CN209910949U - 温飘测试夹具及温飘测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种温飘测试夹具及温飘测试装置，属于滤光片测试技术领域。温飘测试夹具包括底座、温度调节组件以及夹具；温度调节组件设置于底座上，夹具连接设置于温度调节组件上，夹具用于固定待测滤光片；夹具由导热材料制成，底座、温度调节组件以及夹具上分别形成有第一通孔，第一通孔相互同心，待测滤光片覆盖夹具的第一通孔以使测试光通过。温飘测试装置包括光功率探头、测试架、测试光输出装置以及上述的温飘测试夹具；光功率探头、测试光输出装置以及温飘测试夹具均设置于测试架上，且光功率探头和测试光输出装置分别位于温飘测试夹具的两侧，以使测试光输出装置出射的测试光能够穿过位于温飘测试夹具上的滤光片被光功率探头所接收。

Description

温飘测试夹具及温飘测试装置

技术领域

本实用新型涉及滤光片测试技术领域，具体而言，涉及一种温飘测试夹具及温飘测试装置。

背景技术

5G通讯时代的到来为光通讯带来了新的发展机遇，同时也带来了新的挑战，因为5G网络基站部署更密集，部署环境更复杂，所以对光学器件的温度适应能力要求更高。一直以来薄膜型滤光片、光纤波导和光纤光栅是目前实现密集波分复用(DWDM)的三种主要方式，其中薄膜型滤光片器件因稳定性好，工作环境温度适应性强，成本低，组装方便等优点，在光通讯市场占有非常大的份额。

通常滤光片是将膜层材料按照光谱设计以不同的厚度一层一层的镀制在基底玻璃上，当光线通过滤光片后，选定波段的光被允许通过，而通带以外的光被滤出(截止)。但是滤光片温度的变化，会使得滤光片的中心波长往长波或短波方向漂移。换言之，被设计的光谱性能会发生变化，所以滤光片在投入使用时必须对温度变化带来的波长变化量(温飘)进行测量，以符合DWDM器件的需求。但是目前对于滤光片的温漂测试装置结构复杂，不便于组装，且无法对滤光片进行的温度进行快速调节易用性相对较差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种温飘测试夹具及温飘测试装置，能够快速简便的调节待测滤光片的温度以测试其温飘参数，并且结构简单便于组装。

本实用新型的实施例是这样实现的：

本实用新型实施例的一方面，提供一种温飘测试夹具，包括：底座、温度调节组件以及夹具；温度调节组件设置于底座上，夹具连接设置于温度调节组件上，夹具用于固定待测滤光片；夹具由导热材料制成，底座、温度调节组件以及夹具上分别形成有第一通孔，且底座、温度调节组件以及夹具上的第一通孔相互同心，待测滤光片覆盖夹具的第一通孔以使测试光通过。

可选地，温度调节组件包括半导体制冷片，半导体制冷片与驱动电源连接，温度调节组件的第一通孔位于半导体制冷片上。

可选地，温度调节组件还包括导热板，半导体制冷片镶嵌于导热板的一侧，夹具镶嵌于导热板的另一侧，导热板上形成有用于测试光通过的第二通孔，第二通孔与半导体制冷片的第一通孔以及夹具的第一通孔连通。

可选地，导热板上还形成有安装孔，安装孔用于安装测温探头。

可选地，底座远离半导体制冷片的一侧形成有锯齿状结构。

可选地，导热板镶嵌于底座内。

可选地，夹具远离温度调节组件的一侧形成有容置结构，第一通孔位于容置结构的底部，滤光片容置于容置结构内。

可选地，底座还形成有卡槽，用于与外部设备卡接配合。

可选地，夹具由铜制成。

本实用新型实施例的另一方面，提供一种温飘测试装置，包括：光功率探头、测试架、测试光输出装置以及上述任意一项的温飘测试夹具；光功率探头、测试光输出装置以及温飘测试夹具均设置于测试架上，且光功率探头和测试光输出装置分别位于温飘测试夹具的两侧，以使测试光输出装置出射的测试光能够穿过位于温飘测试夹具上的滤光片被光功率探头所接收。

