CN103792474A - 发光二极管检测量具 - Google Patents

Abstract

一种检测发光二极管光源(LED)的通用量具，包括一壳部及一测试部；其中该壳部为至少朝一端开口以安装测试部的中空柱体；该测试部包括设在该开口端部的一载板及由该载板朝壳部内侧延伸的鳍片，该载板的中部设有贯通载板的一通孔，该通孔连通壳部外的真空泵，该载板的外侧嵌设一围绕该通孔以使LED在恒温下测试的环状制冷芯片，该制冷芯片的制冷面上贴设一电极座，该电极座的中部设有连通该通孔的一气孔及邻近该气孔的任意两对角侧设置已连通外部控制电源用以导引正、负电压的一对电极，当待测LED背向出光面的中部抵靠该气孔时，藉由该泵提供的吸力将该LED贴附在电极座上，并使LED底部极板和该对电极对应连通以对LED供电。

Description

发光二极管检测量具

技术领域

本发明涉及一种发光二极管的检测量具，特别涉及一种透过吸力将发光二极管贴附在待测区，检测时能提供恒温环境、具有不挡光、易操作、高准度，且对不同尺寸、形状、结构、型式的发光二极管一体适用的通用量具。

背景技术

检测发光二极管(LED、Light Emitting Diode)的光、电量测系统是将承载发光二极管光源的量具装入积分球，透过连接周边的光谱分析仪、电参数量测仪及发光二极管控制电源，达到检测色品坐标、色温、显色指数、色容差、波长、色纯度、光通量、电压、电流、功率等参数的功能。由于目前照明灯具普遍使用的发光二极管光源是以适合大量生产的表面贴装技术(SMT, Surface Mounted Technology)为主流，但市场上该类发光二极管光源不论在尺寸、形状、结构、型式上皆存在许多差异。

其中仅就连通发光二极管控制电源的极板的型式就有如图1所示，同时具备背向发光二极管光源203出光面2031的底部正、负极板2032、2033，朝纵向延伸的纵向正、负极板2132、2133，及朝横向继续延伸且与底部正、负极板2032、2033平行的侧向正、负极板2232、2233。现有技术中亦有不具备侧向正、负极板2232、2233的结构。而由于小型化趋势及成本等因素的考虑下，生产厂家已朝向只提供兼具表面贴装技术的底部正、负极板2032、2033的发光二极管光源203。由于在无温控的测试环境下，被测发光二极管光源203随时处于升温的瞬态（transient state），导致无法清楚定义测试条件，也使检测数据缺乏重现性。尤其对于普遍使用于照明产业的功率型发光二极管一般功率皆在0.5瓦以上，在欠缺散热设计或不当设计的现有检测量具中，发光二极管光源203会因急速升温而远超过正常状态容许的温度极限，导致发光二极管光源203的严重破坏，使检测工作完全失去意义。由于检测各式发光二极管光源203的量具是准确量测光、电等参数的重要界面，因此必须兼顾市场上不同发光二极管光源的检测量具通用性，并排除影响各参数可能产生的不确定因素。

