TW201421005A

TW201421005A - 發光二極體檢測量具

Info

Publication number: TW201421005A
Application number: TW101142732A
Authority: TW
Inventors: Tay-Jian Liu
Original assignee: Foxconn Tech Co Ltd
Priority date: 2012-11-16
Filing date: 2012-11-16
Publication date: 2014-06-01

Abstract

一種發光二極體檢測量具，用於對發光二極體光源進行檢測，包括殼部和設於殼部上的測試部。該測試部包括電極座，電極座包括第一表面及與第一表面相對的第二表面，電極座第一表面上設有用於與發光二極體光源的二電極接觸並供電的二電極，電極座第二表面上設有用於將發光二極體光源發出的熱量進行散發的散熱裝置，電極座開設貫穿第一表面及第二表面的氣孔，吸附裝置通過氣孔將發光二極體光源的二電極與電極座第一表面的二電極緊貼。

Description

發光二極體檢測量具

本發明涉及一種發光二極體的檢測量具，特別涉及一種透過吸力將發光二極體貼附在待測區，檢測時能提供恒溫環境、具有不擋光、易操作、高準度，且對不同尺寸、形狀、結構、型式的發光二極體一體適用的通用量具。

檢測發光二極體(LED、Light Emitting Diode)的光、電量測系統是將承載發光二極體光源的量具裝入積分球，透過連接周邊的光譜分析儀、電參數量測儀及發光二極體控制電源，達到檢測色品座標、色溫、顯色指數、色容差、波長、色純度、光通量、電壓、電流、功率等參數的功能。由於目前照明燈具普遍使用的發光二極體光源是以適合大量生產的表面貼裝技術(SMT, Surface Mounted Technology)為主流，但市場上該類發光二極體光源不論在尺寸、形狀、結構、型式上皆存在許多差異。

其中僅就連通發光二極體控制電源的極板的型式就有如圖1所示，同時具備背向發光二極體光源203出光面2031的底部正、負極板2032、2033，朝縱向延伸的縱向正、負極板2132、2133，及朝橫向繼續延伸且與底部正、負極板2032、2033平行的側向正、負極板2232、2233。習知技術中亦有不具備側向正、負極板2232、2233的結構。而由於小型化趨勢及成本等因素的考慮下，生產廠家已朝向只提供兼具表面貼裝技術的底部正、負極板2032、2033的發光二極體光源203。由於在無溫控的測試環境下，被測發光二極體光源203隨時處於升溫的瞬態（transient state），導致無法清楚定義測試條件，也使檢測資料缺乏重現性。尤其對於普遍使用於照明產業的功率型發光二極體一般功率皆在0.5瓦以上，在欠缺散熱設計或不當設計的習知檢測量具中，發光二極體光源203會因急速升溫而遠超過正常狀態容許的溫度極限，導致發光二極體光源203的嚴重破壞，使檢測工作完全失去意義。由於檢測各式發光二極體光源203的量具是準確量測光、電等參數的重要介面，因此必須兼顧市場上不同發光二極體光源的檢測量具通用性，並排除影響各參數可能產生的不確定因素。

