CN103424186A - 发光二极管检测量具 - Google Patents

Abstract

一种检测发光二极管光源(LED)的通用量具，包括一壳部及一测试部；其中该壳部为至少朝一端开口以安装测试部的中空柱体；该测试部包括设在该开口端部的一载板及在该载板朝壳部内侧延伸的鳍片，该载板的中部设有贯通载板的至少一气孔，该气孔连通壳部外的真空泵，在载板的外侧端面邻近该气孔的任意两对角侧设置已连通外部控制电源用以导引正、负电压的至少一对电极，在该载板的外侧嵌设一围绕该电极与气孔以使LED在恒温下测试的环状制冷芯片，该壳部的底部还设有将冷却气流导向鳍片的一风扇，当待测LED背向出光面的中部抵靠该气孔时，藉由该泵提供的吸力将该LED贴附在载板上，并使LED底部极板和该对电极对应连通以对LED供电。

Description

发光二极管检测量具

技术领域

本发明涉及一种发光二极管的检测量具，特别涉及一种透过吸力将发光二极管贴附在待测区，检测时能提供恒温环境、具有不挡光、易操作、高准度，且对不同尺寸、形状、结构、型式的发光二极管一体适用的通用量具。

背景技术

检测发光二极管(LED、Light Emitting Diode)的光、电量测系统是将承载发光二极管光源的量具装入积分球，透过连接周边的光谱分析仪、电参数量测仪及发光二极管控制电源，达到检测色品坐标、色温、显色指数、色容差、波长、色纯度、光通量、电压、电流、功率等参数的功能。由于目前照明灯具普遍使用的发光二极管光源是以适合大量生产的表面贴装技术(SMT,Surface Mounted Technology)为主流，但市场上该类发光二极管光源不论在尺寸、形状、结构、型式上皆存在许多差异。

其中仅就连通发光二极管控制电源的极板的型式就有如图1所示，同时具备背向发光二极管光源203出光面2031的底部正、负极板2032、2033，朝纵向延伸的纵向正、负极板2132、2133，及朝横向继续延伸且与底部正、负极板2032、2033平行的侧向正、负极板2232、2233。现有技术中亦有不具备侧向正、负极板2232、2233的结构。而由于小型化趋势及成本等因素的考虑下，生产厂家已朝向只提供兼具表面贴装技术的底部正、负极板2032、2033的发光二极管光源203。由于在无温控的测试环境下，被测发光二极管光源203随时处于升温的瞬态（transient state），导致无法清楚定义测试条件，导致检测数据缺乏重现性。尤其对于普遍使用于照明产业的功率型发光二极管一般功率皆在0.5瓦以上，在欠缺散热设计或不当设计的现有检测量具中，发光二极管光源203会因急速升温而远超过正常状态容许的温度极限，导致发光二极管光源203的严重破坏，使检测工作完全失去意义。由于检测各式发光二极管光源203的量具是准确量测光、电等参数的重要接口，因此必须兼顾市场上不同发光二极管光源的检测量具通用性，并排除影响各参数可能产生的不确定因素。