现有技术中检测发光二极管光源203的量具可概分为两种型式，其一为如图2所示的压式量具1a，另一为如图3所示的顶式量具1b。

图2所示的压式量具1a是由金属材质制成呈中空柱体的壳部10a及设在壳部10a一端开口处的测试部20a，以和积分球的测试置入口尺寸相匹配的前段101a将测试部20a装设在积分球内，并以前段101a和后段102a间的阶部103定位，测试部20a以非金属材质制成的载板201a固设在壳部10a的开口端，在载板201a外缘附近沿径向固设一对由金属材质制成的压座301，并分别在该对压座301上螺设沿径向可调整位置的金属制调节螺栓302，该二调节螺栓302端部的螺帽透过与具有不同极性的电源连接成为能对发光二极管光源203供电的一对正、负电极205a、210a，在壳部10a内设有一承座303，在压座301与承座303之间设有一轴向弹簧件304，该轴向弹簧件304上方呈倒置的筒状顶盘305因承受弹簧张力而上移，并透过顶盘305的筒壁与载板201a中心的通孔壁面间的尺寸匹配，限制顶盘305只能沿轴向滑动，该顶盘305端面的中部区域即为将设在发光二极管底部的底部正、负极板2032、2033平贴其上的电绝缘待测区。当该量具1a未安装待测的发光二极管光源203时，上移的顶盘305端面直接与该对调节螺栓302的正、负电极205a、210a接触。操作时，为将待测发光二极管光源203安装在该量具1a，首先将顶盘305下压并依图1所示发光二极管光源203的侧向正、负极板2232、2233尺寸调整量具1a的正、负电极205a、210a位置，再将发光二极管置于顶盘305的待测位置，且使量具1a的正、负电极205a、210a分别对应压接在发光二极管光源203的侧向正、负极板2232、2233上，达到将发光二极管光源203夹设在顶盘305与调节螺栓302的一对电极205a、210a之间的待测状态。惟由于该量具1a的压座301、调节螺栓302及其一对电极205a、210a皆必需设在发光二极管光源203的出光面2031上方才能达到上述待测状态，因而会造成严重的挡光而导致量测的光通量值被大幅低估，且该量具1a的应用受限于只能在具有侧向正、负极板2232、2233的少数发光二极管光源203型式，并以同一量具1a检测不同尺寸与形状的发光二极管光源203时有其局限性及操作的不方便，尤其在无温控的测试环境下无法清楚定义测试条件，以致检测数据缺乏重现性，甚至造成发光二极管光源203的破坏。显然该量具1a不论在量测质量与应用层面上均有严重的局限性与缺失。

图3所示的顶式量具1b与压式量具1a最主要的区别在于：顶式量具1b是在通过载板201b的中心开设一平直的浅沟槽412，并将负电极组件402的底部固定在该沟槽412内，正电极组件401则可在该沟槽412内自由滑动，上述正、负电极组件401、402是以电气绝缘材料为本体，并分别在朝向待测发光二极管光源203侧分别固设至少一外凸的金属顶针，该顶针的另一端则与对应发光二极管光源203极性的电源连接，使该二组顶针成为量具1b的一对正、负电极205b、210b。该正电极组件401的移动是透过该沟槽412上开设贯穿载板201b的一长槽409，而与设在壳部10b内的径向弹簧件404固接，藉由螺丝通过该长槽409使正电极组件401固定在该径向弹簧件404中间的滑块405，该滑块405沿径向的一侧设有端部略为凸伸至前段101b外壁面以内的导杆406，该滑块405沿径向的另一侧透过贯穿前段101b壁面的固定螺丝407将弹簧408伸入滑块405上对应的导引盲孔，该盲孔与导杆406及固定螺丝407同轴。操作时，轻压导杆406一定距离即可使滑块405沿载板201b滑动并使正电极组件401朝远离发光二极管光源203移动一相同距离，放开轻压的该导杆406即可使正电极组件401接近发光二极管光源203移动。藉由上述操作可依发光二极管光源203尺寸将分别设在该量具1b正、负电极组件401、402上的一对正、负电极205b、210b与发光二极管光源203的一对纵向正、负极板2132、2133抵紧供电。惟由于该量具1b的正、负电极组件401、402的高度与发光二极管光源203的纵向正、负极板2132、2133的高度皆固定但未必匹配，又由于透过推压导杆406使滑块405产生的位移量有限，而市场发光二极管光源203的尺寸多样，且该发光二极管光源203未必设有纵向正、负极板2132、2133。因此以同一量具1b检测不同尺寸与形状的发光二极管光源203时有其局限性，又仍无法完全排除挡光问题而导致量测的光通量值被低估，且该量具1b只适用在具有纵向极板2132、2133的少数发光二极管光源203型式，尤其在无温控的测试环境下无法清楚定义测试条件，以致检测数据缺乏重现性，甚至造成发光二极管光源203的破坏。显然该量具1b的量测质量与应用层面上仍有其局限性与缺失。

