CN203929615U - 一种兼容温度控制设备的固体样品支架 - Google Patents

一种兼容温度控制设备的固体样品支架 Download PDF

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CN203929615U CN201420359873.7U CN201420359873U CN203929615U CN 203929615 U CN203929615 U CN 203929615U CN 201420359873 U CN201420359873 U CN 201420359873U CN 203929615 U CN203929615 U CN 203929615U
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陈明星
聂洪港
潘伟
关妍
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Abstract

本实用新型公开了一种兼容温度控制设备的固体样品支架。本实用新型的固体样品支架包括:样品槽、样品盖、固定件和固定架;其中,固定架的一端设置有连接件,另一端设置有与样品槽的尺寸相匹配的固定孔,固定孔内设置有限位面;样品盖和样品槽采用石英,通过固定件和限位面将样品槽限定在固定架的固定孔内,然后将固定架安装在温度控制设备的样品杆上,与现有的温度控制设备和荧光光谱仪兼容,适合做粉末、块状和片状的固体样品在77~500K温度区间的变温实验。在进行多仪器联用时,保证样品表面均匀度和环境的一致性,同时保证了测试结果的准确性。

Description

一种兼容温度控制设备的固体样品支架
技术领域
本实用新型涉及荧光和磷光测试领域,具体涉及一种兼容温度控制设备的固体样品支架。
背景技术
分子吸收光子能量,电子从基态跃迁到激发态,处于激发态的电子不稳定,总具有跃回到基态、伴随着释放能量的趋势。跃迁到激发态的电子大多处于单重激发态。如果电子直接从第一激发单重态的最低能级以辐射方式跃迁回到基态,这种发射称之为荧光,其寿命较短;
目前涉及荧光领域的研究越来越多,温度对于荧光强度有着显著的影响。通常,随着温度的降低,荧光强度将增大。因此研究荧光随着温度的变化是研究工作中必不可少的一方面。在此过程中要用到低温设备和相应的样品支架。
处于激发态的电子有时可改变自旋方向,分子处于三线态。具三线态的分子是不稳定的,电子容易改变自旋,恢复单线态状况。三线态电子经振动到三线态最低点,再回到基态,并发射光,其能量比荧光更低、波长更长,寿命也更长,通常可达10-3s至几秒,成为磷光。目前,随着科学研究的发展,涉及磷光方面的研究和应用越来越多。磷光分析可用于药物分析,毒物分析,维生素、蛋白质、核酸和激素的分析中。由于磷光大多要在低温下才能发生,因此,温度控制设备和相匹配的样品支架对于测量磷光必不可少。
现有技术中,将样品放置在样品支架上,再将样品支架安装在温度控制设备中,通过液氮和加热附件,可以实现样品温度在77~500K之间的变温控制,再配合荧光光谱仪,就可以研究样品在77~500K的温度区间的荧光和磷光随温度的变化情况。然而,由于现有的温度控制设备采用两片夹片将样品固定在样品杆内,或者只能放置石英样品池(液体样品),以上的装置只适用于液体样品,或者镀膜样品的检测,而对于粉末、块状或者片状的固体样品,却由于无法固定样品而不能进行检测。而在多年的研究中和检测中发现,粉末、块状以及片状等的固体样品占有非常大的比例。
实用新型内容
针对现有技术中温度控制设备不能检测固体样品的问题,本实用新型提供一种兼容温度控制设备的固体样品支架,适合做粉末、块状、片状的固体样品在77~500K的温度区间的变温实验。
本实用新型的目的在于提供一种兼容温度控制设备的固体样品支架。
本实用新型的兼容温度控制设备的固体样品支架包括:样品槽、样品盖、固定架和固定件;其中,固定架的一端设置有连接件,另一端设置有与样品槽的尺寸相匹配的固定孔,固定孔内设置有限位面;样品槽和样品盖均采用透明的材料,样品槽内盛放样品,样品盖盖在样品槽上;样品槽放置在固定架的固定孔内,底面卡在限位面上;在样品盖上设置固定件,将样品盖和样品槽限定在固定架的固定孔内;固定架通过连接件安装在温度控制设备的样品杆上。
在温度控制设备的样品杆的底部设置有内螺纹,相应地,在固定架的一端的连接件设置有外螺纹,通过螺纹连接可将固定架安装在温度控制设备的样品杆上。
固定件采用挡片和螺钉,挡片中设置有通光孔,通光孔的直径小于样品盖的直径,在通光孔的周围,与固定孔的周围相对应,设置带有内螺纹的通孔,螺钉通过通孔将挡片固定在固定架的固定孔上。样品盖和样品槽通过挡片和固定孔的限位面,牢固地放置在固定孔内。
样品盖和样品槽采用石英,对光的透过率高。
固定架的材料采用铜或铝,表面镀铬,使得表面光亮,并且易于加工。
样品槽的尺寸为直径在1cm~1.2cm之间,高在0.8mm~1mm之间。固定架的宽在1.3cm~1.9cm之间,长在6cm~7cm。
采用本实用新型的兼容温度控制设备的固体样品支架,进行荧光变温或磷光测试包括以下步骤:
1)将样品放入样品槽内,盖上样品盖;
2)将样品槽放置在固定架的固定孔内,用固定件将样品盖和样品槽限定在固定架的固定孔内;
3)将固定架通过连接件安装在温度控制设备的样品杆上,放入温度控制设备中;
