信号处理电路105通过光检测器接口电路208接收从拾取器102的光检测器检测出的图像数据，将其经由存储器控制电路200保存在存储器106中，使用图像位置检测和畸变校正电路205检测该图像数据中包含的标记，提取有效数据范围，使用检测出的标记进行图像的倾斜、倍率、扭曲等畸变的校正，将图像数据变换为要求的二维数据的尺寸。然后，对于构成尺寸变换后的二维数据的多个比特的各比特数据，利用二进制化电路206二进制化，并进行在存储器106中以再现数据的输出顺序保存数据的控制。对于这样得到的数据串，使用纠错和纠错码附加电路203进行纠错处理，由加扰电路202解除加扰，CRC运算电路201进行检错处理。
在纠错处理、CRC运算处理等处理中检测出错误的情况下，通过数据请求电路204经由接口电路107对主机108请求再次传输数据。
接着，说明从光信息记录介质101再现数据的情况下信号处理电路105的动作。
信号处理电路105通过光检测器接口电路209接收从拾取器102的光检测器检测出的图像数据，将其经由存储器控制电路200保存到存储器106中，使用图像位置检测和畸变校正电路205检测该图像数据中包含的标记，提取有效数据范围，使用检测出的标记进行图像的倾斜、倍率、扭曲等畸变的校正，将图像数据变换为要求的二维数据的尺寸。然后，对于构成尺寸变换后的二维数据的多个比特的各比特数据，利用二进制化电路206二进制化，并进行在存储器106中以再现数据的输出顺序保存数据的控制。对于这样得到的数据串，使用纠错和纠错码附加电路203进行纠错处理，由加扰电路202解除加扰，CRC运算电路201进行检错处理，之后发送到接口电路107。
图3是表示第一实施例的光信息记录再现装置的动作的流程图。
当步骤S301中光信息记录介质被装载到光信息记录再现装置中时，在步骤S302中进行调整处理，在步骤S303中读取管理信息。
接着，在步骤S304中从主机接收到数据记录命令后，在步骤S305中进行数据记录处理。或者，在步骤S306中从主机接收到数据再现命令后，在步骤S307中进行数据再现处理。或者，在步骤S308中从主机接收到其他命令后，在步骤S309中进行其他处理。
当步骤S310中接收到光信息记录介质的排出命令时，在步骤S311中将管理信息写入到光信息记录介质中。管理信息中包括替换信息，在存在因缺陷或校验错误等而进行了替换的数据的情况下，在此处写入替换信息。
接着，在步骤S312中排出光信息记录介质，结束处理。
其中，写入管理信息的时刻并不特别限定于上述情况，也可以考虑按固化单位进行记录的间歇期间、或从主机108指示的时刻等。
图4是表示第一实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理的动作的流程图。
设来自主机的数据记录命令，以构成册的规定记录单位、构成固化（一次预固化、后固化）的册单位或者固化容量单位从主机发出。在从主机接收到最初的固化单位的数据份的时刻，在步骤S401中判定存储器中是否存在重试数据（关于重试数据在后文中叙述）。由于接收到最初的固化单位的数据的时刻处于校验实施之前，不存在重试数据，所以在步骤S402中从主机继续该固化容量份的数据的接收，配置在存储器中。此外，在配置到存储器中时分割为多个数据串，为了在再现时能进行检错而对各数据串附加检错码CRC。
接着，在步骤S404中，为了使ON像素数和OFF像素数大致相等、防止出现同一图案的反复而实施对数据串附加伪随机数数据串的加扰，然后，为了在再现时能进行纠错而附加里德-所罗门编码等纠错码ECC。
接着，在步骤S405中，为了在光信息记录介质的期望的位置记录数据，而进行电机的旋转控制和拾取器、固化光学系统的位置控制，移动到规定的位置。
接着，在步骤S406中进行预固化，在步骤S407中将固化容量份的数据记录在光信息记录介质中。例如，设cure（即一次固化的固化容量，下同）内存在100个册、一个册内存在300个页（即300个页数据），则对于cure内的开头册通过角度复用记录300个页，然后对下一册同样记录300页，通过对100册进行该处理，而在cure内的所有册中记录数据。
接着，在步骤S408中，判定步骤S407的记录处理是否已实施了规定次数。在已实施了规定次数的记录处理的情况下，在步骤S409～S415中进行规定次数的后固化处理（后述）和校验处理，在第一次数据记录命令的处理中，因为尚未实施规定次数的记录处理，所以直接结束处理。例如，这里假定规定次数是2次，则在进行了2次记录处理后进行2次校验处理。这意味着，在进行了第N次的步骤S407的记录处理之后，不立刻实施步骤S409～S415的后固化处理、校验处理，而是在进行了第N+1次的步骤S407的记录处理之后，进行第N次的步骤S409～S415的后固化处理、校验处理、第N+1次的步骤S409～S415的后固化处理、校验处理。
一般而言，在全息记录中，存在光照射中发生反应的光反应和光照射后发生反应的暗反应，因此在记录处理后实施后固化和校验处理前，需要等待暗反应结束。通过适当设定上述规定次数，有效率地进行记录处理和校验处理，能够防止因等待暗反应结束而耗费时间，导致数据传输率降低。
从主机接收到第二次的数据记录命令之后，再次执行步骤S401～S407的处理。
在步骤S401中判定存储器中是否存在重试数据，由于当前仍然处于校验实施之前，不存在重试数据，所以在步骤S402中从主机接收固化容量份的数据，配置在存储器中。
