CN103336257A - Wat测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种WAT测试系统及方法,该系统包括:管理程序建立模组,用于为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序;读取模组,于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示;自动获取模组,根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;测试模组,根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试,通过本发明,可避免每次测试前需对当前使用的探针卡做针尖调整,提高了WAT测试的效率。
Description
技术领域
本发明关于一种WAT测试系统及方法,特别是涉及一种自适应探针卡的WAT测试系统及方法。
背景技术
WAT(Wafer Acceptance Test,晶片允收测试)测试一般需通过探针卡来连接实际的器件和测试仪器以实现对不同尺寸和不同形状的器件的测试。目前,在集成电路的可接受度测试时(WAT)根据不同的测试需求,往往需要使用不同的探针卡。不同设计式样的探针卡的电路设计、探针排列分布方法、针尖直径、针尖间距等特性均不同,需要使用各自的探针卡管理程序来储存这些信息。在进行产品测试时,可通过手动或自动方式调用所用探针卡对应的管理程序来获取所需的探针卡信息。
现有建立WAT探针卡程序管理方法,即每一种设计式样的探针卡建立并维护一个程序,属于相同种类的不同探针卡共享同一个程序,如图1所示。但是,虽然相同种类的探针卡拥有理论相同的设计值,但是在实际使用过程中,不同的探针卡针尖可能存在一定的制作公差,原有的探针卡程序仅针对一种类型探针卡中的一张,对应不同的探针卡可能会发生探针卡针尖对位失败的情况。因此,在大规模量产过程中,一般规定每次测试开始前需对当前使用的探针卡重新做一次针尖对位调整,一般需要花费5分钟左右时间,降低了测试的效率。
发明内容
为克服上述现有技术存在的不足,本发明之目的在于提供一种WAT测试系统及方法,其通过为每张探针卡建立独立的探针卡程序,并于每次测试开始前根据当前使用的探针卡类型和卡号自动调用获取对应当前使用探针卡的探针卡程序,避免了每次测试前需对当前使用的探针卡做针尖调整,提高了测试效率。
为达上述及其它目的,本发明提出一种WAT测试系统,至少包括:
管理程序建立模组,用于为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序;
读取模组,于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示;
自动获取模组,根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;
测试模组,根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
进一步地,该探针卡标示包括探针卡的类型和卡号。
进一步地,每个探针卡程序对应不同的探针卡卡号信息。
进一步地,该管理程序建立模组将建立的探针卡程序存储于网络服务器。
为达到上述及其他目的,本发明还提供一种WAT测试方法,包括如下步骤:
为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序;
于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示;
根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;
根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
进一步地,该探针卡标示包括探针卡的类型和卡号。
进一步地,每个探针卡程序对应不同的探针卡卡号信息。
进一步地,所有建立的探针卡程序存储于网络服务器。
与现有技术相比,本发明一种WAT测试系统及方法通过为每张探针卡建立独立的探针卡程序,并于每次测试开始前根据当前使用的探针卡类型和卡号自动调用获取对应当前使用探针卡的探针卡程序,避免了每次测试前需对当前使用的探针卡做针尖调整,提高了测试效率。
附图说明
图1为现有技术中探针卡程序管理示意图;
图2为本发明一种WAT测试系统的系统架构图;
图3为本发明较佳实施例中探针卡程序管理示意图;
图4为本发明一种WAT测试方法的步骤流程图;
图5为现有技术与本发明测试流程比较示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图2为本发明一种WAT测试系统的系统架构图。如图2所示,本发明一种WAT测试系统,至少包括:管理程序建立模组10、读取模组11、自动获取模组12以及测试模组13。
其中,管理程序建立模组10用于为每个探针卡建立独立的探针卡程序,如图3所示,并将其保存于网络服务器中,每个探针卡程序对应不同的探针卡卡号信息;读取模组11于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示,如当前使用的探针卡的类型和卡号;自动获取模组12,根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;测试模组13,根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
如某产品代号A001,生产过程中对应此产品的探针卡类型为IS12W,有3张探针卡,代号分别为:IS12WM01,IS12WM02,IS12WM03,则对于3张探针卡,分别建立探针卡管理程序,如下表1所示
表1
图4为本发明一种WAT测试方法的步骤流程图,如图4所示,本发明一种WAT测试方法,包括如下步骤:
步骤401,为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序,并将其保存于网络服务器中;
步骤402,于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示,如当前使用的探针卡的类型和卡号;
步骤403,根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;
步骤404,根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
图5为现有技术与本发明测试流程对比示意图。可见,现有技术于测试前均需手动做针尖对位调整,降低了测试效率,而本发明读取当前使用探针卡标示后自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序,无需手工选择或者确认,做到全自动执行,提高了测试效率。
综上所述,本发明一种WAT测试系统及方法通过为每张探针卡建立独立的探针卡程序,并于每次测试开始前根据当前使用的探针卡类型和卡号自动调用获取对应当前使用探针卡的探针卡程序,避免了每次测试前需对当前使用的探针卡做针尖调整,提高了测试效率。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。
Claims (8)
1.一种WAT测试系统,至少包括:
管理程序建立模组,用于为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序;
读取模组,于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示;
自动获取模组,根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;
测试模组,根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
2.如权利要求1所述的一种WAT测试系统,其特征在于:该探针卡标示包括探针卡的类型和卡号。
3.如权利要求2所述的一种WAT测试系统,其特征在于:每个探针卡程序对应不同的探针卡卡号信息。
4.如权利要求1所述的一种WAT测试系统,其特征在于:该管理程序建立模组将建立的探针卡程序存储于网络服务器。
5.一种WAT测试方法,包括如下步骤:
为每个探针卡分别建立独立的探针卡程序;
于每次测试开始前,读取当前使用探针卡标示;
根据读取的探针卡的标示于建立的所有的探针卡程序中自动获取唯一针对当前探针卡的管理程序;
根据获取的当前探针卡的管理程序得到当前探针卡的信息,并进行产品测试。
6.如权利要求5所述的一种WAT测试方法,其特征在于:该探针卡标示包括探针卡的类型和卡号。
7.如权利要求6所述的一种WAT测试方法,其特征在于:每个探针卡程序对应不同的探针卡卡号信息。
8.如权利要求5所述的一种WAT测试方法,其特征在于:所有建立的探针卡程序存储于网络服务器。
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