4)将温度控制设备放入荧光光谱仪中,对准光路;
5)通过温度控制设备,在77~500K之间控制样品的温度;
6)由荧光光谱仪的光源产生的激发光透过样品槽,照射至样品,激发样品后产生磷光或荧光,由探测器接收。
本实用新型的优点:
本实用新型采用将样品槽限定在固定架的固定孔内,然后将固定架安装在温度控制设备的样品杆上,与现有的温度控制设备和荧光光谱仪兼容,适合做粉末、块状和片状的固体样品在77~500K温度区间的变温实验。在进行多仪器联用时,保证样品表面均匀度和环境的一致性,同时保证了测试结果的准确性。
附图说明
图1为本实用新型的兼容温度控制设备的固体样品支架的一个实施例的示意图,其中,(a)为样品槽和样品盖的示意图,(b)为固定架的俯视图,(c)为固定件的俯视图;
图2为沿图1(b)中A-A’线的剖面图。
具体实施方式
下面结合附图,通过实施例对本实用新型做进一步说明。
如图1所示,本实施例的兼容温度控制设备的固体样品支架包括:样品槽1、样品盖2、固定架3和固定件;其中,固定架3的一端设置有连接件31,另一端设置有与样品槽的尺寸相匹配的固定孔32,固定孔32内设置有限位面33;样品槽1内盛放样品,样品盖2盖在样品槽1上;样品槽1放置在固定架的固定孔32内,底面卡在限位面33上;在样品盖2上设置固定件,将样品盖2和样品槽1限定在固定架的固定孔32内;固定架3通过连接件31安装在温度控制设备的样品杆上。固定架3沿A-A’线的剖面图如图2所示。
如图1(c)所示,固定件采用挡片4和螺钉,挡片4中设置有通光孔41,通光孔的直径小于样品盖的直径,在通光孔41的周围,与固定孔32的周围相对应,设置带有内螺纹的通孔42,螺钉通过通孔42将挡片4固定在固定架的固定孔32上。样品盖和样品槽通过挡片4和固定孔的限位面32,牢固地放置在固定孔32内。
样品槽1和样品盖2均采用石英,样品槽的尺寸为直径1cm,高0.8mm。固定架3的宽为1.5cm,长为6.5cm。固定架和固定件均采用铜,表面镀铬。
将固体样品支架安装在美国牛津公司Optistas DN系列温度控制设备后,放入爱丁堡公司FLS920型稳态瞬态荧光光谱仪,进行77~500K温度区间的荧光和磷光检测。样品槽和样品盖与日立公司F7000荧光光谱仪兼容,在进行多仪器联用时,保证样品表面均匀度和环境的一致性,同时保证了测试结果的准确性。
最后需要注意的是,公布实施方式的目的在于帮助进一步理解本实用新型,但是本领域的技术人员可以理解:在不脱离本实用新型及所附的权利要求的精神和范围内,各种替换和修改都是可能的。因此,本实用新型不应局限于实施例所公开的内容,本实用新型要求保护的范围以权利要求书界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种兼容温度控制设备的固体样品支架,其特征在于,所述固体样品支架包括:样品槽(1)、样品盖(2)、固定架(3)和固定件;其中,所述固定架(3)的一端设置有连接件(31),另一端设置有与样品槽(1)的尺寸相匹配的固定孔(32),固定孔(32)内设置有限位面(33);所述样品槽(1)和样品盖(2)均采用透明的材料,样品槽(1)内盛放样品,样品盖(2)盖在样品槽(1)上;所述样品槽(1)放置在固定架(3)的固定孔内,底面卡在限位面上;在样品盖(2)上设置固定件,将样品盖(2)和样品槽(1)限定在固定架(3)的固定孔内;固定架(3)通过连接件安装在温度控制设备的样品杆上。
2.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述温度控制设备的样品杆的底部设置有内螺纹,相应地,在固定架(3)的一端的连接件设置有外螺纹。
3.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述固定件采用挡片(4)和螺钉,挡片(4)中设置有通光孔(41),通光孔(41)的直径小于样品盖(2)的直径,在通光孔(41)的周围,与固定孔(32)的周围相对应,设置带有内螺纹的通孔(42),螺钉通过通孔将挡片(4)固定在固定架(3)的固定孔上。
4.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述样品盖(2)和样品槽(1)采用石英。
5.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述固定架(3)的材料采用铜或铝,表面镀铬。
6.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述样品槽(1)的直径在1cm~1.2cm之间,高在0.8mm~1mm之间。
7.如权利要求1所述的固体样品支架,其特征在于,所述固定架(3)的宽在1.3cm~1.9cm之间,长在6cm~7cm。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108776119A (zh) * 2018-06-13 2018-11-09 安徽建筑大学 固体样品漫反射光谱测试载样加热装置
CN113504253A (zh) * 2021-06-28 2021-10-15 上海大学 光电子能谱仪xps加热测试专用样品槽

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