接着，在步骤S404中，在实施了加扰后附加纠错码ECC。
接着，在步骤S405中，为了在光信息记录介质的期望的位置记录数据，而进行电机的旋转控制和拾取器、固化光学系统的位置控制，移动到规定的位置。此处的期望的位置，例如是前一次记录的Cure的相邻位置，通常在圆周方向或者半径方向上顺序地使记录位置移动。
接着，在步骤S406中进行预固化，在步骤S407中将固化容量份的数据记录在光信息记录介质中。
然后，在步骤S408中判定是否已实施了规定次数的记录处理。此处因为已实施了规定次数的记录处理，所以在步骤S409～S411中进行规定次数的后固化。
首先，在步骤S409中，为了进行光信息记录介质的期望的位置的后固化，进行电机的旋转控制和固化光学系统的位置控制，移动到期望的位置。此处的期望的位置是通过步骤S401～S407记录了数据的位置。
接着，在步骤S410中进行后固化，在步骤S411中判定是否已实施了规定次数的后固化。
此处，在对已记录的2个固化容量份的数据实施了后固化之后，接着在步骤S412中，为了校验光信息记录介质的期望的位置的数据，进行电机的旋转控制和拾取器的位置控制，移动到期望的位置。
此处的期望的位置是通过步骤S401～S407记录了数据的位置，也是通过步骤S409～S411实施了后固化的位置。
接着在步骤S413中进行固化容量份的数据的校验。在校验中，从光信息记录介质再现数据，如果发生不能纠错或CRC错误则认定为校验错误。或者即使没有发生不能纠错的情况，如果超过了预先规定的错误数量也认定为校验错误。或者，对从光信息记录介质再现的数据与存储器中的源数据进行比较，在发生不一致的情况下认定为校验错误。其中从光信息记录介质再现的是固化容量份的数据。
接着，在步骤S414中判定是否发生了校验错误，在已记录的数据发生了校验错误的情况下，在步骤S415中对主机请求再次传输发生了错误的数据，在步骤S416中将从主机发送的重试数据配置在为了下一次在光信息记录介质上进行记录而确保的存储器内的固化容量单位的开头。
接着，在步骤S417中判定是否已实施了规定次数的校验处理。在第一次校验处理中，由于尚未执行规定次数，所以返回步骤S412，实施步骤S412～S417的处理。
当实施了规定次数的校验处理后，在步骤S418中清除记录和校验的实施次数，结束处理。
从主机接收到第三次的数据记录命令之后，再次实施步骤S401～S407的处理。
在步骤S401中判定存储器中是否存在重试数据。在存储器中存在重试数据的情况下，即因为发生校验错误而在步骤S416中将重试数据配置在存储器开头的情况下，在步骤S402中从主机接收固化容量份减去重试数据份后的数据，配置在存储器中。
接着，在步骤S404中，在实施加扰之后附加纠错码ECC。
接着，在步骤S405中，为了在光信息记录介质的期望的位置记录数据，进行电机的旋转控制和拾取器、固化光学系统的位置控制，移动到期望的位置。
然后，在步骤S406中进行预固化，在步骤S407中将固化容量份的数据记录在光信息记录介质中。
接着，在步骤S408中判定是否已实施了规定次数的记录处理。如上所述，由于在步骤S418中已清除了记录和校验的实施次数，所以此处没有达到规定次数，直接结束处理。
从主机接收到第四次的数据记录命令后，再次实施步骤S401～S407的处理。
接着，在步骤S408中判定是否已实施了规定次数的记录处理。此处因为已实施了规定次数的记录处理，所以在步骤S409～S411中进行规定次数的后固化，在步骤S412～S417中进行规定次数的校验处理，在步骤S418中清除记录和校验的实施次数。
如上所述，在设规定次数是2次的情况下，进行2次记录处理之后进行2次校验处理，反复这样的处理方式，将数据记录在光信息记录介质中。
曾经发生过校验错误的数据作为重试数据再次记录，并将缺陷源地址和替换目的地地址作为替换信息登记在管理信息中。其中，在重试数据也发生校验错误的情况下，再次进行重试处理。
图5是表示光信息记录介质上的固化（cure）和册（book）的说明图。其中，为便于表示，下文及附图中将各个固化（固化容量份）分别表示为cure1、cure2……，将一个固化中的各个册分别表示为book1、book2……。
固化500表示进行1次预固化、后固化的区域，册501表示进行记录再现的区域。数据在光信息记录介质上的旋转方向、半径方向上以固化单位顺序记录。
在记录数据时，按固化单位首先进行预固化，接着在cure内以册单位顺序记录数据。例如，设cure内存在100个册，一个册内存在300个页，则对cure内的一个册通过角度复用记录300个页之后，对下一个册同样地记录300页，通过对100个册进行该处理，而在cure内的所有册中记录数据。接着进行后固化，进行cure内的数据的校验。其中，数据中至少包括地址。
此处，例如假设以下情形，即，对cure1进行预固化，对cure1的book1至book100记录数据，对cure2进行预固化，对cure2的book1至book100记录数据，接着对cure1、cure2进行后固化并进行校验，此时cure1的book3、48、77中记录的数据发生校验错误。
该情况下，将cure1的book3、48、77中记录的数据再次记录在cure3的book1、2、3中。
