CN103411667A

CN103411667A - 发光元件点测机台

Info

Publication number: CN103411667A
Application number: CN2013103013244A
Authority: CN
Inventors: 高宏达; 张敏宏
Original assignee: Chroma ATE Suzhou Co Ltd
Current assignee: Chroma ATE Suzhou Co Ltd
Priority date: 2013-07-18
Filing date: 2013-07-18
Publication date: 2013-11-27

Abstract

一种发光元件点测机台，施加电性使发光元件导通发光并收集其光性资料，包括：一承载平台，具有一个形成跨设空间的承载位置，该跨设空间用于承置至少一发光元件；一组探针，接触发光元件并提供所需施加的电性；一第一光性收集装置，对应设置于该承载平台上方，收集发光元件导通后向上方发出的光；以及一第二光性收集装置，对应设置于该承载平台下方，收集发光元件导通后向下方发出的光。也可将其中的第二光性收集装置替换为一光性反射装置，将发光元件向下方所发出的光向上反射至该第一光性收集装置。本发明可使发光元件向下散发的光不透过承载体直接进入光收集器，避免透光率、光行进角度变化等因素影响检测的结果。

Description

发光元件点测机台

技术领域

本发明涉及一种发光元件点测机台，尤指一种提供了一个形成跨设空间的承载位置，使得发光元件向下散发的光可以在不经过承载体的情形下，进入光收集器的发光元件点测机台。

背景技术

请参考图10，是中国台湾发明专利申请案公开号201133695A1的一代表图式。如图所示，一种晶圆盘的承载固定装置，包含一框体31以及多个固定单元32；所述固定单元32设置于该框体31一面，且每一固定单元32包含一枢轴321、一枢转臂322以及一限位部323；该枢转臂322借该枢轴321枢接于框体31，并与框体31互相磁性吸附；其中，置于框体31的一晶圆盘2可借枢转臂322吸合于框体31，致使限位部323压制该晶圆盘2而承载固定晶圆盘2。

该承载固定装置主要是用于承载待测晶圆，并在限位部323压制晶圆盘2。熟悉该项技艺人士皆知，该晶圆盘2习知方式是采用蓝膜方式撑开，在蓝膜上放置待测晶圆后，再放置于一承载盘上进行点测动作，或直接放在承载盘上作业，而不管是以上哪一种方式，因为待测物下方均有阻碍物，其仅限制特定向上方发光的待测物形式，而无法用于双面发光的待测物点测。

又，请参考图11，是中国台湾发明专利申请案公开号201109635A1的一代表图式，该待测物，即发光二极管21，是置放在一透明承载板20上，然而，测试时的发光二极管21所向下散发的光是透过该透明材质的的透明承载板20，由于经过了透明承载板20这种介质，向下散发的光会偏移其散射角度、承载板透光率因素也将影响收光的效率，尤其该下光侦测装置40为积分球41的光入口必须准确计算的情况下，受检测的发光二极管21结果将是不准确的。

因此，如何设计一种发光元件点测机台，使得发光二极管所散发出的光可以完全地进入到光收集器中，以得到最接近于真值的光度，将是熟悉该项技艺的人士一项重要的课题。

关于本发明的优点与精神可以借由以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种发光元件点测机台，使得待测光度的发光元件所散发出的光可以完全地进入到光收集器中，以得到最接近于真值的光度。

本发明的一种发光元件点测机台，透过施加电性使一发光元件导通发光，进而收集发光元件的光性资料，包括：一承载平台，具有一个形成跨设空间的承载位置，该承载位置的跨设空间用于承置至少一发光元件；一组探针，用于接触发光元件并提供所需施加的电性，使所接触的发光元件导通发光；一第一光性收集装置，对应设置于该承载平台上方，用于收集发光元件经该组探针接触导通后，由形成跨设空间的承载位置向上方所发出的光；以及一第二光性收集装置，对应设置于该承载平台下方，用于收集发光元件经探针接触导通后，经由形成跨设空间的承载位置向下方所发出的光。

