KR101460550B1 - 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓 - Google Patents

온도 제어가 가능한 엘이디 소켓 Download PDF

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temperature control
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김진성
이정후
김병진
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㈜킴스옵텍
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    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes

Abstract

본 발명은 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓에 관한 것이고, 엘이디 소자의 특성 시험 과정에서 엘이디 소자의 정해진 온도 범위로 유지될 수 있도록 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓에 관한 것이다. 엘이디 소켓은 클램프(211)에 의하여 엘이디 소자(L)가 고정되는 고정 홈(217)이 형성된 고정 플레이트(21); 고정 플레이트(21)의 아래쪽에 형성된 온도 제어 유닛(10); 및 온도 제어 유닛(10)의 아래쪽에 형성된 방열 유닛(25)을 포함하고, 상기 온도 제어 유닛(10)은 탄성 수단에 의하여 지지가 된다.

Description

온도 제어가 가능한 엘이디 소켓{LED Socket Capable of Controlling Temperature}
본 발명은 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓에 관한 것이고, 엘이디 소자의 특성 시험 과정에서 엘이디 소자의 정해진 온도 범위로 유지될 수 있도록 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓에 관한 것이다.
엘이디(Light Emitting Diode)는 화합물 반도체의 특성으로 전기 에너지를 광 에너지로 변환시키는 반도체 소자를 말한다. 일반적으로 엘이디는 발광 효율이 높고, 응답 속도가 빠르고, 소비 전력이 적고, 작동 온도 범위가 넓으면서 다양한 색의 발광이 가능하다는 특징을 가진다. 대량으로 생산되는 엘이디는 샘플 측정 방법으로 분광 특성이 시험될 필요가 있고 일반적으로 분광 특성의 시험을 위하여 적분구가 사용된다. 엘이디 소자의 발광 과정에서 많은 에너지가 열로 변한다. 그리고 엘이디의 시험 과정에서 엘이디 소자의 주변 온도는 분광 특성에 영향을 미칠 수 있다. 그러므로 시험 과정에서 엘이디 소자가 적절한 온도 범위로 유지될 필요가 있다.
엘이디 소자의 시험과 관련된 선행기술로 특허공개번호 제2013-0023422호 ‘엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법’이 있다. 상기 선행기술은 엘이디의 온도를 변화시키는 히터 부분, 상기 히터 부분에 의해 변화된 상기 엘이디의 온도를 측정하는 측정 온도 측정 부분 및 상기 엘이디의 품질을 시험하는 품질 테스트 부분으로 이루어진 엘이디 테스터 시스템에 대하여 개시한다.
엘이디 시험과 관련된 다른 선행기술로 특허등록번호 제1184683호 ‘엘이디 칩 검사 장치’가 있다. 상기 선행기술은 엘이디 칩의 광 특성을 검사하는 광 특성 유닛; 상기 엘이디 칩이 배치되어 상기 광 특성 검사 유닛의 검사 위치로 이동시키는 칩 안착 블록; 상기 검사 위치로 이동된 상기 엘이디 칩 하부의 전기 접속 부분에 대해 접촉 및 접촉 해제가 되는 프로브 카드; 상기 검사 위치에 준비되어 상기 엘이디 칩의 이탈을 방지하는 칩 고정 유닛; 회전체와 상기 회전체를 회전시키는 회전 구동 기기를 가지는 로터리 인덱스 유닛을 포함하고, 상기 칩 안착 블록은 상기 회전체의 둘레 영역에 등 간격을 두고 복수로 배치되고, 상기 프로브 카드는 상기 칩 안착 블록 각각에 배치되어 있는 것을 특징으로 엘이디 칩 검사 장치에 대하여 개시한다.
상기 선행기술은 엘이디 소자가 정해진 위치에 안정적으로 고정되면서 이와 동시에 발광이 되는 엘이디 소자가 정해진 온도 범위에서 유지되도록 하는 기술에 대하여 개시하지 않는다.
본 발명은 선행기술이 가진 문제점을 해결하기 위한 것으로 아래와 같은 목적을 가진다.
선행문헌1: 특허공개번호 제2013-0023422호((주)에이피텍, 2013년03월08일 공개), 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법 선행문헌2: 특허등록번호 제1184683호(주식회사 이노비즈, 2012년09월20일 공개), 엘이디 칩 검사 장치
본 발명의 목적은 엘이디 소자의 시험 과정에서 발광이 되는 엘이디 소자의 온도 제어에 의하여 검사 신뢰성이 향상될 수 있도록 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓을 제공하는 것이다.
본 발명의 적절한 실시 형태에 따르면, 엘이디 소켓은 클램프에 의하여 엘이디 소자가 고정되는 고정 홈이 형성된 고정 플레이트; 고정 플레이트의 아래쪽에 형성된 온도 제어 유닛; 및 온도 제어 유닛의 아래쪽에 형성된 방열 유닛을 포함하고, 상기 온도 제어 유닛은 탄성 수단에 의하여 지지가 된다.
본 발명의 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 고정 홈에 배치되는 센서 유닛을 더 포함한다.
본 발명의 또 다른 적절한 실시 형태에 따르면, 상기 클램프는 링커에 배치되는 접촉 롤러에 의하여 상기 고정 플레이트를 따라 이동되고 그리고 상기 탄성 수단이 수용된 제1 서포터는 상기 방열 유닛의 내부에 배치되는 제2 서포터의 내부에 적어도 일부가 수용되어 상기 온도 제어 유닛에서 발생된 열이 상기 방열 유닛에 형성된 방열 홀을 통하여 배출되도록 한다.
본 발명에 따른 엘이디 소켓은 서로 다른 엘이디 소자가 동일한 조건으로 안정적으로 고정될 수 있도록 하면서 이와 동시에 검사 과정에서 온도 제어가 가능하도록 하는 것에 의하여 검사 신뢰성이 향상되도록 한다는 이점을 가진다. 또한 본 발명에 따른 엘이디 소켓은 다양한 규격의 엘이디 소자의 시험에 적용되도록 하면서 엘이디 소자가 측면에서 고정되도록 하는 것에 의하여 시험 정확성이 향상되도록 한다는 이점을 가진다.
도 1은 본 발명에 따른 엘이디 소켓에서 온도 제어가 되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 엘이디 소켓의 실시 예를 도시한 것이다.
도 3a, 도 3b 및 도 3c는 본 발명에 따른 엘이디 소켓에 적용될 수 있는 고정 구조, 온도 제어 유닛 및 센서 유닛의 실시 예를 각각 도시한 것이다.
도 4는 본 발명에 따른 엘이디 소켓이 적용되는 엘이디 검사 장치의 실시 예를 도시한 것이다.
아래에서 본 발명은 첨부된 도면에 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되지만 실시 예는 본 발명의 명확한 이해를 위한 것으로 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 아래의 설명에서 서로 다른 도면에서 동일한 도면 부호를 가지는 구성요소는 유사한 기능을 가지므로 발명의 이해를 위하여 필요하지 않는다면 반복하여 설명이 되지 않으며 공지의 구성요소는 간략하게 설명이 되거나 생략이 되지만 본 발명의 실시 예에서 제외되는 것으로 이해되지 않아야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 엘이디 소켓에서 온도 제어가 되는 과정의 실시 예를 도시한 것이다.
도 1을 참조하면, 엘이디 소자의 시험을 위하여 엘이디 소자 샘플이 엘이디 소켓에 고정될 수 있다(S11). 그리고 엘이디 소켓은 예를 들어 적분구와 같은 측정 장치에 설치될 수 있다. 엘이디 소켓의 내부에 전력 공급을 위한 배선이 형성되고 엘이디 소켓은 외부 전원과 예를 들어 플러그와 같은 것으로 연결될 수 있다. 엘이디 소켓의 작동 버튼이 켜지고 엘이디 샘플로 전력이 공급되면서 발광이 엘이디 소자가 발광될 수 있다(S12).