然后，将cure1的book3、48、77的地址作为缺陷源地址、将cure3的book1、2、3的地址作为替换目的地地址登记在管理信息中。当cure3的book1、2、3发生校验错误的情况下，在cure5的book1、2、3中再次记录，将该地址作为替换目的地地址登记。
图6是表示光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。
其中表示了这样的情形，即，进行cure1的预固化，从cure1的book1到book100顺序进行记录处理，进行cure2的预固化，从cure2的book1到book100顺序进行记录处理，在进行cure1、cure2的后固化之后进行校验，cure1的book3、48、77的数据发生校验错误。
接着，进行位置控制，进行cure3的预固化，从cure3的book1至book100顺序进行记录，此时对于book1，再次记录cure1的book3中记录的数据。
此外，对于book2、3，再次记录cure1的book48、77中记录的数据。
接着，将若没有发生校验错误时本来应当记录在book1、2、3中的数据记录在book4、5、6中，以下全部向后错位记录。
然后，将cure1的book3、48、77的地址作为缺陷源地址、将cure3的book1、2、3的地址作为替换目的地地址登记在管理信息中。
图7、图8是第一实施例的光信息记录再现装置从主机接收数据保存在存储器中，在光信息记录介质中记录、进行校验时的数据和册的对应图。其中，为方便起见，下文和附图中将主机、存储器中的各数据分别表示为data1、data2……。
图7是光信息记录再现装置从主机接收data1～180记录到光信息记录介质的cure1、2中的例子。
首先，光信息记录再现装置从主机接收data1～90并暂时保存在存储器中，附加纠错码ECC。此外，同样接收data90～180并暂时保存在存储器中，附加纠错码ECC。
接着，光信息记录再现装置将data1～90和纠错码ECC记录在光信息记录介质的cure1/book1～100中。此外，同样将data90～180和纠错码ECC记录在光信息记录介质的cure2/book1～100中。
然后，光信息记录再现装置再现光信息记录介质的cure1/book1～100保存在存储器中，进行纠错。其中表示了data3、48、77发生校验错误的例子。此外，同样再现cure2/book1～100并保存在存储器中，进行纠错。
图8是光信息记录再现装置从主机接收data3、48、77和data181～data357记录到光信息记录介质的cure3、4中的例子。
首先，光信息记录再现装置对主机请求再次传输上述data3、48、77，将接收的数据暂时保存在存储器中。进而，从主机接收data181～267并暂时保存在存储器中，附加纠错码ECC。此外，同样接收data268～357并暂时保存在存储器中，附加纠错码ECC。
接着，光信息记录再现装置将data3、48、77、data181～267和纠错码ECC记录在光信息记录介质的cure3/book1～100中。此外，同样将data268～357和纠错码ECC记录在光信息记录介质的cure4/book1～100中。
然后，光信息记录再现装置再现光信息记录介质的cure3/book1～100并保存在存储器中，进行纠错。此外，同样再现cure4/book1～100并保存在存储器中，进行纠错。由于cure3/book1～3记录的是cure1/data3、48、77，因此将cure1/data3、48、77的地址作为缺陷源地址、将cure3/book1～3的地址作为替换目的地地址登记在管理信息中。如果cure3/book1～3发生校验错误，则在cure5/book1～3中再次记录。
此外，图7、图8中对预固化、后固化和加扰、CRC处理等省略了说明。
另外，data358～360将记录在cure5中。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按册单位替换数据的例子，但并不必须是册单位。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按固化单位附加纠错码的例子，但也不必须是固化单位。
此外，本实施例中表示了由光信息记录再现装置进行纠错处理和生成重试数据的例子，但也可以由主机进行。
此外，本实施例中表示了从主机接收固化容量份的数据进行记录处理之后再接收下一个固化容量份的数据的例子，但也可以在进行记录处理的期间接收下一个固化容量份的数据。此外，也可以在接收多个固化容量份的数据之后再开始记录处理。
根据以上方案，本发明的第一实施例中，在光信息记录介质中顺序记录数据，并顺序进行已记录的数据的校验。在所记录的数据发生校验错误的情况下，对主机请求该数据的再次传输，将接收到的该再次传输的数据配置在为了下一次在光信息记录介质中进行记录而确保的存储器内的固化容量单位中的开头，从而进行记录。若在全部记录处理的最后，使用仅由发生了校验错误的数据形成的数据来构成固化容量内的数据，则固化容量大部分没有被使用，该固化记录单位在未记录区域大量剩余的情况下成为不可追加记录的状态。但是，这样的情况下，若也将发生校验错误的数据插入下一个要记录的固化容量单位的开头来进行记录，则将会仅使用必要最低限度的区域，能够抑制光信息记录介质的记录区域的消耗。
此外，本实施例中，发生了校验错误的数据从主机再次获取，所以不需要在校验完成之前一直保持源数据，能够使用必要最低限度的量的存储器构成光信息记录再现装置。