本发明另一种发光元件点测机台，透过施加电性使一发光元件导通发光，进而收集发光元件的光性资料，包括：一承载平台，具有一个形成跨设空间的承载位置，该承载位置的跨设空间用于承置至少一发光元件；一组探针，用于接触发光元件并提供所需施加的电性，使所接触的发光元件导通发光；一第一光性收集装置，对应设置于该承载平台上方，用于收集发光元件经该组探针接触导通后，由形成跨设空间的承载位置向上方所发出的光；以及一光性反射装置，对应设置于该承载平台下方，用于反射发光元件A’经探针接触导通后，经由形成跨设空间的承载位置向下方所发出的光，再将所接收到的光向上反射至该第一光性收集装置。

本发明的有益效果在于，本发明提供了一个形成跨设空间的承载位置，使发光元件向下散发的光可以在不透过承载体的情形下，直接进入光收集器。如此，光收集器所收集到的光度是接近于发光元件的真值，因而可避免透光率、光行进角度变化等因素影响检测的结果。

附图说明

图1：本发明的一种发光元件点测机台的一第一较佳实施例的一第一态样的立体示意图；

图2：本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第二态样的部分立体示意图；

图3：本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第三态样的部分立体示意图；

图4：本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第四态样的部分立体示意图；

图5：本发明的发光元件点测机台的第一较佳实施例的该第四态样的一承载盘应用立体图式；

图6、图7与图8：本发明的发光元件点测机台的第一较佳实施例的发光元件的三种实施态样示意图；

图9：本发明的发光元件点测机台的一第二较佳实施例的立体示意图；

图10：中国台湾发明专利申请案公开号201133695A1的一代表图式；及

图11：中国台湾发明专利申请案公开号201109635A1的一代表图式。

具体实施方式

请参考图1，是本发明的一种发光元件点测机台的一第一较佳实施例的一第一态样的立体示意图。发光元件点测机台1，透过施加电性使一发光元件A导通发光，进而收集发光元件A的光性资料，包括：一承载平台11，具有一个形成跨设空间1111的承载位置111，该承载位置111的跨设空间1111用于承置至少一发光元件A；一组探针12，包括一第一探针121与一第二探针122，用于接触发光元件A的一第一电极A1与一第二电极A2，并提供所需施加的电性，使所接触的发光元件A导通发光；一第一光性收集装置13，对应设置于该承载平台11上方，用于收集发光元件A经该组探针12接触导通后，由形成跨设空间1111的承载位置111向上方所发出的光；以及一第二光性收集装置14，对应设置于该承载平台11下方，用于收集发光元件A经探针12接触导通后，经由形成跨设空间的承载位置111向下方所发出的光。

请参考图2，是本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第二态样的部分立体示意图。该第二态样是该承载位置111具有二个跨设空间1112、1113，用以承置两个发光元件B、C。

请参考图3，是本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第三态样的部分立体示意图。该第三态样是该承载位置111具有四个跨设空间1114、1115、1116、1117，用以承置四个发光元件D、E、F、G。

请参考图4与图5，是本发明的发光元件点测机台的该第一较佳实施例的一第四态样的部分立体示意图与本发明的发光元件点测机台的第一较佳实施例的该第四态样的一承载盘应用立体图式。该第四态样包括有一个形成四个跨设空间1114、1115、1116与1117，每个跨设空间用于承置多个发光元件的承载盘15，如图5所示，该跨设空间1114承载有多个发光元件D，该跨设空间1115承载有多个发光元件E，该跨设空间1116承载有多个发光元件F，该跨设空间1117承载有多个发光元件G，该承载盘15跨设于承载平台11的承载位置111，由该组探针(图4未示，请参考图1)顺序施加电性于该多个发光元件D、E、F、G。

以上不同的实施方式均具有一个相同的特征，使发光元件向下散发的光可以在不透过承载体的情形下，直接进入光收集器的发光元件点测机台，避免透光率、光行进角度变化等因素影响检测的结果。