習知技術中檢測發光二極體光源203的量具可概分為兩種型式，其一為如圖2所示的壓式量具1a，另一為如圖3所示的頂式量具1b。

圖2所示的壓式量具1a是由金屬材質製成呈中空柱體的殼部10a及設在殼部10a一端開口處的測試部20a，以和積分球的測試置入口尺寸相匹配的前段101a將測試部20a裝設在積分球內，並以前段101a和後段102a間的階部103定位，測試部20a以非金屬材質製成的載板201a固設在殼部10a的開口端，在載板201a外緣附近沿徑向固設一對由金屬材質製成的壓座301，並分別在該對壓座301上螺設沿徑向可調整位置的金屬制調節螺栓302，該二調節螺栓302端部的螺帽透過與具有不同極性的電源連接成為能對發光二極體光源203供電的一對正、負電極205a、210a，在殼部10a內設有一承座303，在壓座301與承座303之間設有一軸向彈簧件304，該軸向彈簧件304上方呈倒置的筒狀頂盤305因承受彈簧張力而上移，並透過頂盤305的筒壁與載板201a中心的通孔壁面間的尺寸匹配，限制頂盤305只能沿軸向滑動，該頂盤305端面的中部區域即為將設在發光二極體底部的底部正、負極板2032、2033平貼其上的電絕緣待測區。當該量具1a未安裝待測的發光二極體光源203時，上移的頂盤305端面直接與該對調節螺栓302的正、負電極205a、210a接觸。操作時，為將待測發光二極體光源203安裝在該量具1a，首先將頂盤305下壓並依圖1所示發光二極體光源203的側向正、負極板2232、2233尺寸調整量具1a的正、負電極205a、210a位置，再將發光二極體置於頂盤305的待測位置，且使量具1a的正、負電極205a、210a分別對應壓接在發光二極體光源203的側向正、負極板2232、2233上，達到將發光二極體光源203夾設在頂盤305與調節螺栓302的一對電極205a、210a之間的待測狀態。惟由於該量具1a的壓座301、調節螺栓302及其一對電極205a、210a皆必需設在發光二極體光源203的出光面2031上方才能達到上述待測狀態，因而會造成嚴重的擋光而導致量測的光通量值被大幅低估，且該量具1a的應用受限於只能在具有側向正、負極板2232、2233的少數發光二極體光源203型式，並以同一量具1a檢測不同尺寸與形狀的發光二極體光源203時有其局限性及操作的不方便，尤其在無溫控的測試環境下無法清楚定義測試條件，以致檢測資料缺乏重現性，甚至造成發光二極體光源203的破壞。顯然該量具1a不論在量測品質與應用層面上均有嚴重的局限性與缺失。

圖3所示的頂式量具1b與壓式量具1a最主要的區別在於：頂式量具1b是在通超載板201b的中心開設一平直的淺溝槽412，並將負電極組件402的底部固定在該溝槽412內，正電極組件401則可在該溝槽412內自由滑動，上述正、負電極組件401、402是以電氣絕緣材料為本體，並分別在朝向待測發光二極體光源203側分別固設至少一外凸的金屬頂針，該頂針的另一端則與對應發光二極體光源203極性的電源連接，使該二組頂針成為量具1b的一對正、負電極205b、210b。該正電極組件401的移動是透過該溝槽412上開設貫穿載板201b的一長槽409，而與設在殼部10b內的徑向彈簧件404固接，藉由螺絲通過該長槽409使正電極元件401固定在該徑向彈簧件404中間的滑塊405，該滑塊405沿徑向的一側設有端部略為凸伸至前段101b外壁面以內的導桿406，該滑塊405沿徑向的另一側透過貫穿前段101b壁面的固定螺絲407將彈簧408伸入滑塊405上對應的導引盲孔，該盲孔與導桿406及固定螺絲407同軸。操作時，輕壓導桿406一定距離即可使滑塊405沿載板201b滑動並使正電極組件401朝遠離發光二極體光源203移動一相同距離，放開輕壓的該導桿406即可使正電極元件401接近發光二極體光源203移動。藉由上述操作可依發光二極體光源203尺寸將分別設在該量具1b正、負電極組件401、402上的一對正、負電極205b、210b與發光二極體光源203的一對縱向正、負極板2132、2133抵緊供電。惟由於該量具1b的正、負電極組件401、402的高度與發光二極體光源203的縱向正、負極板2132、2133的高度皆固定但未必匹配，又由於透過推壓導桿406使滑塊405產生的位移量有限，而市場發光二極體光源203的尺寸多樣，且該發光二極體光源203未必設有縱向正、負極板2132、2133。因此以同一量具1b檢測不同尺寸與形狀的發光二極體光源203時有其局限性，又仍無法完全排除擋光問題而導致量測的光通量值被低估，且該量具1b只適用在具有縱向極板2132、2133的少數發光二極體光源203型式，尤其在無溫控的測試環境下無法清楚定義測試條件，以致檢測資料缺乏重現性，甚至造成發光二極體光源203的破壞。顯然該量具1b的量測品質與應用層面上仍有其局限性與缺失。