本实用新型实施例的有益效果包括：

本实用新型实施例提供的一种温飘测试夹具，包括底座、温度调节组件以及夹具。温度调节组件设置在底座上，夹具设置在温度调节组件上，其中，夹具由导热材料制成，因此，该温飘测试夹具在使用过程中，对温度调节组件的温度进行调节，经过夹具的热传导之后，固定在夹具上的待测滤光片的温度会趋近于温度调节组件的温度，从而使待测滤光片的温度能够通过温度调节组件的调节而改变。在底座、温度调节组件以及夹具上分别形成有第一通孔，并且各第一通孔相互同心对应设置，使得对待测滤光片进行测试的测试光，能够穿过覆盖于夹具的第一通孔上的待测滤光片，并由该温飘测试夹具出射以被光功率探头所接收。通过具有上述结构的该温飘测试夹具，能够方便且较快速的改变滤光片的温度，以便于快速的对不同温度下待测滤光片的中心波长进行测量，从而得出待测滤光片的温飘参数。同时，该温飘测试夹具结构简单，组装和使用更加方便，并且体积相对较小便于移动和存放。

本实用新型实施例提供的一种温飘测试装置，包括分别安装在测试架上的光功率探头、测试光输出装置以及上述的温飘测试夹具，由测试光输出装置出射的测试光能够照射到温飘测试夹具上固定的待测滤光片，并穿过待测滤光片被光功率探头所接收，从而对待测滤光片的温飘参数进行测量。该温飘测试装置结构简单，且操作简便，能更加方便的对待测滤光片的温度进行调节。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的温飘测试夹具的结构示意图之一；

图2为本实用新型实施例提供的温飘测试夹具的结构示意图之二；

图3为本实用新型实施例提供的温度调节组件的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的夹具的结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的温飘测试装置的结构示意图。

图标：100-温飘测试夹具；110-底座；111-走线槽；112-锯齿状结构；113-卡槽；120-温度调节组件；121-半导体制冷片；122-导热板；1221-安装孔；130-夹具；131-容置结构；140-第一通孔；210-光功率探头；220-测试架；230-测试光输出装置。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型实施例提供一种温飘测试夹具，结合图1和图2所示，包括底座110、温度调节组件120以及夹具130；温度调节组件120设置于底座110上，夹具130连接设置于温度调节组件120上，夹具130用于固定待测滤光片；夹具130由导热材料制成，底座110、温度调节组件120以及夹具130上分别形成有第一通孔140，且底座110、温度调节组件120以及夹具130上的第一通孔140相互同心，待测滤光片覆盖夹具130的第一通孔140以使测试光通过。

需要说明的是，第一，设置在底座110上的温度调节组件120通常镶嵌在底座110上，以减薄该温飘测试夹具整体的体积(厚度)，并且便于组装该温飘测试夹具时，利用镶嵌配合对温度调节组件120在底座110进行定位，使该温飘测试夹具的组装更加方便。

第二，通常温度调节组件120可以采用制冷片等器件以实现温度的可调节，当然在本实用新型实施例中温度调节组件120还可以采用热泵等，此处不做具体限制。

第三，为了使测试光能够经过较短的距离便穿过待测滤光片，以减少外部环境对测试光的影响，底座110和温度调节组件120上第一通孔140的内径均设置为略大于测试光输出装置的准直器外径，以使准直器能够伸入于该温飘测试夹具减小测试光出光位置与待测滤光片之间的位置。当然，在实际使用中，第一通孔140还可以设置为其他内径，只要能够使测试光通过即可。

第四，夹具130通常镶嵌设置在温度调节组件120上，使得温度调节组件120与夹具130之间的具有较大的接触面积，从而提高温度调节组件120与夹具130之间的热传导效率，从而加快对于待测滤光片温度的调节。