此外，根据本实施例，存在重试数据的固化单位和存在检测出校验错误的数据的固化单位的位置比较接近，所以对重试数据的访问性能得到提高。
此外，本实施例中说明了将发生了校验错误的数据插入到下一个记录的固化单位的开头进行记录的例子，但本发明不限于此，例如也可以插入到下一个记录的固化单位的最后进行记录，也可以是这之外的其它情况。
［实施例2］
图9是表示第二实施例的光信息记录再现装置的结构的框图。对于与图1共通的部分省略说明。
光信息记录再现装置900与主机108连接，将从主机108输入的数据记录在光信息记录介质101中。此外，将从光信息记录介质101再现的数据对主机108输出。拾取器902、903能够在半径方向上移动，所以能够在光信息记录介质101整个面上使用全息术进行信息的记录再现。
为了记录信息，需要对光信息记录介质101照射信号光和参考光，拾取器902对光信息记录介质101照射信号光，参考光光学系统904照射参考光。
此外，为了从全息图再现信息，需要对光信息记录介质101照射参考光，检测再现光，参考光光学系统905对光信息记录介质101照射参考光，拾取器903通过拾取器903内的光检测器检测此时再现的再现光，将检测信号发送给信号处理电路105。
进而，拾取器902、903使用检测参考光角度的偏差量的机构检测偏差量，将其发送给伺服控制电路915。
接着，说明对光信息记录介质101记录数据的情况下的光信息记录再现装置900的动作。在光信息记录再现装置100中装载了光信息记录介质101后，控制器912进行各部分的调整处理，使用电机驱动电路110、访问控制电路914使拾取器902、参考光光学系统904移动到规定位置，经由拾取器902、信号处理电路105从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器106中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路914使拾取器902、参考光光学系统904、固化光学系统104移动到期望的位置。
然后，当从主机108对光信息记录再现装置900发送了数据时，通过接口电路107接收数据，保存在存储器106中，通过信号处理电路105进行CRC附加、加扰、纠错码附加等。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路914使拾取器902、参考光光学系统904移动到期望的位置，利用固化光学系统104进行预固化，由信号处理电路105从存储器106读取数据，附加标记后发送给拾取器902，在光信息记录介质101中记录。然后，使用固化光学系统104进行后固化。
在进行校验——即确认已记录的数据能否正确读取的情况下，将利用拾取器903从光信息记录介质101检测出的图像数据发送给信号处理电路105，以标记为基准检测图像位置，对畸变进行校正，之后进行二进制化处理，获得二维数据保存在存储器106中。然后，将该二维数据变换为多个数据串，再进行纠错处理、解除加扰，基于CRC进行检错处理。此处，在检测出错误的情况下，对控制器912通知校验错误，控制器912控制各部分进行重试。重试时将发生不一致的数据记录在下一个要记录的固化单位的开头部位。
或者，利用信号处理电路105对记录时的数据与校验时的数据进行比较，在不一致的情况下对控制器912通知校验错误。
然后，进行重试后的数据的校验，如果没有校验错误则将缺陷源地址和替换目的地地址作为替换信息登记在管理信息中。如果有校验错误则再次进行重试处理。
接着，说明从光信息记录介质101再现数据的情况下的光信息记录再现装置900的动作。在光信息记录再现装置900中装载了光信息记录介质101后，控制器912进行各部分的调整处理，利用电机控制电路110、访问控制电路914使拾取器903、参考光光学系统905移动到规定位置，通过拾取器903、信号处理电路105从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器106中。
然后，利用电机驱动电路110、访问控制电路914使拾取器903、参考光光学系统905移动到期望的位置，将从光信息记录介质101再现的数据写入存储器106中，通过信号处理电路105进行纠错处理、解除加扰，进行检错处理。
然后，从存储器106读取数据并经由接口电路107发送给主机108。
图10是表示第二实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理以及预固化和后固化的动作的时序图。
其中，第二实施例的光信息记录再现装置的存储器，至少具备缓冲1（Buffer1）和缓冲2（Buffer2）这2个存储面，各自的大小为固化容量份。另外，为方便起见，下文和附图中将这2个存储面表示为Buffer1和Buffer2（下一实施例中的Buffer3也是同样的）。
首先，进行cure1的预固化，再将Buffer1的数据从cure1的book1依次记录至book100。
接着，进行cure2的预固化，再将Buffer2的数据从cure2的book1依次记录至book100，并与该记录并行地进行cure1的后固化及后固化之后的校验，假设结果为cure1的book3的数据发生校验错误。
接着，进行cure3的预固化，再将更新为cure3用的数据后的Buffer1内的数据从cure3的book1依次记录至book100，并与该记录并行地进行cure2的后固化及后固化后的校验。此处假设cure2的数据没有发生校验错误。
接着，进行cure4的预固化，再将更新为cure4用的数据后的Buffer2内的数据从cure4的book1依次记录至book100，其中，在记录时对于cure4的book1，从主机重新获取原本已在cure1的book3中记录的数据进行记录。
这里，若cure1的book3没有发生校验错误时本来应当记录在cure4的book1中的数据被记录在cure4的book2中，以下全部向后错位记录。
然后，将cure1的book3的地址作为缺陷源地址、将cure4的book1的地址作为替换目的地地址登记在管理信息中。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按册单位替换数据的例子，但并不必须是册单位。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按固化单位附加纠错码的例子，但也不必须是固化单位。
此外，本实施例中表示了由光信息记录再现装置进行纠错处理和生成重试数据的例子，但也可以由主机进行。
通过以上方案，本发明的第二实施例能够得到与实施例1同样的效果。
进而，因为能够同时实施记录处理和校验处理，所以能够使用比第一实施例更短的时间在光信息记录介质中进行记录。
［实施例3］
图11是表示第三实施例的光信息记录再现装置的数据记录处理和校验处理的动作的时序图。光信息记录再现装置的结构与实施例2同样，所以省略说明，不过第三实施例的光信息记录再现装置的存储器至少具有Buffer1、Buffer2、Buffer3这3个存储面，各自的大小为固化容量份。
首先，进行cure1的预固化，将Buffer1的数据从cure1的book1依次记录至book100。
接着，进行cure2的预固化，将更新为cure2用的数据后的Buffer2内的数据从cure2的book1依次记录至book100，并与该记录并行地进行cure1的后固化和后固化后的校验，假设结果为cure1的book3的数据发生校验错误。
接着，进行cure3的预固化，将更新为cure3用的数据后的Buffer3内的数据从cure3的book1依次记录至book100，并与该记录并行地进行cure2的后固化和后固化后的校验。此处，假设cure2的数据没有发生校验错误。
接着，进行cure4的预固化，将更新为cure4用的数据后的Buffer1内的数据从cure4的book1依次记录至book100，此时在更新数据时，针对cure4的book1，将Buffer1内存在的已记录到cure1的book3中的数据配置在相当于cure4的book1位置的存储器内，cure4的book2以后记录从主机新获取的数据。
然后，将cure1的book3的地址作为缺陷源地址、将cure4的book1的地址作为替换目的地地址登记在管理信息中。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按册单位替换数据的例子，但并不必须是册单位。
此外，本实施例中为了易于理解而表示了按固化单位附加纠错码的例子，但也不必须是固化单位。
此外，本实施例中表示了由光信息记录再现装置进行纠错处理和生成重试数据的例子，但也可以由主机进行。
通过以上方案，本发明的第三实施例能够得到与实施例2同样的效果。
进而，在发生了校验错误的情况下，能够将存储器内残留的数据移动而作为重试数据再利用，所以不需要像实施例2那样从主机再次获取发生了校验错误的数据。
［实施例4］
图12是表示本发明的第四实施例的数据库装置的结构的框图。
数据库装置1201将通过服务器1202从网络1203获取到硬盘1204中的数据记录在光信息记录介质中。或者，从光信息记录介质再现数据，通过服务器1202发送到网络1203。服务器1202控制硬盘1204和数据库装置1201管理从网络1203发送的数据。硬盘1204由服务器1202控制，进行从网络1203发送的数据的记录再现。
光信息记录介质101在数据库装置1201中收纳有多片，由光信息记录介质交换装置1205选择，装载到光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303中进行数据的记录再现。光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303由库装置控制电路1205控制，对光信息记录介质101记录再现数据。光信息记录介质交换装置1206由库装置控制电路1205控制，交换光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303中装载的光信息记录介质。
库装置控制电路1205按照来自服务器1202的请求，控制光信息记录介质交换装置1206从多片光信息记录介质中选择所要求的光信息记录介质，送交给光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303。此外，库装置控制电路1205在将从服务器1202发送的数据传送给光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303之前，将该数据分割为多个数据串并附加CRC，实施加扰之后附加纠错码。此外，库装置控制电路1205在将从光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303发送的数据传送给服务器1202之前，进行纠错处理、解除加扰，基于CRC进行检错处理。