现有技术中检测发光二极管光源203的量具可概分为两种型式，其一为如图2所示的压式量具1a，另一为如图3所示的顶式量具1b。

图2所示的压式量具1a系由金属材质制成呈中空柱体的壳部10a及设在壳部10a一端开口处的测试部20a，以和积分球的测试置入口尺寸相匹配的前段101a将测试部20a装设在积分球内，并以前段101a和后段102a间的阶部103定位，测试部20a以非金属材质制成的载板201a固设在壳部10a的开口端，在载板201a外缘附近沿径向固设一对由金属材质制成的压座301，并分别在该对压座301上螺设沿径向可调整位置的金属制调节螺栓302，该二调节螺栓302端部的螺帽透过与具有不同极性的电源连接成为能对发光二极管光源203供电的一对正、负电极205a、210a，在壳部10a内设有一承座303，在压座301与承座303之间设有一轴向弹簧件304，该轴向弹簧件304上方呈倒置的筒状顶盘305因承受弹簧张力而上移，并透过顶盘305的筒壁与载板201a中心的通孔壁面间的尺寸匹配，限制顶盘305只能沿轴向滑动，该顶盘305端面的中部区域即为将设在发光二极管底部的底部正、负极板2032、2033平贴其上的电绝缘待测区。当该量具1a未安装待测的发光二极管光源203时，上移的顶盘305端面直接与该对调节螺栓302的正、负电极205a、210a接触。操作时，为将待测发光二极管光源203安装在该量具1a，首先将顶盘305下压并依图1所示发光二极管光源203的侧向正、负极板2232、3233尺寸调整量具1a的正、负电极205a、210a位置，再将发光二极管置于顶盘305的待测位置，且使量具1a的正、负电极205a、210a分别对应压接在发光二极管光源203的侧向正、负极板2232、3233上，达到将发光二极管光源203夹设在顶盘305与调节螺栓302的一对电极205a、210a之间的待测状态。惟由于该量具1a的压座301、调节螺栓302及其一对电极205a、210a皆必需设在发光二极管光源203的出光面2031上方才能达到上述待测状态，因而会造成严重的挡光而导致量测的光通量值被大幅低估，且该量具1a的应用受限于只能在具有侧向正、负极板2232、3233的少数发光二极管光源203型式，并以同一量具1a检测不同尺寸与形状的发光二极管光源203时有其局限性及操作的不方便，尤其在无温控的测试环境下无法清楚定义测试条件，以致检测数据缺乏重现性，甚至造成发光二极管光源203的破坏。显然该量具1a不论在量测质量与应用层面上均有严重的局限性与缺失。

图3所示的顶式量具1b与压式量具1a最主要的区别在于：顶式量具1b是在通过载板201b的中心开设一平直的浅沟槽412，并将负电极组件402的底部固定在该沟槽412内，正电极组件401则可在该沟槽412内自由滑动，上述正、负电极组件401、402是以电气绝缘材料为本体，并分别在朝向待测发光二极管光源203侧分别固设至少一外凸的金属顶针，该顶针的另一端则与对应发光二极管光源203极性的电源连接，使该二组顶针成为量具1b的一对正、负电极205b、210b。该正电极组件401的移动是透过该沟槽412上开设贯穿载板201b的一长槽409，而与设在壳部10b内的径向弹簧件404固接，藉由螺丝通过该长槽409使正电极组件401固定在该径向弹簧件404中间的滑块405，该滑块405沿径向的一侧设有端部略为凸伸至前段101b外壁面以内的导杆406，该滑块405沿径向的另一侧透过贯穿前段101b壁面的固定螺丝407将弹簧408伸入滑块405上对应的导引盲孔，该盲孔与导杆406及固定螺丝407同轴。操作时，轻压导杆406一定距离即可使滑块405沿载板201b滑动并使正电极组件401朝远离发光二极管光源203移动一相同距离，放开轻压的该导杆406即可使正电极组件401接近发光二极管光源203移动。藉由上述操作可依发光二极管光源203尺寸将分别设在该量具1b正、负电极组件401、402上的一对正、负电极205b、210b与发光二极管光源203的一对纵向正、负极板2132、2133抵紧供电。惟由于该量具1b的正、负电极组件401、402的高度与发光二极管光源203的纵向正、负极板2132、2133的高度皆固定但未必匹配，又由于透过推压导杆406使滑块405产生的位移量有限，而市场发光二极管光源203的尺寸多样，且该发光二极管光源203未必设有纵向正、负极板2132、2133。因此以同一量具1b检测不同尺寸与形状的发光二极管光源203时有其局限性，又仍无法完全排除挡光问题而导致量测的光通量值被低估，且该量具1b只适用在具有纵向极板2132、2133的少数发光二极管光源203型式，尤其在无温控的测试环境下无法清楚定义测试条件，以致检测数据缺乏重现性，甚至造成发光二极管光源203的破坏。显然该量具1b的量测质量与应用层面上仍有其局限性与缺失。