本实用新型实施例提供的一种温飘测试夹具，包括底座110、温度调节组件120以及夹具130。温度调节组件120设置在底座110上，夹具130设置在温度调节组件120上，其中，夹具130由导热材料制成，因此，该温飘测试夹具在使用过程中，对温度调节组件120的温度进行调节，经过夹具130的热传导之后，固定在夹具130上的待测滤光片的温度会趋近于温度调节组件120的温度，从而使待测滤光片的温度能够通过温度调节组件120的调节而改变。在底座110、温度调节组件120以及夹具130上分别形成有第一通孔140，并且各第一通孔140相互同心对应设置，使得对待测滤光片进行测试的测试光，能够穿过覆盖于夹具130的第一通孔140上的待测滤光片，并由该温飘测试夹具出射以被光功率探头所接收。通过具有上述结构的该温飘测试夹具，能够方便且较快速的改变滤光片的温度，以便于快速的对不同温度下待测滤光片的中心波长进行测量，从而得出待测滤光片的温飘参数。同时，该温飘测试夹具结构简单，组装和使用更加方便，并且体积相对较小便于移动和存放。

可选地，结合图1所示，温度调节组件120包括半导体制冷片121，半导体制冷片121与驱动电源(附图中未示出)连接，温度调节组件120的第一通孔140位于半导体制冷片121上。

半导体制冷片121是一种利用半导体材料的热电效应(Thermoelectric effect)，制成的可制冷和制热的装置。通过改变半导体制冷片121的电流能够实现对半导体制冷片121的制冷或制热的温度调节。

需要说明的是，驱动电源可以是可调电流的直流电源，也可以是半导体制冷片121常用的TEC(Thermo Electric Cooler，半导体制冷器)驱动电源等。

如图1和图2所示，通常在底座110上设置有走线槽111，用于对连接驱动电源和半导体制冷片121的导线进行固定。当然，在实际应用中，在底座110上也可以不设置走线槽111，此处不做具体限制。

由于半导体制冷片121体积小，可靠性高、无制冷剂污染等特性，因此采用半导体制冷片121利用热传导来调节待测滤光片的温度，效果稳定，且结构简单体积小，无污染。

可选地，如图1所示，温度调节组件120还包括导热板122，半导体制冷片121镶嵌于导热板122的一侧，夹具130镶嵌于导热板122的另一侧，导热板122上形成有用于测试光通过的第二通孔，第二通孔与半导体制冷片121的第一通孔140以及夹具130的第一通孔140(图1中未标出)连通。

其中，在导热板122上形成有第二通孔，并且第二通孔与半导体制冷片121的第一通孔140以及夹具130的第一通孔140连通，使测试光能够通过第一通孔140以及第二通孔穿过该温飘测试夹具，以被光功率探头所接收。

在实际应用中，如图3所示，导热板122和镶嵌在导热板122上的半导体制冷片121可以直接镶配固定在一起，设置为不可拆卸结构形成为整体结构，以提高温度调节组件120的整体性及稳固性。

将半导体制冷片121和夹角分别镶嵌于导热板122相对的两侧，使得半导体制冷片121与夹具130之间能够更高效的进行热传导，从而提高调节待测滤光片温度的效率。

可选地，如图3所示，导热板122上还形成有安装孔1221，安装孔1221用于安装测温探头(附图中未示出)。

当驱动电源为TEC驱动电源时，测温探头可以与TEC驱动电源的测温输出端连接，当驱动电源为其他电源时，测温探头可以单独与测温探头接收装置连接。

通过导热板122上形成的安装孔1221，能够安装测温探头以对该温飘测试夹具的温度进行检测，以近似得到待测滤光片的温度，便于准确的对半导体制冷片121的温度进行调节。

可选地，如图1所示，底座110远离半导体制冷片121的一侧形成有锯齿状结构112。

将底座110远离半导体制冷片121的一侧设置为锯齿状结构112，能够增加底座110该侧与空气或外界的接触面积，提高该侧与空气或外界的热交换，从而提高该侧的散热效率，以使半导体制冷片121与底座110接触的表面产生的热量能够被快速散去，减小其对夹具130温度的影响。

可选地，导热板122镶嵌于底座110内。

将导热板122镶嵌于底座110内，能够更好的使底座110对导热板122进行固定，增强该温飘测试夹具整体结构的稳固性。

可选地，如图4所示，夹具130远离温度调节组件120的一侧形成有容置结构131，第一通孔140位于容置结构131的底部，待测滤光片容置于容置结构131内。

在夹具130远离温度调节组件120的一侧形成容置结构131，使待测滤光片能够更加方便且稳固的固定在夹具130上。其中位于容置结构131底部的第一通孔140如图4所示，可以设置为台阶孔，以使测试光输出装置的准直器能够部分伸入夹具130，以减小测试光出射位置与待测滤光片之间的距离。当然，在实际应用中，第一通孔140还可以为其他设置，只要能够使测试光通过即可。

可选地，如图1所示，底座110还形成有卡槽113，用于与外部设备卡接配合。

在底座110上形成卡槽113，底座110能够通过卡槽113与外部设备(测试架等)卡接配合，使该温飘测试夹具能够更方便的安装到外部设备上。

可选地，夹具130由铜制成。

采用铜制的夹具130，具有较好的导热性，并且相较于其他导热性较好的材料强度更高、成本也相对较低。

本实用新型实施例的另一方面，提供一种温飘测试装置，如图5所示，包括：光功率探头210、测试架220、测试光输出装置230以及上述任意一项的温飘测试夹具100；光功率探头210、测试光输出装置230以及温飘测试夹具100均设置于测试架220上，且光功率探头210和测试光输出装置230分别位于温飘测试夹具100的两侧，以使测试光输出装置230出射的测试光能够穿过位于温飘测试夹具100上的滤光片被光功率探头210所接收。

由测试光输出装置230出射的测试光能够照射到温飘测试夹具100上固定的待测滤光片，并穿过待测滤光片被光功率探头210所接收，从而对待测滤光片的温飘参数进行测量。该温飘测试装置结构简单，且操作简便，能更加方便的对待测滤光片的温度进行调节。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种温飘测试夹具，其特征在于，包括：底座、温度调节组件以及夹具；所述温度调节组件设置于所述底座上，所述夹具连接设置于所述温度调节组件上，所述夹具用于固定待测滤光片；所述夹具由导热材料制成，所述底座、所述温度调节组件以及所述夹具上分别形成有第一通孔，且所述底座、所述温度调节组件以及所述夹具上的所述第一通孔相互同心，所述待测滤光片覆盖所述夹具的第一通孔以使测试光通过。

2.如权利要求1所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述温度调节组件包括半导体制冷片，所述半导体制冷片与驱动电源连接，所述温度调节组件的所述第一通孔位于所述半导体制冷片上。

3.如权利要求2所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述温度调节组件还包括导热板，所述半导体制冷片镶嵌于所述导热板的一侧，所述夹具镶嵌于所述导热板的另一侧，所述导热板上形成有用于所述测试光通过的第二通孔，所述第二通孔与所述半导体制冷片的第一通孔以及所述夹具的第一通孔连通。

4.如权利要求3所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述导热板上还形成有安装孔，所述安装孔用于安装测温探头。

5.如权利要求2至4任一项所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述底座远离所述半导体制冷片的一侧形成有锯齿状结构。

6.如权利要求3所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述导热板镶嵌于所述底座内。

7.如权利要求1所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述夹具远离所述温度调节组件的一侧形成有容置结构，所述第一通孔位于所述容置结构的底部，所述滤光片容置于所述容置结构内。

8.如权利要求1所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述底座还形成有卡槽，用于与外部设备卡接配合。

9.如权利要求1所述的温飘测试夹具，其特征在于，所述夹具由铜制成。

10.一种温飘测试装置，其特征在于，包括光功率探头、测试架、测试光输出装置以及如权利要求1～9任一项所述的温飘测试夹具；所述光功率探头、所述测试光输出装置以及所述温飘测试夹具均设置于所述测试架上，且所述光功率探头和所述测试光输出装置分别位于所述温飘测试夹具的两侧，以使所述测试光输出装置出射的测试光能够穿过位于所述温飘测试夹具上的滤光片被所述光功率探头所接收。

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