再请参考图1，第一光性收集装置13所采用的是太阳能电池(或称光伏电池、Solar Cell、Photovoltaic)，由于太阳能电池的特性正是将光性转换为电性的特点，且接收可涵盖的角度大，所以应用于空间十分限制的发光元件点测机台相当合适。该太阳能电池借以接收该发光元件A经该组探针12接触导通后，由该形成该跨设空间1111的承载位置111向上方所发出的光。第二光性收集装置14同样也是使用太阳能电池，借以接收该发光元件A经该组探针12接触导通后，经由该形成该跨设空间1111的承载位置111向下方所发出的光。

请参考图6、图7与图8，是本发明的发光元件点测机台的第一较佳实施例的发光元件的三种实施态样示意图，对于发光元件的不同电极设计位置均有其实施作法。如图6所示，发光元件A的二电极位于同一面时，该组探针12为二支探针121、122，分别接触该二电极A1、A2提供所需施加的电性，使所接触的发光元件A导通发光。

如图7所示，二发光元件B、C的每一个发光元件的二电极B1与B2、C1与C2位于同一面时，该组探针12为一支探针123，由于图5所示的承载盘15上已经设计一个电极共导接机制(图中未示)，将发光元件B、C放上承载盘15上时，各发光元件B、C的二电极之一，如负极，即共导接，该承载盘15并于该共导接部份连接外部一电性端，实施上就可以透过一支探针点亮发光元件。如，发光元件B的另一电极B2与发光元件C的另一电极C2共导接，故该支探针123接触其中一电极，如电极B1，所接触的发光元件B导通发光，于发光元件B点测完之后再将探针123位置与电极C1接触，如此依序点测后续的多个发光元件。

如图8所示，发光元件D的二电极D1与D2位于不同面时，该组探针为一支探针124，同样地，由于承载盘15上已经设计一个电极共导接机制，将发光元件D放上承载盘15上时，发光元件D其中一电极即共导接，承载盘15并于共导接部份连接外部一电性端，所以该支探针124只需接触该电极D1，即可使所接触的该发光元件D导通。若为多个待测发光元件，于发光元件D点测完之后再将探针124位置移至下一个待测发光元件的电极接触，如此依序点测后续的多个发光元件。

请参考图9，是本发明的发光元件点测机台的一第二较佳实施例的立体示意图。该发光元件点测机台1’，透过施加电性使一发光元件A’导通发光，进而收集发光元件A’的光性资料，包括：一承载平台11’，具有一个形成跨设空间1111’的承载位置111’，该承载位置111’的跨设空间1111’用于承置至少一发光元件A’；一组探针12’，用于接触发光元件A’的一第一电极A1’与一第二电极A2’，并提供所需施加的电性，使所接触的发光元件A’导通发光；一第一光性收集装置13’，对应设置于该承载平台11’上方，用于收集发光元件A’经该组探针12’接触导通后，由形成跨设空间1111’的承载位置111’向上方所发出的光；以及一光性反射装置14’，对应设置于该承载平台11’下方，用于侦测发光元件A’经探针12’接触导通后，经由形成跨设空间1111’的承载位置111’向下方所发出的光，再将所侦测到的光向上反射至该第一光性收集装置13’。

第二较佳实施例与第一较佳实施例的其他元件其实施态样皆为相同。

与习知技术比较后，本发明具备了以下的优点：本发明提供了一个形成跨设空间的承载位置，使发光元件向下散发的光可以在不透过承载体的情形下，直接进入光收集器。如此，光收集器所收集到的光度是接近于发光元件的真值，因而可避免透光率、光行进角度变化等因素影响检测的结果。

于是，本发明专利申请案利用发明人丰富的经验，以极富创意的构思，设计出简单却能充分解决习知技术的问题。因此，本发明专利申请案的功能，确实符合具有新颖性与进步性的专利要件。