为降低上述检测过程中的温升影响，虽然目前市场上检测发光二极管光源203的仪器中已有所谓的脉冲式直流电源，宣称可在发光二极管光源203点亮1毫秒或更短的时间内撷取到光、电参数的瞬态数据，惟由于包括发光二极管光源203在内的任何发热源在趋近稳态的升温过程中，尤其是功率型发光二极管最初期的温升必然是最快速且变化最剧烈的。本创作人经长期实验的仔细求证，在不致造成发光二极管光源203破坏的测试条件下，证实该等瞬态初期的光通量数据皆达长期稳定的稳态光通量数据的一倍以上，且在点亮初期的不同瞬间测得的光通量值差异很大而失去检测同一发光二极管光源203的重现性，以致只有发光二极管光源203制造商大力提倡并以该等瞬态初期数据提供终端的使用者，但对发光二极管照明产业的实际灯具性能是在长期不变的稳态运作下才具有参考价值，厂商提供的瞬态初期的夸大数据完全无应用的实质意义。在世界权威发光二极管光源203的量测方法规范（CIE 127:2007, Measurement of LEDs）中对于上述瞬态初期的量测方式是必须在明确的瞬态与稳态之间的关联性下才有概念性的描述，但由于该关联性会随不同厂家的发光二极管产品不一，对广大的照明应用终端使用者而言，完全无法规范，以致缺乏实质的应用性；因此对发光二极管光源203的检测仍以符合实际应用面且具重现性的长期稳态数据为主。

发明内容

鉴于此，有必要提供一种能使发光二极管光源在恒温的稳态条件下进行非破坏性检测，并具有不挡光、易操作、高准度及通用性的发光二极管检测量具。

该检测发光二极管(LED)的通用量具，包括一壳部及一测试部；其中该壳部为至少朝一端开口以安装测试部的中空柱体，该柱体的外周壁面自该开口朝轴向为一较薄的前段并与其余较厚的后段壁面间形成一直角的阶面；该测试部包括设在该开口端部的一载板及由该载板朝壳部内侧延伸的鳍片，该载板的中部设有贯通载板的一通孔，该通孔连通壳部外的真空泵，该载板的外侧嵌设一围绕该通孔以使LED在恒温下测试的环状制冷芯片，该制冷芯片的制冷面上贴设一电极座，该电极座的中部设有连通该通孔的一气孔及邻近该气孔的任意两对角侧设置已连通外部控制电源用以导引正、负电压的一对电极，该壳部的底部还设有将冷却气流导向鳍片的一风扇，当待测LED背向出光面的中部抵靠该气孔时，藉由该泵提供的吸力将该LED贴附在电极座上，并使LED底部极板和该对电极对应连通以对LED供电。

本发明提供一种能使发光二极管光源维持在不同的恒温保护条件下进行稳态的光、电检测通用量具，有效解决温升导致的破坏。

本发明提供一种具有不挡光的检测LED通用量具，实现高准确的光、电性能测试，有效解决现有量具挡光的缺失。

本发明提供一种具有可应用于任何LED尺寸与形状的检测通用量具，一次性满足多元化的检测需求，发挥一具通用效益。

本发明提供一种结构简、操作易的检测LED通用量具，实现精简成本、简化制程、提升检测质量及长期可靠度的效益。

附图说明

图1为一典型发光二极管光源的立体剖面示意图。

图2为一现有量具的组装剖面示意图。

图3为另一现有量具的组装剖面示意图。

图4为本发明实施例的组装剖面示意图。

图5为图4中测试部(不含电极座)的俯视图。

图6为图4中电极座的俯视图。

图7为图6中电极座沿A-A截面的剖面放大示意图。

主要元件符号说明

量具	1, 1a, 1b
		壳部	10, 10a, 10b
前段	101, 101a, 101b
		后段	102, 102a, 102b
阶面	103
		壁孔	104
测试部	20, 20a, 20b
		载板	201, 201a, 201b
待测区	202
		发光二极管光源(LED)	203
出光面	2031
		底部正极板	2032
底部负极板	2033
		纵向正极板	2132
纵向负极板	2133
		侧向正极板	2232
侧向负极板	2233
		气孔	204
正电极	205, 205a, 205b
		软管	206
电极座	207
		电线	208a, 208b
插头	209a, 209b
		负电极	210, 210a, 210b
压座	301
		调节螺栓	302
承座	303
		轴向弹簧件	304
顶盘	305
		鳍片	306
制冷芯片	307
		风扇	308
导风罩	309
		进风口	310a, 310b
排风口	311
		中心筒体	312
通孔	315, 315a, 315b
		螺孔	316
密封圈	317
		温度感应器	318
导热绝缘层	319
		电路层	320
金属基层	321
		焊端	322
制冷面	323
		发热面	324
正电极组件	401
		负电极组件	402
径向弹簧件	404
		滑块	405
导杆	406
		固定螺丝	407
弹簧	408
		长槽	409
沟槽	412
		真空泵	50

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

以下参照图4至图7，对本发明检测发光二极管的通用量具予以进一步说明。

图4为本发明实施例的组装剖面示意图，图5为图4中测试部(不含电极座)的俯视图，图6为图4中电极座的俯视图，图7为图6中电极座沿IV-IV截面的剖面放大示意图；该检测量具1主要包括一壳部10及一测试部20。

该壳部10为至少朝一端开口以安装测试部20的中空柱体，该柱体的外周壁面自该开口沿轴向延伸成一较薄的前段101并与其余较厚的后段102壁面间形成一直角的阶面103；该前段101的外周壁面尺寸与形状和积分球的测试置入口(图未示)的内周壁面相匹配，并以该阶面103抵靠在该测试置入口的管状端面，达到将测试部20定位安装在积分球内，以使发光二极管光源(LED)203处于待测状态。

该测试部20包括嵌设在该壳部10一开口端的载板201及由该载板201朝壳部10内侧延伸的多个鳍片306，该鳍片306分布于中心筒体312周边，以使贴附在载板201外侧端面的热源增加散热的面积与强化导热的路径，实际应用时该鳍片306可采用不同的型式，例如围绕于中心筒体312周边沿径向呈放射状延伸的多个直板或螺旋板，或不同形状的柱体等，该多个散热鳍片306的端缘与壳部10的内壁之间留有一间距，以顺畅冷却气流路径，该载板201的中部设有贯通载板201并与中心筒体312连通的一通孔315，透过连通中心筒体312的一软管206，将该通孔315连通至穿过壳部10的后段102所设一壁孔104，再以该软管206连通壳部10外的真空泵50；该载板201的外侧嵌设一围绕该通孔315以使LED在设定的恒温下进行测试的环状制冷芯片307，该制冷芯片307的制冷面323略高于载板201的外侧表面，在该制冷面323上还贴设一电极座207，该电极座207的中部设有连通该通孔315的一气孔204及邻近该气孔204的任意两对角侧背向制冷面323上设置连通外部控制电源用以导引正、负电压的一对电极205,210，该载板201上还设有围绕该制冷芯片307的一密封圈317及设于该密封圈317外围的四个螺孔316，透过螺丝分别穿过设在电极座207周边的四个通孔315a并均匀螺锁于对应的该螺孔316，使制冷芯片307的发热面324与载板201间有良好的热接触以强化制冷芯片307的导热与散热效益，并同时使该电极座207与制冷芯片307的制冷面323间有良好的热接触以强化制冷芯片307对LED203的制冷温控效益，且同时使电极座207的周边与载板201的周边之间密封以达仅仅透过该气孔204即可使LED203底部正、负极板2032,2033对正、负电极205,210足够的吸附力及良好的导电效益；该壳部10的底部还设有将冷却气流导向鳍片306的一风扇308，以将制冷芯片307的发热面324及LED203产生的热量顺畅排出；当待测LED203背向出光面2031的中部抵靠该气孔204时，藉由该真空泵50提供的吸力将该LED203贴附在电极座207上，并使LED203的底部正、负极板2032,2033和该对正、负电极205,210对应连通以对LED203供电。

