KR102423130B1 - 디스플레이 검사용 온도제어 지그 - Google Patents

디스플레이 검사용 온도제어 지그 Download PDF

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Abstract

다수의 발광소자들이 배열되고, 일 측에 상기 발광소자들과 전기적으로 연결된 전극패드를 구비하는 디스플레이 시료가 안착되는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상면에 위치되어, 상기 디스플레이 시료에 구비된 전극패드와 전기적으로 연결되도록 상기 디스플레이 시료의 일 측에 접촉하는 컨택수단; 및 상기 디스플레이 시료가 안착되는 상기 베이스 프레임의 안착영역에 위치되어, 상기 디스플레이 시료에 가해지는 온도를 가변하기 위한 온도 조절부; 및 상기 온도 조절부를 제어하기 위한 제어부; 를 포함하며, 상기 온도 조절부는, 상기 디스플레이 시료에서 다수의 발광소자들이 배열된 배치영역을 적어도 둘 이상의 영역으로 구분하여 구분된 영역을 서로 다른 온도로 가열시키거나 냉각시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 검사용 온도제어 지그를 제공한다.

Description

디스플레이 검사용 온도제어 지그 {TEMPERATURE CONTROL JIG FOR TESTING OF DISPLAY}
본 발명은 디스플레이 검사용 온도제어 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 검사대상체인 디스플레이 시료에 전원을 인가하여 광학적 특성을 측정하기 위한 검사장비에 적용되어서, 안착된 검사대상체가 테스트에 적합한 온도수준에 도달하도록 그 온도를 제어하기 위한 온도제어 지그에 관한 것이다.
디스플레이 장치는 화면을 통해 사용자에게 뉴스, 사진 또는 영상과 같은 각종의 시각적 컨텐츠를 제공한다. 이러한, 디스플레이 장치로는 TV, 모니터, 스마트폰, 테블릿PC, 스마트 워치, 자동차용 디스플레이 장치 등이 고려될 수 있다.
이러한 디스플레이 장치를 구성하는 화면 즉, 디스플레이는 LED, OLED, micro LED에 이르기까지 다양한 디스플레이소자들로 이루어질 수 있는데, 제조 중이거나 출하 전인 디스플레이는 해당 디스플레이를 구성하는 디스플레이소자의 품질을 검사하는 테스트 공정이 필수적으로 수반되어야 한다. 특히, 디스플레이소자는 동작온도에 따라 반응시간, 밝기 등과 같은 광학특성과 수명이 크게 좌우될 수 있기에, 테스트 공정 중 온도에 따른 디스플레이의 특성검사가 이루어질 필요성이 있다.
좀더 구체적으로 설명하면, 디스플레이는 대개 상온에서 사용되나, 경우에 따라 고온 또는 저온의 극한 상태에 노출될 수 있음은 물론이다. 이에, 상온 조건에서만 테스트하여 정상적인 작동여부 및 양품 판정이 이루어진 경우라도, 실제 사용 환경에 따라 오작동 되는 경우가 발생할 수 있다. 즉, 품질에 대한 신뢰성 및 사용 환경에 따른 디스플레이의 성능정보를 확보하기 위해서는 디스플레이가 적용되는 디스플레이장치의 사용 환경을 고려하여 다양한 온도에서의 테스트 공정이 이루어져야 하는 것이다.
상술한 테스트 공정에 관한 선행기술로는 대한민국 등록특허공보 10-1183197(출원일 : 2012.04.19., 등록일 : 2012.09.10., “온도 악조건 테스트가 용이한 디스플레이 테스트 시스템”), 대한민국 등록특허공보 10-0852620(출원일 : 2007.03.060, 등록일 : 2008.08.11.,“전자소자의 온도 신뢰성 테스트장치”) 등이 제시된 바 있다.
여기서, 선행기술들은 테스트 공간을 제공하는 챔버 내에 검사 대상체를 위치시킨 상태에서 테스트를 진행하게 되는데, 챔버 내 온도를 가변시키기 위해, 히터와 펜으로 구성된 가열부로 온기를 챔버 내 제공하거나, 냉매를 이용한 냉각기로 구성된 냉각부로 냉기를 챔버 내 제공하였다.
이때, 상술한 구성을 구비하는 선행기술들은 챔버 내 온도를 가변시키기 위하여 챔버 내부에 가열 또는 냉각된 공기를 제공함에 따라 챔버 내 온도 환경을 고온에서 저온으로 또는 저온에서 고온으로 전환하는 냉온 전환 시간이 많이 소요될 수밖에 없고, 챔버 내 위치한 검사 대상체의 주변온도 및 검사 대상체의 검사영역 중 일부 온도가 가변될 수 있겠지만, 검사 대상체의 검사영역 전체를 동일한 온도 조건으로 테스트하는 것이 어려워, 테스트 온도의 균일성 및 재현성이 떨어지므로 테스트 결과의 신뢰성 확보가 어려운 문제점이 존재하였다.
또한, 상술한 선행기술들 외에도, 종래의 테스트 공정에서는 단일의 검사 대상체 전 검사영역이 동일한 온도 조건 하에서 테스트 될 수 있는 환경을 조성하는 것에 초점이 맞춰져 있을 뿐, 디스플레이 장치의 다양한 사용 환경 디스플레이에서 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경 예컨대, 자동차용 디스플레이 장치와 같이 차량에 구비된 냉온장치에 의해 단일의 디스플레이에서 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경 조건에서의 테스트는 고려되고 있지 않은 실정이다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 안착된 검사대상체 즉, 디스플레이 시료가 테스트에 적합한 온도수준에 도달하도록 그 온도를 제어하되, 단일의 디스플레이에서 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경 조건에서의 테스트가 가능하도록 단일의 디스플레이 시료의 테스트 영역 중 복수의 영역에 대한 개별적인 온도제어가 이루어질 수 있는 디스플레이 검사용 온도제어 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이소자 검사용 온도제어 지그는 다수의 발광소자들이 배열되고 일 측에 상기 발광소자들과 전기적으로 연결된 전극패드를 구비하는 단일의 디스플레이 시료가 안착되는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상면에 설치되어, 상기 디스플레이 시료에 구비된 전극패드와 전기적으로 연결되도록 상기 디스플레이 시료의 일 측에 접촉하는 컨택수단; 상기 디스플레이 시료가 안착되는 상기 베이스 프레임의 안착영역에 위치되어, 상기 디스플레이 시료의 온도를 가변시키기 위한 온도 조절부; 및 상기 온도 조절부를 제어하기 위한 제어부; 를 포함하며, 상기 온도 조절부는, 상기 디스플레이 시료에서 다수의 발광소자들이 배열된 배치영역을 적어도 둘 이상의 영역으로 구분하여 구분된 영역을 서로 다른 온도로 가열시키거나 냉각시킬 수 있다.
상기 온도 조절부의 상부면이 상기 베이스 프레임의 상면과 동일 선 상에 배치되도록 상기 온도 조절부는 상기 베이스 프레임에 인입되어 위치할 수 있다.
이때, 상기 온도 조절부는 복수개의 온도조절소자를 가짐으로써 개별적으로 가열시키거나 냉각시킬 수 있다.
여기서, 상기 온도조절소자는, 전원이 인가된 경우에 상하면 중 일면이 가열되면 타면이 냉각되는 펠티어(peltier)소자로 마련될 수 있다.
그리고, 상기 온도조절부는, 상기 복수개의 온도조절소자와 각각 대응되어 그 상부에 위치되고, 각각의 온도조절소자로부터 발생된 온도변화를 상기 디스플레이 시료에 전달하기 위한 복수개의 핫 플레이트;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 온도조절부는, 상기 온도조절소자의 하면에서 발생하는 열을 흡수하도록 상기 복수개의 온도조절소자의 하면을 각각 냉각시키기 위한 쿨링 플레이트; 를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 쿨링 플레이트는, 상기 복수개의 온도조절소자와 각각 대응되도록 그 하부에 배치되는 복수개의 냉각수단; 및 상기 복수개의 냉각수단이 내부에 수용되며, 상기 복수개의 냉각수단에서 발생하는 온도변화를 각각 대응된 온도조절소자에 전달하는 본체; 를 포함할 수 있다.
그리고, 상기 컨택수단은, 상기 디스플레이 시료에 구비된 전극패드와 전기적으로 연결되기 위한 컨택핀들과 상기 컨택핀들을 통해 상기 디스플레이 시료에 전기적 신호를 인가하기 위한 케이블이 연결되는 케이블 커넥터를 구비하는 컨택블록; 및 상기 컨택블록이 상기 디스플레이 시료의 일 측에 컨택되거나 그 컨택이 해제될 수 있도록 상기 컨택블록을 상기 베이스 프레임에 수직한 방향으로 이동시키기 위한 레버; 를 포함할 수 있다.
또한, 상기 온도 조절부는, 상기 핫 플레이트의 온도를 감지하기 위한 온도센서; 를 구비하고, 상기 온도 센서는, 기준 온도보다 상기 핫 플레이트의 온도가 높게 센싱된 경우에 상기 온도조절소자에 인가되는 전원을 차단하기 위한 바이메탈센서로 마련될 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 지그에 안착된 디스플레이 시료의 온도를 가변하기 위한 온도 조절부가 단일의 디스플레이 시료에서 다수의 발광소자들이 배열된 배치영역을 적어도 둘 이상의 복수의 영역으로 구분하여 개별적으로 가열하거나 냉각시킴에 따라 단일의 디스플레이 시료에서 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경 조건을 조성할 수 있다.
둘째, 상술한 온도 조절부가 디스플레이 시료의 하면과 마주 접하며 위치됨에 따라 테스트에 적합한 온도 조건이 디스플레이 시료의 테스트 영역 전 영역에 걸쳐 균일하게 반영될 수 있다.
셋째, 본 발명이 제안하는 지그를 적용한 디스플레이 검사장비는 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경에서 디스플레이 시료에 관한 특성 검사를 수행할 수 있으며, 테스트 공정 중 디스플레이 시료의 테스트 영역의 온도가 균일하게 가변 및 유지됨에 따라 그 테스트 결과의 신뢰성이 확보될 수 있다.
도1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사용 온도제어 지그를 적용한 디스플레이 검사장비를 개략적으로 도시한 것이다.
도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사용 온도제어 지그를 도시한 사시도이다.
도3 내지 도4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사용 온도제어 지그를 설명하기 위한 참조도이다.
본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지되어진 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.
<디스플레이 검사장비에 대한 개략적인 설명>
도1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사용 온도제어 지그(이하, ‘지그’라 칭함)를 적용한 디스플레이 검사장비를 개략적으로 도시한 것이다.
도1을 참조하면, 검사장비(TE)는 검사 스테이지(TS), 파워제너레이터(미도시), 정렬 카메라(AC), 광 디텍터(PD), 이동장치(MA), 판단장치(EA) 및 제어장치(미도시)를 포함하여 구성될 수 있다.
검사 스테이지(TS)에는 다수의 발광소자들이 배열되고, 일 측에 상기 발광소자들과 전기적으로 연결된 전극패드(EP)를 구비하는 디스플레이 시료(D) 즉, 검사 대상체가 안착되는 다수개의 지그(100)가 위치된다. 이때, 검사 스테이지(TS)에 위치된 지그(100)들은 후술할 광 디텍터(PD)를 통한 테스트 공정 수행 시 총 12개의 디스플레이 시료(D)를 검사 가능한 형태로 마련될 수 있으나, 이는 하나의 실시예일 뿐, 지그(100)의 수가 가변되어, 1회 테스트 공정 수행 시 그 이상의 디스플레이 시료(D)의 검사가 이루어질 수 있도록 마련될 수 있음은 물론이다.
참고로, 지그(100)는 안착된 디스플레이 시료(D)에 온도 변화를 주어, 후술할 광 디텍터(PD)가 온도에 따른 디스플레이 시료(D)의 특성을 검출할 수 있도록 마련되는 구성으로, 지그(100) 구조에 관한 구체적인 설명은 후술하고자 한다.
파워제너레이터(미도시)는 디스플레이 시료(D)에 구비된 발광소자(L)가 점등될 수 있도록 지그(100)에 전기적 신호를 인가하기 위한 구성이다.
정렬 카메라(AC)는 검사 스테이지(TS)의 하부, 좀더 구체적으로는 지그(100) 하단에 위치되어, 지그(100)에 안착되는 디스플레이 시료(D)의 배면을 촬상한다. 이때, 정렬 카메라(AC)는 디스플레이 시료(D)에 포함된 얼라인 마크를 가시할 수 있다. 즉, 정렬 카메라(AC)로 촬상된 정보를 통해 디스플레이 시료(D)에 구비된 컨택패드(CP)와 지그(100)에 구비된 컨택수단(120) 즉, 컨택수단(120)의 컨택핀(121a)이 정렬되어, 상호 컨택될 수 있다.
광 디텍터(PD)는 검사 스테이지(TS)의 상부에 위치되어, 지그(100)에 안착된 디스플레이 시료(D)의 광학적 특성을 검출한다. 이때, 광학적 특성에는 광 스펙트럼, 휘도, 색도, 색온, 색 좌표, 색 칼라 등이 포함될 수 있다. 이때, 광 디텍터(PD)는 후술할 이동장치(MA)에 의해 검사 스테이지(TS)의 상부에서 전후좌우로 이동하며, 검사 스테이지(TS) 상에 위치된 디스플레이 시료(D)들에 대한 검사를 수행할 수 있다.
이동장치(MA)는 광 디텍터(PD)를 x 축, y축, z 축 중 적어도 둘 이상의 축 방향으로 이동시키기 위한 구성이다.
판단장치(EA)는 광 디텍터(PD)로부터 측정된 결과를 통해, 온도 변화에 따른 디스플레이 시료(D)의 동작 상태를 분석하고, 디스플레이 시료(D)에 포함된 발광소자(L)들의 정상 동작 여부 및 그에 대한 품질을 판단할 수 있다.
제어장치(미도시)는 검사장비(TE)에 포함된 상기한 각 구성들을 제어하는 구성으로, 외부로부터 제어 명령을 입력받을 수 있는 입력 수단과 각 구성의 동작 상황과 더불어, 광 디텍터(PD)의 측정값 및 판단장치(EA)에 의한 판단 결과 등이 출력될 수 있는 출력수단을 포함하여 구성될 수 있다.
참고로, 상술한 디스플레이 검사장비(TE)는 지그(100)에 안착된 디스플레이 시료(D)의 온도를 테스트에 적합한 수준으로 가변 및 유지시키며, 해당 테스트 온도 조건 하에서 점등된 디스플레이 시료(D)의 발광 특성 등의 광학적 특성검사를 수행할 수 있도록 구성되었으나, 검출 구성의 추가를 통해 광학적 특성검사뿐 아니라 전기적 특성검사 등 디스플레이 시료(D)에 대한 다양한 검사가 이루어질 수 있도록 고려될 수 있음은 물론이다.
이하에서는, 상술한 디스플레이 검사장비(TE)에 적용되어서, 안착된 디스플레이 시료(D)의 온도를 테스트에 적합한 온도로 가변 및 유지시키기 위해 본 발명에서 제안하는 지그(100)에 관하여 구체적으로 설명하고자 한다.
<디스플레이 검사용 온도제어 지그에 관한 설명>
도2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 검사용 온도제어 지그(이하, ‘지그’라 칭함)를 도시한 사시도이고, 도3 내지 도4는 본 발명의 일 실시예에 따른 지그의 세부 구성을 설명하기 위한 참조도이다.
도2 내지 도4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 지그(100)는 베이스 프레임(110), 컨택수단(120), 온도 조절부(130) 및 제어부(미도시)를 포함하여 구성된다.
도2를 참조하면, 베이스 프레임(110)은 다수의 발광소자들이 배열되고, 일 측에 발광소자들과 전기적으로 연결된 전극패드(EP)를 구비하는 디스플레이 시료(D)가 안착된다. 이때, 베이스 프레임(110)은 디스플레이 시료(D)가 안착되는 안착영역(A1) 및 상기 디스플레이 시료(D)가 점등될 수 있도록 상기 디스플레이 시료(D) 일 측에 접촉하는 후술할 컨택수단(120)이 위치되는 컨택영역(A2)으로 구분될 수 있다.
그리고, 도3a 내지 도3b을 참조하면, 베이스 프레임(110)의 컨택영역(A2)에는 지그(100) 하단에 위치한 정렬 카메라(AC)를 통해 수동 컨택 시 라이브로 볼 수 있도록 상하 개방된 노출창(111)이 구비될 수 있다. 이때, 노출창(111)의 상단에는 투명한 쿼츠 글라스(112)가 배치되고, 쿼츠 글라스(112)의 양단에는 쿼츠 글라스(112)의 이탈을 방지하기 위한 글라스 이탈 방지용 부재(113)인 고정 볼트가 위치될 수 있다.
컨택수단(120)은 베이스 프레임(110)의 상면에 설치되어, 디스플레이 시료(D)에 구비된 전극패드(EP)와 전기적으로 연결되도록 디스플레이 시료(D)의 일 측에 접촉한다.
이때, 컨택수단(120)은 클램프와 같은 구성으로 마련될 수 있는데, 이 경우, 컨택블록(121) 및 레버(122)를 포함하여 구성될 수 있다.
도3a를 참조하면, 컨택블록(121)은 디스플레이 시료(D)에 구비된 전극패드(EP)와 전기적으로 연결되기 위한 컨택핀(121a)들과 컨택핀(121a)들을 통해 디스플레이 시료(D)에 전기적 신호를 인가하기 위한 케이블이 연결되는 케이블 커넥터(121b)를 구비할 수 있다.
레버(122)는 컨택블록(121)이 디스플레이 시료(D) 일 측에 컨택되거나 그 컨택이 해제될 수 있도록 컨택블록(121)을 베이스 프레임(110)에 수직한 방향으로 이동시키기 위한 구성이다. 즉, 레버(122)를 상부에서 하부방향 또는 하부에서 상부방향으로 조정함에 따라 컨택블록(121)이 상승 또는 하강하게 되는 것이다.
온도 조절부(130)는 디스플레이 시료(D)가 안착되는 베이스 프레임(110)의 안착영역(A1)에 위치되어, 디스플레이 시료(D)의 온도를 가변시키기 위한 구성이다. 이때, 온도 조절부(130)는 디스플레이 시료(D)에서 다수의 발광소자들이 배열된 배치영역(AA)을 적어도 둘 이상의 영역으로 구분하여 구분된 영역을 서로 다른 온도로 가열시키거나 냉각시킬 수 있다. 이때, 온도 조절부(130)는 복수개의 온도조절소자(132)를 가짐으로써 개별적으로 가열시키거나 냉각시킬 수 있는데, 이러한 온도조절소자(132)는 전원이 인가된 경우에 상하면 중 일면이 가열되면 타면이 냉각되는 펠티어(peltier)소자로 마련될 수 있다.
이는, 본 발명이 제안하는 지그(100)를 통해 디스플레이 시료(D)의 복수의 영역에 온도차를 주어 이에 따른 광학적 특성 변화를 검사하기 위함이다.
도4a 내지 도4b를 참조하면, 온도 조절부(130)는 핫 플레이트(131), 온도조절소자(132) 및 쿨링 플레이트(133)를 포함하여 구성될 수 있다. 좀더 구체적으로 그 구성의 배치 위치를 설명하면, 핫 플레이트(131)의 상면이 베이스 프레임(110)의 상면과 동일 선상에 배치되도록 온도조절소자(132)는 베이스 프레임(110)의 내부 공간에 인입되어 위치되고, 그 상부에 핫 플레이트(131)가 위치된다. 그리고, 쿨링 플레이트(133)는 그 상면이 베이스 프레임(110)의 하면과 마주 접하도록 배치된다.
참고로, 베이스 프레임(110)의 내부 공간에 상술한 구성이 인입된 뒤 핫 플레이트(131)와 베이스 프레임(110) 사이에는 내부 공간이 외부에 노출되는 일부 영역이 존재하게 되는데, 해당 영역 상부에 그 상면이 베이스 프레임(110)의 상면 및 핫 플레이트(131)의 상면과 동일 선상에 위치하는 커버 플레이트(C)를 덮어, 내부 공간 내 이물질 유입을 차단하면서도, 지그(100)에 안착되는 디스플레이 시료(D)의 가장자리 일부가 지지될 수 있도록 한다. 이때, 도4a에서는 내부공간에 위치한 구성을 도시하기 위하여, 해당 영역을 덮는 두 개의 커버 플레이트(C) 중 하나의 커버 플레이트(C)를 제거한 것이다.
이때, 온도조절소자(132) 즉, 열전소자는 전원이 인가되면 상/하면이 각각 가열 또는 냉각되는데, 인가되는 전원의 극성에 따라 히팅면과 콜드면이 가변될 수 있다. 좀더 구체적으로 설명하면, 온도조절소자(132)는 전원을 인가하면 일면은 열을 방출하고, 타면은 열을 흡수하며 각각 가열 기능과 냉각기능을 수행하게 되는 것이다.
만약, 디스플레이 시료(D)의 온도를 높이고자 한다면, 온도조절소자(132)의 상면이 히팅면, 하면이 콜드면이 되도록 전원을 인가하여, 온도조절소자(132)의 상면에서 발생한 열이 후술할 핫 플레이트(131)를 통해 디스플레이 시료(D)에 전달되게 한다. 그리고, 디스플레이 시료(D)의 온도를 내리고자 한다면, 온도조절소자(132)의 상면이 콜드면, 하면이 히팅면이 되도록 전원을 인가하여, 온도조절소자(132)에서 발생된 온도변화가 핫 플레이트(131)를 통해 디스플레이 시료(D)에 전달될 수 있도록 한다.
이때,온도조절소자(132)의 하면을 후술할 쿨링 플레이트(133)를 이용하여 냉각시킴으로써, 쿨링 플레이트(133)가 온도조절소자(132)의 하면에서 발생하는 열을 빼앗아 온도조절소자(132)의 상면이 빠른 속도로 냉각될 수 있도록 하여 그 효율을 높여줄 수 있다.
그리고, 핫 플레이트(131)는 복수개의 온도조절소자(132)와 각각 대응되어 그 상부에 위치되고, 각각의 온도조절소자(132)로부터 발생된 온도변화를 디스플레이 시료(D)에 전달하기 위한 열전도체로 마련될 수 있다.
또한, 쿨링 플레이트(133)는 온도조절소자(132)의 하면에서 발생하는 열을 흡수하도록 복수개의 온도조절소자(132)의 하면을 각각 냉각시키기 위한 구성으로, 복수개의 온도조절소자(132)와 각각 대응되도록 그 하부에 배치되는 복수개의 냉각수단(FP) 및 복수개의 냉각수단(FP)이 내부에 수용되며, 복수개의 냉각수단(FP)에서 발생하는 온도변화를 각각 대응된 온도조절소자(132)에 전달하는 본체(B)를 포함하여 구성될 수 있다.
이때, 냉각수단(FP)은 냉각수를 흘려보낼 수 있는 유로관으로 마련될 수 있다.
그리고, 온도 조절부(130)는 핫 플레이트(131)의 온도를 감지하기 위한 온도 센서(134)를 구비할 수 있는데, 이러한 온도 센서(134)는 기준 온도보다 핫 플레이트(131)의 온도가 높게 센싱된 경우 즉, 오버 히팅 시 온도조절소자(132)에 인가되는 전원을 차단하기 위한 바이메탈센서로 마련되는 것이 바람직할 수 있다.
온도 조절부(130)에 의한 온도 제어방식에 관하여 좀더 구체적으로 설명하면, 본 발명이 제안하는 지그(100)는 단일의 디스플레이 시료(D)의 검사 영역 즉, 발광소자들이 배열된 배치영역(AA)이 일정 수준의 온도로 제어될 수 있도록 하는데, 온도 조절부(130)의 상단에 위치한 핫 플레이트(131)가 배치영역(AA) 하부에 모두 마주 접하되, 복수개의 핫 플레이트(131)가 각각 배치영역(AA) 중 특정영역(SA1, SA2)과 마주 접하게 됨에 따라 단일의 디스플레이 시료(D)의 검사영역 중 복수개로 분할된 특정영역(SA1, SA2)들의 온도가 개별적으로 제어될 수 있게 된다.
이에, 온도 조절부(130)는 단일의 디스플레이 시료(D)의 특정영역(SA1, SA2)에 전달하는 온도를 모두 같게 동작하여 디스플레이 시료(D)의 검사영역 전체가 동일 수준의 온도로 제어되도록 하거나, 특정영역(SA1, SA2)에 전달되는 온도를 다르게 동작하여 디스플레이 시료(D)의 검사영역과 대응되는 복수의 특정영역(SA1, SA2)이 각기 다른 수준의 온도로 제어되도록 할 수 있다.
즉, 본 발명이 제시하는 지그(100)는 안착된 디스플레이 시료(D)가 테스트에 적합한 온도수준에 도달하도록 그 온도를 제어하되, 단일의 디스플레이에서 온도차가 발생할 수 있는 사용 환경 조건에서의 테스트가 가능하도록 단일의 디스플레이 시료의 테스트 영역 중 복수의 영역에 대해 개별적으로 온도를 제어함으로써, 최종적으로 해당 지그를 적용한 검사장비(TE)를 통해 온도차가 발생하는 환경 조건에서도 단일의 디스플레이 시료(D)에 구성된 발광소자들의 발광 특성 등의 광학적 특성이 균일하게 발생하는지에 대한 검사가 이루어질 수 있는 것이다.
제어부(미도시)는 온도 조절부(130)를 제어하기 위한 구성으로, 사용자에 의해 기 설정된 테스트 온도가 온도 조절부(130)를 통해 디스플레이 시료(D)에 전달되도록 온도 조절부(130)의 구성들을 제어할 수 있다.
좀더 구체적으로, 제어부는 실시간으로 핫 플레이트(131)의 온도를 감지하는 온도 센서(134)를 통해 온도 정보를 제공받아 감지된 온도와 기 설정된 테스트 온도를 비교하여, 그 차이에 따라 온도조절소자(132)로 공급되는 전원의 세기를 조정하거나, 쿨링 플레이트(133)로 공급되는 냉각수의 유량을 조정하는 등의 제어를 수행하여, 기 설정된 테스트 온도가 기 설정된 시간동안 유지되도록 제어할 수 있다.
이때, 제어부는 테스트 온도 및 유지시간 등의 설정값을 외부에서 입력하기 위한 입력부분을 추가적으로 구비할 수 있다.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시 예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시 예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시 예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.
100 : 온도제어 지그
110 : 베이스 프레임
111 : 노출창
112 : 쿼츠 글라스
113 : 글라스 이탈 방지용 부재
A1 : 안착영역
A2 : 컨택영역
120 : 컨택수단
121 : 컨택블록
121a : 컨택핀
121b : 케이블 커넥터
122 : 레버
130 : 온도 조절부
131 : 핫 플레이트
132 : 온도조절소자
133 : 쿨링 플레이트
B : 본체
FP : 냉각수단
134 : 온도 센서
D : 디스플레이 시료
EP : 전극패드
AA : 배치영역

Claims (8)

  1. 디스플레이 검사용 온도제어 지그로서,
    다수의 발광소자들이 배열되고 일 측에 상기 발광소자들과 전기적으로 연결된 전극패드를 구비하는 단일의 디스플레이 시료가 안착되는 베이스 프레임;
    상기 베이스 프레임의 상면에 설치되어, 상기 디스플레이 시료에 구비된 전극패드와 전기적으로 연결되도록 상기 디스플레이 시료의 일 측에 접촉하는 컨택수단;
    상기 디스플레이 시료가 안착되는 상기 베이스 프레임의 안착영역에 위치되어, 상기 디스플레이 시료의 온도를 가변시키기 위한 온도 조절부; 및
    상기 온도 조절부를 제어하기 위한 제어부; 를 포함하며,
    상기 온도 조절부는, 상기 디스플레이 시료에서 다수의 발광소자들이 배열된 배치영역을 적어도 둘 이상의 영역으로 구분하여 구분된 영역을 서로 다른 온도로 가열시키거나 냉각시킬 수 있고,
    상기 온도 조절부의 상부면이 상기 베이스 프레임의 상면과 동일 선 상에 배치되도록 상기 온도 조절부는 상기 베이스 프레임에 인입되어 위치하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 온도 조절부는 복수개의 온도조절소자를 가짐으로서 개별적으로 가열시키거나 냉각시킬 수 있는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 온도조절소자는, 전원이 인가된 경우에 상하면 중 일면이 가열되면 타면이 냉각되는 펠티어(peltier)소자로 마련되는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 온도 조절부는,
    상기 복수개의 온도조절소자와 각각 대응되어 그 상부에 위치되고, 각각의 온도조절소자로부터 발생된 온도변화를 상기 디스플레이 시료에 전달하기 위한 복수개의 핫 플레이트;를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 온도 조절부는,
    상기 온도조절소자의 하면에서 발생하는 열을 흡수하도록 상기 복수개의 온도조절소자의 하면을 각각 냉각시키기 위한 쿨링 플레이트;를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 쿨링 플레이트는,
    상기 복수개의 온도조절소자와 각각 대응되도록 그 하부에 배치되는 복수개의 냉각수단; 및
    상기 복수개의 냉각수단이 내부에 수용되며, 상기 복수개의 냉각수단에서 발생하는 온도변화를 각각 대응된 온도조절소자에 전달하는 본체; 를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 컨택수단은,
    상기 디스플레이 시료에 구비된 전극패드와 전기적으로 연결되기 위한 컨택핀들과 상기 컨택핀들을 통해 상기 디스플레이 시료에 전기적 신호를 인가하기 위한 케이블이 연결되는 케이블 커넥터를 구비하는 컨택블록; 및
    상기 컨택블록이 상기 디스플레이 시료의 일 측에 컨택되거나 그 컨택이 해제될 수 있도록 상기 컨택블록을 상기 베이스 프레임에 수직한 방향으로 이동시키기 위한 레버; 를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 온도 조절부는, 상기 핫 플레이트의 온도를 감지하기 위한 온도 센서; 를 구비하고,
    상기 온도 센서는, 기준 온도보다 상기 핫 플레이트의 온도가 높게 센싱된 경우에 상기 온도조절소자에 인가되는 전원을 차단하기 위한 바이메탈센서로 마련되는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 검사용 온도제어 지그.
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