唯以上所述者，仅为本发明的较佳实施例，当不能以的限制本发明范围。即大凡依本发明申请专利范围所做的均等变化及修饰，仍将不失本发明的要义所在，亦不脱离本发明的精神和范围，故都应视为本发明的进一步实施状况。

Claims

1.一种发光元件点测机台，透过施加电性使一发光元件导通发光，进而收集发光元件的光性资料，其特征在于，包括：

一承载平台，具有一个形成跨设空间的承载位置，该承载位置的跨设空间用于承置至少一发光元件；

一组探针，用于接触发光元件并提供所需施加的电性，使所接触的发光元件导通发光；

一第一光性收集装置，对应设置于该承载平台上方，用于收集发光元件经该组探针接触导通后，由形成跨设空间的该承载位置向上方所发出的光；以及

一第二光性收集装置，对应设置于该承载平台下方，用于收集发光元件经该组探针接触导通后，经由形成跨设空间的该承载位置向下方所发出的光。

2.如权利要求1所述的发光元件点测机台，其特征在于，该承载位置具有多个跨设空间，用以承置两个以上的发光元件。

3.如权利要求1所述的发光元件点测机台，其特征在于，更包括有一个形成多个跨设空间、用于承置多个发光元件的承载盘，该承载盘跨设于该承载平台的该承载位置，由该组探针顺序施加电性于该多个发光元件。

4.如权利要求1所述的发光元件点测机台，其特征在于，该第一光性收集装置是太阳能电池，借以接收该发光元件经该组探针接触导通后，由形成该跨设空间的该承载位置向上方所发出的光。

5.如权利要求1所述的发光元件点测机台，其特征在于，该第二光性收集装置是太阳能电池，借以接收该发光元件经该组探针接触导通后，经由形成该跨设空间的该承载位置向下方所发出的光。

6.如权利要求3所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于同一面时，该组探针为二支探针，提供所需施加的电性，分别接触该二电极使所接触的该发光元件导通发光。

7.如权利要求3所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于同一面时，该组探针为一支探针，该支探针接触其中一电极，每个发光元件的另一电极透过该承载盘上的一电极共导接机制相互共同导接，使所接触的该发光元件导通。

8.如权利要求3所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于不同面时，该组探针为一支探针，该支探针接触一电极，所述发光元件的另一电极透过该承载盘上的一电极共导接机制相互共同导接，使所接触的该发光元件导通。

9.一种发光元件点测机台，透过施加电性使一发光元件导通发光，进而收集发光元件的光性资料，其特征在于，包括：

一光性反射装置，对应设置于该承载平台下方，用于反射发光元件经探针接触导通后，经由形成跨设空间的承载位置向下方所发出的光，再将所接收到的光向上反射至该第一光性收集装置。

10.如权利要求9所述的发光元件点测机台，其特征在于，该承载位置具有多个跨设空间，用以承置两个以上的发光元件。

11.如权利要求9所述的发光元件点测机台，其特征在于，更包括有一个形成多个跨设空间、用于承置多个发光元件的承载盘，该承载盘跨设于该承载平台的该承载位置，由该组探针顺序施加电性于该多个发光元件。

12.如权利要求9所述的发光元件点测机台，其特征在于，该第一光性收集装置是太阳能电池，借以接收该发光元件经该组探针接触导通后，由形成该跨设空间的该承载位置向上方所发出的光，以及该光性反射装置所反射的光。

13.如权利要求11所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于同一面时，该组探针为二支探针，分别接触该二电极，提供所需施加的电性，使所接触的该发光元件导通发光。

14.如权利要求11所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于同一面时，该组探针为一支探针，该支探针接触其中一电极，每个发光元件的另一电极透过该承载盘上的一电极共导接机制相互共同导接，使所接触的该发光元件导通。

15.如权利要求11所述的发光元件点测机台，其特征在于，所述发光元件的二电极位于不同面时，该组探针为一支探针，该支探针接触一电极，所述发光元件的另一电极透过该承载盘上的一电极共导接机制相互共同导接，使所接触的该发光元件导通。