CN108776119A - 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 - Google Patents
固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108776119A CN108776119A CN201810607996.0A CN201810607996A CN108776119A CN 108776119 A CN108776119 A CN 108776119A CN 201810607996 A CN201810607996 A CN 201810607996A CN 108776119 A CN108776119 A CN 108776119A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- load sample
- diffuse reflectance
- reflectance spectroscopy
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明公开了一种固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,涉及漫反射光谱测试仪器领域,包括石英载样片、加热片、调压器,所述石英载样片的一面设有载样凹槽,所述加热片固定在所述石英载样片的另一面,所述加热片通过导线连接所述调压器。本发明的优点在于:可以实现在固体样品漫反射光谱测试时进行温度控制,测试结束后可以回收样品。
Description
技术领域
本发明涉及漫反射光谱测试仪器领域,尤其涉及一种固体样品漫反射光谱测试载样加热装置。
背景技术
液体样品漫反射光谱测试一般通过加热比色皿来加热调控样品温度,如通过循环水或电加热装置加热比色皿,循环水或电加热装置的控温范围为室温~110℃。而固体样品漫反射光谱测试目前没有加热装置,测试温度为室温,无法进行高温测试。
现有的固体样品漫反射光谱测试载样装置采用硫酸钡背底,将硫酸钡在载样片上压平制成硫酸钡背底,然后将固体样品铺在硫酸钡上压平,再置于测试光路上进行测试,由于样品与硫酸钡压在一起,测试结束后样品无法回收。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种可以实现在固体样品漫反射光谱测试时进行温度控制并且测试结束后可以回收样品的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置。
本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的:固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,包括石英载样片(1)、加热片(2)、调压器(3),所述石英载样片(1)的一面设有载样凹槽(11),所述加热片(2)固定在所述石英载样片(1)的另一面,所述加热片(2)通过导线连接所述调压器(3)。
作为优化的技术方案,所述石英载样片(1)为长方体。石英载样片的形状、尺寸适应固体漫反射光谱测试仪器积分球上的载样片卡槽的形状、尺寸。
作为优化的技术方案,所述载样凹槽(11)为长方体。
作为优化的技术方案,所述载样凹槽(11)的尺寸为长7~9mm,宽4~6mm,高0.15~0.25mm。载样凹槽的形状、尺寸适应固体漫反射光谱测试的需求并且使样品用量较少。
作为优化的技术方案,所述加热片(2)为长方体。加热片固定在石英载样片的另一面对应载样凹槽的位置,形状对应载样凹槽,有利于加热样品。
作为优化的技术方案,所述加热片(2)的电阻为20Ω。
作为优化的技术方案,所述加热片(2)的加热温度范围为25~550℃。
作为优化的技术方案,所述调压器(3)为数字显示调压器。
作为优化的技术方案,所述调压器(3)的输出电压为0~38V。
作为优化的技术方案,所述调压器(3)的额定功率为100W。
本发明的优点在于:可以实现在固体样品漫反射光谱测试时进行温度控制,可以对测试材料的带隙与温度之间的关系实现深入研究,测试结束后可以回收样品。
附图说明
图1是本发明固体样品漫反射光谱测试载样加热装置的结构示意图。
图2是本发明中石英载样片的结构示意图。
图3是应用本发明固体样品漫反射光谱测试载样加热装置对某种固体样品进行漫反射光谱测试得到的带隙与温度之间满足的函数关系图。
具体实施方式
如图1-2所示,固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,包括石英载样片1、加热片2、调压器3。
石英载样片1为长方体,石英载样片1的尺寸适应固体漫反射光谱测试仪器积分球上的载样片卡槽的尺寸,长69mm,宽35mm,高1.5mm。
石英载样片1的一面中间设有载样凹槽11,载样凹槽11为长方体,尺寸为长8mm,宽5mm,高0.2mm。
加热片2为长方体,尺寸为长10mm,宽10mm,高1.2mm,加热片2固定在石英载样片1的另一面对应载样凹槽11的位置。
加热片2的电阻为20Ω,加热温度范围为25~550℃,其加热参数如表1。
表1加热片的加热参数
电压(V) | 最大电流(A) | 最大功率(W) | 干烧温度(℃) |
2 | 0.1 | 0.2 | 25 |
4 | 0.2 | 0.8 | 35 |
6 | 0.3 | 1.8 | 51 |
8 | 0.4 | 3.2 | 90 |
10 | 0.5 | 5.0 | 130 |
12 | 0.6 | 7.2 | 170 |
14 | 0.7 | 9.8 | 210 |
16 | 0.8 | 12.8 | 270 |
18 | 0.9 | 16.2 | 300 |
20 | 1.0 | 20.0 | 330 |
22 | 1.1 | 24.2 | 360 |
24 | 1.2 | 28.8 | 390 |
26 | 1.3 | 33.8 | 410 |
28 | 1.4 | 39.2 | 430 |
30 | 1.5 | 45 | 450 |
32 | 1.6 | 51.2 | 475 |
34 | 1.7 | 57.8 | 500 |
36 | 1.8 | 64.8 | 525 |
38 | 1.9 | 72.2 | 550 |
加热片2通过导线连接调压器3,调压器3连接电源。
调压器3为数字显示调压器,输入电压为100~240V±15%,输出电压为0~38V,输出电流为0~4A,额定功率为100W,尺寸为长160mm,宽98mm,高42mm。
使用时,将样品铺在载样凹槽11处,然后将石英载样片1置于固体漫反射光谱测试仪器积分球上的载样片卡槽上,通过调压器3调变电压,调控加热片2的加热温度,待加热平衡时,温度稳定,开始漫反射光谱测试,测试结束后将样品从载样凹槽11处取出回收。