该电极座207为一具有良好散热与导电功能的覆铜铝基板，是经由独特制程工艺形成的四层组合件，其结构由上至下依序为：由导热性佳且电绝缘的特殊聚合物制成的导热绝缘层319、由导电性及导热性俱佳的铜箔材质制成的电路层320、导热绝缘层319及由导热性佳的铝材质制成的金属基层321；其工作原理是将表面贴装的LED203的底部正、负极板2032,2033藉吸力分别贴附在电路层320对应的正、负电极205,210供电，LED203所产生的热量经由该底部正、负极板2032,2033通过低热阻的导热绝缘层319传导并扩散至金属基层321，再由密贴于金属基层321的低温制冷面323将该热量吸收，使被测LED203维持在一定的低温操作环境。电极座207上的该对电极205,210分别由围绕在气孔204两侧间隔设置呈矩形的铜箔形成，以便与LED203的底部正、负极板2032,2033接触通电，由该对电极205,210分别延伸至待测区202以外的二焊端322的铜箔则与金属基层321之间覆以导热绝缘层319以防止金属基层321导电，并将经由插头209a连通至外部控制电源(图未示)用以分别导引正、负电压的二电线208a自一通孔315b伸出并焊接在该焊端322上。又，为对LED203的底部正、负极板2032,2033施以较强的吸附力，在载板201与电极座207之间除气孔204外的其余部分应维持气密，使气孔204成为唯一经由真空泵50产生吸附力之处；另，为确保该对电极205,210与LED203底部正、负极板2032,2033间有较佳的热接触及电气安全，在该电极座207的上表面除电极205,210与焊端322的铜箔外，其余部分的电路层320与金属基层321皆铺设导热绝缘层319，该裸露的铜箔电极205,210的较佳尺寸为预先设置成能贴附各种尺寸LED203的通用待测区202。实际应用时，该电极座207的导热绝缘层319厚度一般为5μm-20μm，电路层320厚度一般为35μm-350μm，金属基层321厚度一般为0.8mm-2mm。

该量具1的制冷芯片307(又称为热电致冷芯片、半导体致冷器、热泵等)，是一种对致冷晶粒透过珀尔帖效应(Peltier Effect)达到通电流即能在良好的散热条件下产生较大冷热温差的装置，致冷晶粒主要由锑(Antimony)、碲(Tellurium)、铋(Bismuth)、硒(Selenium)等稀有元素制成，制冷芯片307则是将多个致冷晶粒封装在上下二层具电绝缘的陶瓷板之间，本发明采用的环状制冷芯片307，其中一作为发热面324的环形板以其外表面密贴在载板201上对应的凹槽底面，另一作为制冷面323的环形板以其外表面密贴在电极座207的金属基层321表面，并以连接制冷芯片307的二电线208b穿过载板201及鳍片306间，再由壁孔104引出壳部10后以插头209b连通至外部电源(图未示)，以对该制冷芯片307供电；在该制冷面323上还贴设一温度感应器318(例如热敏电阻或热电偶)，透过该温度感应器318连接温度控制电路(图未示)及温度显示器(图未示)进行该制冷面323的温度设定，使制冷面323在检测期间维持在设定的低温(例如10℃或25℃)，达到将吸附在待测区202中的LED203所释出的热量被制冷面323吸收，从而使LED203维持在设定的低温下进行测试，以确保检测LED203的准确性并避免检测LED203时因过度温升而受损；安装温度感应器318的较佳方式之一为在电极座207底部靠近环状制冷面323内孔的金属基层321表面设置一沟槽以容置该温度感应器318及其导线，该导线由通孔315b引出，再以导热胶将该沟槽及通孔315b填实固化；为达到上述低温检测目的，同时依循制冷芯片307的正常操作特性，通常当发热面324无法消散过大的热量时会升至较高温度，热能反而会倒流回到制冷面323，使制冷面323无法维持在设定的低温；针对此，本发明透过载板201将制冷芯片307由发热面324释出的热量传导至鳍片306；另外，该壳部10的后段102靠近底部的内壁面还嵌设有将外界冷空气吹向鳍片306a的一风扇308，使冷却气流容易导入鳍片306之间吸热；当该量具1尚未装入积分球前，在风扇308的进风侧可经由间隔围设在后段102下方的侧向进风口310a吸入冷却气流，当该量具1已装入积分球后，在风扇308的进风侧还可同时经由后段102下方开口的轴向进风口310b吸入冷却气流，在风扇308的出风侧设有一朝向鳍片306渐缩的导风罩309，该导风罩309的出口涵盖该鳍片306的轴向自由端，以便将汇聚的冷却气流加速并导向鳍片306与载板201上，在各相邻鳍片306间吸热的气流随即经由预设于鳍片306端缘和前段101内壁之间所留间距，导入由前段101内壁面与导风罩309外壁面之间所形成的环状通道，再经由间隔围设在后段102壁面的多个排风口311，顺利将来自LED203与来自制冷芯片307的发热面324所释出的热量由量具1内排放到积分球外。