为降低上述检测过程中的温升影响，虽然目前市场上检测发光二极管光源203的仪器中已有所谓的脉冲式直流电源，宣称可在发光二极管光源203点亮1毫秒或更短的时间内撷取到光、电参数的瞬态数据，惟由于包括发光二极管光源203在内的任何发热源在趋近稳态的升温过程中，尤其是功率型发光二极管最初期的温升必然是最快速且变化最剧烈的。本创作人经长期实验的仔细求证，在不致造成发光二极管光源203破坏的测试条件下，证实该等瞬态初期的光通量数据皆达长期稳定的稳态光通量数据的一倍以上，且在点亮初期的不同瞬间测得的光通量值差异很大而失去检测同一发光二极管光源203的重现性，以致只有发光二极管光源203制造商大力提倡并以该等瞬态初期数据提供终端的使用者，但对发光二极管照明产业的实际灯具性能是在长期不变的稳态运作下才具有参考价值，厂商提供的瞬态初期的夸大数据完全无应用的实质意义。在世界权威发光二极管光源203的量测方法规范（CIE 127:2007,Measurement of LEDs）中对于上述瞬态初期的量测方式是必须在明确的瞬态与稳态之间的关联性下才有概念性的描述，但由于该关联性会随不同厂家的发光二极管产品不一，对广大的照明应用终端使用者而言，完全无法规范，以致缺乏实质的应用性；因此对发光二极管光源203的检测仍以符合实际应用面且具重现性的长期稳态数据为主。

发明内容

鉴于此，有必要提供一种能使发光二极管光源在恒温的稳态条件下进行非破坏性检测，并具有不挡光、易操作、高准度及通用性的发光二极管检测量具。

该检测发光二极管(LED)的通用量具，包括一壳部及一测试部；其中该壳部为至少朝一端开口以安装测试部的中空柱体，该柱体的外周壁面自该开口朝轴向为一较薄的前段并与其余较厚的后段壁面间形成一直角的阶面；该测试部包括设在该开口端部的一载板及在该载板朝壳部内侧延伸的散热鳍片，该载板的中部设有贯通载板的至少一气孔，在载板的外侧端面邻近该至少一气孔的任意两对角侧设置已连通外部控制电源用以导引正、负电压的至少一对电极，在该载板上嵌设一围绕该电极与气孔以使LED在恒温下测试的环状制冷芯片，该壳部的底部内侧还设有将冷却气流导向鳍片的一风扇，朝载板的内侧以一软管分别连通该至少一气孔及设于壳部外的真空泵，当待测LED背向出光面的中部抵靠该气孔时，藉由该泵提供的吸力将该LED贴附在载板上，并使LED底部极板和该对电极对应连通以对LED供电。

本发明提供一种能使发光二极管光源维持在不同的恒温保护条件下进行稳态的光、电检测通用量具，有效解决温升导致的破坏。

本发明提供一种具有不挡光的检测LED通用量具，实现高准确的光、电性能测试，有效解决现有量具挡光的缺失。

本发明提供一种具有可应用于任何LED尺寸与形状的检测通用量具，一次性满足多元化的检测需求，发挥一具通用效益。

本发明提供一种结构简、操作易的检测LED通用量具，实现精简成本、简化制程、提升检测质量及长期可靠度的效益。

附图说明

图1为一典型发光二极管光源的立体剖面示意图。

图2为一现有量具的组装剖面示意图。

图3为另一现有量具的组装剖面示意图。

图4为本发明第一实施例的组装剖面示意图。

图5A为图4中测试部的俯视立体图。

图5B为图4中测试部的仰视立体图。

图6为图4中二种伸缩组件的示意图。

图7A与图7B为图4中二种电极的示意图。

图8为本发明第二实施例的组装剖面示意图。

图9A为图8中测试部的俯视立体图。

图9B为图8中测试部的仰视立体图。

主要元件符号说明

量具                    1,1a,1b,1c

壳部                    10,10a,10b,10c

前段                    101,101a,101b,10c

后段                    102,102a,102b,102c

阶面                    103

壁孔                    104

测试部                  20,20a,20b,20c

载板                    201,201a,201b,201c

待测区                  202

发光二极管光源          203

出光面                  2031

底部正极板              2032

底部负极板              2033

纵向正极板              2132

纵向负极板              2133

侧向正极板              2232

侧向负极板              2233

气孔                    204

正电极                  205,205a,205b,205c

伸缩组件                2050,2050a,2050b

弹簧                    2051

顶针                    2052

套筒                    2054,2054a,2054b

金属座                  2056

软管                    206

电线                    208a,208b

插头                    209a,209b

负电极                  210,210a,210b,210c

压座                    301

调节螺栓                302

承座                  303

轴向弹簧件            304

顶盘                  305

鳍片                  306a,306b

制冷芯片              307

风扇                  308

导风罩                309

进风口                310a,310b

排风口                  311

中心筒体              312a,312b

筒盖                  315

正电极组件            401

负电极组件            402

径向弹簧件            404

滑块                  405

导杆                  406

固定螺丝              407

弹簧                  408

长槽                  409

沟槽                  412

真空泵                50

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

以下参照图4至图9，对本发明检测发光二极管的通用量具予以进一步说明。

图4为本发明第一实施例的组装剖面示意图，图5A与图5B分别为图4中测试部的俯视及仰视立体图，图6为图4中二种伸缩组件的示意图，图7A与图7B分别为图4中二种电极的示意图；该检测量具1主要包括一壳部10及一测试部20。

该壳部10为至少朝一端开口以安装测试部20的中空柱体，该柱体的外周壁面自该开口沿轴向延伸成一较薄的前段101并与其余较厚的后段102壁面间形成一直角的阶面103；该前段101的外周壁面尺寸与形状和积分球的测试置入口(图未示)的内周壁面相匹配，并以该阶面103抵靠在该测试置入口的管状端面，达到将测试部20定位安装在积分球内，以使发光二极管光源203处于待测状态。

该测试部20包括嵌设在该壳部10一开口端的载板201及由该载板201朝壳部10内侧沿轴向延伸的散热鳍片306a，该鳍片306a围绕于中心筒体312a周边沿径向呈放射状延伸的多个螺旋板，以使贴附在载板201外侧端面的热源增加散热面积与强化导热路径，该多个螺旋板的端缘与壳部10的内壁之间留有一间距，以顺畅冷却气流路径，该中心筒体312a朝鳍片306a的开口端还设有一筒盖315，该载板201外侧端面的中部为置放发光二极管光源203的一电绝缘待测区202，在该待测区202的中部设有贯穿载板201并与中心筒体312a连通的至少一气孔204，本实施例以图示的一气孔204作说明，在该待测区202邻近该气孔204的两对角侧设置连通外部控制电源(图未示)以导引正、负电压的至少一组电极205,210，本实施例以图示的三组电极205,210作说明，各电极205,210是由一金属制的套筒2054(外径小于3mm)内设有一金属弹簧2051的伸缩组件2050构成，其中一种伸缩组件2050a是由两端开口的一套筒2054a内将该弹簧2051两端皆分别连接一可随该弹簧2051朝该二开口进行轴向伸缩的顶针2052(如图6A)，另一种伸缩组件2050b是由一端开口的套筒2054b内将该弹簧2051连接一可随该弹簧2051朝该开口进行轴向伸缩的顶针2052(如图6B)，各电极205,210是以套筒2054垂直穿设并固定在贯穿载板201的对应孔道中并与载板201电绝缘，该孔道与中心筒体312a连通，并在未装入发光二极管光源203时将伸缩组件2050一端所设顶针2052略微凸出于待测区202表面；透过连通中心筒体312a并固接在筒盖315的一软管206，将该气孔204连通至穿过壳部10的后段102所设一壁孔104，再以该软管206连接壳部10外的真空泵50；该正、负电极205,210是分别透过连接伸缩组件2050底端的二电线208a通过中心筒体312a及筒盖315，并由壁孔104引出壳部10后以插头209a连通至外部控制电源(图未示)，以对发光二极管光源203供电；其达成方式之一为如图4与图7A所示，是以二电线208a分别连接该伸缩组件2050a底端不同极性的三对顶针2052或分别连接该伸缩组件2050b的三对套筒2054b底端达成；另一方式为如图7B所示，将设在二电线208a上的三对金属座2056分别电性套接在三对不同极性的套筒2054b底端达成。