為降低上述檢測過程中的溫升影響，雖然目前市場上檢測發光二極體光源203的儀器中已有所謂的脈衝式直流電源，宣稱可在發光二極體光源203點亮1毫秒或更短的時間內擷取到光、電參數的瞬態資料，惟由於包括發光二極體光源203在內的任何發熱源在趨近穩態的升溫過程中，尤其是功率型發光二極體最初期的溫升必然是最快速且變化最劇烈的。本創作人經長期實驗的仔細求證，在不致造成發光二極體光源203破壞的測試條件下，證實該等瞬態初期的光通量資料皆達長期穩定的穩態光通量資料的一倍以上，且在點亮初期的不同瞬間測得的光通量值差異很大而失去檢測同一發光二極體光源203的重現性，以致只有發光二極體光源203製造商大力提倡並以該等瞬態初期資料提供終端的使用者，但對發光二極體照明產業的實際燈具性能是在長期不變的穩態運作下才具有參考價值，廠商提供的瞬態初期的誇大資料完全無應用的實質意義。在世界權威發光二極體光源203的量測方法規範（CIE 127:2007, Measurement of LEDs）中對於上述瞬態初期的量測方式是必須在明確的瞬態與穩態之間的關聯性下才有概念性的描述，但由於該關聯性會隨不同廠家的發光二極體產品不一，對廣大的照明應用終端使用者而言，完全無法規範，以致缺乏實質的應用性；因此對發光二極體光源203的檢測仍以符合實際應用面且具重現性的長期穩態資料為主。

鑒於此，有必要提供一種能使發光二極體光源在恒溫的穩態條件下進行非破壞性檢測，並具有不擋光、易操作、高準度及通用性的發光二極體檢測量具。

該檢測發光二極體(LED)的通用量具，包括一殼部及一測試部；其中該殼部為至少朝一端開口以安裝測試部的中空柱體，該柱體的外周壁面自該開口朝軸向為一較薄的前段並與其餘較厚的後段壁面間形成一直角的階面；該測試部包括設在該開口端部的一載板及由該載板朝殼部內側延伸的鰭片，該載板的中部設有貫通載板的一通孔，該通孔連通殼部外的真空泵，該載板的外側嵌設一圍繞該通孔以使LED在恒溫下測試的環狀製冷晶片，該製冷晶片的製冷面上貼設一電極座，該電極座的中部設有連通該通孔的一氣孔及鄰近該氣孔的任意兩對角側設置已連通外部控制電源用以導引正、負電壓的一對電極，該殼部的底部還設有將冷卻氣流導向鰭片的一風扇，當待測LED背向出光面的中部抵靠該氣孔時，藉由該泵提供的吸力將該LED貼附在電極座上，並使LED底部極板和該對電極對應連通以對LED供電。

本發明提供一種能使發光二極體光源維持在不同的恒溫保護條件下進行穩態的光、電檢測通用量具，有效解決溫升導致的破壞。

本發明提供一種具有不擋光的檢測LED通用量具，實現高準確的光、電性能測試，有效解決習知量具擋光的缺失。

本發明提供一種具有可應用於任何LED尺寸與形狀的檢測通用量具，一次性滿足多元化的檢測需求，發揮一具通用效益。

本發明提供一種結構簡、操作易的檢測LED通用量具，實現精簡成本、簡化制程、提升檢測品質及長期可靠度的效益。

以下參照圖4至圖7，對本發明檢測發光二極體的通用量具予以進一步說明。

圖4為本發明實施例的組裝剖面示意圖，圖5為圖4中測試部(不含電極座)的俯視圖，圖6為圖4中電極座的俯視圖，圖7為圖6中電極座沿IV-IV截面的剖面放大示意圖；該檢測量具1主要包括一殼部10及一測試部20。

該殼部10為至少朝一端開口以安裝測試部20的中空柱體，該柱體的外周壁面自該開口沿軸向延伸成一較薄的前段101並與其餘較厚的後段102壁面間形成一直角的階面103；該前段101的外周壁面尺寸與形狀和積分球的測試置入口(圖未示)的內周壁面相匹配，並以該階面103抵靠在該測試置入口的管狀端面，達到將測試部20定位安裝在積分球內，以使發光二極體光源(LED)203處於待測狀態。

該測試部20包括嵌設在該殼部10一開口端的載板201及由該載板201朝殼部10內側延伸的多個鰭片306，該鰭片306分佈於中心筒體312周邊，以使貼附在載板201外側端面的熱源增加散熱的面積與強化導熱的路徑，實際應用時該鰭片306可採用不同的型式，例如圍繞於中心筒體312周邊沿徑向呈放射狀延伸的多個直板或螺旋板，或不同形狀的柱體等，該多個散熱鰭片306的端緣與殼部10的內壁之間留有一間距，以順暢冷卻氣流路徑，該載板201的中部設有貫通載板201並與中心筒體312連通的一通孔315，透過連通中心筒體312的一軟管206，將該通孔315連通至穿過殼部10的後段102所設一壁孔104，再以該軟管206連通殼部10外的真空泵50；該載板201的外側嵌設一圍繞該通孔315以使LED在設定的恒溫下進行測試的環狀製冷晶片307，該製冷晶片307的製冷面323略高於載板201的外側表面，在該製冷面323上還貼設一電極座207，該電極座207的中部設有連通該通孔315的一氣孔204及鄰近該氣孔204的任意兩對角側背向製冷面323上設置連通外部控制電源用以導引正、負電壓的一對電極205,210，該載板201上還設有圍繞該製冷晶片307的一密封圈317及設於該密封圈317週邊的四個螺孔316，透過螺絲分別穿過設在電極座207周邊的四個通孔315a並均勻螺鎖於對應的該螺孔316，使製冷晶片307的發熱面324與載板201間有良好的熱接觸以強化製冷晶片307的導熱與散熱效益，並同時使該電極座207與製冷晶片307的製冷面323間有良好的熱接觸以強化製冷晶片307對LED203的製冷溫控效益，且同時使電極座207的周邊與載板201的周邊之間密封以達僅僅透過該氣孔204即可使LED203底部正、負極板2032,2033對正、負電極205,210足夠的吸附力及良好的導電效益；該殼部10的底部還設有將冷卻氣流導向鰭片306的一風扇308，以將製冷晶片307的發熱面324及LED203產生的熱量順暢排出；當待測LED203背向出光面2031的中部抵靠該氣孔204時，藉由該真空泵50提供的吸力將該LED203貼附在電極座207上，並使LED203的底部正、負極板2032,2033和該對正、負電極205,210對應連通以對LED203供電。

該電極座207為一具有良好散熱與導電功能的覆銅鋁基板，是經由獨特制程工藝形成的四層組合件，其結構由上至下依序為：由導熱性佳且電絕緣的特殊聚合物製成的導熱絕緣層319、由導電性及導熱性俱佳的銅箔材質製成的電路層320、導熱絕緣層319及由導熱性佳的鋁材質製成的金屬基層321；其工作原理是將表面貼裝的LED203的底部正、負極板2032,2033藉吸力分別貼附在電路層320對應的正、負電極205,210供電，LED203所產生的熱量經由該底部正、負極板2032,2033通過低熱阻的導熱絕緣層319傳導並擴散至金屬基層321，再由密貼於金屬基層321的低溫製冷面323將該熱量吸收，使被測LED203維持在一定的低溫操作環境。電極座207上的該對電極205,210分別由圍繞在氣孔204兩側間隔設置呈矩形的銅箔形成，以便與LED203的底部正、負極板2032,2033接觸通電，由該對電極205,210分別延伸至待測區202以外的二焊端322的銅箔則與金屬基層321之間覆以導熱絕緣層319以防止金屬基層321導電，並將經由插頭209a連通至外部控制電源(圖未示)用以分別導引正、負電壓的二電線208a自一通孔315b伸出並焊接在該焊端322上。又，為對LED203的底部正、負極板2032,2033施以較強的吸附力，在載板201與電極座207之間除氣孔204外的其餘部分應維持氣密，使氣孔204成為唯一經由真空泵50產生吸附力之處；另，為確保該對電極205,210與LED203底部正、負極板2032,2033間有較佳的熱接觸及電氣安全，在該電極座207的上表面除電極205,210與焊端322的銅箔外，其餘部分的電路層320與金屬基層321皆鋪設導熱絕緣層319，該裸露的銅箔電極205,210的較佳尺寸為預先設置成能貼附各種尺寸LED203的通用待測區202。實際應用時，該電極座207的導熱絕緣層319厚度一般為5μm-20μm，電路層320厚度一般為35μm-350μm，金屬基層321厚度一般為0.8mm-2mm。

該量具1的製冷晶片307(又稱為熱電致冷晶片、半導體致冷器、熱泵等)，是一種對致冷晶粒透過珀爾帖效應(Peltier Effect)達到通電流即能在良好的散熱條件下產生較大冷熱溫差的裝置，致冷晶粒主要由銻(Antimony)、碲(Tellurium)、鉍(Bismuth)、硒(Selenium)等稀有元素製成，製冷晶片307則是將多個致冷晶粒封裝在上下二層具電絕緣的陶瓷板之間，本發明採用的環狀製冷晶片307，其中一作為發熱面324的環形板以其外表面密貼在載板201上對應的凹槽底面，另一作為製冷面323的環形板以其外表面密貼在電極座207的金屬基層321表面，並以連接製冷晶片307的二電線208b穿超載板201及鰭片306間，再由壁孔104引出殼部10後以插頭209b連通至外部電源(圖未示)，以對該製冷晶片307供電；在該製冷面323上還貼設一溫度感應器318(例如熱敏電阻或熱電偶)，透過該溫度感應器318連接溫度控制電路(圖未示)及溫度顯示器(圖未示)進行該製冷面323的溫度設定，使製冷面323在檢測期間維持在設定的低溫(例如10℃或25℃)，達到將吸附在待測區202中的LED203所釋出的熱量被製冷面323吸收，從而使LED203維持在設定的低溫下進行測試，以確保檢測LED203的準確性並避免檢測LED203時因過度溫升而受損；安裝溫度感應器318的較佳方式之一為在電極座207底部靠近環狀製冷面323內孔的金屬基層321表面設置一溝槽以容置該溫度感應器318及其導線，該導線由通孔315b引出，再以導熱膠將該溝槽及通孔315b填實固化；為達到上述低溫檢測目的，同時依循製冷晶片307的正常操作特性，通常當發熱面324無法消散過大的熱量時會升至較高溫度，熱能反而會倒流回到製冷面323，使製冷面323無法維持在設定的低溫；針對此，本發明透過載板201將製冷晶片307由發熱面324釋出的熱量傳導至鰭片306；另外，該殼部10的後段102靠近底部的內壁面還嵌設有將外界冷空氣吹向鰭片306a的一風扇308，使冷卻氣流容易導入鰭片306之間吸熱；當該量具1尚未裝入積分球前，在風扇308的進風側可經由間隔圍設在後段102下方的側向進風口310a吸入冷卻氣流，當該量具1已裝入積分球後，在風扇308的進風側還可同時經由後段102下方開口的軸向進風口310b吸入冷卻氣流，在風扇308的出風側設有一朝向鰭片306漸縮的導風罩309，該導風罩309的出口涵蓋該鰭片306的軸向自由端，以便將彙聚的冷卻氣流加速並導向鰭片306與載板201上，在各相鄰鰭片306間吸熱的氣流隨即經由預設於鰭片306端緣和前段101內壁之間所留間距，導入由前段101內壁面與導風罩309外壁面之間所形成的環狀通道，再經由間隔圍設在後段102壁面的多個排風口311，順利將來自LED203與來自製冷晶片307的發熱面324所釋出的熱量由量具1內排放到積分球外。

操作量具1進行檢測LED203時，首先開啟真空泵50，再將LED203設置在待測區202，使背向出光面2031的中部抵靠該氣孔204，並使底部正極板2032與底部負極板2033分別和對應於該量具1不同極性的一對電極205,210相互抵靠，透過該真空泵50對LED203提供的吸力將該LED203貼附並定位在待測區202，同時使具有不同極性的該對電極205,210分別抵緊在LED203的底部正極板2032與底部負極板2033上；待製冷晶片307的製冷面323已設定在所需要的溫度並啟動風扇308後，開啟製冷晶片307的外部電源；隨即將該量具1定位安裝在積分球的測試置入口內，待調整外部控制電源至該LED203正常點亮時的穩定工作電流或工作電壓後，開啟電源以點亮在積分球內的該LED203，由溫度顯示器確認該製冷面323的設定溫度達穩定後，啟動光、電性能自動檢測系統；待檢測完畢後將該外部控制電源關閉使LED203熄滅，再將該量具1自積分球取出並取下該LED203，隨後可繼續更換另一LED203進行檢測。

相較於習知的檢測發光二極體量具1a,1b，由於本發明透過真空泵50對LED203的底部所提供的吸附力，不但達到將LED203貼附並定位在量具1的最前緣，完全排除習知的檢測量具1a,1b的擋光缺失，並同步達成LED203的電性連接；且將具有四層結構的覆銅鋁基板所形成的獨特電極座207直接貼附在製冷面323上，可使LED203同步受到製冷面323低溫控制的保護，完全避免LED203升溫造成的量測不準度與破壞性風險；更因在結構上較習知的檢測量具1a,1b簡化，不論在安裝與拆卸LED203的操作上均較方便，更具有簡化制程、降低成本的效益；又由於本發明的檢測量具1能針對任何SMT型LED203皆必定具備的底部正、負極板2032,2033進行供電，因而在檢測不同尺寸、形狀、結構、型式的LED203時無習知檢測量具1a,1b的任何限制，從而確保本發明檢測發光二極體量具1優異的量測品質與極強的通用性。

本發明的檢測發光二極體量具1在前段101的外周壁面尺寸與形狀是和商用檢測LED的光、電量測系統中積分球的測試置入口的內周壁面相匹配，並不受所舉實施例的限制。

本發明的檢測發光二極體量具1中的氣孔204數量、位置及型式是為達成將LED203吸附定位的目的，並不受所舉實施例的限制。

本發明的檢測發光二極體量具1中的正電極205與負電極210數量、位置及形狀是為達成將LED203的底部正、負極板2032,2033和對應極性的該電極205,210形成電連接的目的，並不受所舉實施例的限制。

本發明的檢測發光二極體量具1中的製冷晶片307形狀、位置及型式是為達成在控制的低溫環境下檢測LED203的目的，並不受所舉實施例的限制。

由上述的實施方式已進一步清楚說明本發明的技術特徵及達成的功效，包括：

本發明提供一種具有檢測LED光、電性能的高準確量具，以吸力使SMT型LED方便貼附定位於待測區，並使該LED的底部正、負極板和該量具的正、負電極一併接觸通電，且使LED恒常維持在量具的最前緣，克服習知量具的擋光缺失，實現高準確的光、電性能檢測效益。

本發明提供一種能使發光二極體光源維持在不同的恒溫保護條件下進行穩態的光、電檢測通用量具，透過具有四層結構的覆銅鋁基板所形成的獨特電極座直接貼附在製冷晶片的製冷面上，並對該製冷晶片的發熱面提供強制對流的高效散熱和順暢導引冷卻氣流的通道，順利將來自LED和來自製冷晶片所釋出的熱量由量具內排放到積分球外，使該製冷面發揮低溫控制效能，有效排除LED急速升溫造成的量測不準度與破壞性風險。

本發明提供一種可應用於檢測任何SMT型LED尺寸與型式的光、電性能通用量具，針對任何SMT型LED皆必定具備的底部正、負極板進行供電，不論該LED的尺寸與型式及是否具有縱向或側向正、負極板的多元化檢測需求，皆可一次性滿足，實現一具通用的效益。

本發明提供一種結構簡、操作易的檢測SMT型LED通用量具，不需習知量具中結構複雜的定位夾具，並可大幅簡化安裝與拆卸LED的繁瑣操作，實現對量具的成本精簡與制程簡化，並確保檢測品質與長期可靠度的效益。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。

1,1a,1b．．．量具

10,10a,10b．．．殼部

101,101a,101b．．．前段

102,102a,102b．．．後段

103．．．階面

104．．．壁孔

20,20a,20b．．．測試部

201,201a,201b．．．載板

202．．．待測區

203．．．發光二極體光源(LED)

2031．．．出光面

2032．．．底部正極板

2033．．．底部負極板

2132．．．縱向正極板

2133．．．縱向負極板

2232．．．側向正極板

2233．．．側向負極板

204．．．氣孔

205,205a,205b．．．正電極

206．．．軟管

207．．．電極座

208a,208b．．．電線

209a,209b．．．插頭

210,210a,210b．．．負電極

301．．．壓座

302．．．調節螺栓

303．．．承座

304．．．軸向彈簧件

305．．．頂盤

306．．．鰭片

307．．．製冷晶片

308．．．風扇

309．．．導風罩

310a,310b．．．進風口

311．．．排風口

312．．．中心筒體

315,315a,315b．．．通孔

316．．．螺孔

317．．．密封圈

318．．．溫度感應器

319．．．導熱絕緣層

320．．．電路層

321．．．金屬基層

322．．．焊端

323．．．製冷面

324．．．發熱面

401．．．正電極組件

402．．．負電極組件

404．．．徑向彈簧件

405．．．滑塊

406．．．導桿

407．．．固定螺絲

408．．．彈簧

409．．．長槽

412．．．溝槽

50．．．真空泵

圖1為一典型發光二極體光源的立體剖面示意圖。

圖2為一習知量具的組裝剖面示意圖。

圖3為另一習知量具的組裝剖面示意圖。

圖4為本發明實施例的組裝剖面示意圖。

圖5為圖4中測試部(不含電極座)的俯視圖。

圖6為圖4中電極座的俯視圖。

圖7為圖6中電極座沿A-A截面的剖面放大示意圖。

1．．．量具

10．．．殼部

101．．．前段

102．．．後段