如图3所示,应用岛津Solidspec3700光谱仪及本发明固体样品漫反射光谱测试载样加热装置对某种固体样品进行漫反射光谱测试,测试时室温为20℃,测试温度范围为20~360℃,通过对测试数据拟合得到测试样品在各个温度下带隙值,然后以温度(Temperature)为横坐标,带隙(Band Gap)为纵坐标,拟合得到带隙与温度之间满足的函数关系为Band Gap=B0+Ae-t/B=3.24-1.82×10-4e-t/-37.72,可以发现,20~210℃范围内带隙随温度升高基本不变,即20~210℃范围内测试材料作为宽带隙半导体材料可以稳定工作,300~360℃范围内带隙随温度升高迅速减小,通过其他测试发现,此时测试材料结构发生变化,导致带隙显著减小。通过本发明固体样品漫反射光谱测试载样加热装置可以对测试材料的带隙与温度之间的关系实现深入研究。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:包括石英载样片(1)、加热片(2)、调压器(3),所述石英载样片(1)的一面设有载样凹槽(11),所述加热片(2)固定在所述石英载样片(1)的另一面,所述加热片(2)通过导线连接所述调压器(3)。
2.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述石英载样片(1)为长方体。
3.如权利要求1或2所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述载样凹槽(11)为长方体。
4.如权利要求3所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述载样凹槽(11)的尺寸为长7~9mm,宽4~6mm,高0.15~0.25mm。
5.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述加热片(2)为长方体。
6.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述加热片(2)的电阻为20Ω。
7.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述加热片(2)的加热温度范围为25~550℃。
8.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述调压器(3)为数字显示调压器。
9.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述调压器(3)的输出电压为0~38V。
10.如权利要求1所述的固体样品漫反射光谱测试载样加热装置,其特征在于:所述调压器(3)的额定功率为100W。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810607996.0A CN108776119A (zh) | 2018-06-13 | 2018-06-13 | 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810607996.0A CN108776119A (zh) | 2018-06-13 | 2018-06-13 | 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108776119A true CN108776119A (zh) | 2018-11-09 |
Family
ID=64025115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810607996.0A Pending CN108776119A (zh) | 2018-06-13 | 2018-06-13 | 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108776119A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113533229A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-10-22 | 华东师范大学 | 一种分光光度计的便携式控温装置 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1975372A (zh) * | 2006-12-01 | 2007-06-06 | 中山大学 | 用于原子力显微镜的扫描样品电加热装置 |
CN101598706A (zh) * | 2009-07-23 | 2009-12-09 | 上海华质生物技术有限公司 | 液相色谱和质谱联用时在线浓缩样品的装置 |
CN201773063U (zh) * | 2010-07-30 | 2011-03-23 | 华东理工大学 | 用于近红外光谱检测的载样装置 |
CN203083917U (zh) * | 2013-03-15 | 2013-07-24 | 厦门大学 | 一种用于固体粉末荧光测试的样品槽 |
US20130307549A1 (en) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | Foxconn Technology Co., Ltd. | Instrument for measuring led light source |
CN203929615U (zh) * | 2014-07-01 | 2014-11-05 | 北京大学 | 一种兼容温度控制设备的固体样品支架 |
CN104795339A (zh) * | 2015-03-09 | 2015-07-22 | 昆山龙腾光电有限公司 | 薄膜晶体管阵列基板的检测装置及检测方法 |
CN205209862U (zh) * | 2015-07-03 | 2016-05-04 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 一种xrd测试设备用可控升温装置 |
CN205981818U (zh) * | 2016-07-08 | 2017-02-22 | 浙江大学 | 一种用于样品固定在片状载体原位检测的maldi靶板 |
CN206892006U (zh) * | 2017-07-25 | 2018-01-16 | 电子科技大学 | 一种中子衍射气氛‑温度反应装置 |
CN207114299U (zh) * | 2017-09-07 | 2018-03-16 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种梯度热解析进样器 |