该量具1的待测区202还设置一围绕电极205,210的环状制冷芯片307(又称为热电致冷芯片、半导体致冷器、热泵等)，该制冷芯片307是一种对致冷晶粒透过珀尔帖效应(Peltier Effect)达到通电流即能在良好的散热条件下产生较大冷热温差的装置，致冷晶粒主要由锑(Antimony)、碲(Tellurium)、铋(Bismuth)、硒(Selenium)等稀有元素制成，制冷芯片307则是将多个致冷晶粒封装在上下二层的电绝缘的陶瓷板，本发明采用的环状制冷芯片307，其中一作为发热面的环形板以其外表面密贴在载板201上对应的凹槽底面，另一作为制冷面的环形板以其外表面与待测区202的外表面同高，并以连接制冷芯片307的二电线208b通过载板201及鳍片306a间，并由壁孔104引出壳部10后以插头209b连通至外部电源(图未示)，以对该制冷芯片307供电；在该制冷面上还贴设一热感应器(例如热敏电阻或热电偶)(图未示)，透过该热感应器连接温度控制电路(图未示)及温度显示器(图未示)进行该制冷面的温度设定，使制冷面在检测期间维持在设定的低温(例如10℃或20℃)，达到将吸附在待测区202中的发光二极管光源203所释出的热量被制冷面吸收，从而使发光二极管光源203维持在设定的低温下进行测试，避免发光二极管光源203检测时因过度温升而受损；为达到上述低温检测目的，同时依循制冷芯片307的正常操作特性，通常当发热面无法消化很大的热量时会升至较高温度，热能只有倒流回到制冷面，使制冷面亦无法维持在想要的低温，针对此，本发明透过载板201将制冷芯片307由发热面释出的热量传导至鳍片306a；另外，该壳部10的后段102靠近底部的内壁面还嵌设有将外界冷空气吹向鳍片306a的一风扇308，该螺旋形鳍片306a的螺旋方向系与风扇308的叶轮旋转方向一致，使冷却气流容易导入鳍片306a之间吸热；当该量具1尚未装入积分球前，在风扇308的进风侧可经由间隔围设在后段102下方的侧向进风口310a吸入冷却气流，当该量具1已装入积分球后，在风扇308的进风侧还可同时经由后段102下方开口的轴向进风口310b吸入冷却气流，在风扇308的出风侧设有一朝向鳍片306a渐缩的导风罩309，该导风罩309的出口涵盖该鳍片306a的轴向自由端，以便将汇聚的冷却气流加速并导向鳍片306a与载板201上，在各相邻鳍片306a间吸热的气流随即经由预设于鳍片306a端缘和前段101内壁之间所留间距，导入由前段101内壁面与导风罩309外壁面之间所形成的环状通道，再经由间隔围设在后段102壁面的多个排风口311，顺利将来自发光二极管光源203与来自制冷芯片307的发热面所释出的热量由量具1内排放到积分球外。

操作量具1进行检测发光二极管光源203时，首先开启真空泵50，再将发光二极管光源203设置在待测区202，使背向出光面2031的中部抵靠该气孔204，并使底部正极板2032与底部负极板2033分别和对应于该量具1不同极性的一组电极205,210上凸伸的至少一对顶针2052相互抵靠，透过该真空泵50对发光二极管光源203提供的吸力使该组电极205,210内的弹簧2051下压，将该发光二极管光源203贴附并定位在待测区202，同时使该至少一对具有不同极性的顶针2052被压缩至分别抵紧在发光二极管光源203的底部正极板2032与底部负极板2033；待环状制冷芯片307的制冷面已设定在所需要的温度并启动风扇308后，开启制冷芯片307的外部电源；随即将该量具1定位安装在积分球的测试置入口内，待调整外部控制电源至该发光二极管光源203正常点亮时的稳定工作电流或工作电压后，开启电源以点亮在积分球内的该发光二极管光源203，由温度显示器确认设定该制冷面的温度达稳定后，启动发光二极管光源203的光、电性能自动检测系统；待检测完毕后将该外部控制电源关闭使发光二极管光源203熄灭，再将该量具1自积分球取出并取下该发光二极管光源203后，可继续更换另一发光二极管光源203进行检测。

相较于现有的检测发光二极管量具1a,1b，由于本实施例透过真空泵50对发光二极管光源203的底部所提供的吸附力，不但达到将发光二极管光源203贴附并定位在量具1的最前缘，完全排除现有的检测量具1a,1b的挡光缺失，并同步达成发光二极管光源203的电性连接，且能完全避免发光二极管光源203升温造成的量测不准度与破坏性风险，更因在结构上较现有的检测量具1a,1b简化，不论在安装与拆卸发光二极管光源203的操作上均较方便；又由于本发明的检测量具1能针对任何SMT型发光二极管光源203皆必定具备的底部正、负极板2032,2033进行供电，因而在检测不同尺寸、形状、结构、型式的发光二极管光源203时无现有检测量具1a,1b的任何限制，从而确保本发明检测发光二极管量具1优异的量测质量与极强的通用性。

图8为本发明第二实施例的组装剖面示意图，图9A与图9B分别为图8中测试部的俯视及仰视立体图；本实施例与前述实施例主要区别在于：本实施例的量具1c将前述实施例的量具1中以伸缩组件2050装入贯穿载板201的孔道所形成的一组电极205,210，简化为将二条状金属片铺设成微凸于载板201c表面并与载板201c间形成电绝缘的一组电极205c,210c，且将前述实施例中的环状制冷芯片307的制冷面设置成与该组电极205c,210c在同一平面上，因此当采用和前述实施例相同的吸力方式将发光二极管光源203贴附并定位在待测区202时，除可达成和该组电极205c,210c形成电连接外，且可同步受到制冷面低温控制的保护；另外，由于本实施例的该组条状金属片电极205c,210c是透过二电线208a直接穿过载板201c，再经由鳍片306b间导出壳部10c而与外部控制电源形成电连接，亦即该电线208a可以不必经由中心筒体312b的开口端引出，因此可缩小中心筒体312b的直径，从而使接近待测区202中央的鳍片306b密度增加，除可强化散热功效外，亦可将连通真空泵50和气孔204间的软管206直接与中心筒体312b的开口端连接，从而可省去筒盖315的设置；再则，本实施例以连接中心筒体312b沿径向延伸的直板形鳍片306b取代连接中心筒体312a沿径向延伸的螺旋板形鳍片306a，达到更易制造的目的，实际应用时该鳍片亦可采用其它的型式，例如不同形状的柱体等；显然，量具1c除能达到与前述实施例相同的效益并超越现有技术的优点外，更具有精简结构、简化制程、降低成本的效益。

本发明检测发光二极管量具1,1c在前段101,101c的外周壁面尺寸与形状是和商用检测LED的光、电量测系统中积分球的测试置入口的内周壁面相匹配，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1,1c中的气孔204数量、位置及型式是为达成将发光二极管光源203吸附定位的目的，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1,1c中的正电极205,205c与负电极210,210c数量、位置及型式是为达成将LED的底部正、负极板2032,2033和对应极性的该电极形成电连接的目的，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1,1c中的制冷芯片307形状、位置及型式是为达成在控制的低温环境下检测发光二极管光源203的目的，并不受所举实施例的限制。

由上述的实施方式已进一步清楚说明本发明的技术特征及达成的功效，包括：

本发明提供一种具有检测LED光、电性能的高准确量具，以吸力使SMT型LED方便贴附定位于待测区，并使该LED的底部正、负极板和该量具的正、负电极一并接触通电，且使LED恒常维持在量具的最前缘，克服现有量具的挡光缺失，实现高准确的光、电性能检测效益。

本发明提供一种能使发光二极管光源维持在不同的恒温保护条件下进行稳态的光、电检测通用量具，透过围设在靠近电极的环状制冷芯片，并对该制冷芯片的发热面提供强制对流的高效散热和顺畅导引冷却气流的通道，顺利将来自发光二极管光源和来自制冷芯片所释出的热量由量具内排放到积分球外，使该制冷芯片的制冷面发挥低温控制效能，有效排除发光二极管光源急速升温造成的量测不准度与破坏性风险。

本发明提供一种可应用于检测任何SMT型LED尺寸与型式的光、电性能通用量具，针对任何SMT型发光二极管光源皆必定具备的底部正、负极板进行供电，不论该LED的尺寸与型式及是否具有纵向或侧向正、负极板的多元化检测需求，皆可一次性满足，实现一具通用的效益。

本发明提供一种结构简、操作易的检测SMT型LED通用量具，不需现有量具中结构复杂的定位夹具，并可大幅简化安装与拆卸LED的繁琐操作，实现对量具的成本精简与制程简化，并确保检测质量与长期可靠度的效益。

综上所述，本发明确已符合发明专利要件，遂依法提出专利申请。惟，以上所述者仅为本发明的较佳实施例，自不能以此限制本案的申请专利范围。举凡熟悉本案技艺人士援依本发明的精神所作的等效修饰或变化，皆应涵盖于本案的申请专利范围内。

Claims (13)

1.一种发光二极管检测量具，用于对发光二极管光源进行检测，其包括壳部和测试部，壳部支撑测试部，该测试部包括载板，该载板用于承载发光二极管光源，以使发光二极管光源的底面贴设于该载板，发光二极管光源的出光面背离该载板，发光二极管光源的底面具有极板，其特征在于：该载板上设有导电结构，该测试部还包括真空吸附装置，该载板上设置制冷芯片，该载板对应发光二极管光源开设有至少一气孔，该制冷芯片围设于该至少一气孔外，该真空吸附装置通过该至少一气孔将发光二极管光源吸附于载板上，使发光二极管光源的极板与导电结构接触而使发光二极管光源发光，该制冷芯片用于控制发光二极管光源的检测温度。

2.如权利要求1所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该壳部为至少朝向一端开口的中空柱体，该载板设置于该开口端，该测试部还包括从该载板朝向背离发光二极管光源的方向延伸的散热鳍片。

3.如权利要求2所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该壳部的远离该载板的另一端内侧还设有风扇，该风扇将冷却气流导向该散热鳍片。

4.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该壳部远离该载板的另一端设置为进风口，该进风口包括侧向进风口与轴向进风口，该风扇经由该风口吸入冷却气流。

5.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该风扇的出风侧设有朝向该散热鳍片渐缩的导风罩。

6.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该风扇的出风经由壳部内壁面与导风罩外壁面之间所形成的环状通道，再经由间隔围设在该壳部壁面的多个排风口将热量释出。

7.如权利要求2所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该载板还包括中心筒体，该真空吸附装置包括软管及真空泵，该中心筒体连通该至少一气孔与该软管，该散热鳍片围绕于该中心筒体周边沿径向呈放射状延伸。

8.如权利要求1所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该导电结构包括在载板的外侧端面邻近该气孔的相对两侧设置的至少一对电极。

9.如权利要求8所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该制冷芯片为环状，该制冷芯片围绕该至少一对电极。

10.如权利要求9所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该载板对应该制冷芯片开设一自该载板远离该壳部的外侧端面朝向该壳部凹陷的凹槽，该制冷芯片包括将多个致冷晶粒封装在上下二层的电绝缘的陶瓷板，其中一陶瓷板作为发热面以其外表面密贴在载板上的凹槽的底面，另外一陶瓷板作为制冷面以其外表面与该载板的外侧端面同高。

11.如权利要求8所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该导电结构的电极包括一伸缩组件和至少一顶针，该伸缩组件包括金属套筒和一容置于该金属套筒中的弹簧，该至少一顶针将弹簧压持于套筒中，该套筒具有上下两端，且至少一端设有一开口，以供该顶针随弹簧朝开口轴向伸缩。

12.如权利要求8所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该至少一对电极为条状金属片并与载板间形成电绝缘，该制冷芯片的制冷面与该至少一对电极在同一平面上。

13.如权利要求11所述的发光二极管检测量具，其特征在于：该至少一对电极透过二电线直接穿过载板导出壳部而与外部控制电源形成电连接。

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