엘이디 소자의 발광은 열 발생을 수반하고 측정은 동일한 온도 조건에서 이루어지는 것이 유리하다. 발광 조건의 측정을 위하여 발광이 되는 엘이디 소자의 온도가 탐지될 수 있다(S13). 그리고 탐지된 온도에 따라 적절하게 온도가 제어될 수 있다(S14). 엘이디 소자의 온도 제어를 위하여 예를 들어 열전소자(Thermo Electric Cooler)와 같은 장치가 사용될 수 있다. 열전소자는 예를 들어 제베크 효과를 이용하는 소자 또는 펠티에 소자와 같은 것이 되거나 또는 NTC 서미스터(Negative Temperature Coefficient Thermistor) 또는 PTC 서미스터(Positive Temperature Coefficient Thermistor)과 같은 것이 될 수 있지만 바람직하게 비스무트와 같은 반도체가 이용되는 펠티에소자가 될 수 있다. 열전소자가 적용되는 경우 엘이디 소자의 냉각을 위한 부분과 반대되는 부위에서 발생되는 열이 발산될 필요가 있다. 이에 따라 적절한 방열 수단에 의하여 엘이디 소켓의 외부로 열이 발상될 수 있다(S14).
엘이디 소켓의 내부의 온도가 적절하게 제어되면 각각의 엘이디 소자 샘플이 동일 조건에서 시험될 수 있고 이로 인하여 측정 신뢰성이 향상될 수 있다. 다른 한편으로 이와 같은 온도 제어에 의하여 엘이디 소자의 열화 특성(aging property)이 시험될 수 있다. 그러므로 엘이디 소켓의 온도 제어는 검사 신뢰성 및 다양한 시험을 위한 주요한 제어 요소가 될 수 있다.
아래에서 이와 같은 엘이디 소켓의 내부 온도 제어가 가능하도록 하는 본 발명에 따른 엘이디 소켓에 대하여 설명된다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 엘이디 소켓의 실시 예를 도시한 것이다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 본 발명에 따른 엘이디 소켓은 클램프(211)에 의하여 엘이디 소자(L)가 고정되는 고정 홈(217)이 형성된 고정 플레이트(21); 고정 플레이트(21)의 아래쪽에 형성된 온도 제어 유닛(10); 및 온도 제어 유닛(10)의 아래쪽에 형성된 방열 유닛(25)을 포함하고, 상기 온도 제어 유닛(10)은 탄성 수단에 의하여 지지가 된다.
본 발명에 따른 엘이디 소켓은 전체적으로 원통 형상을 가질 수 있고 상부에 엘이디 소자의 고정을 위한 고정 모듈이 형성될 수 있고 그리고 아래쪽에 엘이디 소자의 고정을 위한 부분을 지지하기 위한 받침 모듈과 엘이디 소자에서 발생되는 열을 외부로 발산시키기 위한 방열 모듈이 배치될 수 있다. 각각의 모듈은 적절한 하우징 또는 케이싱에 수용될 수 있다.
엘이디 소자(L)는 고정 플레이트(21)에 형성된 고정 홈(217)에 위치되어 클램프(211)에 의하여 고정될 수 있다. 고정 플레이트(21)는 원판 형상이 될 수 있고 고정 홈(217)은 고정 플레이트(11)의 중앙 부분에 형성될 수 있지만 이에 제한되지 않고 고정 플레이트(11)의 구조 또는 다른 유닛의 배치에 따라 적절하게 배치될 수 있다.
고정 홈(217)으로부터 일정한 폭으로 고정 플레이트(21)의 가장자리 또는 둘레 방향으로 슬라이딩 가이드가 형성될 수 있다. 슬라이딩 가이드는 고정 홈(217)으로부터 직선 형상으로 연장될 수 있고 클램프(211)가 고정 플레이트(21)를 따라 이동되기에 적합한 구조를 가질 수 있다.
클램프(211)에 의하여 고정 홈(217)에 위치하는 엘이디 소자(L)가 정해진 위치에 고정되거나 또는 고정 해제가 될 수 있다. 클램프(211)는 고정 플레이트(21)의 표면에 대응되는 사각 판형 부분을 가질 수 있다. 클램프(211)가 슬라이딩 가이드에 결합된 상태에서 고정 플레이트(21)의 위쪽 표면과 클램프(211)의 위쪽 표면은 바람직하게 동일 평면을 형성할 수 있지만 반드시 요구되는 것은 아니다.
클램프(211)의 이동은 링커(213)에 의하여 유도될 수 있다. 링커(213)는 아래쪽으로 조작 노브(251)와 연결되고 그리고 위쪽으로 클램프(211)와 연결될 수 있다. 링커(213)의 위쪽에 예를 폴리우레탄 소재의 접촉 롤러(214)가 고정될 수 있다. 접촉 롤러(214)는 클램프(211)의 아래쪽 부분과 접촉 가능하도록 배치될 수 있다. 조작 노브(251)의 상하 이동에 의하여 링커(213)가 상하로 이동되면서 접촉 롤러(214)가 클램프(211)의 아래쪽 부분과 접촉 및 분리가 될 수 있다. 접촉 롤러(214)가 클램프(211)에 접촉되어 위쪽으로 상승되면 클램프(211)는 고정 홈(217)의 방향으로 이동된다. 그리고 접촉 롤러(214)가 아래쪽으로 이동되면 다시 클램프(211)가 고정 홈(217)의 반대 방향으로 이동될 수 있다.
고정 플레이트(21)의 아래쪽에 온도 제어 유닛(10)이 설치될 수 있다. 온도 제어 유닛(10)은 예를 들어 펠티에 소자로 이루어진 열전소자가 될 수 있고 원판 형상의 절연을 위한 세라믹 판 및 전기 또는 열전달을 위하여 P형 반도체와 N형 반도체로 이루어진 소자의 양쪽에 배치되는 전도 판을 포함할 수 있다. 도 2a에 도시된 것처럼, 온도 제어 유닛(10)의 아래쪽에 열전달 부재(11)가 설치될 수 있고 열전달 부재(11)는 온도 제어 유닛(10)과 접하면서 아래쪽으로 제1 서포터(22)와 연결될 수 있다. 이와 같은 구조로 인하여 온도 제어 유닛(10)에 의하여 발생된 열이 아래쪽에 형성된 방열 모듈로 쉽게 전달될 수 있다. 온도 제어 유닛(10)은 전체적으로 원판 형상이 될 수 있지만 이에 제한되지 않는다. 또한 열전달 부재(11)은 온도 제어 유닛(10)의 열을 제1 서포터(22) 및 제2 서포터(23)로 전달할 수 있는 적절한 구조를 가질 수 있고 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
온도 제어 유닛(10)에 의하여 시험이 되는 엘이디 소자(L)의 주변 온도 또는 고정 홈(217)의 온도가 적절한 수준으로 제어될 수 있다. 열전달 부재(231)의 아래쪽에 제1 서포터(22)가 설치될 수 있고 그리고 제1 서포터(22)의 아래쪽에 제2 서포터(23)가 배치될 수 있다. 제2 서포터(23)는 방열 유닛(25)의 내부에 수용될 수 있다. 온도 제어 유닛(10)에 필요한 전력을 공급하기 위한 소자 또는 장치가 열전달 부재(11)의 내부에 배치될 수 있다.
제1 서포터(22)는 플랜지 형상의 받침 날개 형상으로 만들어질 수 있고 제2 서포터(23)에 조작 홈(232)이 형성될 수 있다. 제1 서포터(22)는 링커(213)의 아래쪽 부분을 고정하는 기능을 가질 수 있고 그리고 조작 홈(232)에 조작 노브(251)가 결합될 수 있다.
배선 블록(24)이 링커(213)의 맞은 편 또는 다른 적절한 위치에 배치될 수 있다. 배선 블록(24)은 엘이디 소켓의 내부에 배치되는 다양한 배선이 정리가 되면서 외부 전력 공급을 위한 배선의 통로 기능을 가질 수 있다. 배선 블록(24)은 다양한 구조로 형성될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
제2 서포터(23)는 방열 유닛(25)의 내부에 수용될 수 있고 방열 유닛(25)의 아래쪽에 방열 팬(26)이 배치될 수 있다. 제2 서포터(23)는 엘이디 소켓의 내부에서 발생된 열을 전달하는 기능을 가질 수 있고 전달된 열은 방열 유닛(25) 및 방열 팬(26)을 통하여 외부로 배출될 수 있다. 방열을 위하여 방열 유닛(25)의 둘레 면에 다수 개의 방열 홀(252)이 형성될 수 있다
조작 노브(251)는 방열 유닛(25)을 관통하여 조작 홈(232)에 결합될 수 있다. 도 2b를 참조하면, 수직 링커(213)의 아래쪽 부분은 제1 서포터(22)에 고정될 수 있고 그리고 조작 노브(251)의 앞쪽 끝은 경사 관통 부분(232a)과 선형 관통 부분(232b) 사이에서 이동하도록 결합될 수 있다. 구체적으로 앞쪽 끝 부분은 경사 관통 부분(232a)에 위치하여 제1 서포터(22)를 지지하고 그리고 조작 노브(251)의 손잡이를 위쪽 방향으로 이동하면 앞쪽 끝 부분이 선형 관통 부분(232b)으로 이동하면서 제1 서포터(22)가 아래쪽으로 이동하게 된다. 이와 동시에 제2 서포터(23) 전체가 아래쪽으로 이동하게 되고 이와 동시에 링커(213)가 아래쪽으로 이동하게 된다. 그리고 클램프(211)가 고정 플레이트(21)의 둘레 방향으로 이동하게 된다. 그리고 조작 노브(251)를 수평 방향에서 다시 경사지도록 조작하면 위에서 설명된 것과 반대 방향으로 제1 서포터(22)가 이동하게 되고 이에 따라 클램프(211)가 고정 홈(217)의 방향으로 이동하게 된다.
제1 서포터(22)의 아래쪽 부분 및 제2 서포터(23)의 아래쪽 부분에 각각 탄성 수단(E1. E2)이 설치되고 이에 따라 제1 서포터(22) 및 제2 서포터(23)는 조작 노브(251)의 작동에 따라 정해진 위치에서 탄성 지지가 될 수 있고 그리고 다시 조작 노브(251)의 작동에 의하여 원래 위치로 복원될 수 있다. 이와 같이 조작 노브(251)의 경사 배열 및 수평 배열에 따라 클램프(211)가 슬라이딩 가이드를 따라 이동하게 되고 그리고 클램프(211)의 앞쪽 부분에 의하여 엘이디 소자(L)가 측면 방향의 압력에 의하여 고정되거나 또는 고정 해제가 될 수 있다. 이와 같은 엘이디 소자(L)의 측면 고정은 엘이디 소자(L)의 발광 부분이 완전히 외부로 노출되도록 하는 것에 의하여 측정 신뢰성이 향상되도록 한다. 또한 서로 다른 엘이디 소자(L)가 동일 구조로 고정 홈에 고정될 수 있도록 한다는 장점을 가진다. 이와 같이 제1 서포터(22) 또는 제2 서포터(23)가 탄성 수단에 의하여 지지되도록 하는 것에 의하여 조작 노브(251)의 작동에 따라 정해진 위치에 제1 서포터(22) 및 제2 서포터(23)가 유지되도록 한다. 이와 동시에 온도 제어 유닛(10)에서 발생된 열이 접촉 상태를 유지하는 것에 의하여 아래쪽으로 쉽게 이동되도록 한다.
조작 노브(251)의 이동에 따라 링커(213)의 상하 이동 그리고 클램프(211)의 수평 방향의 슬라이딩을 위한 구조는 다양한 방법으로 형성될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
아래에서 엘이디 소자(L)의 고정 구조 및 온도 제어 유닛(10)의 구조에 대하여 설명된다.
도 3a, 도 3b 및 도 3c는 본 발명에 다른 엘이디 소켓에 적용될 수 있는 고정 구조, 온도 제어 유닛 및 센서 유닛의 실시 예를 각각 도시한 것이다.
도 3a에 도시된 것처럼, 고정 플레이트(21)의 중앙 부분에 형성된 고정 홈(211)이 형성될 수 있고 슬라이딩 가이드(212)는 고정 홈(217)으로부터 고정 플레이트(21)의 둘레로 사각 홈 형상으로 연장될 수 있다. 고정 홈(217)은 엘이디 램프가 고정되기에 적합한 홈 형상을 가질 수 있다.
클램프(211)는 슬라이딩 가이드(212)에 결합되는 슬라이딩 기판(321) 및 슬라이딩 기판(321)의 아래쪽에 형성되는 접촉 몸체(323)로 이루어질 수 있다. 슬라이딩 기판(321)은 슬라이딩 가이드(212)를 따라 이동 가능한 형상을 가질 수 있고 앞쪽에 핀 홀(322)이 형성될 수 있다. 핀 홀(322)은 예를 들어 핀셋과 같은 도구를 사용하여 엘이디 소자를 고정 홈(217)에 고정시키거나 꺼내기 위하여 사용될 수 있다.
접촉 몸체(323)는 슬라이딩 기판(321)의 아래쪽으로부터 연장되는 연장 부분(323a)의 아래쪽에 결합되는 경사 접촉 부분(323b)으로 이루어질 수 있다. 연장 부분(323a)은 예를 들어 슬라이딩 가이드(212)의 형상에 적합한 육면체 형상이 될 수 있고 그리고 경사 접촉 부분(323b)은 적어도 고정 홈(217)의 반대쪽에 위치하는 면이 아래쪽으로 경사지면서 연장되는 형상으로 만들어질 수 있다. 경사 접촉 부분(323b)은 아래쪽에 전면과 후면이 만나는 경계 면이 형성된 쐐기 형상이 될 수 있다. 도 3b 및 도 3c에 도시된 것처럼, 경사 접촉 부분(323b)에 접촉 롤러(214)가 접촉될 수 있다. 링커(213)가 조작 노브에 의하여 위쪽으로 이동하면서 접촉 롤러(214)가 경사 접촉 부분(323b)을 따라 연장 부분(323a)으로 이동될 수 있다. 이에 따라 클램프(211)가 고정 홈(217)의 방향으로 이동될 수 있다.
도 3a를 참조하면, 연장 부분(323a)에 스프링과 같은 탄성 수단을 배치하기 위한 배치 홀(325)이 형성될 수 있다. 배치 홀(325)에 배치된 탄성 수단에 의하여 클램프(211)가 정해진 위치에 유지될 수 있다. 구체적으로 링커(213)가 아래쪽으로 내려오면 클램프(211)가 고정 홈(217)의 반대편으로 이동하게 되고 이에 따라 고정 홈(217)으로부터 엘이디 소자(L)를 분리시킬 수 있게 된다. 그리고 배치 홀(325)에 형성된 탄성 수단에 의하여 클램프(211)는 정해진 위치에 유지될 수 있다.
도 3b 및 도 3c를 참조하면, 고정 홈(217)의 주위에 포고 핀과 유사한 고정 핀(351)이 배치될 수 있다. 고정 핀(351)은 엘이디 소자(L)를 안정적으로 고정하는 기능을 할 수 있고 상하 이동이 가능하도록 아래쪽 부분이 탄성 지지가 될 수 있다.
고정 홈(217)은 원형 계단(37) 위에 배치될 수 있고 그리고 고정 홈(217)의 주위 또는 아래쪽에 센서 유닛(34)이 배치될 수 있다. 센서 유닛(34)은 엘이디 소자(L) 또는 고정 홈(217)의 온도를 탐지하는 기능을 가질 수 있고 필요에 따라 고정 핀(351)의 아래쪽 부분이 센서 유닛(34)에 접촉되도록 배치될 수 있다. 센서 유닛(34)에서 탐지된 값에 온도 제어 유닛(10)의 작동이 적절하게 조절될 수 있다.
원형 계단(37)에 고정 홈(217)을 배치하고 그리고 아래쪽에 온도 제어 유닛(10)을 배치하는 것에 의하여 냉각 효율이 높아질 수 있다. 원형 계단(37)은 온도 제어 유닛(10)과 접촉 면적이 크도록 형성될 수 있고 필요에 따라 온도 제어 유닛(10)에 열 확산 홀(111)이 형성될 수 있다.
온도 제어 유닛(10)은 다양한 구조로 형성되어 시험 과정에서 엘이디 소자(L)에서 발생된 열이 방열 유닛으로 전달되도록 할 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
도 4는 본 발명에 따른 엘이디 소켓이 분광 특성 시험 장치에 적용된 실시 예를 도시한 것이다.
도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 엘이디 소켓(40)은 예를 들어 적분구와 같은 시험 장치(I)에 설치될 수 있다. 엘이디 소켓(40)에 고정된 엘이디 소자(L)로부터 발광된 광은 시험 장치(I)의 내부에서 난반사가 되어 광섬유 단자와 같은 탐지 센서(43)에 의하여 탐지되어 측정 장치(42)로 전달될 수 있다. 측정 오차를 감소시키기 위하여 필요에 따라 광 차단 막(44a, 44b)이 설치될 수 있다.
본 발명에 따른 엘이디 소켓(40)은 시험 과정에서 엘이디 소자(L)의 온도가 일정한 범위에서 유지되도록 할 수 있다. 이로 인하여 온도 편차로 인하여 분광 특성 오차를 감소시킬 수 있다.
다양한 구조를 가지는 광 특성 시험 장치에 적용될 수 있고 본 발명은 제시된 실시 예에 제한되지 않는다.
본 발명의 목적은 엘이디 소자의 시험 과정에서 발광이 되는 엘이디 소자의 온도 제어에 의하여 검사 신뢰성이 향상될 수 있도록 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓을 제공하는 것이다.
위에서 본 발명은 제시된 실시 예를 참조하여 상세하게 설명이 되었지만 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 제시된 실시 예를 참조하여 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 다양한 변형 및 수정 발명을 만들 수 있을 것이다. 본 발명은 이와 같은 변형 및 수정 발명에 의하여 제한되지 않으며 다만 아래에 첨부된 청구범위에 의하여 제한된다.
10: 온도 제어 유닛 11: 열전달 부재
21: 고정 플레이트 22: 제1 서포터
23: 제2 서포터 24: 배선 블록
25: 방열 유닛 26: 방열 팬
34: 센서 유닛 37: 원형 계단
40: 엘이디 소켓 42: 측정 장치
43: 탐지 센서 44a,44b: 광 차단 막
111: 열 확산 홀 211: 클램프
212: 슬라이딩 가이드 213: 링커
214: 접촉 롤러 217: 고정 홈
231: 열전달 부재 232: 조작 홈
251: 조작 노브 252: 방열 홀
321: 슬라이딩 기판 322: 핀홀
323: 접촉 몸체 325: 배치 홀
351: 고정 핀

Claims (3)

  1. 클램프(211)에 의하여 엘이디 소자(L)가 고정되는 고정 홈(217)이 형성된 고정 플레이트(21);
    고정 플레이트(21)의 아래쪽에 형성된 온도 제어 유닛(10); 및
    온도 제어 유닛(10)의 아래쪽에 형성된 방열 유닛(25)을 포함하고,
    상기 온도 제어 유닛(10)은 탄성 수단에 의하여 지지가 되는 것을 특징으로 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 고정 홈(212)에 배치되는 센서 유닛(34)을 더 포함하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓.
  3. 청구항 1에 있어서, 상기 클램프(211)는 링커(213)에 배치되는 접촉 롤러(214)에 의하여 상기 고정 플레이트(21)를 따라 이동되고 그리고 상기 탄성 수단이 수용된 제1 서포터(22)는 상기 방열 유닛(25)의 내부에 배치되는 제2 서포터(23)의 내부에 적어도 일부가 수용되어 상기 온도 제어 유닛(10)에서 발생된 열이 상기 방열 유닛(25)에 형성된 방열 홀(252)을 통하여 배출되도록 하는 것을 특징으로 하는 온도 제어가 가능한 엘이디 소켓.
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