由于数据库装置1201中内置了多台光信息记录再现装置，能够同时对多片光信息记录介质进行记录再现，所以能够高速地记录再现数据。
例如在光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303中分别装载光信息记录介质，利用光信息记录再现装置1300、1301、1302、1303同时记录数据。此时，光信息记录再现装置4台并行动作，所以能够以1台光信息记录再现装置的4倍的速度记录数据。
图13是表示第四实施例的光信息记录再现装置1300的结构的框图。对于与图1共通的部分省略说明。
光信息记录再现装置1300与库装置控制电路1205连接，将从库装置控制电路1205输入的数据记录在光信息记录介质101中。此外，将从光信息记录介质101再现的数据输出到库装置控制电路1205。拾取器102能够在半径方向上移动，所以能够在光信息记录介质101整个面上使用全息术记录再现信息。
信号处理电路1305将通过接口电路107从库装置控制电路1205发送的数据传送到存储器1306，变换为二维数据，对相当于1个页的数据反复该处理而构成1个页的二维数据。对于这样构成的二维数据附加作为再现时的图像位置检测和图像畸变校正时的基准的标记，然后发送给拾取器102。
或者，信号处理电路1305接收从拾取器102检测出的图像数据，以该图像数据中包括的标记为基准检测图像位置，对图像的倾斜、倍率、扭曲等畸变进行校正，之后进行二进制化处理，除去标记，由此获得1个页的二维数据，将其保存在存储器1306中。将这样得到的二维数据变换为多个数据串之后，通过接口电路107发送给库装置控制电路1205。
其中，纠错码附加和纠错处理、加扰处理、CRC处理等由库装置控制电路1205进行。
存储器1306是暂时存储数据的存储部，由信号处理电路1305控制，用作缓存。因为并不用于进行纠错码附加和纠错处理、加扰处理、CRC处理等，所以该存储器可以比第一实施例的光信息记录再现装置中搭载的存储器更小。
存储器1306例如是DRAM、SRAM或者SSD等，能够保持数据即可，也可以是HDD。
接口电路107将来自库装置控制电路1205的记录再现指示传递给控制器1312。此外，将从信号处理电路1305发送的数据传送给库装置控制电路1205。此外，将从库装置控制电路1205发送的数据传送给信号处理电路1305。接口电路107例如按照SATA、SAS、其他传输方式进行数据传输。
控制器1312控制光信息记录再现装置1300的各部分，进行光信息记录介质101的数据记录处理、数据再现处理等。控制器1312例如由CPU构成，此外，也可以使用任意的控制电路或ASIC等专用电路。
接着，说明在光信息记录介质101中记录数据的情况下的光信息记录再现装置1300的动作。在光信息记录再现装置100中装载了光信息记录介质101后，控制器1312进行各部分的调整处理，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到规定位置，通过拾取器102、信号处理电路1305从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器1306中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103、固化光学系统104移动到期望的位置。
接着，当从库装置控制电路1205对光信息记录再现装置1300发送了数据时，经由接口电路107接收数据，保存在存储器1306中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到期望的位置，使用固化光学系统104进行预固化，通过信号处理电路1305从存储器1306读取数据，附加标记后发送给拾取器102，在光信息记录介质101中记录。然后，用固化光学系统104进行后固化。
在进行校验——即确认已记录的数据能否正确读取的情况下，将利用拾取器102从光信息记录介质101检测出的图像数据发送到信号处理电路1305，以标记为基准检测图像位置，对畸变进行校正，之后进行二进制化处理，获得二维数据，保存在存储器1306中。然后，通过接口电路107将该二维数据发送给库装置控制电路1205，由库装置控制电路1205进行确认。
接着，说明从光信息记录介质101再现数据的情况下的光信息记录再现装置1300的动作。在光信息记录再现装置100中装载了光信息记录介质101后，控制器1312进行各部分的调整处理，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到规定位置，通过拾取器102、信号处理电路1305从光信息记录介质101读取管理信息，保存在存储器1306中。
然后，利用电机控制电路110、访问控制电路114使拾取器102、参考光光学系统103移动到期望的位置，将从光信息记录介质101再现的数据写入存储器1306，通过接口电路107发送给库装置控制电路1205。
图14是表示第四实施例的库装置控制电路1205的结构的框图。库装置控制电路1205由信号处理电路1405、存储器1406、接口电路1407、1408和控制器1412构成。
信号处理电路1405由控制器1412控制，将通过接口电路1407从服务器发送的数据保存在存储器1406中，在存储器中进行各种信号处理，通过接口电路1408发送给光信息记录再现装置。
或者，将通过接口电路1408从光信息记录再现装置发送来的数据保存在存储器1406中，在存储器中进行各种信号处理，通过接口电路107发送给服务器。
存储器1406是暂时存储数据的存储部，由信号处理电路1405控制，用作缓存、纠错码附加用存储器、纠错用存储器等。存储器1406例如是DRAM、SRAM或者SSD等，能够保持数据即可，也可以是HDD。
接口电路1407将从服务器发送的记录再现指示传递给控制器1412。此外，将从信号处理电路1405发送的数据传送给服务器。而且，将从服务器发送的数据传送给信号处理电路1405。
接口电路1408将从控制器1412发送的记录再现指示传送给光信息记录再现装置。此外，将从信号处理电路1405发送的数据传送给光信息记录再现装置。并且，将从光信息记录再现装置发送的数据传送给信号处理电路1405。
接口电路1407、1408例如按照SATA、SAS、其他传输方式进行数据传输。
主机108对光信息记录再现装置100发送数据，指示记录。此外，对光信息记录再现装置100指示再现，接收数据。
控制器4112控制库装置控制电路的各部分，通过光信息记录介质交换装置选择所要求的光信息记录介质，通过光信息记录再现装置进行数据记录处理、数据再现处理等。控制器4112例如由CPU构成，此外也可以使用任意的控制电路或ASIC等专用电路。
信号处理电路1405内的存储器控制电路200根据来自各个电路的数据输入输出请求，对存储器1406进行数据写入、数据读取。
CRC运算电路201运算存储器1406中的数据串的CRC并附加该CRC。或者，运算数据串的CRC来检测错误。
加扰电路202对存储器1406中的数据串进行加扰。或者，解除数据串的加扰。
纠错和纠错码附加电路203在存储器1406中进行纠错码的附加。或者，对存储器1406中保存的数据中包含的错误进行纠正。
此外，各电路由控制器1412控制——图中并未示出。或者也可以在信号处理电路1405内设置专用控制器来控制各电路。
接着，说明对光信息记录介质101记录数据的情况下的信号处理电路1405的动作。
信号处理电路1405将从接口电路1407发送来的数据通过存储器控制电路200保存到存储器1406中，分割为多个数据串并附加地址，并且为了在再现时能进行错误检测而利用CRC运算电路201对各数据串附加CRC，为了使ON像素数和OFF像素数大致相等、防止出现同一图案的反复而利用加扰电路202实施对数据串附加伪随机数数据串的加扰，然后，为了在再现时能进行纠错而使用纠错和纠错码附加电路203附加里德-所罗门编码等纠错码，再发送给接口电路1408。
在进行校验的情况下，信号处理电路1405对于通过接口电路1408保存在存储器1406中的数据，利用纠错和纠错码附加电路203进行纠错处理，通过加扰电路202解除加扰，由CRC运算电路201进行检错处理。
在纠错处理、CRC运算处理等中检测出错误的情况下，拷贝该数据的源数据，插入粘贴到下一个记录的cure的开头。此时，使下一个记录的cure的原本的数据相应地向后错位。
接着，说明从光信息记录介质101再现数据的情况下信号处理电路1405的动作。
信号处理电路1405对于通过接口电路1408保存在存储器1406中的数据，用纠错和纠错码附加电路203进行纠错处理，通过加扰电路202解除加扰，由CRC运算电路201进行检错处理，然后发送到接口电路1407。
通过以上方案，本发明的第四实施例能够得到与第一实施例同样的效果。
进而，因为内置有多台光信息记录再现装置，能够对多片光信息记录介质同时记录再现，所以能够高速地记录再现数据。
并且，因为纠错处理和纠错码附加处理、CRC运算处理等使用1个库装置控制电路实施，所以多台光信息记录再现装置各自的存储器可以是缓冲所需的最小限度大小。
此外，本实施例中表示了由数据库装置进行纠错处理和生成重试数据的例子，但也可以由服务器进行。
另外，本发明不限定于上述实施例，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的，并不限定于必须具备说明的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，或者在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、置换其他结构。
此外，上述各结构、功能、处理部、处理单元等的一部分或全部，例如可以通过采用集成电路设计等而由硬件实现。此外，上述各结构、功能等，也可以通过处理器解释、执行实现各功能的程序而用软件实现。实现各功能的程序、表、文件等信息，能够保存在存储器、硬盘、SSD（SolidStateDrive）等记录装置、或者IC卡、SD卡等记录介质中。
此外，控制线和信息线表示了认为说明上必要的，并不一定表示了产品上所有的控制线和信息线。实际上也可以认为几乎所有结构都相互连接。

Claims (8)

1.一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，其特征在于，包括：