CN207318320U (zh) * | 2017-07-04 | 2018-05-04 | 贵州民族大学 | 一种荧光光谱仪固体粉末样品测试支架 |
-
2018
- 2018-06-13 CN CN201810607996.0A patent/CN108776119A/zh active Pending
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1975372A (zh) * | 2006-12-01 | 2007-06-06 | 中山大学 | 用于原子力显微镜的扫描样品电加热装置 |
CN101598706A (zh) * | 2009-07-23 | 2009-12-09 | 上海华质生物技术有限公司 | 液相色谱和质谱联用时在线浓缩样品的装置 |
CN201773063U (zh) * | 2010-07-30 | 2011-03-23 | 华东理工大学 | 用于近红外光谱检测的载样装置 |
US20130307549A1 (en) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | Foxconn Technology Co., Ltd. | Instrument for measuring led light source |
CN203083917U (zh) * | 2013-03-15 | 2013-07-24 | 厦门大学 | 一种用于固体粉末荧光测试的样品槽 |
CN203929615U (zh) * | 2014-07-01 | 2014-11-05 | 北京大学 | 一种兼容温度控制设备的固体样品支架 |
CN104795339A (zh) * | 2015-03-09 | 2015-07-22 | 昆山龙腾光电有限公司 | 薄膜晶体管阵列基板的检测装置及检测方法 |
CN205209862U (zh) * | 2015-07-03 | 2016-05-04 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 一种xrd测试设备用可控升温装置 |
CN205981818U (zh) * | 2016-07-08 | 2017-02-22 | 浙江大学 | 一种用于样品固定在片状载体原位检测的maldi靶板 |
CN207318320U (zh) * | 2017-07-04 | 2018-05-04 | 贵州民族大学 | 一种荧光光谱仪固体粉末样品测试支架 |
CN206892006U (zh) * | 2017-07-25 | 2018-01-16 | 电子科技大学 | 一种中子衍射气氛‑温度反应装置 |
CN207114299U (zh) * | 2017-09-07 | 2018-03-16 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种梯度热解析进样器 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113533229A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-10-22 | 华东师范大学 | 一种分光光度计的便携式控温装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kleemann et al. | Characterisation of mechanical behaviour and coupled electrical properties of polymer electrolyte membrane fuel cell gas diffusion layers | |
CN103630820A (zh) | 大功率led热阻测量装置及采用该装置测量大功率led热阻的方法 | |
CN105518473B (zh) | 充放电装置的充电电流的精确检测器 | |
CN102759544B (zh) | 一种大功率碳化硅二极管热阻测试方法 | |
CN101969703B (zh) | 中高温碳晶电热材料、中高温碳晶电热板以及相关制备方法 | |
CN106872898A (zh) | 动力电池单体界面热阻快速测试方法 | |
CN108776119A (zh) | 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 | |
Kazlauskas et al. | Effect of sintering temperature on electrical properties of gadolinium-doped ceria ceramics | |
Terada et al. | Multiscale simulation of electro-chemo-mechanical coupling behavior of PEN structure under SOFC operation | |
CN208283271U (zh) | 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置 | |
CN106301220A (zh) | 光伏组件温度系数获取方法 | |
CN102866065A (zh) | 连续加压装置 | |
CN106771619B (zh) | 一种高精度温控电阻测试系统 | |
CN109187616A (zh) | 基于tec的液晶屏的温度冲击装置和液晶屏测试方法 | |
CN110220937B (zh) | 一种热电制冷模块寿命预测方法及装置 | |
CN102426812B (zh) | 高温超导综合实验仪 | |
CN105806889B (zh) | 一种保温材料导热系数测试装置 | |
CN110824329A (zh) | 一种igct器件阻断特性参数测试单元及其测试装置 | |
CN218003607U (zh) | 一种绝缘件面老化试验装置 | |
CN104914037A (zh) | 氛围可控的氧气老化测试箱 | |
CN109613376A (zh) | 功率器件动态老炼壳温补偿装置及方法 | |
CN105116008A (zh) | 基于完成对不同厚度待测样品导热系数的测量的系统组件 | |
CN205593951U (zh) | 用于检测导热硅脂的模拟系统 | |
CN102156230A (zh) | 一种温升测试能力验证样品 | |
CN204789277U (zh) | 氧气老化测试箱 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |