CN102607696A - 一种用于led测试机的积分球 - Google Patents

一种用于led测试机的积分球 Download PDF

Info

Publication number
CN102607696A
CN102607696A CN2012100952778A CN201210095277A CN102607696A CN 102607696 A CN102607696 A CN 102607696A CN 2012100952778 A CN2012100952778 A CN 2012100952778A CN 201210095277 A CN201210095277 A CN 201210095277A CN 102607696 A CN102607696 A CN 102607696A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
integrating sphere
led
collecting port
led illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2012100952778A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102607696B (zh
Inventor
杨新民
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Silicon electric semiconductor equipment (Shenzhen) Co., Ltd
Original Assignee
SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd filed Critical SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CO Ltd
Priority to CN201210095277.8A priority Critical patent/CN102607696B/zh
Publication of CN102607696A publication Critical patent/CN102607696A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102607696B publication Critical patent/CN102607696B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

一种用于LED测试机的积分球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于：收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。本发明增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片。收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。此外，收光口内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。

Description

一种用于LED测试机的积分球
技术领域
本发明涉及发光二极管（Light Emitting Diode，缩略词为LED）测试，特别是涉及一种用于LED测试机的积分球。
背景技术
LED照明芯片发光面包括表面发光、侧向发光和背向泄漏光。现有LED照明芯片的背面设有多层高反射膜和金属反射层，背面光泄漏量仅占3%~5%，当采用相同材料和膜系结构时，LED照明芯片发光面的泄漏光能量基本一致，而且，背向泄漏光目前很少被利用，因此可以暂不考虑这部分泄漏光对测试的影响。但是，LED照明芯片侧向发光由于材料、结构、工艺的不同会导致与总发光量的占比不完全相同。目前用于 LED测试机的积分球如图1所示，所述积分球3可以收集处于球内或放在球外并靠近其收光口6处的被测试的LED照明芯片1散射或发射的光。理论上是积分球3与被测试的LED照明芯片1的距离越近，光泄漏越少，测量越准确。由于测试LED照明芯片1要使用测试探针2，其与被测试的LED照明芯片1之间有一定的距离，限制了积分球3与被测试的LED照明芯片1之间约7mm的距离进一步缩小，因此，现有积分球只能对LED照明芯片的表面光4进行比较准确的测试，而且，由于较多的侧向光5泄漏积分球3以外，不能被积分球3接收，因此，LED测试机还难以对LED照明芯片的侧向光5进行准确测量，从一个方面导致LED行业测试标准至今尚未统一。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种改进的用于LED测试机的积分球。
    本发明的技术问题通过以下技术方案予以解决。
这种用于LED测试机的积分球，又称为光通球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，内壁表面各点的漫射均匀。
这种用于LED测试机的积分球的特点是：
所述收光口的长度为至少6mm，比原有长度为2mm以下的收光口长度有所增加，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。
本发明的技术问题通过以下进一步的技术方案予以解决。
所述收光口内反射面为圆锥面。比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。
本发明的技术问题通过以下再进一步的技术方案予以解决。
所述收光口的下端设有缺口，测试探针由所述缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片，可以进一步显著提高侧向光的吸收率。
本发明与现有技术相比的有益效果是：
本发明的积分球增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片。收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。此外，收光口内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。
附图说明
图1是现有常用积分球结构的主视纵向剖面与光路示意图；
图2是本发明具体实施方式的主视纵向剖面与光路示意图； 
图3是本发明具体实施方式的侧视纵向剖面与光路示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施方式并对照附图对本发明进行说明。
一种如图2~3所示的用于LED测试机的积分球3，是一个设有收光口6的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，内壁表面各点的漫射均匀。
收光口6的长度为6mm，比原有长度为2mm以上的收光口长度有所增加，收光口6与被测试的LED照明芯片1距离至多为1mm，可以显著提高侧向光5的吸收率。
收光口6的下端设有缺口7，测试探针2由缺口7伸入进行点测。既不影响测试探针2的使用，又使积分球3尽量接近LED照明芯片1，可以进一步显著提高侧向光5的吸收率。
收光口6的内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光5反射入积分球3内，明显减少光泄漏，使侧向光5泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片1测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。

Claims (3)

1.一种用于LED测试机的积分球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于：
所述收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。
2.如权利要求1所述的用于LED测试机的积分球，其特征在于：
所述收光口内反射面为圆锥面。
3.如权利要求1或2所述的用于LED测试机的积分球，其特征在于：
所述收光口的下端设有缺口，测试探针由所述缺口伸入进行点测。
CN201210095277.8A 2012-04-01 2012-04-01 一种用于led测试机的积分球 Active CN102607696B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210095277.8A CN102607696B (zh) 2012-04-01 2012-04-01 一种用于led测试机的积分球

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210095277.8A CN102607696B (zh) 2012-04-01 2012-04-01 一种用于led测试机的积分球

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102607696A true CN102607696A (zh) 2012-07-25
CN102607696B CN102607696B (zh) 2016-01-20

Family

ID=46525279

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210095277.8A Active CN102607696B (zh) 2012-04-01 2012-04-01 一种用于led测试机的积分球