操作量具1进行检测LED203时，首先开启真空泵50，再将LED203设置在待测区202，使背向出光面2031的中部抵靠该气孔204，并使底部正极板2032与底部负极板2033分别和对应于该量具1不同极性的一对电极205,210相互抵靠，透过该真空泵50对LED203提供的吸力将该LED203贴附并定位在待测区202，同时使具有不同极性的该对电极205,210分别抵紧在LED203的底部正极板2032与底部负极板2033上；待制冷芯片307的制冷面323已设定在所需要的温度并启动风扇308后，开启制冷芯片307的外部电源；随即将该量具1定位安装在积分球的测试置入口内，待调整外部控制电源至该LED203正常点亮时的稳定工作电流或工作电压后，开启电源以点亮在积分球内的该LED203，由温度显示器确认该制冷面323的设定温度达稳定后，启动光、电性能自动检测系统；待检测完毕后将该外部控制电源关闭使LED203熄灭，再将该量具1自积分球取出并取下该LED203，随后可继续更换另一LED203进行检测。

相较于现有的检测发光二极管量具1a,1b，由于本发明透过真空泵50对LED203的底部所提供的吸附力，不但达到将LED203贴附并定位在量具1的最前缘，完全排除现有的检测量具1a,1b的挡光缺失，并同步达成LED203的电性连接；且将具有四层结构的覆铜铝基板所形成的独特电极座207直接贴附在制冷面323上，可使LED203同步受到制冷面323低温控制的保护，完全避免LED203升温造成的量测不准度与破坏性风险；更因在结构上较现有的检测量具1a,1b简化，不论在安装与拆卸LED203的操作上均较方便，更具有简化制程、降低成本的效益；又由于本发明的检测量具1能针对任何SMT型LED203皆必定具备的底部正、负极板2032,2033进行供电，因而在检测不同尺寸、形状、结构、型式的LED203时无现有检测量具1a,1b的任何限制，从而确保本发明检测发光二极管量具1优异的量测质量与极强的通用性。

本发明的检测发光二极管量具1在前段101的外周壁面尺寸与形状是和商用检测LED的光、电量测系统中积分球的测试置入口的内周壁面相匹配，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1中的气孔204数量、位置及型式是为达成将LED203吸附定位的目的，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1中的正电极205与负电极210数量、位置及形状是为达成将LED203的底部正、负极板2032,2033和对应极性的该电极205,210形成电连接的目的，并不受所举实施例的限制。

本发明的检测发光二极管量具1中的制冷芯片307形状、位置及型式是为达成在控制的低温环境下检测LED203的目的，并不受所举实施例的限制。

由上述的实施方式已进一步清楚说明本发明的技术特征及达成的功效，包括：

本发明提供一种具有检测LED光、电性能的高准确量具，以吸力使SMT型LED方便贴附定位于待测区，并使该LED的底部正、负极板和该量具的正、负电极一并接触通电，且使LED恒常维持在量具的最前缘，克服现有量具的挡光缺失，实现高准确的光、电性能检测效益。

本发明提供一种能使发光二极管光源维持在不同的恒温保护条件下进行稳态的光、电检测通用量具，透过具有四层结构的覆铜铝基板所形成的独特电极座直接贴附在制冷芯片的制冷面上，并对该制冷芯片的发热面提供强制对流的高效散热和顺畅导引冷却气流的通道，顺利将来自LED和来自制冷芯片所释出的热量由量具内排放到积分球外，使该制冷面发挥低温控制效能，有效排除LED急速升温造成的量测不准度与破坏性风险。

本发明提供一种可应用于检测任何SMT型LED尺寸与型式的光、电性能通用量具，针对任何SMT型LED皆必定具备的底部正、负极板进行供电，不论该LED的尺寸与型式及是否具有纵向或侧向正、负极板的多元化检测需求，皆可一次性满足，实现一具通用的效益。

本发明提供一种结构简、操作易的检测SMT型LED通用量具，不需现有量具中结构复杂的定位夹具，并可大幅简化安装与拆卸LED的繁琐操作，实现对量具的成本精简与制程简化，并确保检测质量与长期可靠度的效益。

综上所述，本发明确已符合发明专利要件，遂依法提出专利申请。惟，以上所述者仅为本发明的较佳实施例，自不能以此限制本案的申请专利范围。举凡熟悉本案技艺人士援依本发明的精神所作的等效修饰或变化，皆应涵盖于本案的申请专利范围内。

Claims (12)

1.一种发光二极管检测量具，用于对发光二极管光源进行检测，包括壳部和设于壳部上的测试部，其特征在于：该测试部包括电极座，电极座包括第一表面及与第一表面相对的第二表面，电极座第一表面上设有用于与发光二极管光源的二电极接触并供电的二电极，电极座第二表面上设有用于将发光二极管光源发出的热量进行散发的散热装置，电极座开设贯穿第一表面及第二表面的气孔，吸附装置通过气孔将发光二极管光源的二电极与电极座第一表面的二电极紧贴。

2.如权利要求1所述的发光二极管检测量具，其特征在于：散热装置包括贴设于电极座第二表面的制冷芯片。

3.如权利要求2所述的发光二极管检测量具，其特征在于：散热装置还包括安装于壳部上的载板，制冷芯片夹设于载板与电极座之间。

4.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：载板开设与电极座的气孔连通的通孔，吸附装置经由通孔及气孔对发光二极管光源进行吸附。

5.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：载板与电极座之间设有环绕制冷芯片的密封圈。

6.如权利要求3所述的发光二极管检测量具，其特征在于：载板沿远离制冷芯片的方向延伸形成鳍片。

7.如权利要求6所述的发光二极管检测量具，其特征在于：壳部内部设有风扇及导风罩，风扇产生的气流经由导风罩引导至鳍片与载板进行热交换之后，再通过导风罩与壳部内壁之间的间隙流至壳部外。

8.如权利要求7所述的发光二极管检测量具，其特征在于：壳部包括前段及后段，载板设置于壳部前段，壳部在后段的端部开设进风口，壳部在后段的侧面开设排风口。

9.如权利要求2至6任一项所述的发光二极管检测量具，其特征在于：电极座包括金属基层、设于金属基层上的第一导热绝缘层及设于导热绝缘层上的电路层，电极座的二电极由电路层形成。

10.如权利要求9所述的发光二极管检测量具，其特征在于：电极座还包括部分覆盖电路层的第二导热绝缘层，电路层未被第二绝缘层覆盖的部分形成电极座的二电极及焊端，电线焊接于焊端并与外部电源连通以对发光二极管光源供电。

11.如权利要求9所述的发光二极管检测量具，其特征在于：电极座在金属基层朝向制冷芯片的表面嵌设温度感应器，温度感应器贴设于制冷芯片。

12.如权利要求1至6任一项所述的发光二极管检测量具，其特征在于：吸附装置为真空泵。

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