CN106709099B - 探针台map文件转换方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种JC6001探针台MAP文件转换为UF200探针台的MAP文件的方法。JC6001是集成电路晶圆测试探针台的一种,UF200则是更通用的探针台机型,为了使两种机型能够相互识别各自的测试结果,本发明实现了两种格式MAP图的互相转换,尤其是解决了JC6001到UF200的MAP图转换的诸多难点。
Description
技术领域
本发明涉及一种JC6001探针台MAP文件转换为UF200探针台的MAP文件的方法,属于集成电路测试技术领域。
背景技术
晶圆测试和打点是两道最关键的工序,Map图不仅记录着管芯的好与坏还记载着被测管芯的其它测试状态信息;由于国际上还没有制定探针台的Map图格式文件通用标准,所以不同类型的探针台生成的Map图格式及信息存在差异,探针台之间也不能相互读取。BIN值通常作为管芯的测试结果分类属性,例如,BIN1为PASS管芯、BIN2为漏电流失效、BIN3为功能失效等。
JC6001晶圆探针台是国内自主研发的,UF200探针台是日本东京精密公司制造的,为业内主流的探针台;两种类型探针台同时运行在测试生产线上,鉴于测试生产项目的需求,一款产品经常需要两种探针台参与测试,会生成不同格式的两种Map图,不能相互读出,一款被测产品自始至终只能选择同一类型探针台进行测试,常常出现设备调度难题,严重影响着生产线的产量。一种机型测试后,可以到另外一种机型进行打点,这样可以合理利用不同机型的优势,极大提高了设备利用率和效率,所以两探针台的MAP格式转换是当务之需。
JC6001探针台MAP文件转换为UF200探针台的MAP文件是本领域技术人员亟待解决的关键技术问题之一。
发明内容
本发明的目的是解决JC6001探针台MAP文件转换为UF200探针台的MAP文件的方法;
本发明的技术解决方案包括如下步骤:
JC6001探针台格式的MAP文件只含有各测试管芯的坐标信息及其BIN值,因此转换为UF200探针台格式的MAP图最大的难点是缺失UF200机台所需的诸多信息。考虑到本发明实现JC6001到UF200格式转换的目的主要是把JC6001的测试结果转换为UF200可以识别的格式,以便快速打点,因此本发明可以直接基于一个UF200的基础模板进行转换,UF200基础模板含有待打点晶圆的完整信息,只需更新MAP文件中管芯的坐标位置与测试BIN值、及测试结果统计有关的信息到基础模板,便可以形成所需的UF200测试文件。
转换步骤如下:
步骤一:复制UF200探针台MAP基础模板(注:MAP文件)
步骤二:通过转换程序界面获得JC6001与UF200坐标转换关系;
步骤三:依次将JC6001各管芯信息转换到复制模板文件;
步骤四:更新模板文件中统计信息,如总测试管芯数量、PASS状态的管芯数量等;
进一步地,完成步骤三转换完所有管芯信息后,更新程序结构中变量wTotalTestedDie(总管芯数),wTotalPassDie(良品数),wTotalFailDie(失效管芯数)等;
进一步地,由于JC6001与UF200坐标设定的不同,因此需要在转换前指定两型号探针台各自特征点的坐标,转换时输入两个探针台MAP文件坐标的特征点;特征点一般为晶圆光板处。
进一步地,JC6001探针台与UF200探针台的MAP文件BIN值定义有所不同,在界面上输入Pass的BIN值。
附图说明
下面结合附图和具体实施方案对本发明做进一步说明:
图1流程图
图2操作界面
具体实施方式
下面就本发明将结合附图作进一步详述:在此,本发明的示意性实施实例及其说明仅限于用于解释,但并不作为对本发明的限定。
JC6001格式的MAP文件只含有各测试管芯的坐标信息及其BIN值,因此转换为UF200格式的MAP图最大的难点是缺失UF200机台所需的诸多信息。考虑到本发明实现JC6001到UF200格式转换的目的主要是把JC6001的测试结果转换为UF200可以识别的格式,以便快速打点,因此本发明可以直接基于一个UF200的基础模板进行转换,基础模板含有待打点晶圆的完整信息,更新的管芯的坐标位置与测试BIN值、及测试结果统计有关的信息到基础模板,便可以形成所需的UF200测试文件。
实施流程图见图1。
步骤一是复制UF200探针台基础模板:
UF200探针台MAP基础模板文件开头结构关键变量如下:
步骤二是由转换程序界面获得JC6001与UF200坐标转换关系;界面选择如图2;
步骤三是依次将JC6001各管芯信息转换到复制模板文件;
步骤四是更新模板文件中统计信息,如总测试管芯数量、PASS状态的管芯数量等;
转换完所有管芯后,更新程序结构中变量wTotalTestedDie,wTotalPassDie,wTotalFailDie等。(注:本结构是2.0版本,更高版本含有扩展信息);
由于JC6001与UF200坐标设定的不同,因此需要在转换前指定两个型号探针台各自特征点的坐标,转换时需进行坐标转换,特征点一般为晶圆光板处。
JC6001与UF200的MAP文件BIN值定义有所不同,在界面上输入Pass的BIN值,以使转换后的文件正确,标准是各管芯的测试结果不变。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (1)
1.探针台MAP文件转换方法, 其特征在于;包括以下步骤:
步骤一:复制UF200探针台MAP基础模板;其中,所述基础模板含有待打点晶圆的完整信息,只需更新MAP文件中的管芯的坐标位置与测试BIN值以及测试结果统计有关的信息,便可得到UF200测试文件;
步骤二:通过转换程序界面获得JC6001与UF200坐标转换关系;
步骤三:依次将JC6001探针台MAP文件中各管芯信息转换到复制模板文件中;
步骤四:运行转换文件程序,获得模板文件中统计信息,包括:总测试管芯数量、PASS状态的管芯数量;
其中,JC6001与UF200的MAP文件BIN值定义不同,界面上要求输入Pass的BIN值属性;
完成步骤三转换完所有管芯后,更新程序结构中变量总管芯数,良品数,失效管芯数;
在转换前指定两型号探针台各自特征点的坐标,转换时输入两个探针台MAP文件坐标的特征点。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6526545B1 (en) * | 2000-08-07 | 2003-02-25 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Method for generating wafer testing program |
CN102324086A (zh) * | 2011-05-10 | 2012-01-18 | 北京确安科技股份有限公司 | 一种用于不同型号探针台的Map图转换方法 |
CN104077271A (zh) * | 2013-03-27 | 2014-10-01 | 珠海全志科技股份有限公司 | 晶圆图数据的处理方法及系统 |
CN104422864A (zh) * | 2013-08-21 | 2015-03-18 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 晶圆测试中实现位置对准的确认方法 |
CN104715101A (zh) * | 2013-12-12 | 2015-06-17 | 北京确安科技股份有限公司 | 一种晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6526545B1 (en) * | 2000-08-07 | 2003-02-25 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Method for generating wafer testing program |
CN102324086A (zh) * | 2011-05-10 | 2012-01-18 | 北京确安科技股份有限公司 | 一种用于不同型号探针台的Map图转换方法 |
CN104077271A (zh) * | 2013-03-27 | 2014-10-01 | 珠海全志科技股份有限公司 | 晶圆图数据的处理方法及系统 |
CN104422864A (zh) * | 2013-08-21 | 2015-03-18 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 晶圆测试中实现位置对准的确认方法 |
CN104715101A (zh) * | 2013-12-12 | 2015-06-17 | 北京确安科技股份有限公司 | 一种晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法 |
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