暂时保存从主机发送的数据的存储部；
作为记录的前处理对所述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；
将保存在所述存储部中的数据依次记录到进行了所述预固化后的区域中的记录部；
对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；
当检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部；和
根据再次传输的数据生成重试数据的控制部，其中，
由所述固化部进行预固化，并利用所述记录部在进行了该预固化的部位记录数据，然后由所述固化部进行后固化，
当所述校验部检测出校验错误时，通过所述数据请求部对主机请求再次传输数据，由所述控制部将再次传输的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在所述存储部中，并由所述记录部记录到所述光信息记录介质上。
2.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
在对光信息记录介质按规定单位进行了规定次数的预固化和数据记录之后，
对记录了数据的部位按规定单位进行规定次数的后固化，并按规定单位进行规定次数的校验，
当检测出校验错误时，对主机请求发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，依次保存在存储部中，
在接着按规定单位进行规定次数的预固化和数据记录时，
将保存在所述存储部中的数据记录到所述光信息记录介质上。
3.如权利要求2所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
规定的单位是实施1次预固化和后固化时照射的激光的照射范围。
4.如权利要求2所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
规定次数是在按规定单位反复进行预固化和数据记录的情况下，在按规定单位进行的最初的记录部位的暗反应结束为止已进行的该反复次数。
5.一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现方法，其特征在于，包括：
作为记录的前处理对所述光信息记录介质实施预固化的步骤；
在进行了所述预固化后的区域中依次记录数据的步骤；
作为记录的后处理进行后固化的步骤；
对已记录的数据的校验错误进行检测的步骤；和
当检测到校验错误时，对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的步骤，其中，
将发生了校验错误的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，记录到所述光信息记录介质上。
6.一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，其特征在于，包括：
暂时保存要在所述光信息记录介质上记录的数据的存储部；
作为记录的前处理对所述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；
将保存在所述存储部中的数据依次记录到进行了所述预固化后的区域中的记录部；
对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；和
在检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部，其中，
所述记录部与所述校验部独立而能够同时执行处理，
由所述固化部进行预固化，并利用所述记录部在进行了该预固化的部位记录数据，然后由所述固化部进行后固化，
当所述校验部检测出校验错误时，由所述数据请求部对主机请求再次传输发生了校验错误的数据，将接收到的数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在所述存储部中，并由所述记录部记录到所述光信息记录介质上。
7.一种在光信息记录介质上记录数据，并从光信息记录介质再现数据的光信息记录再现装置，其特征在于，包括：
暂时保存要在所述光信息记录介质上记录的数据的存储部；
作为记录的前处理对所述光信息记录介质进行预固化，作为记录的后处理进行后固化的固化部；
将保存在所述存储部中的数据依次记录到进行了所述预固化后的区域中的记录部；
对已记录的数据的记录质量进行确认的校验部；和
在检测出校验错误时对主机请求再次传输发生了校验错误的数据的数据请求部，其中，
所述记录部与所述校验部独立而能够同时执行处理，
由所述固化部进行预固化，并利用所述记录部在进行了该预固化的部位记录数据，然后由所述固化部进行后固化，
当所述校验部检测出校验错误时，将发生了错误的数据的暂时保存在所述存储部中的原数据插入到下一个计划的记录量单位之中，保存在所述存储部中，并由所述记录部记录到所述光信息记录介质上。
8.一种包括多个光信息记录再现装置及其控制部的数据库装置，其特征在于：
所述光信息记录再现装置是权利要求1～4、6～7中任一项所述的光信息记录再现装置。
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