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102607696B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103411667A (zh) * 2013-07-18 2013-11-27 致茂电子(苏州)有限公司 发光元件点测机台
CN104075879A (zh) * 2014-06-06 2014-10-01 致茂电子(苏州)有限公司 发光二极体的量测装置
CN104501949A (zh) * 2014-12-29 2015-04-08 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法
CN105074399A (zh) * 2013-04-03 2015-11-18 日本先锋公司 光特性测定装置
CN106595851A (zh) * 2015-10-16 2017-04-26 晶元光电股份有限公司 发光装置的测试设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200959025Y (zh) * 2006-10-09 2007-10-10 深圳市量子光电子有限公司 Led测试工作台
JP2008076126A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Oputo System:Kk 測光装置及び測光方法
CN101852648A (zh) * 2010-06-22 2010-10-06 海洋王照明科技股份有限公司 光源光通量测量仪器及测量方法
CN101858780A (zh) * 2010-04-19 2010-10-13 海洋王照明科技股份有限公司 一种光通量测试方法及装置
CN102033055A (zh) * 2007-03-01 2011-04-27 浜松光子学株式会社 光检测装置以及样品架用夹具

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008076126A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Oputo System:Kk 測光装置及び測光方法
CN200959025Y (zh) * 2006-10-09 2007-10-10 深圳市量子光电子有限公司 Led测试工作台
CN102033055A (zh) * 2007-03-01 2011-04-27 浜松光子学株式会社 光检测装置以及样品架用夹具
CN101858780A (zh) * 2010-04-19 2010-10-13 海洋王照明科技股份有限公司 一种光通量测试方法及装置
CN101852648A (zh) * 2010-06-22 2010-10-06 海洋王照明科技股份有限公司 光源光通量测量仪器及测量方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105074399A (zh) * 2013-04-03 2015-11-18 日本先锋公司 光特性测定装置
CN105074399B (zh) * 2013-04-03 2017-12-08 日本先锋公司 光特性测定装置
CN103411667A (zh) * 2013-07-18 2013-11-27 致茂电子(苏州)有限公司 发光元件点测机台
CN104075879A (zh) * 2014-06-06 2014-10-01 致茂电子(苏州)有限公司 发光二极体的量测装置
CN104501949A (zh) * 2014-12-29 2015-04-08 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法
CN104501949B (zh) * 2014-12-29 2016-08-24 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法
CN106595851A (zh) * 2015-10-16 2017-04-26 晶元光电股份有限公司 发光装置的测试设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN102607696B (zh) 2016-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102607696A (zh) 一种用于led测试机的积分球
CN101226148B (zh) 紫外光学元件激光损伤阈值的探测方法及其装置
CN109564153B (zh) 用于气体的吸收测量的测量装置
CN108180852A (zh) 一种用于气膜孔形位参数影像测量的照明光源
CN105223207A (zh) 缺陷检查设备和方法
CN103644990A (zh) 紧凑型玻璃表面应力测量仪
CN106644945A (zh) 防止镜片膜层腐蚀和污染的平凸镜多通吸收池
CN111006602A (zh) 一种基于双目视觉对涡轮叶片应变测量的成像装置
CN202533370U (zh) 一种乳化液浓度测量装置
CN104406937A (zh) 一种测量逆反射系数的光学系统
CN101858780A (zh) 一种光通量测试方法及装置
CN106802232B (zh) 一种基于全反射的显微物镜数值孔径测量方法及系统
CN201662392U (zh) 钢球表面质量光电检测装置
CN210119437U (zh) 一种用紫外光测量气体浓度的双光路结构
CN108007864A (zh) 一种双窗镜光学腔
CN103572574A (zh) 用于在纺织机的工作单元处监测移动的线性纺织材料的质量的装置
CN207571018U (zh) 一种适用于烟气连续监测系统的气体吸收池光路结构
CN111257233A (zh) 一种消光装置
CN104713644A (zh) 波导光学照明测色探头
US8576398B2 (en) Concentration measuring device, concentration measuring arrangement and concentration measuring method
CN201819881U (zh) 三角度光泽度计
WO2010106919A1 (ja) 蛍光温度センサ及びその故障判定方法
CN101614589B (zh) 色差仪光学系统
CN201819883U (zh) 基于双光路的三角度光泽度计
CN208833632U (zh) 增加对穿法粉尘仪测量光程的装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: Longgang District of Shenzhen City, Guangdong province 518000 city street in the center city City Industrial Park Road No. 3 building E Tefalongfei business building two floor

Applicant after: Shenzhen Sidea Semiconductor Equipment Co., Ltd.

Applicant after: Yang Xinmin

Address before: Lin Xi Lu Longgang dragon District of Shenzhen city in Guangdong province 518000 Shenzhen city students (Longgang) Park Park 411, room 412

Applicant before: Shenzhen Sidea Semiconductor Equipment Co., Ltd.

Applicant before: Yang Xinmin

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: Longgang District of Shenzhen City, Guangdong province 518000 city street in the center city City Industrial Park Road No. 3 building E Tefalongfei business building two floor

Co-patentee after: Yang Xinmin

Patentee after: Silicon electric semiconductor equipment (Shenzhen) Co., Ltd

Address before: Longgang District of Shenzhen City, Guangdong province 518000 city street in the center city City Industrial Park Road No. 3 building E Tefalongfei business building two floor

Co-patentee before: Yang Xinmin

Patentee before: SHENZHEN SIDEA SEMICONDUCTOR EQUIPMENT Co.,Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder